PL51559B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL51559B1
PL51559B1 PL109262A PL10926265A PL51559B1 PL 51559 B1 PL51559 B1 PL 51559B1 PL 109262 A PL109262 A PL 109262A PL 10926265 A PL10926265 A PL 10926265A PL 51559 B1 PL51559 B1 PL 51559B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
insulators
hydrofluoric acid
grinding
etching
full
Prior art date
Application number
PL109262A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Jerzy Ranachowski dr
inz. Erazmi irs-mitLChejllo BIBLIOTEKA mgr
Original Assignee
Instytut Elektrotechniki Warszawa
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Elektrotechniki Warszawa filed Critical Instytut Elektrotechniki Warszawa
Publication of PL51559B1 publication Critical patent/PL51559B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 20.VII.1966 51559 KI. 42 k, 49/02 MKP GOI ii 32 ihQ UKD Wspóltwórcy wynalazku: dr inz. Jerzy Ranachowski, mgr inz. Erazmi; irs-mitL Chejllo BIBLIOTEKA Wlasciciel patentu: Instytut Elektrotechniki Warszawa (Polska) Urzadz Patentowego, Sposób wykrywania wad teksturalnych w izolatorach pelnopniowych wysokonapieciowych Przedmiotem wynalazku jest sposób wykrywa¬ nia wewnetrznych naprezen mechanicznych po¬ wstajacych w wyniku istnienia niejednorodnosci teksturalnych pojawiajacych sie w czasie produk¬ cji izolatorów dlugopniowych.W ostatnich latach izolatory pelnopniowe uzy¬ skuja coraz szersze zastosowanie zarówno jako izolatory liniowe jak i aparatowe.Próby wyrobu tych izolatorów przewiduja zgod¬ nie z przepisami polskich norm PN-61/E-91056 jedynie pospolowa próbe mechaniczna. W eksploa¬ tacji izolatorów pelnopniowych wystepuja liczne przypadki awarii zarówno na liniach wysokiego napiecia jak i w stacjach. Kazda tego rodzaju awa¬ ria polegajaca np. w izolatorach typu LP na peknieciu dolnej czesci izolatora pociaga za soba olbrzymie straty wynikajace ze zniszczenia slupa lub jego poprzeczki oraz dlugiej przerwy w dosta¬ wie energii elektrycznej.Stwierdzono, ze najczestsza przyczyna tego ro¬ dzaju awarii jest wystepowanie wad teksturalnych w izolatorze.Wady budowy teksturalnej powstaja w izolato¬ rach pelnopniowych w czasie procesu ujednorod- nienia w prasach prózniowych slimakowych.Przetlaczanie masy plastycznej prowadzi do roz¬ dzielenia czastek stalych od wody i wytworzenia masy o róznej konsystencji. Powoduje to rozdzial masy na czesci bogatsze w skladniki ilaste, czesci bogatsze w materialy schudzajace i topiki. Ponadto 10 15 20 25 2 obserwuje sie zjawisko niejednorodnosci kierunko¬ wej, w wyniku której mineraly ilaste ukladaja sie prostopadle do kierunku dzialania sily. Zjawiska powyzsze powoduja anizotropie skurczliwosci co doprowadza do powstawania naprezen wewnetrz¬ nych czerepu lub pekania w okresie suszenia i wypalania.Badan wad budowy teksturalnej wywolujacej naprezenia wewnetrzne w czerepie izolatora pel- nopniowego dotychczas nie wykonywano. Wykry¬ walo sie jedynie wyrazne rozwarstwienie i skrety masy przy pomocy defektoskopii ultradzwiekowej lub metod elektrycznych.Sposób wykrywania wad budowy teksturalnej bedacy przedmiotem wynalazku polega na uwi¬ docznieniu zaburzen tekstury, które wywoluja pole naprezen mechanicznych wewnatrz izolatora. Spo¬ sób uwidaczniania niejednorodnosci teksturalnych polega na odcieciu odpadowej czesci czerepu, tak zwanej bomzy, której powierzchnie ciecia szlifuje sie na proszkach karborundowych, trawi sie, a na¬ stepnie szlifuje ponownie w obecnosci sadzy an¬ gielskiej. Poszczególne elementy operacji sa znane i stosowane przy preparacji próbek do badan mi¬ kroskopowych, zastosowanie ich jednak w odpo¬ wiedniej kolejnosci przy badaniach makroskopo¬ wych dalo nowe efekty techniczne.Badania mikroskopowe porcelany wykonywane sa trzema metodami: w swietle przechodzacym, odbitym spolaryzowanym oraz odbitym. Do wyko- 5155951599 3 4 nania preparatów mikroskopowych dla powyzszych