PL63802B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL63802B1 PL63802B1 PL130967A PL13096768A PL63802B1 PL 63802 B1 PL63802 B1 PL 63802B1 PL 130967 A PL130967 A PL 130967A PL 13096768 A PL13096768 A PL 13096768A PL 63802 B1 PL63802 B1 PL 63802B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- condenser
- adjusting
- sleeve
- spark gap
- spark
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 31.XII.1968 (P 130 967) 15.XI.1971 63802 KI. 42 h, 20/02 MKP G 01 j, 3/00 CZYTELNIA Patentowego Twórca wynalazku: Janusz Rutkowski Wlasciciel patentu: Instytut Mechaniki Precyzyjnej, Warszawa (Polska) Sposób korygowania ustawienia przerwy iskrowej w stosunku do osi optycznej spektrografu oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób ustawiania przerwy iskrowej w stosunku do osi optycznej spektrografu oraz urzadzenie przeznaczone do rea¬ lizacji tego sposobu.Wykonujac analize spektralna nalezy kazda prób¬ ke i wzorce spektrograficzne ustawic w odpowied¬ nim polozeniu w stosunku do przeciwelektrody, jak równiez i do osi optycznej.Dokladnosc koncowych wyników analizy spek¬ tralnej zalezy w duzej mierze od powtarzalnosci uzyskanej przy wykonywaniu spektrogramów, co wiaze sie scisle z wlasciwym ustawieniem przerwy iskrowej w osi optycznej.Obecnie stosuje sie do tego celu dwa sposoby ustawiania. Pierwszy polega na tym, ze polozenie i wielkosc przerwy iskrowej ustawia sie na szablon stykowy, drugi natomiast na tym, ze polozenie i wielkosc przerwy iskrowej ustawia sie poprzez rzutowanie na ekran, konturu ustawianych elek¬ trod uzyskanego przez podswietlenie ich zarówka.Pierwszy z wymienionych sposobów ustawiania na szablon stykowy jest przede wszystkim malo precyzyjny i wymaga duzego skupienia uwagi, da¬ jac w efekcie stosunkowo duze róznice zaczernien pomiedzy poszczególnymi spektrogramami.Drugi natomiast jest wprawdzie bardziej precy- cyjny, ale wymaga jeszcze wiekszej koncentracji uwagi, a staje sie zupelnie bezuzyteczny przy prób¬ kach o skomplikowanych ksztaltach.Poza tym w obu omówionych przypadkach usta- 10 15 20 25 80 2 wianie trzeba przeprowadzac poza czasem iskrze¬ nia, co zwieksza dodatkowo czasochlonnosc analizy.Celem wynalazku bylo opracowanie sposobu, któ¬ ry pozwolilby na jednoznaczne, powtarzalne ko¬ rygowanie bledu ustawienia dla calej serii próbek w czasie tak zwanego „przedpalenia".Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie spo¬ sobu i urzadzenia wedlug wynalazku, na którym korekcje ustawienia przerwy iskrowej przeprowa¬ dza sie z wymagana dokladnoscia w sposób jedno¬ znaczny i powtarzalny.Sam sposób jest blizej wyjasniony na dolaczo¬ nym rysunku fig. 1, a urzadzenie jest pokazane schematycznie na rysunku fig. 2.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze na ekran 1 spektrografu, umieszczony w obudowie wlotu strumienia swietlnego do spektrografu rzu¬ tuje sie poprzez kondensor 2 umieszczony w osi optycznej urzadzenia, w polozeniu „regulacja" 3 obraz przerwy iskrowej 4, lezacej pomiedzy pala¬ cymi sie elektrodami 5. Regulujac polozenie kon¬ densora w plaszczyznie pionowej i poziomej usta¬ wia sie uzyskany dzieki zogniskowaniu obraz przer¬ wy iskrowej scisle w osi ekranu to znaczy syme¬ trycznie, na przecieciu sie ramion krzyza kontrol¬ nego. Po ustawieniu obrazu przesuwa sie kondensor do pozycji „naswietlanie" 6 i przeprowadza na¬ swietlanie.Urzadzenie sklada sie z suportu 7 mocowanego w znany