PL63802B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL63802B1
PL63802B1 PL130967A PL13096768A PL63802B1 PL 63802 B1 PL63802 B1 PL 63802B1 PL 130967 A PL130967 A PL 130967A PL 13096768 A PL13096768 A PL 13096768A PL 63802 B1 PL63802 B1 PL 63802B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
condenser
adjusting
sleeve
spark gap
spark
Prior art date
Application number
PL130967A
Other languages
English (en)
Inventor
Rutkowski Janusz
Original Assignee
Instytut Mechaniki Precyzyjnej
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Mechaniki Precyzyjnej filed Critical Instytut Mechaniki Precyzyjnej
Publication of PL63802B1 publication Critical patent/PL63802B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 31.XII.1968 (P 130 967) 15.XI.1971 63802 KI. 42 h, 20/02 MKP G 01 j, 3/00 CZYTELNIA Patentowego Twórca wynalazku: Janusz Rutkowski Wlasciciel patentu: Instytut Mechaniki Precyzyjnej, Warszawa (Polska) Sposób korygowania ustawienia przerwy iskrowej w stosunku do osi optycznej spektrografu oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób ustawiania przerwy iskrowej w stosunku do osi optycznej spektrografu oraz urzadzenie przeznaczone do rea¬ lizacji tego sposobu.Wykonujac analize spektralna nalezy kazda prób¬ ke i wzorce spektrograficzne ustawic w odpowied¬ nim polozeniu w stosunku do przeciwelektrody, jak równiez i do osi optycznej.Dokladnosc koncowych wyników analizy spek¬ tralnej zalezy w duzej mierze od powtarzalnosci uzyskanej przy wykonywaniu spektrogramów, co wiaze sie scisle z wlasciwym ustawieniem przerwy iskrowej w osi optycznej.Obecnie stosuje sie do tego celu dwa sposoby ustawiania. Pierwszy polega na tym, ze polozenie i wielkosc przerwy iskrowej ustawia sie na szablon stykowy, drugi natomiast na tym, ze polozenie i wielkosc przerwy iskrowej ustawia sie poprzez rzutowanie na ekran, konturu ustawianych elek¬ trod uzyskanego przez podswietlenie ich zarówka.Pierwszy z wymienionych sposobów ustawiania na szablon stykowy jest przede wszystkim malo precyzyjny i wymaga duzego skupienia uwagi, da¬ jac w efekcie stosunkowo duze róznice zaczernien pomiedzy poszczególnymi spektrogramami.Drugi natomiast jest wprawdzie bardziej precy- cyjny, ale wymaga jeszcze wiekszej koncentracji uwagi, a staje sie zupelnie bezuzyteczny przy prób¬ kach o skomplikowanych ksztaltach.Poza tym w obu omówionych przypadkach usta- 10 15 20 25 80 2 wianie trzeba przeprowadzac poza czasem iskrze¬ nia, co zwieksza dodatkowo czasochlonnosc analizy.Celem wynalazku bylo opracowanie sposobu, któ¬ ry pozwolilby na jednoznaczne, powtarzalne ko¬ rygowanie bledu ustawienia dla calej serii próbek w czasie tak zwanego „przedpalenia".Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie spo¬ sobu i urzadzenia wedlug wynalazku, na którym korekcje ustawienia przerwy iskrowej przeprowa¬ dza sie z wymagana dokladnoscia w sposób jedno¬ znaczny i powtarzalny.Sam sposób jest blizej wyjasniony na dolaczo¬ nym rysunku fig. 1, a urzadzenie jest pokazane schematycznie na rysunku fig. 2.