PL45702B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dnia 15 marca 1962 r.(Urzedu Ho te nl owego ]?tft[\ P:3C^5^ps!i;,i Ludowo) ^efe^V POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45702 KI. 42 c, 6/01 Skarb Panstina (Glóiuny Urzad Miar)*) Warszawa, Polska Urzadzenie wysokomiercze pryzmatyczne Patent trwa od dnia 8 lipca 1961 r.Wynalazek dotyczy urzadzenia wysokomier- ezego pryzmatycznego, sluzacego do pomiarów duzych przewyzszen punktów terenu metoda niwelacji geometrycznej.Pomiar duzego przewyzszenia nowym urza¬ dzeniem mierniczym wedlug wynalazku cha¬ rakteryzuje sie tym, ze jest on bardziej dokla¬ dny i mniej pracochlonny w porównaniu z do¬ tychczas stosowanymi:, niwelacja trygonome¬ tryczna i niwelacja geometryczna wykonywana metoda schodkowa.Urzadzenie wysokomiercze pryzmatyczne we¬ dlug wynalazku sklada sie z kompletu od sze¬ sciu do osmiu pryzmatów zalamujacych nasad¬ kowych zalozonych na obiektyw dowolnego ni- welatora, dowolnego systemu i dowolnej do¬ kladnosci. : - - Nasadki takie w ilosci do 8 sztuk w komple¬ cie umieszczone w szufladce skrzynki niwela- *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest dr inz. Waclaw Gradzki. tora nie utrudniaja przenoszenia instrumentu ze stanowiska na stanowisko ani transportu.Ten sam, komplet pryzmatów (klinów) nasad¬ kowych, przy uzyciu tulei przejsciowych, moze byc uzyty prawie do wszystkich systemów ni- welatorów.Na rysunku jest przedstawiony przyklad schematu pomiaru oraz wykonanie urzadzenia wysokomierniczego pryzmatycznego wedlug wy¬ nalazku. Fig. 1 przedstawia schemat optyczny pomiaru duzego przewyzszenia wysokosciomie- rzem pryzmatycznym metoda niwelacji geome¬ trycznej ze srodka, fig. 2 — konstrukcje na¬ sadki pryzmatycznej wysokosciomierza, fig. ,3 — schemat optyczny pomiarów katów dewia¬ cyjnych powyzszych pryzmatów gonijometrem, a fig. 4 — ogólny schemat optyczny tego same¬ go przewyzszenia za pomoca niwelatora zwy¬ klego i wysokosciomierza pryzmatycznego.Na schemacie optycznym (fig. 1) pomiaru du¬ zego przewyzszenia wysokosciomierzem pryz- mat^czri^m metoda niwelacji geometrycznej ze srodka: aa i a2 oraz ^ i p? oznaczaja katy de-wiacyjne pryzmatow; h -— przewyzszenie od¬ cinka niwelacji. Dp i Dw —* odleglosci przed¬ miotowe; t% v w2 oraz Pi i p2 — odczyty lat ni¬ welacyjnych' wstecz i przód ~nfwelatorem z na¬ sadkowymi pryzmatami wysokomierczymi (wy- sokosciomierzem pryzmatycznym); xt i x2 oraz yi i y2 - poprawki przejsciowe od pochylych do poziomych linii celowania.Mierzone przewyzszenia oblicza sie ze wzo¬ rów wynikajacych z ukladu na fig. \. lub h = w2 — p2 + (Ap + Aw) . K = W! - Pi + (Ap + Aw) . K _?a- Ki K4 gdzie A w = w2 - wi; A P = P2 - Pi K = K2 -— Ki przy czym ^ Ki = ctg ax K2 = ctg a2 gdzie o^i^sa to katy dewiacyjne kolejnych pryzmatów (klinów) uzytych przy wykonywa¬ niu pomiarów przewyzszenia.Wartosci liczbowe stalych: K2 K i K Ki moga byc podane w tablicach roboczych w za¬ leznosci od numerów ii i i2 nasadkowych klinów niwelatora uzytych do wykonania odczytów lat niwelacyjnych wstecz i przód [przy niwelacji ze srodka duzego przewyzszenia punktów terenu.Nasadka pryzmatyczna sklada sie, z oprawki 2, pryzmatu zalamujacego 2, pryzmatu korekcyjne¬ go 3, rozpieracza 4, pierscienia dociskowego 5, tulejki przejsciowej 6, obiektywu