PL58752B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL58752B1 PL58752B1 PL114179A PL11417966A PL58752B1 PL 58752 B1 PL58752 B1 PL 58752B1 PL 114179 A PL114179 A PL 114179A PL 11417966 A PL11417966 A PL 11417966A PL 58752 B1 PL58752 B1 PL 58752B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- content
- infrared radiation
- radiation
- active substance
- layer
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 12
- 239000013543 active substance Substances 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N iron oxide Inorganic materials [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000013980 iron oxide Nutrition 0.000 description 3
- VBMVTYDPPZVILR-UHFFFAOYSA-N iron(2+);oxygen(2-) Chemical class [O-2].[Fe+2] VBMVTYDPPZVILR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- -1 silver halides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000011437 continuous method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000155 isotopic effect Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004313 potentiometry Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 10.XII.1969 58752 KI. 42 1,3/09 MKP G 01 n Wspóltwórcy wynalazku: mgr Wieslaw Krawczyk, inz. Roland Dziubin¬ ski Wlasciciel patentu: Warszawskie Zaklady Fotochemiczne, Warszawa (Pol¬ ska) Sposób ciaglego pomiaru zawartosci substancji czynnej w procesie nanoszenia warstw swiatloczulych i magnetycznych na podloze przezroczyste Przedmiotem wynalazku jest sposób ciaglego po¬ miaru zawartosci substancji czynnej w procesie nanoszenia warstw swiatloczulych i magnetycz¬ nych na podloze przezroczyste.Zawartosc i równomiernosc naniesienia halogen¬ ków srebra i tlenków zelaza w materialach swia¬ tloczulych i magnetycznych ma zasadnicze znacze¬ nie, decyduje bowiem o ich wlasciwosciach foto¬ graficznych i elektroakustycznych. Znane dotych¬ czas metody okreslania zawartosci substancji czyn¬ nej, mozna podzielic na metody okresowych prób i metody ciagle.Metoda okresowych prób polega na analitycz¬ nym okreslaniu zawartosci srebra lub zelaza na jednostce powierzchni w kolejno pobieranych pró¬ bach, wzglednie na pomiarze mikrometrycznym grubosci warstwy. W praktyce przemyslowej sto¬ suje sie cjanometryczna , kolorymetryczna lub po¬ tencjometr yczna metoda oznaczen.Sposoby te posiadaja szereg wad jak np.: ko¬ niecznosc wycinania prób w oblanym materiale, co niejednokrotnie ogranicza mozliwosci kontroli, daja fragmentaryczna informacje o zawartosci substancji czynnej w nakladanej warstwie, uzy¬ skane informacje sa opóznione od 15 do 30 min. co zmniejsza mozliwosc skutecznej interwencji w wypadku wystapienia odchylen od wartosci za¬ danej.Znane metody ciagle oparte sa na pochlanianiu przez warstwe mierzona promieniowania izotopo- 10 15 20 25 30 wego. Polegaja one na okreslaniu zmian natezenia promieniowania izotopowego, wywolanych pochla¬ nianiem i rozpraszaniem promieniowania w war¬ stwie mierzonej. Metody te sa bardzo kosztowne, a ich eksploatacja wymaga odpowiedniego zabez¬ pieczenia z uwagi na obecnosc preparatów promie¬ niotwórczych.Sposób wedlug wynalazku nie ma opisanych nie¬ dogodnosci. Jest on metoda ciagla i polega na okreslaniu zawartosci substancji czynnej przez po¬ miar zmian natezenia promieniowania podczerwo¬ nego o specjalnie dobranej dlugosci fali, wywola¬ nych zmianami zawartosci halogenków srebra lub tlenków zelaza w wylewanej warstwie materialu swiatloczulego lub magnetycznego. Dlugosc pro¬ mieniowania podczerwonego dobiera sie w zakre¬ sie dlugosci fal, dla którego zaznacza sie minimum pochlaniania promieniowania przez wszystkie uzu¬ pelniajace skladniki mierzonych warstw to jest ze¬ latyne, wode i rozpuszczalniki organiczne.Pochlanianie i rozpraszanie swiatla przez halo¬ genki srebra i tlenki zelaza, jest w szerokim za¬ kresie dlugosci fal stale i bliskie