PL55834B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL55834B1
PL55834B1 PL108022A PL10802265A PL55834B1 PL 55834 B1 PL55834 B1 PL 55834B1 PL 108022 A PL108022 A PL 108022A PL 10802265 A PL10802265 A PL 10802265A PL 55834 B1 PL55834 B1 PL 55834B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
preparation
optical system
optical
light
photocell
Prior art date
Application number
PL108022A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Andrzej Cielecki mgr
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Publication of PL55834B1 publication Critical patent/PL55834B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 22.111.1965 (P 108 022) 10.VIII.1968 55834 KI. 42 h, 38 MKP GH02 d Cfa^TELNIA Urzedu Polento*- hUklij lampom' »• Twórca wynalazku: mgr inz. Andrzej Cielecki Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Fizyki), Warszawa (Polska) Sposób analizy optycznej krysztalów pólprzewodnikowych lub innych preparatów mikroskopowych i urzadzenie do wykonywania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób analizy op¬ tycznej krysztalów pólprzewodnikowych lub in¬ nych preparatów mikroskopowych i urzadzenie optyczne do wykonywania tego sposobu.Znane dotychczas sposoby analizy optycznej i urzadzenia do przeprowadzania tych sposobów polegaja przede wszystkim na wykorzystaniu ukla¬ du z plamka przeszukujaca, na zastosowaniu sy¬ stemu siatkowego lub na wykorzystaniu ukladu mozaikowego.Uklad z plamka przeszukujaca charakteryzuje sie zastosowaniem ruchomych elementów optycznych, na przyklad obracanych lub przesuwnych zwier¬ ciadel, soczewek lub pryzmatów, umozliwiajacych chwilowe ustalania malego pola obserwacji obra¬ zu, przeznaczonego do jego zamiany na drgania elektryczne. Pole to stanowi czesc calego obrazu, przeszukiwanego za pomoca dowolnej krzywej przeszukiwania. Krzywa przeszukiwania w tym przypadku ma ksztalt okregu kola, cykloidy, krzy¬ wej rastrowej lub innej krzywej. Po przeanalizo¬ waniu calego pola podlegajacego obserwacji cykl przeszukiwania powtarza sie.Najczesciej stosowanym dotychczas sposobem jest jednak siatkowy system ukladów przeszuku¬ jacych, polegajacy na wykorzystaniu istotnego elementu, jaki stanowi siatka, skladajaca sie z przezroczystych i nieprzezroczystych oczek. Siatke te umieszcza sie przed elementem swiatloczulym, w poblizu plaszczyzny ogniskowej ukladu optycz¬ nego, a przez odpowiednie ruchy siatki uzyskuje sie konieczna modulacje swiatla.Stosowanym równiez sposobem analizy optycz¬ nej jest tak zwany system mozaikowy, opieraja- 5 cy sie na ukladzie mozaikowym, skladajacym sie z okreslonej liczby elementów swiatloczulych, ulo¬ zonych na pewnej powierzchni. Na powierzchnie te rzuca sie caly obraz swietlny, a analize obrazu przeprowadza sie na drodze elektrycznej. Uklady 10 takie stosuje sie obecnie w telewizyjnych lam¬ pach obrazowych nadawczych, na przyklad typu ortikon lub vidikon.Sposób wedlug wynalazku i urzadzenie do wy¬ konywania tego sposobu opiera sie wprawdzie na 15 wykorzystaniu ukladu z plamka przeszukujaca, jednak zasada dzialania tego ukladu jest zupelnie inna. Sposób wedlug wynalazku nie sluzy bowiem do fotografowania dowolnych, makroskopowych obiektów, lecz polega na zastosowaniu fotografii 20 mikroskopowej, umozliwiajacej ogladanie lub fo¬ tografowanie struktury wewnetrznej lub po¬ wierzchniowej malych elementów, zwlaszcza krysztalów pólprzewodnikowych lub innych pre¬ paratów mikroskopowych. 