Opublikowano: 11.IV.1967 53204 KI. 81 e, 83/02 MKP B 65 g UKD *# Wspóltwórcy wynalazku: Jerzy Rossian, Wojciech Wisniewski, Wieslaw Salwin, Józef Filipinski Wlasciciel patentu: Zaklad Doswiadczalny Instytutu Maszyn Matema¬ tycznych, Warszawa (Polska) Sposób automatycznej kontroli ukladów pomiarowych w automatycznych urzadzeniach sortujacych Przedmiotem wynalazku jest sposób automa¬ tycznej kontroli ukladów pomiarowych w auto¬ matycznych urzadzeniach sortujacych. Znajduje on zastosowanie w automatycznych urzadzeniach sortujacych w których uklad pomiarowy pracuje nie stabilnie oraz tam gdzie wielkosc sygnalu informacji znajduje sie na granicy zaklócen.W znanych automatycznych urzadzeniach sor¬ tujacych w których wielkosc sygnalu informacji od elementu badanego jest blisko granicy zakló¬ cen, do sprawdzenia ich ukladu pomiarowego sto¬ suje sie element wzorcowy. Jego pomiar jest sprawdzianem prawidlowej pracy ukladu pomia¬ rowego.Sprawdzenie ukladu pomiarowego przez element wzorcowy odbywa sie na przemian z pomiarem badanego elementu a pomiary te dokonywane sa na róznych stanowiskach i sa dokonywane ko¬ lejno po sobie.Urzadzenia oparte na tym sposobie wykazuja nierównomierne zuzycie sie stanowisk pomiaro¬ wych elementów badanych i elementu wzorcowe¬ go co powoduje stopniowe zmniejszanie powta¬ rzalnosci pomiarów oraz zmniejsza sie dokladnosc pomiaru.Zastosowanie oddzielnych stanowisk do pomia¬ ru elementu badanego i elementu wzorcowego wymaga stosowania dodatkowych ukladów syn¬ chronizujacych okres pomiaru elementu badane¬ go z okresem pomiaru elementu wzorcowego. 15 20 25 30 Zadaniem wynalazku jest stworzenie sposobu automatycznej kontroli ukladów pomiarowych w automatycznych urzadzeniach sortujacych który nie posiada wad znanych urzadzen oraz umozli¬ wia skrócenie czasu pomiaru i zwieksza pewnosc dzialania urzadzenia.Wedlug wynalazku zadanie to zostalo rozwia¬ zane w ten sposób, ze na tym samym stanowisku pomiarowym mierzy sie co najmniej dwa elemen¬ ty badane a nastepnie element wzorcowy przy czym elementy badane przetrzymywane sa w wstepnych zasobnikach do chwili sprawdzenia ukladu przez element wzorcowy.Po sprawdzeniu ukladu pomiarowego przez ele¬ ment wzorcowy i w przypadku oceny pozytywnej elementu wzorcowego przez uklad pomiarowy, elementy przetrzymywane w wstepnych zasobni¬ kach zostaja kierowane do odpowiednich zasob¬ ników koncowych, zas w przypadku negatywnej oceny elementu wzorcowego, elementy badane zostaja kierowane do zasobnika elementów prze¬ znaczonych do powtórnego badania, a urzadze¬ nie zostaje zatrzymane.Ilosc elementów badanych miedzy kolejnym sprawdzeniem ukladu pomiarowego za pomoca elementu wzorcowego moze byc rózna, zalezy ona od jakosci urzadzenia, stosunku wielkosci sygnalu informacji do wielkosci poziomu zaklócen itp.„ ilosc ta jest okreslona na podstawie badan staty¬ stycznych. 5320453204 3 W sposobie bedacym przedmiotem wynalazku uzyskuje sie poprawe wydajnosci, gdyz eliminuje sie do minimum zbedne cykle pomiarowe elemen¬ tu wzorcowego oraz uzyskuje sie lepsza powta¬ rzalnosc i dokladnosc pomiaru przez zastosowanie tego samego stanowiska pomiarowego dla ele¬ mentu badanego i wzorcowego.Wynalazek zostaje blizej objasniony na przy¬ kladzie wykonania automatycznego selektora to- rfiidalnych rdzeni ferrytowych o prostokatnej pe¬ tli histerezy którego schemat przedstawiony jest na rysunku.Rdzenie badane 6 znajdujace sie w rynience 5 zostaja z niej wybrane przez igly 9 osadzone na obracajacym sie kole podajacym 2. Po nawlecze¬ niu rdzenia na igle zostaje on podany do glowicy pomiarowej 3 której szczeki 4 chwytaja igle w celu dokonania pomiaru rdzenia i przekazania in¬ formacji do ukladu pomiarowego 15 który z ko¬ lei otwiera odpowiednia zastawke 14 w rozdzie¬ laczu 13.Po dokonaniu pomiaru, rdzen zsuwa sie po zsy¬ pie 1 i wpada do rozdzielacza w którym zostaje kierowany przez otwarcie wlasciwej zastawki do odpowiedniego zasobnika wstepnego 12 gdzie jest przetrzymywany do chwili pomiaru rdzenia wzor¬ cowego.Co okreslona ilosc rdzeni badanych w szczeki glowicy wchodzi igla z rdzeniem wzorcowym.Uklad pomiarowy jest informowany o wejsciu rdzenia wzorcowego w szczeki glowicy przy po¬ mocy krzywki 8 i pary styków 7.Po dokonaniu pomiaru rdzenia wzorcowego i zakwalifikowaniu jego parametrów przez uklad pomiarowy jako zgodnych ze znanymi parametra¬ mi rdzenia wzorcowego, rdzenie znajdujace sie 10 15 20 25 30 35 w zasobnikach wstepnych zostaja kierowane przy pomocy zastawki glównej 11 do zasobników kon¬ cowych 10.W przypadku negatywnej oceny parametrów rdzenia wzorcowego przez uklad pomiarowy rdze¬ nie znajdujace sie w zasobnikach wstepnych zo¬ staja kierowane do rdzeni przeznaczonych do po¬ wtórnej selekcji i jednoczesnie urzadzenie zostaje zatrzymane. PL