PL60366B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 31.VII.1970 60366 KI. 21 e, 31/22 MKP G 01 r, 31/22 UKD 62.001: :621.385.1 Wspóltwórcy wynalazku: inz Lajos Lórinc, inz. Arpad Gyuris, inz. Pe¬ ter Haiman, inz. Tibor Behringer Wlasciciel patentu: Egyesiilt Izzolampa cs Villamossagi Reszvenytarsa- sag, Budapeszt (Wegry) Urzadzenie do automatycznego pomiaru parametrów elektrycznych oraz do sortowania elementów pólprzewodnikowych zwlaszcza tranzystorów Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do auto¬ matycznego pomiaru parametrów elektrycznych oraz do sortowania elementów pólprzewodnikowych, zwlaszcza tranzystorów.Znane jest urzadzenie do automatycznego mierze¬ nia poszczególnych parametrów elementów pólprze¬ wodnikowych, na przyklad tranzystorów, w którym mierzony element jest przesuwany mechanicznie w celu kolejnego przylaczenia go do obwodów pomia¬ rowych, przeznaczonych do mierzenia poszczegól¬ nych parametrów. Urzadzenie to ma te wade, ze ma bardzo skomplikowany uklad mechaniczny, przy czym zmiana ilosci mierzonych parametrów wyma¬ ga powaznych przeróbek tego ukladu mechaniczne¬ go. Urzadzenie to jest powolne w dzialaniu ze wzgle¬ du na wolne dzialanie ukladu mechanicznego.Znane jest równiez urzadzenie do automatyczne¬ go mierzenia parametrów elementów pólprzewodni¬ kowych, w którym element mierzony jest przyla¬ czany do poszczególnych obwodów pomiarowych za pomoca elektronicznego obwodu sterujacego, pra¬ cujacego na zasadzie cyfrowej. W urzadzeniu tym przetwarzanie danych, otrzymanych z poszczegól¬ nych pomiarów elementu pólprzewodnikowego, od¬ bywa sie równiez na zasadzie cyfrowej. Urzadzenie jest bardzo skomplikowane, drogie, trudne w obslu¬ dze i nie nadaje sie do celów produkcyjnych, a ra¬ czej tylko do prac laboratoryjnych.Celem wynalazku jest skonstruowanie prostego i niezawodnego urzadzenia do automatycznego mie¬ rzenia i sortowania elementów pólprzewodnikowych, zwlaszcza tranzystorów, które nie ma wyzej wy¬ mienionych wad i nadaje sie do pracy bez nadzoru z duza predkoscia dzialania. 5 Cel ten zostal osiagniety wedlug wynalazku, w ten sposób, ze urzadzenie ma obracana skokowo za pomoca przynajmniej jednego zespolu napedowego tarcze mocujaca, która jest osadzona na wspólnym wale z tym zespolem napedowym i ma zespoly io otworów chwytowych, przeznaczonych do umiesz¬ czenia w nich wyprowadzen mierzonego elementu pólprzewodnikowego, na przyklad tranzystora, przy czym liczba zespolów otworów chwytowych jest równa liczbie skoków tarczy mocujacej w czasie 15 jej pelnego obrotu. Zespól napedowy jest polaczony z elektronicznym zespolem sterujacym, który po czasie równym sumie taktów pomiarowych i dwóch taktów dodatkowych, powoduje obrót tarczy mo¬ cujacej o nastepny skok. Ponadto urzadzenie ma 20 zespól przelaczajacy, polaczony z zespolem kontrol¬ nym, dostosowanym zarówno do pomiarów recz¬ nych jak i automatycznych i polaczonym z zespo¬ lem wzorcowym w celu przekazania sygnalu wzor¬ cowego na wymieniony zespól kontrolny. 