metod stosuje sie szlifowanie oraz trawienie kwa¬ sem fluorowodorowym.Przy badaniach w swietle odbitym spolaryzo¬ wanym stosuje sie wygladzanie i wypolerowanie próbki, a nastepnie naweglanie powierzchni przy pomocy sadzy angielskiej. Przy badaniach w swie¬ tle odbitym stosuje sie wygladzanie i polerowanie powierzchni próbki a nastepnie trawienie kwasem fluorowodorowym o stezeniu 40%, przez okres kil¬ kunastu sekund. Do badan w swietle przechodza¬ cym uzywa sie cienkich szlifów dwustronnie wy¬ polerowanych.Natomiast sposób uwidaczniania zaburzen tek¬ stury wedlug wynalazku polega na tym, ze po szlifowaniu i polerowaniu jednostronnym calej po¬ wierzchni przekroju badanego izolatora oraz gle¬ bokim trawieniu w kwasie fluorowodorowym o stezeniu 10°/o przez okres 10—15 minut (w czasie którego miejsca o zaburzonej strukturze, a wiec o wyzszej energii swobodnej, ulegaja silniejszej korozji), po uprzednim przemyciu próbki woda, poddaje sie ja ponownemu szlifowaniu na drob¬ nym karborundowym papierze sciernym w obecno- 5 sci sadzy angielskiej. To szlifowanie juz po tra¬ wieniu powoduje wystepowanie obrazu zaburzen budowy teksturalnej, widocznego dobrze okiem nieuzbrojonym. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wykrywania wad teksturalnych w izola¬ torach pelnopniowych wysokonapieciowych przez szlifowanie i trawienie próbek kwasem fluorowo¬ dorowym znamienny tym, ze powierzchnie prze¬ kroju badanego izolatora po szlifowaniu i polero¬ waniu oraz po glebokim trawieniu w kwasie fluo¬ rowodorowym o stezeniu 10°/o przez czas 10—15 minut szlifuje sie ponownie na drobnoziarnistym papierze sciernym karborundowym posypanym sa¬ dza angielska. 15 Zaklady Kartograficzne. Wroclaw, zam. 214 naklad 340 egz. PL
PL109262A 1965-05-27 PL51559B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL51559B1 true PL51559B1 (pl) 1966-04-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Linse et al. Electrostatic interactions in micellar solutions. A comparison between Monte Carlo simulations and solutions of the Poisson-Boltzmann equation
Andrade et al. Cement paste hardening process studied by impedance spectroscopy
CN105717137B (zh) 石英玻璃微缺陷检测方法
CN103226074B (zh) 一种用于EBSD测试的Cu-Ni合金电解抛光方法
US3471011A (en) Process for improving the brightness of clays
Hoshi et al. Non-contact measurement to detect steel rebar corrosion in reinforced concrete by electrochemical impedance spectroscopy
Fan et al. The effects of damage and self-healing on impedance spectroscopy of strain-hardening cementitious materials
US6636031B1 (en) Method and device for detecting pinholes in organic film on concrete surface
Reinhard et al. Analysis of impedance spectra on corroding metals
CN104133113B (zh) 一种消除残余电势准确测量混凝土电阻率的方法
PL51559B1 (pl)
Williams et al. Contaminated insulators-chemical dependence of flashover voltages and salt migration
Weatherell et al. Sampling of enamel particles by means of strong acids for density measurements
Usov et al. Prospective of electric impulse processes for the study of the structure and processing of mineral raw materials
US3293162A (en) Process for electropolishing both sides of a semiconductor simultaneously
Lehwald et al. Surface-phonon dispersion investigation of the (1× 1)→(5× 1) reconstruction of the Ir (100) surface
SU1376014A1 (ru) Способ капилл рной дефектоскопии
Holmes et al. Electrokinetic Phenomena at the Thorium Oxide-Aqueous Solution Interface1
US3097337A (en) Apparatus and method for electroluminescent non-destructive flaw detection
RU2057328C1 (ru) Способ магнитопорошкового контроля
Bell et al. Factors affecting the breakdown strength of transformer oil
JP3289666B2 (ja) シリコンウエーハバルク中の重金属の高感度検出方法および高感度検出装置
Jeong et al. Fracture strength evaluation of semiconductor silicon wafering process induced damage
SU873103A1 (ru) Способ дефектоскопии однотипных изделий
KR980005988A (ko) 웨이퍼 칩 검사용 탐침 가공방법