PL49019B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL49019B1 PL49019B1 PL97666A PL9766661A PL49019B1 PL 49019 B1 PL49019 B1 PL 49019B1 PL 97666 A PL97666 A PL 97666A PL 9766661 A PL9766661 A PL 9766661A PL 49019 B1 PL49019 B1 PL 49019B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- transistor
- voltmeter
- tested
- potentiometer
- voltage
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000030279 gene silencing Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 15.11.1965 KI. 21g, MKP H 01 1 UKD Twórca wynalazku: Stanislaw Tatara Wlasciciel patentu: Zaklad Geofizyki Przemyslu Naftowego, Kraków (Polska) (BIBLIOTEKA* [U rzec • vc: t <; ? ^ wegoj Pilriiai tanwnpilitii Wuj Przyrzad do sprawdzania pólprzewodników Wynalazek dotyczy przyrzadu sluzacego do szyb¬ kiego i orientacyjnego okreslania wspólczynnika /? w ukladzie OE dla tranzystorów, czyli sprawnosci do pracy w ukladach tranzystorów oraz róznego rodzaju diod malej, sredniej oraz duzej mocy i cze¬ stotliwosci w zakresie od 5 kHz do 100 MHz w od¬ niesieniu do tranzystorów i od 5 kHz do 1000 MHz w odniesieniu do diod. Uzytecznosc badanych tran¬ zystorów jest okreslana w przyrzadzie na podstawie pomiaru napiecia generowanego w zakresie od zera do 7.5 V, przy czym jezeli generowane napiecie da¬ nego tranzystora jest nizsze od 2 V, uznaje sie go jako nieuzyteczny.Uzytecznosc badanych przyrzadem diod okresla sie przez porównanie wskazan woltomierza w od¬ niesieniu badanej diody do diody wzorcowej. Po¬ nadto przyrzad wyposazony jest w dodatkowy za¬ kres pomiarowy sluzacy do pomiaru napiecia zmien¬ nego o czestotliwosci akustycznej w granicach od 20 Hz do 20 kHz, przy opornosci wewnetrznej 100.000 Q/V, dla badania napiec w przetwornicach tranzystorowych.Przyrzad wedlug wynalazku moze znalezc za¬ stosowanie wszedzie tam gdzie sa konstruowane uklady na pólprzewodnikach w punktach sprzedazy pólprzewodników oraz w zakladach uslug tele- -radiotechnicznych. Tego rodzaju przyrzady do szybkiej orientacyjnej kontroli uzytecznosci tran¬ zystorów i diod nie byly dotychczas znane. Na ry¬ sunku uwidoczniony jest ideowy schemat przyrzadu wedlug wynalazku. 10 15 25 80 2 Przyrzad ten sklada sie zasadniczo z dwóch cze¬ sci, a to z generatora tranzystorowego ze wskazni¬ kiem neonowym i woltomierza tranzystorowego.Generator G pracuje jako generator samodlawny w ukladzie OE z badanym tranzystorem oraz z osobnym uzwojeniem wysokiego napiecia do za¬ silania neonowego wskaznika. Napiecie generowane w ukladzie generatora G jest powielane na dwu¬ stopniowym powielaczu napiecia, który stanowia diody Dl, D2 oraz kondensatory C2 i C5, a naste¬ pnie podane jest na wzmacniacz tranzystorowy.Woltomierz tranzystorowy wyposazony jest w magnetoelektryczny wskaznik Al oraz tranzystor T. Potencjometr R3 sluzy do regulacji napiecia po¬ laryzacji bazy tranzystora, potencjometr R6 do zerowania tranzystorowego woltomierza W, trans¬ formator Tr do generatora samodlawnego a neono¬ wy wskaznik L do sygnalizowania punktu wzbu¬ dzenia sie generatora G. Dodatkowymi elementami wyposazenia przyrzadu sa wylaczniki od 1 do 6 sluzace do przelaczania przyrzadu, oraz zaciski laboratoryjne K, B, E, sluzace do podlaczenia bada¬ nego tranzystora Tl, zaciski A, sluzace do pomiaru napiecia zmiennego 300 V i zaciski Z, sluzace do podlaczenia badanej diody pólprzewodnikowej. Do zasilania przyrzadu sluza dwa ogniwa BI i B2.Przed przystapieniem do badania tranzystorów nastawia sie odpowiednio przelaczniki 1 i 2 w za¬ leznosci od rodzaju i mocy badanego tranzystora, przelacznikami 3 i 4 zalacza sie neonowy wskaznik L lub woltomierz tranzystorowy, przelacznik 5 usta- 49019 *3 49019 4 wia sie w polozeniu odpowiednim do pomiaru tran¬ zystorów (drugie polozenie do badania diod) zas przelacznikiem 6 wlacza sie zasilanie. W czasie po¬ miaru potencjometrem R3 reguluje sie napiecie polaryzacji bazy tranzystora, obserwujac wskaznik neonowy do momentu zapalenia