25 Istota wynalazku polega na unieruchomieniu ukladu optycznego soczewek, pryzmatów lub zwierciadel w stosunku do obudowy przyrzadu oraz na trwalym sprzezeniu tego ukladu ze zród¬ lem swiatla i detektorem, a ponadto na przeszuki- 30 waniu obrazu przez element swietlny, to jest przez 5583455834 3 4 plamke swietlna, za pomoca „zorganizowanego ru¬ chu" samego obiektu fotografowanego, na przy¬ klad plaskorównoleglej plytki przezroczystego krysztalu. „Zorganizowany ruch" polega na ta¬ kim ruchu preparatu, który umozliwia analize optyczna punkt po punkcie interesujacej czesci lub calosci tego preparatu. Ruch ten odbywa sie wedlug scisle okreslonej powtarzajacej sie cyk¬ licznie krzywej.Sposób analizy optycznej wedlug wynalazku i urzadzenie do wykonywania tego sposobu umoz¬ liwiaja „rozlozenie czasowe" fotografowanego ob-? razu na elementarne punkty o odpowiedniej jas¬ nosci, przy czym celem tego „rozlozenia" jest uzyskanie mozliwosci kolejnego przesylania pun¬ któw obrazu droga elektromagnetyczna na odle¬ glosc, podobnie jak w telewizji i w innych syste¬ mach. Przez „rozlozenie czasowe" obrazu umozli¬ wia sie. równiez zamiane punktów swietlnych ob¬ razu na drgania elektryczne, za pomoca czulej punktowo fotokomórki.Sposób wedlug wynalazku i urzadzenie do prze¬ prowadzania tego sposobu wyjasnione sa blizej na przykladzie, uwidocznionym na zalaczonym sche¬ matycznym rysunku.Urzadzenie sklada sie ze zródla swiatla 1 i fo¬ tokomórki 6 miedzy którymi sa umieszczone ukla¬ dy optyczne 2 i 5 oraz dwa filtry F. Miedzy filt¬ rem F a ukladem optycznym 2 porusza sie bada¬ ny preparat 4, którego ruch jest zsynchronizowa¬ ny z synchrogeneratorem 11 na drodze mechanicz- no-elektrycznej 13. Ponadto urzadzenie zawiera druga fotokomórke 8 wraz z ukladem optycznym 7 i filtrem F. Fotokomórki 8 i 6 sa polaczone od¬ powiednio poprzez wzmacniacze 10 i 9 z synchro¬ generatorem 11, na wyjsciu którego wlaczona jest lampa obrazowa 12.Dzialanie urzadzenia jest nastepujace.Z chwila wyslania strumienia swietlnego przez zródlo swiatla 1, strumien ten odbija sie od ref¬ lektora R, przechodzi przez nieruchomy uklad op¬ tyczny 2 i skupia sie w postaci plamki swietlnej 3 na preparacie mikroskopowym 4, którego struk¬ ture wewnetrzna lub obraz powierzchniowy pod¬ daje sie badaniu. W przypadku badania struktury wewnetrznej preparatu 4, strumien swietlny sku¬ piony w postaci plamki swietlnej 3 przenika przez preparat 4 i kierowany jest przez uklad optyczny 5, soczewkowy lub zwierciadlany, do punktowego detektora majacego postac fotokomórki 6. W przy¬ padku natomiast badania struktury powierzchnio¬ wej preparatu 4, strumien swietlny odbija sie od preparatu 4 w plamce swietlnej 3 i skupia sie przez uklad optyczny 7 na drugim detektorze, ma¬ jacym równiez postac fotokomórki 8. Po skupie¬ niu sie strumienia swietlnego na preparacie mi¬ kroskopowym 4, preparat ten wprowadza sie w „zorganizowany ruch wybierajacy", polegajacy na wybieraniu liniowym lub miedzyliniowym, stoso¬ wanym w kineskopach lamp telewizyjnych, gdzie strumien elektronowy „pisze" na ekranie linie, jedna pod druga. W sposobie wedlug wynalazku ruch rastrowy zaznacza sie jednak linia przery¬ wana na preparacie 4, przy czym ruch ten nie wywoluje wedrujacej plamki swietlnej 3, lecz umozliwia przesuwanie preparatu 4 w polu jej widzenia. „Zorganizowany ruch wybierajacy", w jaki wprowadza sie preparat 4, przeprowadza 5 sie za pomoca znanego urzadzenia, dzialajacego na zasadzie mechanicznej, elektromagnetycznej lub innej. Strumien swietlny przechodzacy w czasie ruchu preparatu 4 przez jego wnetrzne jest czes¬ ciowo pochlaniany przez rózne defekty krystalo¬ graficzne, napotykane w tym preparacie. W ten sposób powstaje zmiana natezenia swiatla (modu¬ lacja), która indukuje kolejno w fotokomórce 6 impulsy elektryczne, pochodzace od odpowiednich defektów krystalograficznych preparatu 4. Podob¬ nie jest przy analizie powierzchni preparatu 4.W czasie ruchu preparatu 4 zmienia sie wskutek natrafiania plamki swietlnej 3 na defekty po¬ wierzchniowe wspólczynnik obicia swiatla od po¬ wierzchni preparatu 4. W tym przypadku stru¬ mien swietlny dochodzacy do fotokomórki 