PL449531A1 - Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu - Google Patents

Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu

Info

Publication number
PL449531A1
PL449531A1 PL449531A PL44953124A PL449531A1 PL 449531 A1 PL449531 A1 PL 449531A1 PL 449531 A PL449531 A PL 449531A PL 44953124 A PL44953124 A PL 44953124A PL 449531 A1 PL449531 A1 PL 449531A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
vertical
sensor
precision measurement
biaxial tilt
axis vertical
Prior art date
Application number
PL449531A
Other languages
English (en)
Inventor
Maciej Zams
Sergiusz Łuczak
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL449531A priority Critical patent/PL449531A1/pl
Publication of PL449531A1 publication Critical patent/PL449531A1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
    • G01C9/02—Details
    • G01C9/06—Electric or photoelectric indication or reading means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Przedmiotem zgłoszenia jest precyzyjny dwuosiowy czujnik odchylenia od pionu, zawierający jednoczęściową obudowę (1) i trzy akcelerometry elektromechaniczne (4x, 4y, 4z) umieszczone na płytce drukowanej, zamocowane w taki sposób, że ich osie czułości są zasadniczo prostopadłe do siebie. Przedmiot wynalazku stanowi także sposób precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu, realizowany za pomocą czujnika, jak określono powyżej, obejmujący odpowiednie przygotowanie ujawnionego czujnika, zamocowanie go na urządzeniu docelowym, a następnie wykonywanie pomiarów.
PL449531A 2024-08-19 2024-08-19 Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu PL449531A1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL449531A PL449531A1 (pl) 2024-08-19 2024-08-19 Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL449531A PL449531A1 (pl) 2024-08-19 2024-08-19 Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL449531A1 true PL449531A1 (pl) 2025-09-29

Family

ID=97171723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL449531A PL449531A1 (pl) 2024-08-19 2024-08-19 Sposób i układ do precyzyjnego wyznaczania dwuosiowego odchylenia od pionu

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL449531A1 (pl)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001311621A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Omron Corp 傾斜センサユニット
US20060265178A1 (en) * 1998-12-09 2006-11-23 Townsend Christopher P Solid state orientation sensor with 360 degree measurement capability
PL425929A1 (pl) * 2018-06-15 2019-12-16 Politechnika Warszawska Czujnik odchylenia od pionu

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060265178A1 (en) * 1998-12-09 2006-11-23 Townsend Christopher P Solid state orientation sensor with 360 degree measurement capability
JP2001311621A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Omron Corp 傾斜センサユニット
PL425929A1 (pl) * 2018-06-15 2019-12-16 Politechnika Warszawska Czujnik odchylenia od pionu

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111678538B (zh) 一种基于速度匹配的动态水平仪误差补偿方法
Illingworth A repetition of the Michelson-Morley experiment using Kennedy's refinement
US5031330A (en) Electronic boresight
CN103162677A (zh) 一种数字地质罗盘仪及地质体产状的测量方法
CN113959464B (zh) 一种陀螺仪辅助的加速度计现场校准方法和系统
CN114397479B (zh) 一种石英振梁加速度计to部件的两自由度测试装置及方法
Gallon et al. Development of stochastic IMU error models for INS/GNSS integration
RU2162203C1 (ru) Бесплатформенный инерциальный измерительный блок
RU2727344C1 (ru) Способ повышения точности калибровки блока микромеханических датчиков угловой скорости
CN114264304A (zh) 复杂动态环境高精度水平姿态测量方法与系统
FI3899432T3 (fi) Menetelmä inertiaalimittausjärjestelmän luonnehtimiseksi
CN117309004A (zh) 三轴光纤陀螺仪正交性静态标定方法
CN117249811A (zh) 一种超高层建筑分布式倾角监测系统及方法
CN113029133B (zh) 机器人、校正方法及计算机可读存储介质
CN111307072B (zh) 测量平台系统和测量系统
RU2231795C1 (ru) Чувствительный элемент интегрального акселерометра
RU2803878C2 (ru) Способ калибровки погрешностей инерциального измерительного блока на базе лазерных гироскопов с использованием динамического стенда
EP0326256A1 (en) Electronic surface alignment system
CN111412930B (zh) 一种联合测姿装置安装误差的标定运算方法
CN112902954A (zh) 塔架晃动传感器和塔架晃动角度测量方法
RU22331U1 (ru) Микромеханический акселерометр
Hunziker et al. Calibration of piezoelectric pressure and acceleration transducers
RU2771790C1 (ru) Бесплатформенная инерциальная система объекта управления
RU2779274C1 (ru) Способ измерения ошибок начальной выставки инерциальной навигационной системы без привязки к внешним ориентирам
Hassaballa et al. Stochastic noise characterization of low cost inertial sensors using Allan variance technique