PL48231B1 - - Google Patents

Description

i3UOT£KA [jrtaÓM Pcrtenlowogo PiUUei Hm*...w-i;tij U Tranzystorowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn Przedmiotem wynalazku jest tranzystorowy de¬ fektoskop przeznaczony do badania szyn przy uzy¬ ciu fal ultradzwiekowych. W dotychczasowych de¬ fektoskopach do badania szyn stosuje sie lampy ele¬ ktronowe i oscyloskopowe, co pociaga za soba duze wymiary i ciezar defektoskopu a takze koniecznosc stosowania duzych mocy elektrycznych do zasilania urzadzenia, co w wielu przypadkach ogranicza po¬ waznie mozliwosci stosowania defektoskopu w wa¬ runkach terenowych.Niedogodnosci powyzsze usuwa defektoskop ultra¬ dzwiekowy wedlug wynalazku wykonany z zastoso¬ waniem tranzystorów. Na rysunku przedstawiono schemat blokowy defektoskopu. Generator impul¬ sów 1 pobudza do drgan nadajnik impulsów wiel¬ kiej czestotliwosci 2, którego napiecie doprowadzo¬ ne jest do glowicy ultradzwiekowej 3. Glowica ta, w której umieszczony jest przetwornik, wytwarza impuls ultradzwiekowy wprowadzany skosnie do badanej szyny 4. O ile w szynie nie ma wady ma¬ terialowej, wówczas impuls ultradzwiekowy po od¬ biciu od stoiplki szyny 5 dochodzi do glowicy 6. G"o- wica ta przetwarza odebrany impuls ultradzwieko¬ wy na impuls elektryczny, który po odpowiednim wzmocnieniu w odbiorniku 7 oraz po detekcji do¬ prowadzony zostaje do sluchawek wzglednie do glosnika 8.W trakcie badania szyny glowice, które sa wzgle¬ dem siebie nieruchome, przesuwaja sie po powierz¬ chni szyny. Gdy w szynie wystepuje wada, wów- 10 15 20 30 czas impuls ultradzwiekowy zostaje przez wade odlbity i nie (pada na glowice odbiorcza. Wtedy syg¬ nal akustyczny odbierany za posrednictwem slucha¬ wek maleje wzglednie zanika, co jest dowodem wy¬ krycia wady w szynie.Glebokosc,na której wystepuje wada, moze byc latwo wyznaczona dzieki temu, ze podczas przesu¬ wania glowic po powierzchni szyny kazda wada przeslania droge impulsu ultradzwiekowego dwu¬ krotnie, a wiec jest dwukrotnie wykrywana. Czym wyzej jest polozona wada, tym wieksza jest od¬ leglosc miedzy dwoma polozeniami glowic pod¬ czas dwukrotnego wykrycia tej samej wady.W ten sposób defektoskop wedlug wynalazku po¬ zwalajac na lokalizacje wady eliminuje lampe os¬ cyloskopowa stosowana dotychczas przy badaniach szyn a przez to znacznie upraszcza konstrukcje oraz zmniejsza moc bateryjnego zródla zasilania, a przez to równiez i ciezar defektoskopu.Gdy szyna nie zawiera wewnetrznych wad, wów¬ czas impuls ultradzwiekowy przechodzi bez trud¬ nosci do glowicy odbiorczej, powodujac powstanie sygnalu akustycznego w sluchawkach. Jest to jed- i oiczesnie dowodem doibrego kontaktu glowicy z ba¬ dana szyna, co jest nieodzownym warunkiem pra¬ widlowego dzialania urzadzenia defektoskopowego.Przy braku kontaktu zanika sygnal w sluohajwltach zwracajac uwage na nieprawidlowosc przeprowa¬ dzanego badania. Stanowi to dodatkowa zalete opi¬ sanego defektoskopu.48 231 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Tranzystorowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn, znamienny tym, ze ma glowice na¬ dawcza promieniujaca fale ultradzwiekowe skosnie w glab szyny i sprzezona z nadajnikiem impulsów wielkiej czestotliwosci oraz glowice odbiorcza unie¬ ruchomiona wzgledem glowicy nadawczej i sprze¬ zona poprzez odbiornik ze wskaznikiem akustycz¬ nym. 729. RSW „Prasa", Kielce. Nakl. 300 egz. PL