sie lampy L.Z kolei zmniejsza sie napiecie bazy tranzystora o 10 — 20%, zeruje sie potencjometrem woltomierz tranzystorowy i przelacza sie przelaczniki 3 i 4 na pomiar woltomierzem tranzystorowym, dokonujac ostatecznego odczytu na tym woltomierzu w celu orientacyjnego okreslenia wspólczynnika /} W przypadku badania diod, sprawdza sie uprze¬ dnia tranzystor przeznaczony do wspólpracy z dana dioda a nastepnie podlacza sie ja do zacisków Z, nastawiajac odpowiednio przelaczniki 1, 3, 4, 5 i 6.Nastepnie dokonuje sie pomiaru i na podstawie po¬ równania wskazan woltomierza w odniesieniu do diody wzorcowej i diod badanych ocenia sie ich uzytecznosc.W podobny sposób uzytkuje sie przyrzad do po¬ miaru napiecia zmiennego 300 V. W tym przypadku 15 20 odlacza sie diody i tranzystory z zacisków wyjscio¬ wych, pó czym nastawia sie odpowiednio przelacz¬ niki 4 i 6 i po zerowaniu woltomierza dokonuje sie pomiaru. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad do sprawdzania pólprzewodników, zna¬ mienny tym, ze zawiera uklad generatora (G) typu L C, z transformatorem (Tr) w którego pierwotne uzwojenie jest wlaczony badany tranzystor (Tl), oraz potencjometr (R3) do zmniejszania napiecia polaryzacji bazy badanego tranzystora do momentu wzbudzenia sie ukladu, sygnalizowanego neonowym wskaznikiem (L), przy czym sygnal z pierwotnego uzwojenia transformatora (Tr) przenosi sie na dwu¬ stopniowy powielacz napiecia (Dl), (D2) a nastepnie do ukladu tranzystorowego woltomierza (W) z tran¬ zystorem (T), magnetoelektrycznym miernikiem (Al) i potencjometrem (R6) do zerowania wolto¬ mierza (W) przed pomiarem. Zaklady Kartograficzne, Wroclaw, zam. 1241-1-65, naklad 400 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL49019B1 true PL49019B1 (pl) | 1964-12-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO1997044652A1 (en) | Detecting a bad cell in a storage battery | |
| US4225817A (en) | Combined continuity and voltage test instrument | |
| US3983476A (en) | Defibrillator testing device | |
| PL49019B1 (pl) | ||
| US2410386A (en) | Electrical testing apparatus | |
| US3676767A (en) | Device for automatically identifying unknown transistors | |
| SU1334099A1 (ru) | Устройство дл измерени погрешности масштабного преобразовател высокого напр жени | |
| SU978069A1 (ru) | Способ поверки устройств дл измерени омических сопротивлений электрических цепей,наход щихс под напр жением | |
| ATE42641T1 (de) | Messverfahren zur feststellung von teilentladungen und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens. | |
| SU1755213A1 (ru) | Устройство дл измерени омического сопротивлени электрических источников переменного напр жени | |
| US380943A (en) | Volt-am meter | |
| RU95103538A (ru) | Способ оценки коэффициента искажения синусоидальности кривой напряжения | |
| SU1325390A1 (ru) | Устройство дл измерени потерь на перемагничивание | |
| PL149636B1 (pl) | Uniwersalny próbnik obwodów elektrycznych | |
| SU149505A1 (ru) | Способ определени отсутстви контакта в полупроводниковых диодах | |
| US2337962A (en) | Method and apparatus for determining resistance of ground connections | |
| Cage et al. | Suggested triple-series connection measurement tests of the AC quantized Hall resistance and the AC longitudinal resistance | |
| SU1698799A1 (ru) | Измеритель сопротивлени электрических цепей | |
| SU151723A1 (ru) | Широкодиапазонный универсальный прибор посто нного тока | |
| SU113029A1 (ru) | Устройство дл измерени и регистрации статических деформаций при стендовых испытани х изделий и деталей на механическую прочность | |
| SU1161889A1 (ru) | Устройство дл измерени активной мощности | |
| SU960638A1 (ru) | Измеритель пол ризационного сопротивлени | |
| SU32630A1 (ru) | Устройство дл измерени коэфициента самоиндукции катушек | |
| SU1534413A1 (ru) | Способ определени комплексного сопротивлени | |
| SU1183911A1 (ru) | Способ проверки ,самобалансирующихся термисторных мостов |