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze na ekran 1 spektrografu, umieszczony w obudowie wlotu strumienia swietlnego do spektrografu rzu¬ tuje sie poprzez kondensor 2 umieszczony w osi optycznej urzadzenia, w polozeniu „regulacja" 3 obraz przerwy iskrowej 4, lezacej pomiedzy pala¬ cymi sie elektrodami 5. Regulujac polozenie kon¬ densora w plaszczyznie pionowej i poziomej usta¬ wia sie uzyskany dzieki zogniskowaniu obraz przer¬ wy iskrowej scisle w osi ekranu to znaczy syme¬ trycznie, na przecieciu sie ramion krzyza kontrol¬ nego. Po ustawieniu obrazu przesuwa sie kondensor do pozycji „naswietlanie" 6 i przeprowadza na¬ swietlanie.Urzadzenie sklada sie z suportu 7 mocowanego w znany sposób do podstawy statywu 8, która sta- 63802$3802 3 .. ... ,.:.' ._., ;¦_:..... s' • ¦ 4 nowi typowe wyposazenie spektrografu, ustawia¬ ne na szynie glównej. Na suport nalozone sa w sposób zapewniajacy wylacznie ruch w plaszczyz¬ nie równoleglej do osi szyny, sanie 9, utrzymywa¬ ne w wyjeciu 10 suportu za pomoca klina 11 zmo- cowanego z saniami. Ruch san jest ograniczony plaszczyzna oporowa 12 w suporcie i czolem za¬ konczenia sruby regulacyjnej 13, przy czym opar¬ cie sie klina 11 o plaszczyzne oporowa 12 odpo¬ wiada polozeniu „naswietlanie", a oparcie sie kli¬ na 11 o czolo zakonczenia sruby regulacyjnej 13 — polozeniu „regulacja".W otworze wykonanym w wystepie 14 na sa¬ niach 9 osadzony jest w sposób zapewniajacy prze¬ suw bez skrecania w osi pionowej gwintowany sworzen 15, blokowany po ustawieniu na zadana wysokosc w znany sposób. Na górnej czesci wal¬ cowej 16 posiada on dwa nagwintowane otwory, w które wkreca sie kolki prowadzace 17 przezna¬ czone do zabezpieczenia tulejki 18 z kondensorem 2 przed skreceniem podczas regulacji. Na czesci gwintowanej sworznia 15 nakrecona jest nakretka regulacyjna 19 przeznaczona do dokladnego prze¬ suwania w góre lub w dól tulejki 18, z zakoncze¬ niem wykonanym w postaci kolnierza. W tulei 18 wykonane sa dwa wyciecia, w których prowadzo¬ ne sa kolki prowadzace 17. Kondensor 2 osadzony na tulejce 18 jest przesuwany w plaszczyznie po¬ ziomej za pomoca sruby regulacyjnej 20.Korygowanie bledu ustawienia przerwy iskro¬ wej na urzadzeniu wedlug wynalazku prowadzi sie w nastepujacy sposób.Urzadzenie wedlug wynalazku znajduje sie nor¬ malnie podczas pracy spektrografu w polozeniu „naswietlanie", w którym klin 11 opiera sie o sciane oporowa 12. Po zapaleniu iskry na elektro¬ dach w okresie „przedpalenie" przesuwa sie sanie do drugiego polozenia granicznego, to znaczy do polozenia „regulacja" wyznaczonego przez oparcie sie klina 11 o czolo zakonczenia sruby regulacyj¬ nej 13, przez co otrzymuje sie na ekranie kon¬ trolnym spektrografu ostry obraz palacej sie przer¬ wy iskrowej z wyraznym konturem palacych sie elektrod. Nastepnie reguluje sie w stosunku do krzyza wyznaczajacego os optyczna spektrografu polozenie obrazu rzutowanego na ekran przez kon¬ densor 2 w pionie za pomoca nakretki regulacyj¬ nej 19, a w poziomie za pomoca sruby regulacyj¬ nej 20. Po ustawieniu obrazu scisle w osi optycz¬ nej odsuwa sie sanie 9 do oparcia sie klina 11 o sciane oporowa 12 i wykonuje naswietlanie spek- trogramu.Sposób i urzadzenie wedlug wynalazku pozwala- 5 ja na jednoznaczne i powtarzalne korygowanie ustawienia przerwy iskrowej w osi optycznej spek¬ trografu bez specjalnego podswietlania zarówka i prowadzenie korekcji w czasie zuzywanym nor¬ malnie na „przedpalenie". Przez bezposrednie wy¬ korzystanie do projekcji swiatla palacych sie elek¬ trod eliminuje sie blad ustawienia wprowadzany przez inna metode posrednia. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób korygowania ustawienia przerwy iskro¬ wej w stosunku do osi optycznej spektrografu, znamienny tym, ze po zalozeniu ekranu kontrol¬ nego i zapaleniu iskry w przerwie iskrowej prze¬ suwa sie kondensor do pozycji „regulacja" i usta¬ wia sie ostry obraz przerwy w plaszczyznie po¬ ziomej i pionowej scisle w osi ekranu na przecie¬ ciu sie ramion krzyza kontrolnego, a nastepnie przesuwa kondensor do pozycji „naswietlanie", przy czym czynnosci te przeprowadza sie w okre¬ sie „przedpalenia" iskry, w przerwie iskrowej. 