25 Zespól przelaczajacy jest przeznaczony do kolej¬ nego laczenia w poszczególnych taktach pomiaro¬ wych wyprowadzen badanego elementu pólprzewod¬ nikowego z obwodami pomiarowymi, których liczba jest równa liczbie przeprowadzanych pomiarów, 30 przy czym obwody pomiarowe sa polaczone z ob- 603663 60366 4 wodami logicznymi, których liczba jest równa licz¬ bie obwodów pomiarowych i których wejscia sa po¬ laczone z zespolem pomiarowym w celu przekazy¬ wania do obwodu pamieciowego logicznych impul¬ sów „tak" lub „nie".Pomiedzy obwodami logicznymi a zespolem pa¬ mieciowym przylaczone sa lampki sygnalizacyjne, natomiast zespól pamieciowy jest polaczony z ob¬ wodem kombinacji, przeznaczonym do wytworzenia kombinacji, których ilosc jest równa liczbie dwa, stanowiacej podstawe kodu binarnego, podniesionej do potegi, której wykladnik jest równy liczbie wy¬ konywanych pomiarów. Obwód kombinacji jest po¬ laczony z zespolem programowym za pomoca pola¬ czen, których liczba jest równa liczbie dwa podnie¬ sionej do potegi o wykladniku równym liczbie wy¬ konywanych pomiarów.Zespól programowy jest polaczony z urzadzeniem sortujacym, wyposazonym w wychylne klapy oraz koryto transportowe i pochyle zeslizgi sortujace, za¬ konczone pojemnikami. Ponadto urzadzenie ma zes¬ pól zasilajacy przeznaczony do zasilania pradem stabilizowanym przekazników i zespolu napedowego, oraz wyrzutnik, sterowany za pomoca elektronicz¬ nego urzadzenia sterujacego, który jest przeznaczony do wyrzucania elementu pólprzewodnikowego po zakonczeniu pomiarów z tarczy mocujacej w koryto transportowe.Urzadzenie wedlug wynalazku ma te zalete, ze zredukowano w nim do minimum mechaniczne zes¬ poly, tak, ze nie istnieje podzial na wyodrebnione zespoly mechaniczne i elektryczne, a urzadzenie jest mniejsze, lzejsze i tansze. Sterowanie kolejnych po¬ miarów odbywa sie w urzadzeniu wedlug wynalaz¬ ku nie na drodze mechanicznej lecz elektronicznej, co umozliwia praktycznie dowolne przyspieszenie pomiarów przy minimalnym nakladzie sily i ma¬ ksymalnej oszczednosci czasu. Przyspieszenie pomia¬ rów jest niezbedne zwlaszcza przy przejsciu na po¬ miar nowego typu tranzystora, wymagajacego szyb¬ ko nastepujacych po sobie pomiarów.W odróznieniu od wiekszosci znanych urzadzen, w których badany element pólprzewodnikowy jest przesuwany w czasie pomiaru od jednego obwodu pomiarowego do drugiego — w urzadzeniu wedlug wynalazku, element ten pozostaje w czasie pomia¬ ru nieruchomy i jest jedynie wlaczany elektrycznie kolejno w poszczególne obwody pomiarowe. Dzieki temu zapewniony jest pewny styk o bardzo malej opornosci, co ze wzgledu na niezbedne slizganie sie przesuwanych elementów pólprzewodnikowych nie jest w ogóle do osiagniecia w znanych urzadzeniach.Wynalazek jest przykladowo wyjasniony na ry¬ sunku, na którym fig. 1 przedstawia tarcze mocu¬ jaca i zespoly napedowe oraz wyrzutnik urzadzenia wedlug wynalazku, fig. 2 — schemat blokowy urza¬ dzenia wedlug wynalazku, a fig. 3 schematycznie urzadzenie sortujace.Urzadzenie wedlug wynalazku ma mocujaca tar¬ cze 1, w której w miejscach odpowiadajacych ko¬ lejnym polozeniom I i II, III i IV tarczy, wykonane sa po trzy chwytowe otwory 28 przystosowane do recznego osadzenia w nich wyprowadzen bazy, emi¬ tera i kolektora tranzystora 27* W otworach chwy¬ towych 28 umieszczone sa zaciski sprezynowe, któ¬ re polaczone sa elektrycznie ze stykami 11 na wale 29. Styki 11 sa