PL51559B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL51559B1 PL51559B1 PL109262A PL10926265A PL51559B1 PL 51559 B1 PL51559 B1 PL 51559B1 PL 109262 A PL109262 A PL 109262A PL 10926265 A PL10926265 A PL 10926265A PL 51559 B1 PL51559 B1 PL 51559B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- insulators
- hydrofluoric acid
- grinding
- etching
- full
- Prior art date
Links
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 16
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 6
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 claims description 4
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 4
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000004927 clay Substances 0.000 description 1
- 239000002734 clay mineral Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010291 electrical method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 20.VII.1966 51559 KI. 42 k, 49/02 MKP GOI ii 32 ihQ UKD Wspóltwórcy wynalazku: dr inz. Jerzy Ranachowski, mgr inz. Erazmi; irs-mitL Chejllo BIBLIOTEKA Wlasciciel patentu: Instytut Elektrotechniki Warszawa (Polska) Urzadz Patentowego, Sposób wykrywania wad teksturalnych w izolatorach pelnopniowych wysokonapieciowych Przedmiotem wynalazku jest sposób wykrywa¬ nia wewnetrznych naprezen mechanicznych po¬ wstajacych w wyniku istnienia niejednorodnosci teksturalnych pojawiajacych sie w czasie produk¬ cji izolatorów dlugopniowych.W ostatnich latach izolatory pelnopniowe uzy¬ skuja coraz szersze zastosowanie zarówno jako izolatory liniowe jak i aparatowe.Próby wyrobu tych izolatorów przewiduja zgod¬ nie z przepisami polskich norm PN-61/E-91056 jedynie pospolowa próbe mechaniczna. W eksploa¬ tacji izolatorów pelnopniowych wystepuja liczne przypadki awarii zarówno na liniach wysokiego napiecia jak i w stacjach. Kazda tego rodzaju awa¬ ria polegajaca np. w izolatorach typu LP na peknieciu dolnej czesci izolatora pociaga za soba olbrzymie straty wynikajace ze zniszczenia slupa lub jego poprzeczki oraz dlugiej przerwy w dosta¬ wie energii elektrycznej.Stwierdzono, ze najczestsza przyczyna tego ro¬ dzaju awarii jest wystepowanie wad teksturalnych w izolatorze.Wady budowy teksturalnej powstaja w izolato¬ rach pelnopniowych w czasie procesu ujednorod- nienia w prasach prózniowych slimakowych.Przetlaczanie masy plastycznej prowadzi do roz¬ dzielenia czastek stalych od wody i wytworzenia masy o róznej konsystencji. Powoduje to rozdzial masy na czesci bogatsze w skladniki ilaste, czesci bogatsze w materialy schudzajace i topiki. Ponadto 10 15 20 25 2 obserwuje sie zjawisko niejednorodnosci kierunko¬ wej, w wyniku której mineraly ilaste ukladaja sie prostopadle do kierunku dzialania sily. Zjawiska powyzsze powoduja anizotropie skurczliwosci co doprowadza do powstawania naprezen wewnetrz¬ nych czerepu lub pekania w okresie suszenia i wypalania.Badan wad budowy teksturalnej wywolujacej naprezenia wewnetrzne w czerepie izolatora pel- nopniowego dotychczas nie wykonywano. Wykry¬ walo sie jedynie wyrazne rozwarstwienie i skrety masy przy pomocy defektoskopii ultradzwiekowej lub metod elektrycznych.Sposób wykrywania wad budowy teksturalnej bedacy przedmiotem wynalazku polega na uwi¬ docznieniu zaburzen tekstury, które wywoluja pole naprezen mechanicznych wewnatrz izolatora. Spo¬ sób uwidaczniania niejednorodnosci teksturalnych polega na odcieciu odpadowej czesci czerepu, tak zwanej bomzy, której powierzchnie ciecia szlifuje sie na proszkach karborundowych, trawi sie, a na¬ stepnie szlifuje ponownie w obecnosci sadzy an¬ gielskiej. Poszczególne elementy operacji sa znane i stosowane przy preparacji próbek do badan mi¬ kroskopowych, zastosowanie ich jednak w odpo¬ wiedniej kolejnosci przy badaniach makroskopo¬ wych dalo nowe efekty techniczne.Badania mikroskopowe porcelany wykonywane sa trzema metodami: w swietle przechodzacym, odbitym spolaryzowanym oraz odbitym. Do wyko- 5155951599 3 4 nania preparatów mikroskopowych dla powyzszych metod stosuje sie szlifowanie oraz