PL60291B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.VI.1970 60291 KI. 42 b, 19 MKP G Ol b, 3/18 CZYTELNIA Urzecfc Pofenlo^M^go NbkliJ la«w »i i • i •t Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Jan Reluga, mgr inz. Jan Groszynski Wlasciciel patentu: Instytut Maszyn Matematycznych, Warszawa (Pol¬ ska) Uklad do korekcji bledów skoku sruby mikrometrycznej w urza¬ dzeniach pomiarowych Przedmiotem wynalazku jest uklad do korekcji bledów skoku sruby mikrometrycznej w urzadze¬ niach pomiarowych z automatycznym elektronicz¬ nym odczytem cyfrowym umozliwiajacy wyelimi¬ nowanie wplywu tych bledów na wynik pomiaru, -w którym element przesuwny zespolu sruba-na¬ kretka polaczony jest sztywno ze stolem pomiaro¬ wym lub innym zespolem mierzonym a korekcja bledów odbywa sie przez regulacje polozenia ukla¬ du odczytowego podzialki pomiarowej zwiazanej z elementem obrotowym zespolu sruba-nakretka za pomoca krzywki korekcyjnej umieszczonej na zespole przesuwnym.Zespól sruby mikrometrycznej z nakretka jest mechanizmem powszechnie stosowanym do zamia¬ ny ruchu obrotowego na przesuniecie liniowe stolu lub innego zespolu przesuwnego. Pomiaru tego prze¬ suniecia dokonuje sie przez odczytywanie wskazan podzialki umieszczonej na tarczy lub bebnie sztyw¬ no zwiazanym z elementem obrotowym zespolu sruba-nakretka.Pomiaru tego przesuniecia dokonuje sie przez •odczytywanie polozenia podzialki zwiazanej z ele¬ mentem obrotowym zespolu sruba-nakretka wzgle¬ dem nieruchomego przeciwwskaznika. W urzadze¬ niach z automatycznym odczytem cyfrowym role podzialki spelnia tarcza pomiarowa przetwornika analogowo-cyfrowego, zwana tarcza kodowa lub impulsowa, a role przeciwwskaznika — czujnik od¬ czytowy przetwornika. 10 25 30 Podstawowa wada zespolu pomiarowego zlozone¬ go ze sruby z nakretka jest obarczenie wyniku po¬ miaru bledem systematycznym, wynikajacym prze¬ de wszystkim z bledów skoku sruby mikrometrycz¬ nej. Dotyczy to szczególnie srub o duzej dlugosci czynnej, gdy zakres pomiarowy .przekracza kilka lub kilkanascie pelnych skoków sruby.Usuniecie tego bledu przez podniesienie doklad¬ nosci wykonania sruby jest trudne technologicznie i bardzo kosztowne.Wplyw bledów skoku sruby mikrometrycznej mozna w znacznej mierze usunec przez zastosowa¬ nie mechanizmu korekcyjnego.Opracowano szereg konstruikcj mechanizmów ko¬ rekcyjnych, których zasada dzialania opiera sie na tym, ze równolegle do osi sruby umieszczona jest listwa, po której przesuwa sie wodzik zwiazany z nakretka. Wodzik ten jest stale dociskany do listwy. Listwa jest tak zaprofilowana, ze nadaje ona wodzikowi a tym samym nakretce wymuszony ruch obrotowy w niewielkim zakresie katowym.Obrót nakretki nastepuje w takim kierunku, aby skorygowac uprzednio mierzony blad skoku sruby.We wszystkich mechanizmach, w których korek¬ cja bledów skoku sruby nastepuje przez wymusza¬ nie kompensacyjnego obrotu nakretki, nakretka nie moze byc sztywno zwiazana z elementem, którego przesuniecie jest zmierzone. Musi ona miec moz¬ nosc wykonania niewielkich ruchów obrotowych.Prostoliniowy przesuw nakretki zabezpiecza sie 602913 60291 4 przez prowadzenie jej na srednicy podzialowej sru¬ by przy wykasowanych luzach, ujecie nakretki w precyzyjne jarzmo lub wykonanie dla niej dodat¬ kowych prowadnic. We wszystkich tych rozwiaza¬ niach istnieje mozliwosc obarczenia wyniku pomia¬ ru bledem systematycznym lub przypadkowym.