polaczone za pomoca wyprowadzen A, B i C zespolem kontrolnym 7 (fig. 2).Wal 29 tarczy mocujacej 1 jest polaczony mecha- 5 nicznie z dwoma zespolami napedowymi 2 i 3, któ¬ re nadaja mu przerywany ruch obrotowy o ustalo¬ nym skoku. Zespoly napedowe 2 i 3 stanowia w przykladowym rozwiazaniu przedstawionym na ry¬ sunku silniki typu DIKO. Silniki te maja te wlas¬ nosc, ze na skutek przylozenia do ich zacisków ste¬ rujacych impulsu elektrycznego o okreslonej wiel¬ kosci powoduja obrót walu 29 o kat 90° z doklad¬ noscia do kilku stopni.W przykladowym rozwiazaniu przedstawionym na fig. 1 zastosowano dwa takie silniki o przeciwnym kierunku obrotów. Z fig. 2 widoczne jest, ze w wy¬ niku podania impulsu z zespolu sterujacego 4, przez zespól przelaczajacy 5, na polaczone ze soba rów¬ nolegle przewodami D, E i F zaciski zespolów na¬ pedowych 2 i 3, przylozone zostaje napiecie z zes¬ polu zasilania 6. Na skutek tego zespoly napedowe 2 i 3 obracaja wal 29 o kat 90°, przez co osadzony w otworach chwytowych 28 tarczy mocujacej 1 tranzystor 27 przechodzi z polozenia I w polozenie II. Jezeli na tranzystorze 27 ma byc dokonane n pomiarów, przy czym na kazdy pomiar potrzebny jest taki sam czas, zwany w dalszej czesci opisu taktem, tarcza 1 pozostaje w polozeniu II przez czas równy (n+2) taktów, gdyz dalsze dwa takty sa nie¬ zbedne do przeprowadzenia operacji, które beda omówione pózniej. Po uplywie czasu (n+2) taktów, badany tranzystor 27, zostaje przeniesiony z poloze¬ nia II w polozenie III tarczy mocujacej 1, i naste¬ pnie po uplywie takiego samego czasu w polozenie IV.W polozeniu I tarczy mocujacej 1 nastepuje osa¬ dzenie badanego tranzystora 27 w otworach chwyto¬ wych 28.Polozenia II i III sa martwe, to znaczy nie odpo¬ wiada im zadne dzialanie, lecz sa one niezbedne dla symetrii wymaganej przy ruchu ciaglym.Polozenie IV jest polozeniem pomiarowym, a rów¬ noczesnie polozeniem wyrzucania. Gdy tranzystor 27 znajduje sie w polozeniu IV, jest on kolejno la¬ czony z obwodami pomiarowymi 13 a w takcie (n+ + l)-szym, uruchomiony przez zespól sterujacy 4 wyrzutnik 9 wyrzuca zbadany tranzystor w koryto transportowe 10 urzadzenia sortujacego.Samoczynne wlaczanie badanego tranzystora 27 w obwód pomiarowy 13, przeprowadzenie pomiaru, zmagazynowanie otrzymanego wyniku oraz urucho¬ mienie czlonu sterujacego urzadzeniem sortujacym, odbywa sie w nizej opisany sposób.Badany tranzystor 27 jest elektrycznie polaczony za pomoca kolektorowych styków 11 i wyprowadzen A, B i C przez zespól kontrolny 7 z zespolem prze¬ laczajacym 8. Zespól przelaczajacy 8, podobnie jak i zespól przelaczajacy 5, sa zbudowane na przekaz¬ nikach tranzystorowych. Zespól kontrolny 7 jest za¬ opatrzony we wskaznikowe przyrzady pomiarowe o odpowiedniej czulosci, dzieki czemu umozliwia nie tylko automatyczne, ale równiez reczne spowodo-, wanie przeskoku walu 29, na przyklad w celu prze¬ prowadzenia za pomoca urzadzenia wedlug wyna¬ lazku bezposredniej kontroli. Przy automatycznym 15 20 25 30 35 40 45 50 55 605 pomiarze, zespól kontrolny 7 otrzymuje z zespolu wzorcowego 12 sygnal wzorcowy odpowiedniej wiel¬ kosci, który nastepnie przekazywany jest przez ze¬ spól kontrolny 7 na wejscia obwodów logicznych 30, których