PL57954B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL57954B1
PL57954B1 PL121793A PL12179367A PL57954B1 PL 57954 B1 PL57954 B1 PL 57954B1 PL 121793 A PL121793 A PL 121793A PL 12179367 A PL12179367 A PL 12179367A PL 57954 B1 PL57954 B1 PL 57954B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
value
error
pointer
meter
source
Prior art date
Application number
PL121793A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Janusz Mróz mgr
inz. Adam Anton mgr
Original Assignee
Lubuskie Zaklady Aparatów Elektrycznych „Lumel"
Filing date
Publication date
Application filed by Lubuskie Zaklady Aparatów Elektrycznych „Lumel" filed Critical Lubuskie Zaklady Aparatów Elektrycznych „Lumel"
Publication of PL57954B1 publication Critical patent/PL57954B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30. VIII. 1969 57954 KI. 21 e, 2%4» MKP G 01 r 45/ UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Janusz Mróz, mgr inz. Adam Anton Wlasciciel patentu: Lubuskie Zaklady Aparatów Elektrycznych „Lumel", Zielona Góra (Polska) Sposób sprawdzania uchybów mierników wskazówkowych zwlaszcza uchybu systematycznego i uklad do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób sprawdza¬ nia uchybów mierników wskazówkowych zwlasz¬ cza uchybu systematycznego i uklad elektryczny do stosowania tego sposobu. Sposób ten ma szcze¬ gólne zastosowanie w urzadzeniach produkcyjnych, gdzie sprawdzeniu podlega duza ilosc mierników.Obecnie do sprawdzania uchybów mierników wskazówkowych stosuje sie sposób polegajacy na porównaniu wskazan miernika badanego i wzor¬ cowego. Okreslenie uchybu wymaga kazdorazo¬ wego obliczania róznicy wskazan obu mierników z uwzglednieniem róznych zakresów mierników wzorcowych i odniesienia do wartosci górnej gra¬ nicy zakresu pomiarowego miernika badanego.Dodatkowo ze wzgledu na wystepujacy blad tarcia wymagane jest sprawdzenie uchybu raz przy ro¬ snacej, a drugi raz przy malejacej wartosci wiel¬ kosci mierzonej. Sposób ten wymaga wysokiej kwalifikacji pracownika prowadzacego badania, a ze wzgledu na koniecznosc czestego i doklad¬ nego odczytywania wskazan powoduje szybkie zmeczenie i w konsekwencji obniza jakosc pracy i zmniejsza wydajnosc. Ponadto odczy^ Wartosci wskazan zawiera wiele elementów natury subiek¬ tywnej zmniejszajacych rzetelnosc pomiarów.Celem wynalazku jest usuniecie niedogodnosci wynikajacych ze stosowania sposobu klasycznego i w zwiazku z tym wytyczono sobie zadanie tech¬ niczne, polegajace na opracowaniu takiego spo¬ sobu, w którym przekroczenie granicy dopuszczal¬ nego uchybu wiazalo sie nie z ilosciowa, lecz jakosciowa zmiana stanu, to jest zamiast subiek¬ tywnego odczytu wartosci odchylenia wskazówki ^od kreski podzialki odpowiadajacej wartosci zna- 5 mionowej, obserwuje sie jedynie fakt czy wska¬ zówka przechodzi nad ta kreska, czy nie.Zadanie wytyczone w celu usuniecia podanych niedogodnosci zostalo rozwiazane zgodnie z wy¬ nalazkiem w ten sposób, ze do badanego miernika io doprowadza sie oprócz wzorcowej wartosci wiel¬ kosci mierzonej, dodatkowa wartosc przemienna, \ tej samej wielkosci powodujaca powolne, okre¬ sowe odchylenia wskazówki od polozenia usta¬ lonego i o amplitudzie odpowiadajacej wartosci 15 uchybu dopuszczalnego. Jezeli uchyb systematy¬ czny w danym punkcie podzialki nie przekracza wartosci dopuszczalnej, wówczas wskazówka be¬ dzie przechodzic nad kreska sprawdzanego punktu, czyli bedzie lezec wewnatrz sektora zakreslanego 20 przez wahajaca sie wskazówke. W przypadku przeciwnym kreska podzialki znajdzie sie poza tym sektorem. ¦ Wynalazek zostanie blizej objasniony na przy¬ kladzie wykonania przedstawionym na rysunku, 25 na którym "fig. 1 oznacza schemat blokowy ukla¬ du pozwalajacego na zastosowanie sposobu we¬ dlug wynalazku, fig. 2 przyklad, kiedy blad mier¬ nika jest mniejszy od wartosci dopuszczalnej, a fig. 3 przyklad kiedy blad miernika jest wiek- 30 szy od wartosci dopuszczalnej. 