PL45703B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL45703B1
PL45703B1 PL45703A PL4570361A PL45703B1 PL 45703 B1 PL45703 B1 PL 45703B1 PL 45703 A PL45703 A PL 45703A PL 4570361 A PL4570361 A PL 4570361A PL 45703 B1 PL45703 B1 PL 45703B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
flaw detector
rail
transmitter
output
pulse ultrasound
Prior art date
Application number
PL45703A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL45703B1 publication Critical patent/PL45703B1/pl

Links

Description

Op ?*£L% to dnia 28 lutego 1962 r. vsufo arna, zs iuw BIBLIO *EH JU rzedu Fe lent owego! jMgjgJzgKrpaegsli^l L^nil POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr-45703 Polska Akademia Nauk*) (fnstytut Podstawowych Problemów Techniki) KI. 42 k, 46/0£ Warszawa, Polska Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn Patent trwa od dania 14 wrzesnia 19C1 r.Przedmiotem wynalazku jest impulsowy de¬ fektoskop ultradzwiekowy przeznaczony do ba¬ dania szyn przede wszystkim lezacych w torach. i.W dotychczas znanych defektoskopach tego typu. elektryczne impulsy wielkiej czestotliwo¬ sci doprowadzane sa z okreslona czestotliwoscia powtarzania do przetwornika ultradzwiekowe¬ go: przesuwanego po powierzchni szyny. Prze¬ twornik wprowadza do szyny impulsy ultra¬ dzwiekowe, które po napotkaniu wady materia¬ lowej odbijaja sie od niej i wracajac do prze¬ twornika ultradzwiekowego zamienione zostaja na impulsy* elektryczne. Impulsy te po wzmoc¬ nieniu doprowadzone zostaja i przedstawione na ekranie lampy oscyloskopo¬ wej, bedac dowodem wykrycia wady w szynie.Rozwiazanie takie posiada szereg wad, z któ¬ rych najwazniejsza jest duzy ciezar i wymiary urzadzenia. Wskaznik oscyloskopowy wymaga bowiem stosowania wysokich napiec zasilaja- &) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest dr inz. Leszek Filipczynski. cych, konieczne jest zatem uzycie zasilacza wy¬ sokiego napiecia. Do pionowego wysterowania lampy oscyloskopowej potrzebne sa symetrycz¬ ne napiecia o amplitudzie równej kilkaset wol¬ tów. Konieczne jest zatem stosowanie wzmac¬ niacza wizyjnego wraz z ukladem symetryzu- jacym. Do poziomego wysterowania lampy oscyloskopowej potrzebny jest zespól podstawy czasu doprowadzajacy symetryczne napiecia o amplitudzie równej kilkaset wolt. Ponadto w celu synchronicznego rozjasniania lampy oscyloskopowej nalezy ze specjalnego ukladu doprowadzic do niej napiecie o prostokatnym ksztalcie. Wymienione tu zespoly i uklady elektronowe, konieczne przy stosowaniu wskaz¬ nika oscyloskopowego, powoduja w rezultacie rozbudowanie elektronowej czesci defektosko¬ pu, powiekszajac elektryczna moc zasilania* wymiary i ciezar urzadzenia tym bairdziej, ze wystepuje wówczas koniecznosc stosowania agregatu pradotwórczego zlozonego z silnika benzynowego oraz z pradnicy elektrycznej o mo¬ cy kilkuset wat. Defektoskop zmontowany jestna specjalnym wózku toczacym sie po szynach, tak ze ogólny ciezar calego urzadzenia wynosi kilkadziesiat .kilogramów. Pe^caas przejazdu pociagu, wózek wmaz^z umieszczonym na nim defektoskopem musi byc znoszony z szyn, co pociaga za soba koniecznosc obslugiwania urza¬ dzenia przez kilikoosobowa grupe ludzi.Niedogodnosci te usuwa defektoskop przed¬ stawiony na rysunku. Nadajnik elektryczny i wytwarza poczatkowo w odstepach czasu T0 elektryczne impulsy wielkiej czestotliwosci, które doprowadzane zostaja do -glowicy ultra¬ dzwiekowej 2, zawierajacej przetwornik ultra¬ dzwiekowy, przesuwnej po szynie 3. Glowica ta przetwarza impulsy elektryczne na ultradzwie¬ kowe, które wnikaja w glab szyny. Gdy w szy¬ nie znajduje sie wada materialowa, wówczas impuls