praca omówiona zostanie w dalszej czesci opisu.Zespól wzorcowy 12 ma ogniwo wzorcowe, do¬ starczajace sygnal lub napiecie wzorcowe o stalej wartosci.Zespól przelaczajacy 8 pod dzialaniem impulsu i sterujacego z zespolu sterujacego 4 laczy kolejno wyjscia K19 K2... Kn z wejsciami wlasciwych obwo¬ dów pomiarowych 13. Zespól sterujacy 4 stanowi lancuch tranzystorowych liczników binarnych, na¬ pedzany przezmultiwibrator. t Wyjscia Klt K2... Kn zespolu przelaczajacego 8 polaczone sa z wejsciami obwodów pomiarowych 13. Obwody pomiarowe 13 zbudowane sa na tran¬ zystorach i zasilane stalym napieciem przy czym bu¬ dowa ich zapewnia trwala stabilizacje. 2i Obwody pomiarowe 13, stanowiace tranzystorowe zespoly w postaci wysuwanych paneli przystosowa¬ ne sa do przeprowadzania pomiaru pradów zwrot¬ nych tranzystora (lCBO, IEBO, lCFO, ICES, ICER), po¬ miaru parametrów dla malych sygnalów (dla 1 KHz) a w ukladzie ze wspólnym emiterem i ze wspólna ba¬ za, pomiaru opornosci wejsciowej (hlie i hllb), po¬ miaru zwrotnego oddzialywania napiecia wyjscio¬ wego (h12e i h12b), pomiaru wspólczynnika wzmoc¬ nienia pradowego (h2le i h21b), pomiaru przewodnos- 30 ci wejsciowej (h22e i h22b), pomiaru napiec przebicia (BVcbo, BVEbo, BVceO' BVCes. BVCer) pomiaru na¬ piecia przebicia (Vpt) i pomiaru parametrów dla du¬ zych sygnalów. W przypadku gdy dane jest napiecie kolektor-emiter UCe oraz prad kolektora Ic, mierzo- 35 ny jest prad emitera IE oraz napiecie baza-emiter UBe, kazdy w oddzielnym obwodzie pomiarowym, natomiast w przypadku gdy dane jest napiecie ko- lektor-baza UCB oraz prad bazy IB, mierzony jest prad kolektora Ic oraz napiecie baza-emiter UBe- 40 Wyjscia M19 M2 ... Mn obwodów pomiarowych 13 sa przylaczone do obwodów logicznych 30. Obwód logiczny 30 stanowi komparator o odpowiedniej do¬ kladnosci majacy te wlasnosc, ze w przypadku uka¬ zania sie na wejsciu sygnalu o odpowiedniej biegu- 45 nowosci na wyjsciu obwodu pojawia sie logiczne „tak". Przelacznik 16 umozliwia przelaczenie urza¬ dzenia na pomiar reczny za pomoca zespolu wzor¬ cowego 12. Praca obwodów logicznych polega na po¬ laczeniu pracy wzmacniaczy pradu stalego i dwu- 50 stabilnych przerzutników Schmitta, sprzezonych ka¬ todowo.Porównanie malych napiec stalych jest, jak wia¬ domo trudnym zagadnieniem, poniewaz duza role odgrywa przesuniecie punktu pracy wzmacniacza 55 napiecia stalego. W urzadzeniu wedlug wynalazku niedogodnosc ta zostala wyeliminowana, gdyz po¬ równywane napiecie stale przetworzone jest za po¬ moca przetwornika pólprzewodnikowego w napie¬ cie zmienne, a otrzymany sygnal zostaje wzmocnio- 60 ny za pomoca odpowiedniego wzmacniacza, przy Czym po demodulacji fazowej, czesc otrzymanego na wyjsciu* sygnalu zostaje podana przez ujemne sprze¬ zenie zwrotne na wejscie. Dzieki temu uzyskuje sie wzmacniacz o wysokiej stabilnosci, duzej opornosci 6$-, 6 wejsciowej i bardzo malym przesunieciu punktu ze¬ rowego.Napiecie stale uzyskane na wyjsciu wzmacnia¬ cza kierowane jest przez przerzutnik Schmitta na 5 inwerter. W przypadku gdy na wyjsciu wzmacnia¬ cza pojawia sie napiecie stale o odpowiedniej war¬ tosci i biegunowosci, w wyniku zadzialania prze- rzutnika Schmitta, rozpoczyna sie praca inwertera