Opublikowano: 25.XI.1969 58596 KI. 81 e, 83/02 MKP B65g tojoo UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Jan Podobas, Bogdan Urbanski Wlasciciel patentu: Doswiadczalne Zaklady Lampowe „Lamina" Przed¬ siebiorstwo Panstwowe, Piaseczno (Polska) Mocujacy przyrzad kontaktowy do pólautomatycznych pomiarów elementów elektrycznych, zwlaszcza diod pólprzewodnikowych Przedmiotem wynalazku jest mocujacy przyrzad kontaktowy do pólautomatycznych pomiarów ele¬ mentów elektrycznych, majacy zastosowanie w róznych elektrycznych urzadzeniach pomiarowych, zwlaszcza do pomiarów spadków napiec i pradów wstecznych diod pólprzewodnikowych.W znanych rozwiazaniach konstrukcyjnych przy¬ rzadów do pomiarów elementów elektrycznych, do zaciskania tych elementów w polozeniu pomiaro¬ wym wykorzystuje sie rózne mechanizmy dzwig- niowo-krzywkowe z niezaleznymi napedami po¬ szczególnych ukladów ruchomych. Wskutek tego budowa jest skomplikowana, a reczne wkladanie i wyjmowanie pojedynczych elementów mierzo¬ nych w kazdym cyklu pomiarowym utrudnia za¬ stosowanie tych przyrzadów przy produkcji wiel- koseryjnej.Celem wynalazku bylo opracowanie konstrukcji umozliwiajacej pólautomatyczny pomiar zlozonej conajmniej z kilku sztuk serii elementów elek¬ trycznych, na przyklad diod pólprzewodnikowych, w taki sposób aby obrócenie jednej krzywki spo¬ wodowalo wykonanie wszystkich operacji niezbed¬ nych do podlaczenia styków pomiarowych do mie¬ rzonego elementu elektrycznego.Zadanie rozwiazane zostalo przez utworzenie ukladu krzywkowo-dzwigniowego, w którym osa¬ dzona na obracanej o 90 stopni osi krzywka sty¬ ka sie ze srubami regulacyjnymi, z których jedna powiazana jest z tuleja prowadzaca a poprzez uklad dzwigien polaczona jest ze stykami prado- 30 25 2 wymi, natomiast druga powiazana jest z tuleja dociskowa polaczona z plyta podtrzymywana spre¬ zynami. Mierzone elementy elektryczne wprowa- idza sie do gniazda pomiarowego w listwach, w których umieszcza sie ich wieksza ilosc.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku który przedstawia schematycznie rozmieszczenie elementów sklado¬ wych mechanizmu dzwigniowo-krzywkowego. Mo¬ cujacy przyrzad kontaktowy wedlug wynalazku zawiera rame 1 w której osadzona jest os z krzyw¬ ka 2. W górnej czesci ramy 1 znajduje sie otwór prowadzacy tuleje 3 .W dolnej czesci tulei wkreco¬ na jest sruba regulacyjna 4, która styka sie z krzywka 2. Z tuleja polaczona jest plyta 5 zakon¬ czona sworzniami 6, którymi zamocowany jest uklad dzwigni 7, przegubowo polaczonych z ra¬ ma 1 w jej dolnej czesci. W dzwigniach znaj¬ duja sie styki pradowe 8 utrzymywane sprezy¬ nami 9.Na dolnej plycie ramy 1 zamocowana jest pro¬ wadnica 10 z zatrzaskiem 11 do ustalania listwy przesuwnej 12 z elementami badanymi, oraz slup¬ ki 13 ze sprezynami 14 podtrzymujacymi plyte 15 w która wkrecona jest sruba regulacyjna 16 i do której przymocowana jest tuleja dociskowa 17.Do górnej powierzchni prowadnicy 10 przymoco¬ wany jest radiator 18.Po ustawieniu listwy przesuwnej 12 na okres¬ lona pozycje, os krzywki 2 obracana jest w pra¬ wo do oporu. Spowoduje to docisniecie krzywki 5859858596 3 do sruib regulacyjnych 4 i 16. JSruba regulacyjna 16 przemieszczajac sie w dól powoduje przesunie¬ cie plyty 15 i tulei dociskowej 17, która dociska element badany do radiatora 18. Równoczesnie sruiba regulacyjna 4 przemieszczajac sie w góre powoduje przesuniecie tulei 3, a poprzez plyte 5 i uklad dzwigien 7 prowadzi do zacisniecia szyjki elementu badanego, na przyklad diody pólprze¬ wodnikowej stykami pradowymi 8. Po wykona¬ niu pomiarów elektrycznych os krzywki 2 obraca¬ na jest w lewo do oporu, a przesunieciem listwy 12 w polozeniu pomiarowym ustawiany jest na¬ stepny badany element elektryczny. Ustawienie docisku i zacisku badanego elementu dokonywa¬ ne jest srubami regulacyjnymi 4 i 16. 