2. Urzadzenie do stosowania sposobu. wedlug zastrz. 1, skladajace sie z suportu, san oraz ele¬ mentów do regulacji polozenia kondensora, zna¬ mienne tym, ze kondensor (2) jest osadzony na tulejce (18) umieszczonej na czesci walcowej (16) sworznia gwintowanego (15), przy czym sworzen gwintowany jest osadzony w otworze wystepu (14) san (9), których ruch na suporcie (7) jest ograni¬ czony za pomoca klina (11) z jednej strony polo¬ zeniem „regulacja", odpowiadajacym czolu zakon¬ czenia sruby regulacyjnej (13), a z drugiej strony polozeniem „naswietlanie", odpowiadajacym czolu sciany (12). 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 2, znamienne tymy ze w górnej czesci tulei (18) umieszczona jest sru¬ ba (20) do regulowania polozenia kondensora (2) w plaszczyznie poziomej, a na sworzniu (15) osa¬ dzona jest nakretka (19) dó regulowania polozenia kondensora w plaszczyznie pionowej, przy czym na sworzniu gwintowanym (15) w jego górnej czesci walcowej (16) sa wkrecone dwa kolki prowadzace (17), na których przesuwa sie tulejka (18) swoimi wycieciami. 15 20 25 30 35 40KI. 42 h, 20/02 63802 MKP G 0.1 j, 3/00 F ho.
2. PL PL
PL130967A 1968-12-31 PL63802B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL63802B1 true PL63802B1 (pl) 1971-08-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL63802B1 (pl)
Schultze et al. Spatially resolved measurement of ionization yields in the focus of an intense laser pulse
JP2023500086A (ja) 容易に調整可能な発光分光分析装置
DE4232371A1 (de) Mehrkomponenten-Analysengerät
US2043053A (en) Quantitative spectroscopic analysis and apparatus therefor
DE3831217A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur topometrischen erfassung der oberflaechengestalt eines auges
US3937576A (en) Illumination system for an atomic absorption spectral photometer
DE102005058160A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Analyse metallischer Proben
DE4429010A1 (de) Vorrichtung zur Analyse von Gasen
SU123722A1 (ru) Способ определени элементов внутреннего ориентировани фотограмметрических камер и устройство дл осуществлени способа
SU373596A1 (ru) Способ проведения анализов
DE847248C (de) Einrichtung zur Ermittlung der erforderlichen Belichtungszeit bei der Herstellung von photographischen Vergroesserungen
JPS56114746A (en) Direct analyzing method for molten metal with pulse laser light
RU2114420C1 (ru) Способ юстировки дифрактометра
Wittmann Detection of blends in the vicinity of Zeeman lines
SU42716A1 (ru) Искровой разр дник к спектральному аппарату
SU734563A1 (ru) Устройство дл определени качества зерна
KR940003544Y1 (ko) 확산반사수단을 이용한 적외선 분광분석용 보조기구
DE709909C (de) Verfahren zur Messung der Qualitaet und Quantitaet einer Roentgenstrahlung
Niebergall et al. Equidensitometry—A method for plasma diagnostics—XIII: Investigations of the spatial emission distribution of different spectral lines in an ICAP
JPS6411135B2 (pl)
DE202023106494U1 (de) Lichtquelle für einen Gasanalysator
DE2332935A1 (de) Verfahren und vorrichtung der photographie mit hintergrundprojektion
Barkell Spectrographic Analysis of Montana Limestones
Varey et al. Plume dispersion and SO 2 flux measurements at Drax Power Station, England