i na wyjsciu komparatora pojawia sie sygnal lo¬ giczny „tak". Wzmacniacz, przerzutnik Schmitta i inwerter zbudowane sa na elementach pólprzewod¬ nikowych. Ewentualne niedokladnosci dzialania tych elementów, spowodowane ich wrazliwoscia na zmia¬ ny temperatury wyeliminowane sa dzieki umieszcze¬ niu ich w termostacie.Budowa tego termostatu jest nastepujaca. Na ply¬ cie metalowej jest przymocowana plytka z termisto- rem, który sluzy do pomiaru temperatury plytki.Umieszczony na plytce tranzystor ogrzewa te plyt¬ ke oraz plytke metalowa podstawy. Termistor, mie¬ rzacy temperature plytki reguluje temperature tran¬ zystora i utrzymuje stala temperature plyty podsta¬ wy, do której przymocowane sa wrazliwe na zmia¬ ny temperatury tranzystory urzadzenia. W celu wy¬ eliminowania wplywu temperatury zewnetrznej — temperatura plyty podstawy jest wyzsza od najwyz¬ szej mozliwej temperatury otoczenia i wynosi na przyklad 50°C.Zbudowany w ten sposób obwód ma oprócz od¬ powiedniej czulosci równiez doskonala stabilnosc, dzieki czemu bardzo dobrze spelnia swa wazna funkcje w urzadzeniu.Obwody logiczne 30, maja, jak juz wyzej wspom¬ niano, te wlasnosc, ze na wyjsciu ich ukazuje sie lo¬ giczny sygnal „tak" lub „nie" w zaleznosci od tego, czy powstajacy w obwodzie pomiarowym 13 impuls pradu lub napiecia stalego, jest wyzszy czy nizszy od nastawionego uprzednio poziomu.Sygnal pojawiajacy sie na wyjsciach E'1? E'2.» E'n obwodów logicznych 30, stanowiacy logiczny impuls „tak" lub „nie", podawany jest na wejscie zespolu pamieciowego 17. Równoczesnie w przypadku po¬ jawiania sie sygnalu „tak", zapalaja sie lampki syg¬ nalizacyjne 31. Zespól pamieciowy 17 zbudowany jest na elementach pólprzewodnikowych i stanowi uklad dwustabilnych przerzutników majacych te wlasnosc, ze podawana na wejscie zespolu pamie¬ ciowego 17 informacja w postaci sygnalu logicznego „tak" lub „nie", magazynowana jest az do konca (n + l)-ego taktu, przy czym wyjscia T19 T2... Tn ze¬ spolu pamieciowego 17 sa stale polaczone z wejsciem obwodu kombinacji 18.Obwód 18 stanowi macierz diodowa, zbudowana na diodach pólprzewodnikowych. Obwód kombina¬ cji 18 w czasie (n-hl)-szego taktu, wybiera kombi¬ nacje z 2n wyjsc Clt C2... C2n na skutek podania przez przewód 14 impulsu na przewód odpowiadaja¬ cy tej kombinacji. Oznacza to, ze z 2n przewodów wyjsciowych tylko na jednym z nich powstanie lo¬ giczny sygnal „tak". Kombinacja pojawiajaca sie na wyjsciu obwodu 18 stanowi wypadkowa pomia¬ rów parametrów elektrycznych badanego tranzysto¬ ra i zawiera wszystkie otrzymane informacje, dzie¬ wki czemu stanowi podstawe do podzialu klasyfika¬ cyjnego tych elementów. Chociaz przy zastosowaniu % i 17 80366 s • n obwodów pomiarowych 13 z sygnalów logicznych „tak" lub „nie", bedacych wynikiem poszczególnych pomiarów, mozliwe jest powstanie bardzo duzej liczby, bo 2n kombinacji, w praktyce nie istnieje koniecznosc uwzglednienia tak olbrzymiej liczby klas.W praktyce wystarcza uwzglednienie znacznie ^ mniejszej liczby kombinacji i zagadnienie polega na ich odpowiednim zróznicowaniu. Na przyklad w przypadku pieciu obwodów pomiarowych istnieje 25=32 kombinacji, natomiast w praktyce wystarcza podzial na osiem klas, zatem nalezy