sposób do podstawy statywu 8, która sta- 63802$3802 3 .. ... ,.:.' ._., ;¦_:..... s' • ¦ 4 nowi typowe wyposazenie spektrografu, ustawia¬ ne na szynie glównej. Na suport nalozone sa w sposób zapewniajacy wylacznie ruch w plaszczyz¬ nie równoleglej do osi szyny, sanie 9, utrzymywa¬ ne w wyjeciu 10 suportu za pomoca klina 11 zmo- cowanego z saniami. Ruch san jest ograniczony plaszczyzna oporowa 12 w suporcie i czolem za¬ konczenia sruby regulacyjnej 13, przy czym opar¬ cie sie klina 11 o plaszczyzne oporowa 12 odpo¬ wiada polozeniu „naswietlanie", a oparcie sie kli¬ na 11 o czolo zakonczenia sruby regulacyjnej 13 — polozeniu „regulacja".W otworze wykonanym w wystepie 14 na sa¬ niach 9 osadzony jest w sposób zapewniajacy prze¬ suw bez skrecania w osi pionowej gwintowany sworzen 15, blokowany po ustawieniu na zadana wysokosc w znany sposób. Na górnej czesci wal¬ cowej 16 posiada on dwa nagwintowane otwory, w które wkreca sie kolki prowadzace 17 przezna¬ czone do zabezpieczenia tulejki 18 z kondensorem 2 przed skreceniem podczas regulacji. Na czesci gwintowanej sworznia 15 nakrecona jest nakretka regulacyjna 19 przeznaczona do dokladnego prze¬ suwania w góre lub w dól tulejki 18, z zakoncze¬ niem wykonanym w postaci kolnierza. W tulei 18 wykonane sa dwa wyciecia, w których prowadzo¬ ne sa kolki prowadzace 17. Kondensor 2 osadzony na tulejce 18 jest przesuwany w plaszczyznie po¬ ziomej za pomoca sruby regulacyjnej 20.Korygowanie bledu ustawienia przerwy iskro¬ wej na urzadzeniu wedlug wynalazku prowadzi sie w nastepujacy sposób.Urzadzenie wedlug wynalazku znajduje sie nor¬ malnie podczas pracy spektrografu w polozeniu „naswietlanie", w którym klin 11 opiera sie o sciane oporowa 12. Po zapaleniu iskry na elektro¬ dach w okresie „przedpalenie" przesuwa sie sanie do drugiego polozenia granicznego, to znaczy do polozenia „regulacja" wyznaczonego przez oparcie sie klina 11 o czolo zakonczenia sruby regulacyj¬ nej 13, przez co otrzymuje sie na ekranie kon¬ trolnym spektrografu ostry obraz palacej sie przer¬ wy iskrowej z wyraznym konturem palacych sie elektrod. Nastepnie reguluje sie w stosunku do krzyza wyznaczajacego os optyczna spektrografu polozenie obrazu rzutowanego na ekran przez kon¬ densor 2 w pionie za pomoca nakretki regulacyj¬ nej 19, a w poziomie za pomoca sruby regulacyj¬ nej 20. Po ustawieniu obrazu scisle w osi optycz¬ nej odsuwa sie sanie 9 do oparcia sie klina 11 o sciane oporowa 12 i wykonuje naswietlanie spek- trogramu.Sposób i urzadzenie wedlug wynalazku pozwala- 5 ja na jednoznaczne i powtarzalne korygowanie ustawienia przerwy iskrowej w osi optycznej spek¬ trografu bez specjalnego podswietlania zarówka i prowadzenie korekcji w czasie zuzywanym nor¬ malnie na „przedpalenie". Przez bezposrednie wy¬ korzystanie do projekcji swiatla palacych sie elek¬ trod eliminuje sie blad ustawienia wprowadzany przez inna metode posrednia. PL PL