10 15 PLPublished: 25.XI.1969 58 596 IC. 81 e, 83/02 MKP B65g tojoo UKD Inventors of the invention: mgr inz. Jan Podobas, Bogdan Urbanski Patent owner: Experimental Lamp Works "Lamina" Przedsiębiorstwo Państwowe, Piaseczno (Poland) Mounting a contact device for semi-automatic measurements of electrical components, especially diodes The subject of the invention is a contact device for semi-automatic measurements of electrical components, applicable in various electrical measuring devices, in particular for measuring voltage drops and reverse currents of semiconductor diodes. Known constructional solutions of instruments for measuring electrical elements, for clamping these elements The measuring position uses different cam and cam mechanisms with independent drives for the individual movable systems. Consequently, the structure is complicated, and the manual insertion and removal of individual elements measured in each measurement cycle makes it difficult to apply The aim of the invention was to develop a structure enabling the semi-automatic measurement of a series of electric elements consisting of at least several pieces, for example semiconductor diodes, in such a way that the rotation of one cam would perform all the operations necessary for the connection of measuring contacts to the measured electrical element. The problem was solved by creating a cam-lever system, in which the cam mounted on the axis rotated by 90 degrees contacts the adjustment screws, one of which is connected with the guide sleeve and through the system the lever is connected to the current contacts, while the other one is connected to a pressure sleeve connected to the plate supported by springs. The measured electrical elements are introduced into the measuring socket in the strips, in which the greater number of them are placed. The subject of the invention is presented in an exemplary embodiment in the drawing which shows schematically the arrangement of the components of the lever-cam mechanism. The fastening contact device according to the invention comprises a frame 1 in which the axis of the cam 2 is seated. In the upper part of the frame 1 there is a hole leading to the sleeve 3. In the lower part of the sleeve there is an adjusting screw 4 which contacts the cam. 2. A plate 5 is connected to the sleeve, terminated with bolts 6, to which a system of levers 7 is attached, articulated to the frame 1 in its lower part. In the levers there are current contacts 8 held by springs 9. On the lower plate of the frame 1 there is mounted a guide 10 with a latch 11 for fixing the sliding bar 12 with the tested elements, and posts 13 with springs 14 supporting the plates 15 in which is screwed in the adjusting screw 16 and to which the pressure sleeve 17 is attached. A radiator 18 is attached to the upper surface of the guide 10. After the sliding bar 12 has been set to a certain position, the axis of the cam 2 is turned clockwise as far as it will go. This will press the cam 5859858596 3 against the adjusting screws 4 and 16. The adjusting screw 16 moves downwards to move the plate 15 and the pressure sleeve 17, which presses the test piece against the heat sink 18. At the same time, the adjusting bolt 4 moves upwards and causes the sleeve to move. 3, and through the plate 5 and the arrangement of the levers 7 leads to the clamping of the neck of the tested element, for example a semiconductor diode with current contacts 8. After electrical measurements are made, the axis of the cam 2 is turned counterclockwise to the stop, and by moving the strip 12 in the next tested electrical element is set to the measuring position. The pressure and clamping of the tested element are set by means of adjusting screws 4 and 16. 10 15 PL