umozliwic okre¬ slony wybór tych osmiu zadanych przypadków z 32 mozliwych. Do tego celu sluzy zespól programo¬ wy 19 przylaczony do wyjsc C19 C2 ... C2n obwodu kombinacji 18 i umozliwiajacy wybór z mozliwych na jego wejsciu 2n kombinacji, uprzednio okreslo¬ nej liczby k kombinacji.Odpowiednio do uzyskanych wyników pomiarów na jednym z wyjsc F19 P2 ... Pk zespolu programo¬ wego 19 pojawia sie logiczny impuls „tak" prze¬ znaczony do sterowania przekaznika polozenia 20 urzadzenia sortujacego. Nastawienie zespolu progra¬ mowego 19 odbywa sie recznie przez wetkniecie wtyczki.W koncowej fazie (n+l)-szego taktu w urzadzeniu sortujacym, zamyka sie odpowiednia klapa prowa¬ dzaca 24, umozliwiajac doprowadzenie elementu pólprzewodnikowego, na przyklad tranzystora 27 do odpowiedniego pojemnika 26 (fig. 3). W tym sa¬ mym takcie opisany ponizej wyrzutnik 9 (fig. 1) wy¬ rzuca zbadany element pólprzewodnikowy w uwi¬ docznione na fig. 1 i fig. 3 pochyle koryto transpor¬ towe 10, po którym zsuwa sie on do wymienionego uprzednio urzadzenia sortujacego z wychylnymi kla¬ pami.W czasie (n+2)-go taktu impuls elektryczny prze¬ kazany przez przewód 15 ustawia caly uklad ponow¬ nie w polozenie wyjsciowe.Zespól kontrolny stanowiacy w przykladowym rozwiazaniu przedstawionym na fig. 2 lampe liczaca 21 umozliwia wizualne wskazanie prawidlowego funkcjonowania lub zaburzen, powstajacych w po¬ szczególnych czesciach ukladu urzadzenia, umozli¬ wiajac tym samym latwe odnalezienie ewentualnego bledu.Lampki sygnalizacyjne 31 na wyjsciach obwo¬ dów logicznych 30 wskazuja jaka informacja jest przekazywana w kodzie binarnym do zespolu pa¬ mieciowego. Lampa liczaca 21 jest przelaczalna i pelni podwójna funkcje. W jednym polozeniu kon¬ troluje prace zespolu sterujacego, liczac odpowied¬ nia dla stanu obwodów pomiarowych ilosc przeka¬ zanych taktów w czasie przebiegu. Ukazujaca sie liczba wskazuje numer pracujacego w danej chwili obwodu pomiarowego. Natomiast w drugim poloze¬ niu, lampa liczaca 21 jest wlaczona na wyjscie zes¬ polu programowego 19 i kontroluje prawidlowe funkcjonowanie obwodu kombinacji 18 i zespolu programowego 19. Tym samym lampa liczaca 21 nadzoruje w swych obydwu polozeniach laczna pra¬ ce calego ukladu elektronicznego.Dzialanie przedstawionego na fig. 1 wyrzutnika 9 jest nastepujace. Zadaniem wyrzutnika 9 jest wy¬ rzucenie tranzystora 27 w (n+l)-szym takcie do ko¬ ryta transportowego 10, w którym przenoszony jest on do uwidocznionego na fig. 3 urzadzenia sortuja¬ cego.Wyrzutnik 9 stanowi elektromechaniczny element 5 nastawny, który pod dzialaniem impulsu przycho¬ dzacego na zaciski wejsciowe wywiera odpowiednio duza sile, powodujac ruch tranzystora. Sklada sie on z jednego lub dwóch polaczonych równolegle elektromagnesów, których ruchoma kotwica jest uksztaltowana w ten sposób, ze po wzbudzeniu ele¬ ktromagnesu powoduje wyrzucenie badanego ele¬ mentu pólprzewodnikowego z otworów chwytowych 28, wywierajac przy tym odpowiednia sile na wyko¬ nane z tworzywa sztucznego widelki chwytajace tranzystor 27. Po ustaniu impulsu elektrycznego wy¬ rzutnik 9 wraca w polozenie wyjsciowe. Po wrzu¬ ceniu tranzystora 27 do koryta transportowego 10 w (n+il)-szym takcie zostaje on podany do