lOOtyo. Wymagana dlugosc promieniowania uzyskuje sie stosujac zród¬ lo swiatla bialego z filtrem przepuszczajacym za¬ dany zakres widma w granicach 0,9—1,2^. Po przejsciu przez badana warstwe strumien promie¬ niowania podczerwonego ogniskowany jest na czuj¬ niku, którym moze byc w zasadzie kazdy fotoele- ment o odpowiedniej czulosci w bliskiej podczer- 587523 wieni. Czujnik umieszcza sie w ogniskowej obiek¬ tywu, którego zadaniem jest zogniskowanie stru¬ mienia oraz zabezpieczenia fotoelementu od wply¬ wów zewnetrznych.Czujnik oraz zródlo promieniowania podczerwo¬ nego nalezy umiescic mozliwie najblizej miejsca formowania warstwy, jednakze w punkcie gdzie za¬ tracila ona juz charakter plynny.W wyniku pochlaniania i rozpraszania promienio- niowania w warstwie mierzonej, uzyskuje sie zmia¬ ny pradowe w fotoelemencie proporcjonalne do za¬ wartosci substancji czynnej.Dla uzyskania wymaganej dokladnosci pomia¬ ru Tjjinny byc zapewnione nastepujace warunki: stabilnosc zródla swiatla zarówno pod wzgledem intensywnosci jak i skladu spektralnego, zacho- 4 wanie stalej odleglosci zródla swiatla oraz czuj¬ nika pomiarowego od mierzonej warstwy, stalosc nachylenia osi obiektywu w stosunku do plaszczyz¬ ny warstwy mierzonej. Optymalne warunki uzy- 5 skuje sie przy kacie 90°. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób- ciaglego pomiaru zawartosci substancji 10 czynnej w procesie nanoszenia warstw swiatloczu¬ lych i magnetycznych na podlozu przezroczyste, poprzez pomiar zmian natezenia promieniowania podczerwonego przechodzacego przez badana war¬ stwe i ogniskowanego w fotoelemencie, znamienny 15 tym, ze do pomiaru stosuje sie fale promieniowa¬ nia podczerwonego o dlugosci pomiedzy 0,9 a l,2|x. WDA-1. Zam. 3399. Naklad ?30 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL58752B1 true PL58752B1 (pl) | 1969-08-25 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2847899A (en) | Method of and apparatus for spectrochemical analysis | |
| FI851819L (fi) | Ellipsometriskt foerfarande samt ellipsometrisk anordning foer undersoekning av de fysikaliska egenskaperna i prov eller ytskikten i prov. | |
| JPS56126747A (en) | Inspecting method for flaw, alien substance and the like on surface of sample and device therefor | |
| SE7604502L (sv) | Optisk branddetektor | |
| KR920003050A (ko) | 단결정 소재의 외부상 침전물의 검사방법 | |
| PL58752B1 (pl) | ||
| US3260850A (en) | Measuring the water content of photographic layers | |
| YU38192A (sh) | Postupak i uredjaj za gasnu analizu | |
| SU1233208A1 (ru) | Способ измерени толщины многослойной полимерной пленки | |
| JP2977166B2 (ja) | 広範囲ｘ線検出器を備えたｘ線回折装置 | |
| Slavin | Effect of Slit Width on Background Correction in Photographic Photometry | |
| JPS5213378A (en) | Automatic measuring device for reflexibility distribution | |
| Nicolle et al. | Near-infra-red diffuse reflectivities of natural and man-made materials | |
| SU1086999A1 (ru) | Способ определени ширины запрещенной зоны и положени локальных энергетических уровней в запрещенной зоне полупроводника (его варианты) | |
| JPS58204356A (ja) | 金属物体表面探傷方法 | |
| JPH04232837A (ja) | 散乱光トラップを備えた測光装置 | |
| FI63114C (fi) | Foerfarande foer att maeta taetheten av cylindriska kroppar | |
| SU1052955A1 (ru) | Способ контрол дефектности полупроводниковых и ионных кристаллов | |
| GB661990A (en) | Apparatus for continuous gas analysis | |
| SU834472A1 (ru) | Способ измерени толщины сло КРАТНОгО ОСлАблЕНи РЕНТгЕНОВСКОгОизлучЕНи | |
| SU450099A1 (ru) | Способ рентгенофлуоресцентного анализа | |
| SU448372A1 (ru) | Способ определени угла наклона пучка рентгеновских лучей к оси гониометра | |
| JPS6223126A (ja) | ド−ズ量測定方法 | |
| SU684299A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких пленок на подложках | |
| SU151105A1 (ru) | Способ определени влажности порошкообразных материалов |