Claims (2)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób korygowania ustawienia przerwy iskro¬ wej w stosunku do osi optycznej spektrografu, znamienny tym, ze po zalozeniu ekranu kontrol¬ nego i zapaleniu iskry w przerwie iskrowej prze¬ suwa sie kondensor do pozycji „regulacja" i usta¬ wia sie ostry obraz przerwy w plaszczyznie po¬ ziomej i pionowej scisle w osi ekranu na przecie¬ ciu sie ramion krzyza kontrolnego, a nastepnie przesuwa kondensor do pozycji „naswietlanie", przy czym czynnosci te przeprowadza sie w okre¬ sie „przedpalenia" iskry, w przerwie iskrowej. 2. Urzadzenie do stosowania sposobu. wedlug zastrz. 1, skladajace sie z suportu, san oraz ele¬ mentów do regulacji polozenia kondensora, zna¬ mienne tym, ze kondensor (2) jest osadzony na tulejce (18) umieszczonej na czesci walcowej (16) sworznia gwintowanego (15), przy czym sworzen gwintowany jest osadzony w otworze wystepu (14) san (9), których ruch na suporcie (7) jest ograni¬ czony za pomoca klina (11) z jednej strony polo¬ zeniem „regulacja", odpowiadajacym czolu zakon¬ czenia sruby regulacyjnej (13), a z drugiej strony polozeniem „naswietlanie", odpowiadajacym czolu sciany (12). 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 2, znamienne tymy ze w górnej czesci tulei (18) umieszczona jest sru¬ ba (20) do regulowania polozenia kondensora (2) w plaszczyznie poziomej, a na sworzniu (15) osa¬ dzona jest nakretka (19) dó regulowania polozenia kondensora w plaszczyznie pionowej, przy czym na sworzniu gwintowanym (15) w jego górnej czesci walcowej (16) sa wkrecone dwa kolki prowadzace (17), na których przesuwa sie tulejka (18) swoimi wycieciami. 15 20 25 30 35 40KI. 42 h, 20/02 63802 MKP G 0.1 j, 3/00 F ho.
2. PL PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL63802B1 true PL63802B1 (pl) | 1971-08-31 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PL63802B1 (pl) | ||
| Schultze et al. | Spatially resolved measurement of ionization yields in the focus of an intense laser pulse | |
| JP2023500086A (ja) | 容易に調整可能な発光分光分析装置 | |
| DE4232371A1 (de) | Mehrkomponenten-Analysengerät | |
| US2043053A (en) | Quantitative spectroscopic analysis and apparatus therefor | |
| DE3831217A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur topometrischen erfassung der oberflaechengestalt eines auges | |
| US3937576A (en) | Illumination system for an atomic absorption spectral photometer | |
| DE102005058160A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Analyse metallischer Proben | |
| DE4429010A1 (de) | Vorrichtung zur Analyse von Gasen | |
| SU123722A1 (ru) | Способ определени элементов внутреннего ориентировани фотограмметрических камер и устройство дл осуществлени способа | |
| SU373596A1 (ru) | Способ проведения анализов | |
| DE847248C (de) | Einrichtung zur Ermittlung der erforderlichen Belichtungszeit bei der Herstellung von photographischen Vergroesserungen | |
| JPS56114746A (en) | Direct analyzing method for molten metal with pulse laser light | |
| RU2114420C1 (ru) | Способ юстировки дифрактометра | |
| Wittmann | Detection of blends in the vicinity of Zeeman lines | |
| SU42716A1 (ru) | Искровой разр дник к спектральному аппарату | |
| SU734563A1 (ru) | Устройство дл определени качества зерна | |
| KR940003544Y1 (ko) | 확산반사수단을 이용한 적외선 분광분석용 보조기구 | |
| DE709909C (de) | Verfahren zur Messung der Qualitaet und Quantitaet einer Roentgenstrahlung | |
| Niebergall et al. | Equidensitometry—A method for plasma diagnostics—XIII: Investigations of the spatial emission distribution of different spectral lines in an ICAP | |
| JPS6411135B2 (pl) | ||
| DE202023106494U1 (de) | Lichtquelle für einen Gasanalysator | |
| DE2332935A1 (de) | Verfahren und vorrichtung der photographie mit hintergrundprojektion | |
| Barkell | Spectrographic Analysis of Montana Limestones | |
| Varey et al. | Plume dispersion and SO 2 flux measurements at Drax Power Station, England |