piono¬ wego kanalu sortujacego 23, przy czym przesuniecie to odbywa sie pod dzialaniem sily ciezkosci. Nie¬ zaleznie od tego, wyrzutnik 9 nadaje kazdemu ele¬ mentowi okreslona predkosc poczatkowa.Pionowy kanal sortujacy 23 jest zbudowany w ten sposób, ze na jego przeciwleglych sciankach umieszczone sa klapy wychylne 24, których liczba k odpowiada liczbie klas podzialu badanych ele¬ mentów. Klapa 24 jest polaczona z elektromecha¬ nicznym elementem nastawczym, na przyklad z elektromagnesem 25, który pod wplywem doprowa¬ dzonego do jego zacisków impulsu otwiera odpo¬ wiednia klape 24 w polozenie, przedstawione na fig. 3 linia kreskowana. W zaleznosci od wyników po¬ miaru, badany element pólprzewodnikowy dostaje sie w odpowiedni zeslizg sortujacy 22 i zeslizguje sie do wlasciwego pojemnika 26. Klapy 24 sa otwarte w czasie pierwszych n taktów pomiarowych nastep¬ nego elementu, dzieki czemu zbadany element, na¬ wet w przypadku zsuwania sie po najdluzszym to¬ rze, dostaje sie do odpowiedniego pojemnika 26. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do automatycznego pomiaru para¬ metrów elektrycznych oraz do sortowania elemen¬ tów pólprzewodnikowych, zwlaszcza tranzystorów, znamienne tym, ze ma obracana skokowo za po¬ moca przynajmniej jednego zespolu napedowego (2, 3) tarcze mocujaca (1), osadzona na wspólnym wale (29) z tym zespolem napedowym (2, 3) zawierajaca zespoly otworów chwytowych (28), przeznaczonych do umieszczenia w, nich wyprowadzen elementu pól¬ przewodnikowego, na przyklad tranzystora (27), przy czym liczba zespolów otworów chwytowych (28) jest równa liczbie skoków tarczy (1) w czasie jej pelnego obrotu, a zespól napedowy (2, 3) jest polaczony z elektronicznym zespolem sterujacym (4), który po czasie równym sumie taktów pomiarowych oraz dwóch taktów dodatkowych powoduje obrót tarczy mocujacej (1) o nastepny skok, oraz ma zes¬ pól przelaczajacy (8) polaczony z zespolem kontrol¬ nym (7) dostosowanym, zarówno do pomiarów recz¬ nych jak automatycznych i polaczonym z zespolem wzorcowym (12) w celu przekazania sygnalu wzor¬ cowego na wymieniony zespól kontrolny (7), przy 15 20 25 30 35 40 45 50 55 609 60366 10 czym zespól przelaczajacy (8) jest przeznaczony do kolejnego laczenia w poszczególnych taktach pomia¬ rowych wyprowadzen badanego elementu pólprze¬ wodnikowego z obwodami pomiarowymi (13), któ¬ rych liczba jest równa liczbie przeprowadzanych po¬ miarów, przy czym obwody pomiarowe (13) sa pola¬ czone z obwodami logicznymi (30), których liczba jest równa liczbie obwodów pomiarowych (13) i któ¬ rych wyjscia (E^, E'2... E'n) sa polaczone z zespolem pamieciowym (17) w celu przekazywania do obwo¬ du pamieciowego (17) logicznych impulsów „tak" lub „nie" a pomiedzy obwodami logicznymi (30) a zespolem pamieciowym (17) przylaczone sa lamp¬ ki sygnalizacyjne (31), natomiast zespól pamieciowy (17) jest polaczony z obwodem kombinacji (18), przeznaczonym do wytworzenia kombinacji, któ¬ rych ilosc jest równa liczbie dwa, stanowiacej pod¬ stawe kodu binarnego, podniesionej do potegi której wykladnik jest równy liczbie wykonywanych po¬ miarów a ponadto obwód kombinacji (18) jest po¬ laczony z zespolem programowym (19) za pomoca polaczen, których