niwelatora 7.Dla sprawdzenia i okreslenia dokladnosci po¬ miaru duzego przewyzszenia powyzsza metoda, zostaly wykonane dwa pryzmaty zalamujace skorygowane od aberacji chromatycznej dla minimum dewiacji przechodzacych promieni swietlnych oraz dokonano porównania wyni¬ ków pomiarów przewyzszenia dwu. punktów te¬ renu przy pomocy zwyklego niwelatora i wy- sokosciomiierza pryzmatycznego.Na schemacie optycznym pomiarów katów dewiacyjnych powyzszych pryzmatów goniome- trem cyfra 1 oznacza lunete autokolimacyjna goniometru, 2 — niwelator, 3 — pryzmat na¬ sadkowy niwelatora, 4 — stolik goniometru, 5 — kolo podzialowe goniometru.Schemat optyczny ogólny pomiaru tego sa¬ mego przewyzszenia za pomoca niwelatora zwyklego i wysoikosciomierza pryzmatycznego uwidoczniony jest na fig. 4, gdzie A i B sa to punkty terenu, których przewyzszenie okresla¬ ne jest przy pomocy niwelatora C (bez nasadki i nasadka); a i b laty niwelacyjne: Ze schematu otrzymujemy: h = p — w K2 gdzie lub . oraz lub w Wi + A uj w = w2 + A uj K2 — Ki Ki K2 — Ki p = p'- A pK2-^k; P = Pi — A p Kj K2 — Ki Z porównania ostatnich wzorów otrzymujemy: K2 lub p - w = Pl _ Wl _ (A u)+ A p)- ^~- ¦K2 — Ki p — w = p2 - w2 - (A uj + A p) Ki K2 _ Ki Przyklad: Z. pomiarów goniometrem wedlug schematu na fig. 3 katów dewiacyjnych dwu pryzmatów, otrzymano: a, = 1° 43' 50" a2 = 3° 55' 00" skad Ki = 33,09825 K2 = 14,60592 Z pomiarów tego samego przewyzszenia ni- welatorem zwyiklym i wysokosciomierzem pryz¬ matycznym otrzymano: w = 313,9 mm p = 310,0 „ Wi = 173J „ w2 = —2,5 „ Pi = 471,3 „ p2 = 676,5 „ skad A uj = 176,3 mm A p = 205,2 mm W — p = 313,9 — 310,0 = 3,9 w0 = 173,8 + 176,3 1460592 -: 33,09825 — 14,6059 w0 = 173,8 + 139,24 = 313,04 mm Po = 471,3- 205,2 JM0592 18,49233 Po = 309,23 mm w0 -t po = 313,04 — 309,23 = 3,81 mm. czyli róznica wyników niwelacji niwelatorem zwyklym i wysokosciomierzem wynosi: 3,9 — 3,8 = 0,1 mm na 10 m odleglosci miedzy latami niwelacyjnymi. - 2 -Zwiekszenie dokladnosci pomiarów wysoko- sciomierzem mozliwe jest do osiagniecia za po¬ moca polepszenia korekcji pryzmatów i dosad¬ nego wyjustowamia calosci niwelatora z pryzma¬ tami dla minimum dewiacji przechodzacych pro¬ mieni swietlnych. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie wysolkomiercze pryzmatyczne, zna¬ mienne tym, ze sklada sie z szesciu do osmiu nasadkowych pryzmatów zalamujacych sko¬ rygowanych odpowiednio ma obserwacje chromatyczna dla minimum dewiacji prze¬ chodzacych promieni swietlnych, przy czym katy dewiacyjne poszczególnych pryzmatów sa tak dobrane, ze zakres przewyzszen mie¬ rzonych stanowi szereg odcinków pionowych nachodzacych na siebie w 10%.

2. Urzadzenie wysokomiercze pryzmatyczne we¬ dlug zastrz. 1, znamienne tym, ze pryzmaty nasadkowe sa wyposazone w tuleje przej¬ sciowe dla zastosowania ich do róznych sy¬ stemów niwelatora oraz, ze kazdy komplet pryzmatów zaleznie od przewidywanego za¬ kresu mierzonych przewyzszen jest wyposa¬ zony w tablice robocze wspólczynników „k" dla przejscia od .pochylej do poziomej linii celowania. Skarb Panstwa (Glówny Urzad Miar) S\[\J A 1 1 \ v2^y i \«r \y^/ * \ s' / \\ yv |T ** 4 l * i_ - Dw ? \ v f\\ V \ / \^&\ «• op A u f L l r t 1 t i ¦^ r Figi Fig.2Do opisu patentowego Nr 45702 Fig 3 Fig 4 B'BLIOTE"K M 213. RSW „Prasa", Kielce. PL