ultradzwiekowy odbijajac sie od niej pa¬ da z powrotem na glowice 2, wzglednie na inna glowice odbiorcza, a stad po przetworzeniu na impuls elektryczny doprowadzony zostaje do odbiornika 4. W odbiorniku impuls elektryczny zostaje wzmocniony i ewentualnie zdemodulo- wany, po czym doprowadzony do ukladu opóz¬ niajacego 5. W ukladzie tym impuls odbiorczy opózniony zostaje o "odcinek czasowy to, a na¬ stepnie doprowadzony do nadajnika l powodu¬ je jego zadzialanie po czasie Tp krótszym niz czas T0.W fen sposób okres powtarzania nadajnika Tp równy jest sumie czasu ts przejscia impul¬ su ultradzwiekowego w szynie oraz czaisu opóz¬ nienia t0 w ukladzie opózniajacym 5. Sygnal z nadajnika 1 o czestotliwoscd powtarzania im¬ pulsów fp = 1/Tp doprowadzony zostaje do ukladu 6 obnizajacego czestotliwosc dg czesto¬ tliwosci akustycznej. Czestotliwosc ta doprowa¬ dzona zostaje nastepnie do wskaznika 7, którym moze byc glosnik lub sluchawka. Moze to byc równiez miernik czestotliwosci powtarzania o bezposrednim odczycie.Gdy w szynie 3 zostanie wykryta wada lezaca blisko glowicy, wówczas czas ts przejscia im¬ pulsu ultradzwiekowego w szynie jest bardzo maly i okres powtarzania Tp = ts H t0 jest praktycznie równy t0. Czestotliwosc powtarza¬ nia jest wówczas maksymalna i wskaznik aku¬ styczny 7 daje najwyzszy ton. Gdy wada znaj¬ duje sie bardzo blisko stopki szyny wówczas okres powtarzania jest zwiekszony o czas ts, równy w tym przypadku czasowi przejscia im¬ pulsu ultradzwiekowego od glowicy do stopki i z powrotem. Czestotliwosc powtarzania staje sie wówczas mniejsza1 i wskaznik 7 daje nizszy ton. W ten sposób wysokosc tonu wskazuje na glebokosc polozenia w szynie wady.Przy zastosowaniu jako ukladu Wskaznikowe¬ go 7 miernika czestotliwosci przyrzajd wska¬ zówkowy mozna wyskalowac bezposrednio w glebokosci zalegania wady mierzonej od po¬ wierzchni szyny.Gdy wskutek zlego styku z szyna glowica ultradzwiekowa nie odbiera zadnego impulsu, wówczas nadajnik 1 pracuje z wlasnym okre¬ sem powtarzania T0, który tak jest dobrany, ze jest znacznie wiekszy od kazdej mozliwej war¬ tosci Tp. Wskutek tego czestotliwosc powta¬ rzania przy zlym styku staje sie bardzo mala, co zwraca uwage operatora na niewlasciwosc badania.Gdy wada materialowa w szynie ma przebieg skosny, tak ze impuls od niej odbity nie wraca w kierunku przetwornika^ wpwczas najczesciej nie wystepuje równiez odbicie od dna szyny.W tym przypadku w sluchawce wystepuje niski ton, taki sam jak- w przypadku zlego styku przetwornika z badana szyna.Uklad 6 obnizajacy czestotliwosc powtarza¬ nia moze pracowac na zajsadzie dzielenia cze¬ stotliwosci i wtedy bedzie zlozony z multiwi- bratorów lub z generatorów saimódlawnych.Czestotliwosc powtarzania mozna tez obnizyc przez zmieszanie z sygnalem z dodatkowego oscylatora o innej czestotliwosci, a nastepnie przez wykorzystanie czestotliwosci róznicowej.W defektoskopie wedlug wynalazku wyelimi¬ nowany zostal wskaznik oscyloskopwy i wy¬ mienione wyzej zespoly i uklady elektronowe, które z nim wspólpracuja. W takim przypadku, defektoskop mozna wykonac na tranzystorach i zrezygnowac z agregatu pradotwórczego' sto-: sujac zasilanie bateryjne. Wówczas iniptalsowy defektoskop do badania szyn staje sie niewiel¬ kim i lekkim przyrzadem obslugiwanym 1- no¬ szonym zaledwie przez jedna osobe, która pod¬ czas przejazdu pociagu schodzi z toru wraz z defektoskopem. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn, znamienny tym, ze posiada uklad upózniajacy, którego wejscie sprzezo¬ ne jest z wyjsciem odbiornika, a wyjscie ukladu opózniajacego sprzezone jest z nadaj¬ nikiem powodujac przyspieszenie jego za¬ dzialania.
2. Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn wedlug zastrz. 1, zn&mtennytym, ze posiada -wskaznik akustyczny w po¬ staci sluchawki lub glosnika sprzezony z na¬ dajnikiem, tak ze czestotliwosc powtarzania impulsów nadawczych zostaje doprowadzona do wskaznika akustycznego. Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze posiada uklad obnizajacy czestotli¬ wosc powtarzania, którego wejscie jest sprze¬ zone z nadajniklem, a wyjscie ze wskazni¬ kiem akustycznym. Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn wedlug' zastrz. 1 i 3, znamien¬ ny tym, ze w ukladzie obnizajacym czesto¬ tliwosc powtarzania zastosowano multiwi- brator lub generator samodlawny. Lmputlsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn wedlug zastrz. 1 i 3, znamien¬ ny tym, ze w ukladzie obnizajacym czesto¬ tliwosc powtarzania zastosowano oscylator lokalny i mieszacz. Impulsowy defektoskop ultradzwiekowy do badania szyn wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze posiada miernik czestotHwoisci po¬ wtarzania, którego wejscie sprzezone jest z nadajnikiem lub z wyjsciem ukiadu obni¬ zajacego czestotliwosc powtarzania. Polska Akademia NaUk (Instytut Podstawowych Problemów Techniki) 214. ftSW „Prasa", Kielce. PL
PL45703A 1961-09-14 PL45703B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL45703B1 true PL45703B1 (pl) 1962-04-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0010304B1 (en) Ultrasonic diagnostic apparatus
EP0741302A3 (en) Trigger pulse generator for analysis of CMOS latch-up
GB1482350A (en) Ultra sonic testing
US3737768A (en) Apparatus for the remote detection of conducting bodies utilizing electromagnetic waveforms exhibiting abrupt discontinuities
ZA896738B (en) Ultrasound process and circuits for carrying out same
JPS5872053A (ja) 超音波試験装置
CN100466985C (zh) 超声波诊断装置和图像数据生成方法
PL45703B1 (pl)
US3572099A (en) Ultrasonic non-destructive testing apparatus and method
DK0699307T3 (da) Fremgangsmåde og anordning til ikke-destruktiv undersøgelse af genstande med ultralyd
GB1104875A (en) Method of ultrasonic material testing for analysis of the flaw shape
US20060149150A1 (en) Apparatus and method for acquiring time-resolved measurements utilizing direct digitization of the temporal point spread function of the detected light
US4875372A (en) Echo cancellation system
US2736193A (en) Ultrasonic inspection of sail joints
JPS6237980B2 (pl)
US3166931A (en) Ultrasonic inspection apparatus using short elastic pulses
SU938137A1 (ru) Блок выделени первой полуволны к ультразвуковому дефектоскопу
JPS62180268A (ja) 超音波探傷装置
JPS5932865A (ja) 超音波検査装置
Bowen et al. Observation of acoustic signals from a phantom in an 18 MeV electron beam for cancer therapy
JPS61162747A (ja) 超音波検査装置
SU1619064A1 (ru) Способ измерени скорости ультразвуковых волн
SU1453315A1 (ru) Ультразвуковой эхо-импульсный дефектоскоп
Hayashi Remote imaging of plate-like structures with E-camera
SU922506A1 (ru) Ультразвуковой толщиномер