PL53426B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 26.VI.1967 53426 KI. 42 g, l/Ol MKP G 01 h 3j* CZYTELNIA rzedu Polotowego NltLU| lltttW I t[ ly..Si| Twórca wynalazku: mgr inz. Michal Jadczyk Wlasciciel patentu: Lódzkie Zaklady Radiowe, Lódz (Polska) Urzadzenie do pomiaru zaklócen gramofonowych Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do po¬ miaru zaklócen wywolywanych praca mechaniz¬ mu gramofonu, zwanych zaklóceniami gramofo¬ nowymi, a odbieranych przez przetwornik elek¬ troakustyczny i tym samym pogarszajacych jakosc odbioru.Dotychczas znano i stosowano urzadzenie okre¬ slajace poziom zaklócen poprzez pomiar napiecia na zaciskach wyjsciowych przetwornika. Napie¬ cie to odpowiada sumie drgan mechanicznych o róznych czestotliwosciach jakim jest poddany przetwornik. Poniewaz efekt akustyczny jest za¬ lezny nie tylko od amplitudy zaklócen, ale rów¬ niez od ich czestotliwosci to pomiar taki nie od¬ powiada wrazeniu subiektywnemu osiaganemu przez sluchajacego i w zwiazku z tym uzyskiwa¬ ne wyniki moga byc traktowane jedynie jako orientacyjne. Mimo, iz czas pomiaru jest krótki, to zastosowanie omawianych urzadzen w pomia¬ rach kontrolnych jest niedogodne z uwagi na nie¬ moznosc ustalenia zródla powstawania nadmier¬ nych zaklócen przy stwierdzeniu przekroczenia zalozonego ich poziomu, wskutek braku mozliwos¬ ci okreslenia czestotliwosci poszczególnych skla¬ dowych napiecia zaklócajacego. Stosowano rów¬ niez urzadzenia analizujace napiecie zaklócen, na przyklad woltomierze selektywne, pracujace w zakresie czestotliwosci do okolo 300 Hz. Uzyski¬ wane wyniki pomiarów sa zblizone do odczucia 10 15 20 subiektywnego, lecz sam pomiar jest pracochlon¬ ny i praktycznie moze byc stosowany jedynie przy pomiarach laboratoryjnych, natomiast nie nadaje sie do kontroli produkcji masowej.Celem wynalazku jest opracowanie urzadzenia do pomiaru zaklócen gramofonowych dajacego re¬ zultaty jednoznaczne, odpowiadajace wrazeniu subiektywnemu, a jednoczesnie mogacego znalezc zastosowanie do pomiarów produkcji masowej.Cel ten zostal osiagniety przez zastosowanie analizatora zaklócen, w którym wskaznikiem po¬ ziomu zaklócen jest lampa oscyloskopowa. Wielkosc napiecia przykladanego na plytki odchylenia po¬ ziomego lampy jest proporcjonalne do wielkosci analizowanej czestotliwosci. Uklad odchylenia pionowego skonstruowany jako wzmacniacz se¬ lektywny, automatycznie przestrajany w zalozo¬ nym zakresie dziala jako wskaznik poziomu za¬ klócen o znanej czestotliwosci.Zasadnicza zaleta urzadzenia wedlug wynalazku jest mozliwosc szybiej analizy napiecia zaklócen, latwosc ustalenia czestotliwosci na których wy¬ stepuja najwieksze zaklócenia, a przez to zródel ich powstawania, oraz mozliwosc naniesienia na ekranie lampy oscyloskopowej dopuszczalnych po¬ ziomów i zakresów zaklócen.Wynalazek zostanie blizej objasniony na przy¬ kladzie wykonania przedstawionym na rysunku, na którym przedstawiony jest schemat ideowy 5342653426 3 urzadzenia do pomiaru zaklócen gramofonowych.Urzadzenie do pomiaru zaklócen gramofono¬ wych wedlug wynalazku zbudowane jest z prze¬ twornika elektroakustycznego A ustawionego na gramofonowej plycie pomiarowej R z rowkiem niezapisanym lub zapisanym znana czestotliwos¬ cia i amplituda. Przetwornik A polaczony jest z cechowanym tlumikiem T, a ten z kolei ze wzmacniaczem selektywnym W. Plytki odchyle¬ nia pionowego Px lampy oscyloskopowej O pola¬ czone sa ze wzmacniaczem W, a plytki odchylenia tziomego P2 polaczone sa z generatorem G. zmacnracz W i generator G sa ze soba sprze¬ zone, przy czym sprzezenie moze byc mechanicz¬ ne lub elektryczne. Obwód sprzezenia dziala tak, ze w miare wzrostu czestotliwosci analizowanej, a tym samym czestotliwosci wzmacniacza selek¬ tywnego W, nastepuje wzrost napiecia w genera¬ torze podstawy czasu G i wynikajace z tego zwiekszenia odchylenia w poziomie plamki oscy¬ loskopu.Przetwornik elektroakustyczny A ustawiony na plycie pomiarowej R wprawionej w ruch obroto¬ wy o szybkosci X przez talerz dowolnego badane¬ go gramofonu, powoduje powstawanie na wyjsciu przetwornika A napiecia U, które poprzez zapo¬ biegajacy przesterowaniu wzmacniacza W tlumik T i wzmacniacz selektywny W przykladane jest na plytki odchylenia pionowego F± lampy oscy¬ loskopowej O. Wzmacniacz selektywny W prze- strajany jest automatycznie w zadanym zakresie czestotliwosci, praktycznie od kilkunastu do kil¬ kuset herców z czasem powtarzania cyklu prze¬ strojenia rzedu pojedynczych sekund. Na plytki odchylania poziomego P2 lampy oscyloskopowej O 5 przykladane jest napiecie z generatora G scisle i trwale zalezne od czestotliwosci wzmacniacza selektywnego W.Dzieki tej wspólbieznosci wielkosci odchylania poziomego plamki na ekranie lampy oscyloskopo- io wej O i czestotliwosci wzmacniacza selektywnego W stanowiacego analizator, na ekranie otrzymuje sie obraz analizowanego napiecia zaklócen w po¬ staci przebiegu, przy czym obraz ten przedstawia wielkosc zaklócen w funkcji czestotliwosci zakló- 15 cen, a przy uzyciu plyty nagranej znana czesto¬ tliwoscia, równiez poziom odniesienia. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe 20 Urzadzenie do pomiaru zaklócen gramofono¬ wych z przetwornikiem elektroakustycznym jako rejestratorem tych zaklócen znamienne tym, ze przetwornik elektroakustyczny (A) polaczony jest przez cechowany tlumik (T) z selektywnym wzmac- 25 niaczem (W), przy czym wzmacniacz (W) polaczony jest z plytkami odchylenia pionowego (Pi) lampy oscyloskopowej (O), której plytki odchylenia po¬ ziomego (P2) polaczone sa z generatorem podsta¬ wy czasu (G) sprzezonym ze wzmacniaczem (W) 30 w celu synchronicznego przestrajania ich czesto¬ tliwosci. PZG w Pab., zam. 379-67, nakl. 330 szt. PL