8 pod¬ lega modulacji i wywoluje w fotokomórce 8 im¬ pulsy elektryczne. Na drodze optycznej moga byc ustawiane równiez inne elementy optyczne, na przyklad filtry "lub polaryzatory F, umozliwiajace badanie naprezen wewnetrznych w badanym pre¬ paracie 4. Te elementy optyczne moga byc umiesz¬ czone pomiedzy zródlem swiatla 1 i ukladem op¬ tycznym 2 oraz pomiedzy fotokomórka 8 a ukla¬ dem optycznym 7, a ponadto pomiedzy prepara¬ tem 4, a ukladem optycznym 5.Odtwarzanie obrazów struktury wewnetrznej lub powierzchniowej badanego preparatu 4 odby¬ wa sie w znany sposób na drodze telewizyjnej w ukladach elektronicznych standartowych na lam¬ pie kineskopowej o ekranie z dluga poswiata czasu.Urzadzenie do wykonywania sposobu wedlug wynalazku wyposazone jest dlatego w dwa wzmac¬ niacze wizji 9 i 10, wzmacniajace impulsy obu fo¬ tokomórek 6 i 8 oraz w polaczony z nimi synchro- generator 11, sprzezony z ekranem lampy obrazo¬ wej 12.Ruch mechaniczny preparatu 4 jest wiec zsyn¬ chronizowany na drodze mechaniczno-elektrycz- nej 13 z urzadzeniem telewizyjnym, odtwarzaja¬ cym obraz, podczas gdy do przesuwania prepara¬ tu mikroskopowego 4 w polu widzenia obiektywu mikroskopu optycznego stosuje sie ruch statys¬ tyczny. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób analizy optycznej krysztalów pólprze¬ wodnikowych lub innych preparatów mikrosko¬ powych za pomoca plamki swietlnej, znamien¬ ny tym, ze badanemu preparatowi mikroskopo¬ wemu (4), na którym skoncentrowana jest plamka swietlna (3), nadaje sie zorganizowany ruch cykliczny w postaci krzywej rastrowej lub innej, zsynchronizowanej elektromecha¬ nicznie z urzadzeniem odtwarzajacym obraz telewizyjny.
  2. 2. Urzadzenie do wykonywania sposobu wedlug zastrz. 1 znamienne tym, ze zawiera nieru¬ chomy wzgledem obudowy uklad optyczny 15 20 LI 25 30 35 40 45 50 55 6055834 5 6 (2, 5 i 7) ze zródlem swiatla (1) i detektorami tern mikroskopowym (4) a ukladem optycznym w postaci fotokomórek (6 i 8), które polaczone (5) i pomiedzy fotokomórka (8) a ukladem op- sa ze wzmacniaczami wizji (9 i 10), przy czym tycznym (7) ustawione sa filtry lub polaryza- na drodze optycznej, pomiedzy zródlem swiatla tory (F). (1) a ukladem optycznym (2), pomiedzy prepara- 5 6 5 F t* 3 2 F 1 R~\ PL
PL108022A 1965-03-22 PL55834B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL55834B1 true PL55834B1 (pl) 1968-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0176358B1 (en) Image pick-up apparatus
US2989643A (en) Infra-red image system
JP3858571B2 (ja) パターン欠陥検査方法及びその装置
KR101150755B1 (ko) 영상촬영장치
JP7538624B2 (ja) 時間分解ハイパースペクトル単一画素撮像
US3594583A (en) Electro-optical devices for detecting images of invisible radiations using interaction of light beams
US9829441B2 (en) Wafer image inspection apparatus
CN108362643B (zh) 一种双高度照明傅里叶叠层显微成像方法
DE112014000464T5 (de) Mehrfach-Kamera-Sensor zur dreidimensionalen Abbildung von einer Leiterplatte
JP2004045266A (ja) 3次元情報検出方法及び装置
CN108181235A (zh) 一种基于均匀结构光照明的sted并行显微成像系统
EP0653626A1 (en) Semiconductor device inspection system
Rozban et al. Inexpensive THz focal plane array imaging using miniature neon indicator lamps as detectors
US20130342755A1 (en) High-resolution imaging system
CN110579460B (zh) 一种寻址扫描快速荧光寿命显微成像系统及方法
CN112986160B (zh) 一种基于dkdp晶体实现扫描偏转的多光谱高速成像装置
US9638644B2 (en) Multiple mode inspection system and method for evaluating a substrate by a multiple mode inspection system
JP6004245B1 (ja) 画像取得装置、画像形成システムおよび画像形成方法
US3575485A (en) Holographic magnifier
WO2020154806A1 (en) Single-shot compressed optical-streaking ultra-high-speed photography method and system
PL55834B1 (pl)
CN212694044U (zh) 关联成像探测装置及系统
WO2021099761A1 (en) Imaging apparatus
CN210834671U (zh) 一种寻址扫描快速荧光寿命显微成像系统
JP2008175768A (ja) 表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法