5795457 954 Uklad elektryczny pozwalajacy na stosowanie powyzszego sposobu sklkda sie ze zródla wzorco¬ wej wartosci wielkosci .mierzonej 1 umozliwiaja¬ cego uzyskanie wartosci znamionowych odpowiada¬ jacych sprawdzanym pujiktom podzialki z doklad¬ noscia przewyzszajaca kilkakrotnie uchyb dopu¬ szczalny miernika badanego i zródla 2 wytwarza¬ jacego te sama wielkosc] ale o wartosci przemien¬ nej i amplitudzie dobrajnej odpowiednio do war¬ tosci dopuszczalnego ucjiybu sprawdzanego mier¬ nika. Zródlo wartosci przemiennej 2 wlaczone jest w szereg pomiedzy zródlo wzorcowej wartosci 1, a badany miernik 3.Pod wplywem wzorcowej wartosci wielkosci mierzonej przylozonej do miernika, wskazówka zajmuje polozenie rózniace sie od polozenia kreski danego punktu podzialki o wartosc uchybu syste¬ matycznego 56- Wartosc wzorcowa modulowana jest wolnozmienna wartoscia tej samej wielkosci wytwarzana przez zródlo wartosci przemiennej 2.W wyniku sumowania tych dwu wartosci wska¬ zówka bedzie wahac sie z amplituda odpowiada¬ jaca wartosci dopuszczolnego uchybu 8d. Jezeli uchyb systematyczny jest mniejszy od dopuszczal¬ nego czyli 8S znajdzie sie wewnatrz sektora zakreslanego przez wahajaca sie wskazówke. W przypadku przeciw¬ nym wskazówka nigdy nie znajdzie sie nad ta kreska.Wobec tego sprawdzenie uchybów systematycz¬ nych miernika przy zastosowaniu opisanego ukla- 10 15 20 25 30 du sprowadza sie do obserwacji polozenia sektora zakreslanego przez wskazówke w stosunku do kreski podzialki. Jezeli kreska znajdzie sie we¬ wnatrz tego sektora, wynik próby jest pozytywny.Dodatkowa zaleta tej metody jest samoczynne uwzglednienie bledu tarcia, gdyz amplituda wa¬ han wskazówki w przypadku wystepujacego tarcia bedzie odpowiednio mniejsza, co powoduje za¬ ostrzenie kryterium próby. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób sprawdzania uchybów mierników wska¬ zówkowych zwlaszcza uchybu systematycznego znamienny tym, ze do miernika badanego do¬ prowadza sie mierzona wielkosc, której war¬ tosc jest suma wartosci dokladnie odpowiada¬ jacej sprawdzanemu punktowi podzialki oraz wartosci wolnozmieniajacej sie okresowo, od¬ powiadajacej uchybowi dopuszczalnemu, przy czym ocene wartosci uchybu systematycznego dokonuje sie na podstawie obserwacji wza¬ jemnego polozenia sektora zakreslonego przez wahajaca sie wskazówke w stosunku do kreski podzialki.
  2. 2. Uklad do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze zawiera zródlo wartosci przemiennej wielkosci mierzonej (2) wlaczone w szereg pomiedzy zródlo wzorcowej wartosci wielkosci mierzonej (1) i badany miernik (3). i 1 Z iI Fig. 1 Fig.2 Ti9.3 Krak 1, z. 217 V. 69 280 PL
PL121793A 1967-07-19 PL57954B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL57954B1 true PL57954B1 (pl) 1969-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3940352B1 (en) Weighing scale diagnostics method
Burnos et al. Accuracy criteria for evaluation of weigh-in-motion systems
US2432160A (en) Screw thread analyzer gage
PL57954B1 (pl)
Roebuck et al. Data acquisition and analysis of tensile properties for metal matrix composites
Taymanov et al. Actual measuring technologies of Industry 4.0 and analysis of their realization experience
Hofmann 48: Common Sources of Errors in Measurement Systems
Kubátová et al. Uncertainty of surface measurement
JP4194801B2 (ja) 糸の質を検査する方法
US1830311A (en) Meter testing apparatus
Jain A case study on measurement system analysis (MSA) at a pump company
Hynek et al. A comparative study of the Tinius Olsen and Peirce stiffness testers
US1271660A (en) Balance for determining the titer of silk.
Величко et al. Comparative research of quality indicators of measuring instruments: practical aspects
Klevtsov Application of the Hurst index to evaluate the testing of information gathering system components
DE897287C (de) Elektrizitaetszaehler
Efremov et al. Assessment of the sensors lifetime on the basis of test results
US3161042A (en) Method and apparatus for measuring corrosion rates
Amariei et al. STUDY ON THE CAPABILITY OF THE BRAKE PAD BREAK TEST PROCESS.
Barbato et al. Measurement system analysis
Masharipov et al. Method of establishing intercalibration intervals of measuring instruments in the chain of metrological traceability of physicochemical quantities
Whitwell Estimating precision of textile instruments
Igel Linear Association and Correlation
Kartashev et al. Classification of measuring devices by their accuracy
RU2491510C1 (ru) Способ контроля метрологической исправности интеллектуального средства измерений