PL446319A1 - Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR - Google Patents

Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR

Info

Publication number
PL446319A1
PL446319A1 PL446319A PL44631923A PL446319A1 PL 446319 A1 PL446319 A1 PL 446319A1 PL 446319 A PL446319 A PL 446319A PL 44631923 A PL44631923 A PL 44631923A PL 446319 A1 PL446319 A1 PL 446319A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
diode
resistor
tested
trough
optical power
Prior art date
Application number
PL446319A
Other languages
English (en)
Other versions
PL248339B1 (pl
Inventor
Sebastian Urbaś
Bogusław Więcek
Maria Strąkowska
Mariusz Felczak
Błażej Torzyk
Rafał Kasikowski
Przemysław Tabaka
Iyad Shatarah
Original Assignee
Politechnika Łódzka
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Łódzka filed Critical Politechnika Łódzka
Priority to PL446319A priority Critical patent/PL248339B1/pl
Publication of PL446319A1 publication Critical patent/PL446319A1/pl
Publication of PL248339B1 publication Critical patent/PL248339B1/pl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Sposób pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR metodą termowizyjną, polega na tym, że diodę łączy się szeregowo z elementem grzewczym, korzystnie w postaci rezystora o kształcie i wymiarach identycznych, jak badana dioda i po umieszczeniu obu tych elementów w jednakowych warunkach termicznych, łączy się je ze źródłem prądu o prądzie 10 - 50 mA, po czym przy użyciu kamery termowizyjnej dokonuje się jednoczesnego pomiaru temperatury badanej diody, rezystora i przewodów je zasilających. Następnie sporządza się wykres zależności temperatury przewodów zasilających badaną diodę i rezystor w funkcji odległości od tych elementów i z wykresu tego wyznacza się gradient temperatury wzdłuż przewodów zasilających, po obu stronach diody i rezystora, dalej z równań bilansu mocy dla diody i rezystora oraz z równania mocy cieplnych odprowadzanych do otoczenia przez przewody zasilające rezystor i diodę, wyznacza się moc optyczną diody Popt. Układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR metodą termowizyjną, opisanym wyżej sposobem zawiera podłużne koryto (7) z materiału nieprzewodzącego prądu, otwarte od góry, przedzielone pionową przegrodą (6) z materiału nieprzewodzącego prądu na dwie części, z których jedna część jest przeznaczona do umieszczenia w niej badanej diody (1), zaś druga do umieszczenia w niej rezystora (2) o kształcie i wymiarach identycznych jak badana dioda (1). W pionowej przegrodzie (6) koryta (7) jest przelotowy otwór na przewód elektryczny do szeregowego połączenia ze sobą badanej diody (1) i rezystora (2). W ściankach bocznych koryta (7) są przelotowe otwory na przewody zasilające (5) do połączenia badanej elektrody (1) i rezystora (2) ze źródłem prądu (4) o regulowanym prądzie z zakresu 10 — 50 mA. Nad korytem (7), w minimalnej odległości zapewniającej ostry obraz termowizyjny, jest usytuowana kamera termowizyjna (8).
PL446319A 2023-10-06 2023-10-06 Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR PL248339B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL446319A PL248339B1 (pl) 2023-10-06 2023-10-06 Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL446319A PL248339B1 (pl) 2023-10-06 2023-10-06 Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL446319A1 true PL446319A1 (pl) 2025-04-07
PL248339B1 PL248339B1 (pl) 2025-12-01

Family

ID=95250801

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL446319A PL248339B1 (pl) 2023-10-06 2023-10-06 Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL248339B1 (pl)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08226849A (ja) * 1995-02-22 1996-09-03 Nippondenso Co Ltd 光パワー測定装置
JP2007309678A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Mitsubishi Electric Corp 光パワー測定装置
US20130236992A1 (en) * 2012-03-06 2013-09-12 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Testing method, testing device, and manufacturing method for laser diode
KR20190065815A (ko) * 2017-12-04 2019-06-12 광주과학기술원 열전대를 이용한 광출력 측정 시스템 및 그것의 동작 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08226849A (ja) * 1995-02-22 1996-09-03 Nippondenso Co Ltd 光パワー測定装置
JP2007309678A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Mitsubishi Electric Corp 光パワー測定装置
US20130236992A1 (en) * 2012-03-06 2013-09-12 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Testing method, testing device, and manufacturing method for laser diode
KR20190065815A (ko) * 2017-12-04 2019-06-12 광주과학기술원 열전대를 이용한 광출력 측정 시스템 및 그것의 동작 방법

Also Published As

Publication number Publication date
PL248339B1 (pl) 2025-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Farkas et al. Thermal testing of LEDs
TW201725850A (zh) 用於固持、探測與測試太陽能電池之溫度控制平台、系統與方法
PL446319A1 (pl) Sposób i układ do pomiaru mocy optycznej diod LED VIS i NIR
ES2037030T3 (es) Metodo de medir el rendimiento termico de un aparato de calentamiento de alta frecuencia.
KR20130023816A (ko) 발열 패키지 테스트 시스템
WO2019147763A3 (en) Maintaining stable optical output of solid state illumination system
KR102168123B1 (ko) Led를 이용한 자외선 살균 보온등
US20080106293A1 (en) Drive Method And Drive Circuit Of Peltier Element, Attaching Structure Of Peltier Module And Electronic Device Handling Apparatus
Baumgartner et al. A temperature controller for high power light emitting diodes based on resistive heating and liquid cooling
Górecki et al. Influence of cooling conditions of power LEDs on their electrical, thermal and optical parameters
MX2018012436A (es) Un dispositivo calentador instantaneo para solidos, liquidos, gases y vapores.
Górecki et al. Measurements of thermal parameters of solar modules
RU2017139938A (ru) Газоразрядная лампа и устройство поддержания постоянной температуры для нее
TWI601964B (zh) Thermostat
CN206114876U (zh) 一种led灯珠老化装置
CN211741521U (zh) 一种全自动led灯具老化测试设备
JP5802657B2 (ja) 光モジュール
RU196238U1 (ru) Тепловая мишень для практической стрельбы
WO2016017846A1 (ko) 광-전자적 측정 시에 샘플의 온도를 제어하는 장치 및 이를 이용한 태양전지 측정 장치
KR101951930B1 (ko) 이차전지 온도 조절 시스템 및 이를 포함하는 이차전지 충방전 테스트 시스템
KR101187547B1 (ko) 발광다이오드 패키지의 열화 평가 장치
Muslu et al. Impact of electronics over localized hot spots in multi-chip white LED light engines
DK29784A (da) Elektrisk ledningsevnemaalesonde
CN109031084A (zh) 一种高功率水冷烧测设备
Borràs et al. Optical power model for low power laser diodes: Pspice modelling of optical power variation with temperature