liczba jest równa liczbie dwa pod¬ niesionej do potegi o wykladniku równym liczbie wykonywanych pomiarów, zas zespól programowy (19) jest polaczony z urzadzeniem sortujacym, wy¬ posazonym w wychylne klapy (24) oraz koryto transportowe (10) i pochyle zeslizgi sortujace (22) zakonczone pojemnikami (26), a ponadto urzadze¬ nie ma zespól zasilania (6) przeznaczony do zasila¬ nia pradem stabilizowanym przekazników i zespo¬ lu napedowego (2, 3) oraz ma wyrzutnik (9) stero¬ wany za pomoca elektronicznego zespolu sterujace¬ go (4), który jest przeznaczony do wyrzucania ele¬ mentu pólprzewodnikowego po zakonczeniu pomia¬ rów z tarczy mocujacej (1) w koryto transportowe (10), a ponadto urzadzenie ma uklad kontrolny, na przyklad lampe liczaca (21), przelaczalna w obwód zespolu programowego (19) i w obwód zespolu ste¬ rujacego (4).

2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze otwory chwytowe (28) tarczy (1), których liczba w jednym zespole otworów chwytowych (28) jest rów¬ na liczbie wyprowadzen badanego elementu pól¬ przewodnikowego sa zaopatrzone w zaciski sprezy¬ nowe polaczone elektrycznie ze stykami umieszczo¬ nymi na wale (29) tarczy (1). 5 3. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 i 2, znamienne tym, ze zespól sterujacy (4) stanowi lancuch tranzysto¬ rowych liczników binarnych zasilany przez multi- wibrator. 4. yrzadzenie wedlug zastrz. 1—3, znamienne tym, ze zespoly przelaczajace (5 i 8) sa zbudowane na przekaznikach tranzystorowych. 5. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—4, znamienne tym, ze zespól kontrolny (7) jest zaopatrzony we wskaz¬ nikowe przyrzady pomiarowe. 6. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—5, znamienne tym, ze zespól wzorcowy (12), sluzacy do wytwarzania napiecia wzorcowego, jest zaopatrzony w ogniwo wzorcowe. 7. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—6, znamienne tym, ze obwody pomiarowe (13), zasilane stalym napie¬ ciem stanowia tranzystorowe zespoly w postaci wy¬ suwanych paneli. 8. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—7, znamienne tym, ze kazdy z obwodów logicznych (30) zbudowany jest na elementach pólprzewodnikowych, umieszczonych w termostacie i sklada sie ze wzmacniacza pradu stalego i z dwustabilnego przerzutnika Schmitta o sprzezeniu katodowym. 9. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—8, znamienne tym, ze zespól pamieciowy (17) stanowi uklad przerzutni- ków dwustabilnych. 10. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—9, znamienne tym, ze obwód kombinacji (18) stanowi macierz diodo¬ wa zbudowana na diodach pólprzewodnikowych. 11. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—19, znamienne tym, ze zespól programowy (19) wykonany jest jako nastawiany recznie za pomoca wtyku. 12. Urzadzenie wedlug zastrz. 1—11, znamienne tym, ze wyrzutnik (9), poruszany przez elektromag¬ nes, ma wykonane korzystnie z tworzywa sztuczne¬ go widelki, przeznaczone do chwytania badanego elementu pólprzewodnikowego. 15 20 25 30 35KI. 21 e, 31/22 60366 MKP G 01 r, 31/22 Fig.1 9tF ABC sty-ór is& _ l l t * HWL i. 9*i B mdi ¦ iw, lv<^j—^n^» t , teJ I t» "¦"^r-n^y _JS_ CL £2. Ci* rt » (,» ^2f ^2 WDA-l. Zam. 4916. Naklad 230 egz. PL PL