trawienie kwa¬ sem fluorowodorowym.Przy badaniach w swietle odbitym spolaryzo¬ wanym stosuje sie wygladzanie i wypolerowanie próbki, a nastepnie naweglanie powierzchni przy pomocy sadzy angielskiej. Przy badaniach w swie¬ tle odbitym stosuje sie wygladzanie i polerowanie powierzchni próbki a nastepnie trawienie kwasem fluorowodorowym o stezeniu 40%, przez okres kil¬ kunastu sekund. Do badan w swietle przechodza¬ cym uzywa sie cienkich szlifów dwustronnie wy¬ polerowanych.Natomiast sposób uwidaczniania zaburzen tek¬ stury wedlug wynalazku polega na tym, ze po szlifowaniu i polerowaniu jednostronnym calej po¬ wierzchni przekroju badanego izolatora oraz gle¬ bokim trawieniu w kwasie fluorowodorowym o stezeniu 10°/o przez okres 10—15 minut (w czasie którego miejsca o zaburzonej strukturze, a wiec o wyzszej energii swobodnej, ulegaja silniejszej korozji), po uprzednim przemyciu próbki woda, poddaje sie ja ponownemu szlifowaniu na drob¬ nym karborundowym papierze sciernym w obecno- 5 sci sadzy angielskiej. To szlifowanie juz po tra¬ wieniu powoduje wystepowanie obrazu zaburzen budowy teksturalnej, widocznego dobrze okiem nieuzbrojonym. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób wykrywania wad teksturalnych w izola¬ torach pelnopniowych wysokonapieciowych przez szlifowanie i trawienie próbek kwasem fluorowo¬ dorowym znamienny tym, ze powierzchnie prze¬ kroju badanego izolatora po szlifowaniu i polero¬ waniu oraz po glebokim trawieniu w kwasie fluo¬ rowodorowym o stezeniu 10°/o przez czas 10—15 minut szlifuje sie ponownie na drobnoziarnistym papierze sciernym karborundowym posypanym sa¬ dza angielska. 15 Zaklady Kartograficzne. Wroclaw, zam. 214 naklad 340 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL51559B1 true PL51559B1 (pl) | 1966-04-25 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Linse et al. | Electrostatic interactions in micellar solutions. A comparison between Monte Carlo simulations and solutions of the Poisson-Boltzmann equation | |
| Andrade et al. | Cement paste hardening process studied by impedance spectroscopy | |
| CN105717137B (zh) | 石英玻璃微缺陷检测方法 | |
| CN103226074B (zh) | 一种用于EBSD测试的Cu-Ni合金电解抛光方法 | |
| US3471011A (en) | Process for improving the brightness of clays | |
| Hoshi et al. | Non-contact measurement to detect steel rebar corrosion in reinforced concrete by electrochemical impedance spectroscopy | |
| Fan et al. | The effects of damage and self-healing on impedance spectroscopy of strain-hardening cementitious materials | |
| US6636031B1 (en) | Method and device for detecting pinholes in organic film on concrete surface | |
| Reinhard et al. | Analysis of impedance spectra on corroding metals | |
| CN104133113B (zh) | 一种消除残余电势准确测量混凝土电阻率的方法 | |
| PL51559B1 (pl) | ||
| Williams et al. | Contaminated insulators-chemical dependence of flashover voltages and salt migration | |
| Weatherell et al. | Sampling of enamel particles by means of strong acids for density measurements | |
| Usov et al. | Prospective of electric impulse processes for the study of the structure and processing of mineral raw materials | |
| US3293162A (en) | Process for electropolishing both sides of a semiconductor simultaneously | |
| Lehwald et al. | Surface-phonon dispersion investigation of the (1× 1)→(5× 1) reconstruction of the Ir (100) surface | |
| SU1376014A1 (ru) | Способ капилл рной дефектоскопии | |
| Holmes et al. | Electrokinetic Phenomena at the Thorium Oxide-Aqueous Solution Interface1 | |
| US3097337A (en) | Apparatus and method for electroluminescent non-destructive flaw detection | |
| RU2057328C1 (ru) | Способ магнитопорошкового контроля | |
| Bell et al. | Factors affecting the breakdown strength of transformer oil | |
| JP3289666B2 (ja) | シリコンウエーハバルク中の重金属の高感度検出方法および高感度検出装置 | |
| Jeong et al. | Fracture strength evaluation of semiconductor silicon wafering process induced damage | |
| SU873103A1 (ru) | Способ дефектоскопии однотипных изделий | |
| KR980005988A (ko) | 웨이퍼 칩 검사용 탐침 가공방법 |