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu umo¬ zliwiajacego skorygowanie bledów -skoku sruby mi- krometrycznej. Zadanie to zostalo rozwiazane we¬ dlug wynalazku w ten sposób, ze zastosowano me¬ chanizm powodujacy taki obrót czujnika odczyto¬ wego przetwornika analogowo-cyfr owego, który kompensuje bledy skoku sruby. Istota wynalazku jest to, ze mechanizm korekcji bledów systema¬ tycznych sruby oparty na znanej metodzie krzywki korekcyjnej umieszczonej na elemencie przesuw¬ nym obraca czujnik wzglednie zespól czujników odczytujacych polozenie tarczy z podzialka o kat proipforcjonalny do wartosci bledu sruby w danym miejscu.Nakretka sruby mikrometrycznej zwiazana jest sztywno ze stolem lub innym elementem przesuw¬ nym. Równiez ze sitolem zwiazana jest listwa ko¬ rekcyjna. Po listwie prowadzony jest wodzik zwia¬ zany z tuleja, w której osadzony jest zespól czuj¬ ników odczytujacych polozenie tarczy pomiarowej przetwornika. Tarcza przetwornika analogowo-cyf- roweigo zamocowana jest na srubie mikrometrycz- nej. W wyniku prowadzenia wodzika po listwie ko¬ rekcyjnej tuleja z czujnikami wykonuje obrót w niewielkim t zakresie katowym. Powoduje to prze¬ mieszczanie punktu odniesienia, w którym czujni¬ ki odczytuja podzialke tarczy pomiarowej zawie¬ szonej na srubie o warjtosc katowa, odpowiadajaca wartosci bledu systematycznego sruby w danym miejscu.Mozliwe jest równiez takie rozwiazanie konst(ruk-v cyjne calego zespolu pomiarowego, w którym ze stolem przesuwnym, zwiazana jest sztywno sruba mikrometryczna, zas elementem obrotowym jest na¬ kretka i na niej zawieszona jest tarcza pomiaro¬ wa przetwornika analogowo-cyfrowego.Wynalazek wyjasniany jest na przykladzie wyko¬ nania przedstawianym na rysunku, gdzie fig. 1 przedstawia uklad do korekcji bledu i odczytu po¬ lozenia stolika pomiarowego, a fig. 2 przedstawia schemat mechanizmu dociskajacego wodzik tuleL do listwy korekcyjnej.Nakretka 3 zwiazana jest za posrednictwem sztywnego wspornika 2 ze stolem pomiarowym 1.Przesuw stolika dokonuje sie za pomoca sruby mi- krometrycznej 4 ulozyskowanej w korpusie 5. Na jednym koncu sruby zawieszona jest tarcza pomia¬ rowa 6 z podzialka impulsowa lub kodowa. Katowe polozenie tarczy odczytywane jest za pomoca foto-- elektrycznego ukladu odczytowego, zlozonego z oswietlacza 7, plytki 8 ze szczelinami odczytowymi i elementów swiatloczulych 9. Fotoelektryczny uklad odczytowy osadzony jest w tulei 10. Tuleja ta osadzona jest obrotowo na czopie 12 i ma mo¬ zliwosc wykonywania niewielkich obrotów kato¬ wych. W tulei 10 osadzony jest równiez wodzik 11 dociskany stale do listwy korekcyjnej 14 zamoco¬ wanej na wsporniku 2 za pomoca sprezyny 13.Przy przesuwie stolika 1 wraz ze wspornikiem 2, nakretka 3 wodzik 11 przesuwa sie po powierzchni listwy korekcyjnej 14 i powoduje w niewielkim zakresie zmiany polozenia katowego tulei 10 z fo- toelektrycznym ukladem odczytowym. Spowodowa¬ ne tym iprzemieszczenie punktu odczytania podzial- ki tarczy pomiarowej 6 kompensuje bledy skoku sruby mikrometrycznej 4. PL PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad do korekcji bledów skoku sruby mikro¬ metrycznej w urzadzeniach poimarowych, znamien¬ ny tym, ze nakretka wspólpracujaca ze sruba po¬ laczona jest sztywno ze stolem pomiarowym lub innym elementem przesuwnym, którego polozenie jest mierzone.

2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze na srubie zawieszona jest tarcza lub beben pomiaro¬ wy, których polozenie katowe jest okreslone za po¬ moca ukladu czujników odczytujacych, osadzone¬ go w obrotowej tulei wyposazonej w wodzik do¬ ciskany stale do listwy korekcyjnej.

3. Odmiana ukladu wedlug zastrz. 1 i 2, znamien¬ na tym, ze sruba wspóJiprocujaca z nakretka pola¬ czona jest sztywno ze stolem pomiarowym lub in¬ nym elementem przesuwnym, a na nakretce zawie¬ szona jest tarcza lub beben pomiarowy. 10 15 20 25 30 35 40KI. 42 b, 19 60291 MKP G 01 b, 3/18 FS Fig.1 I PL PL