PL42786B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano drwa 15 styczhnit 1960 r.BIBLIOTEKA Urzedu Pot.nlowegol [Mdlij BzMZfMSpgJitcj ItfmA POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Fr 42786 9m u/zi Stanislaw Szulc Warszawa, Polska Stereokomparator do identyfikowania a zwlaszcza klasyfikowania mikroskopijnych wielkosci, przestrzennej budowy oraz st ruktury powierzchni róznych materialów Patent trwa od dnia 13 stycznia 1959 r.W przemysle, geologii, rolnictwie oraz me¬ dycynie brak jest dotychczas aparatu, za po¬ moca którego moznaby w prosty i szybki sposób badac oraz klasyfikowac mikroskopijne wielkosci, przestrzenna budowe lub strukture róznych materialów.Na przyklad w czasie obróbki metali zacho¬ dzi potrzeba zbadania powierzchni obrabianego metalu i okreslenia jej gladkosci w zakresie dwóch najblizej stojacych siebie wzorców. Slu¬ zace do tego celu aparaty rysikowe, przeno¬ szace np. nierównosci powierzchni na wykres sa klopotliwe w uzyciu, a poza tym bardzo kosztowne. Znane i stosowane dotychczas aparaty optyczne nie czynia znów zadosc sta¬ wianym przez, przemysl wymaganiom. Obser¬ wowane za pomoca nich obrazy powierzchni badanego przedmiotu i jednego lub dwóch wzorców sa plaskie. Jak wiadomo, obrazy pla¬ skie nie pozwalaja na ocene wysokosci nierów¬ nosci prostopadlych do powierzchni obrazu.Za pomoca tych apartów mozna ocenic przez porównanie wylacznie odleglosci grzbietów nie¬ równosci i to tylko w przypadku jednokie¬ runkowej obróbki. Nie daja one jednak i tej oceny przy badaniu powierzchni docieranych i polerowanych o wielokierunkowych sladach obróbki.Przedmiotem wynalazku jest stereokompa¬ rator o wszechstronnym zastosowaniu. Sluzy on do szybkiego porównywania, identyfikowania i klasyfikowania przez porównanie z dwoma znormalizowanymi lub okreslonymi wzorcami mikroskopijnych wielkosci, przestrzennej budo^ wy oraz struktury powierzchni róznych mate¬ rialów, np. surowców i produktów przemyslo¬ wych, ziem, mineralów, materialów budowla¬ nych, wlókien, tkanin, skór, papieru lub roz¬ maitych preparatów biologicznych. Stereokom¬ parator wedlug wynalazku nadaje sie wiec równiez do badania i klasyfikowania glrdkosci powierzchni obrabianych metali.Stereokomparator wedlug wynalazku jest "zbudowany z trzeth stereoskopowych ukladów mikroskopowych i posiada K obiektywów, tj. po dwa dla kazdego ukladu mikroskopowego oraz biokiilar wspólny dla wszystkich par mi¬ kroskopów. Jedna para ukladu mikroskopowe¬ go przeznaczona jest do stereoskopowego obser* wowania badanej powierzchni, pozost&le cl^Ie pary do stereoskopowego obserwowania wzoVr ców. W celu uzyskania prawidlowego rzeczywi¬ stego obrazu perspektywicznego i ' nie odwró¬ conego, to jest aby wkleslosci nie wydawaly' sie wypuklosciami i na odwrót, kazda para mikroskopów zaopatrzona jest w dowolne zna¬ ne uklady odwracajace np. pryzmaty Poro albo tez w uklady optyczne przerzucajace obraz z prawego obiektywu do lewego oka i na od¬ wrót Poza tym, w celu zwiekszenia wrazenia perspektywicznego korzystne jest, o ile, w ste- reokomparatorze wedlug wynalazku inne sa" od¬ leglosci miedzy osiami okularów niz odleglo¬ sci miedzy osiami obiektywów ukladów mikro¬ skopowych, w celu zas zapewnienia prostopa¬ dlosci obrazów do osi okularów, osie okularów i wszystkich obiektywów sa wzgledem sie¬ bie równolegle.Opisana konstrukcja stereokomparatora we¬ dlug wynalazku pozwala na to, ze w biokula- rze otrzymuje sie w jednej plaszczyznie i we wspólnym polu widzenia trzy rzeczywista, powiekszone i nie znieksztalcone obrazy, z któ¬ rych jeden srodkowy jest przestrzennym (trój¬ wymiarowym) obrazem budowy lub struktury powierzchni badanego materialu, pozostaje dwa zas przestrzennymi obrazami uzytych wzorców.Obrazy wzorców rozmieszczone sa w stereo- komparatorze wedlug wynalazku, po obydwu stronach obrazu badanego materialu i stykaja sie z tym obrazem wzdluz dwóch równoleglych do siebie linii prostych. W zwiazku z tym przy badaniu na przyklad struktury powierzchni uzyskuje sie moznosc bezposredniego porówna¬ nia wszystkich trzech obrazów, a tym samym szybka i bezbledna ocene oraz ponrar np. klasy gladkosci badanego materialu. Stereo¬ komparator jest zaopatrzony w urzadzenia, umozliwiajace obracanie i przesuwanie bada¬ nego materialu i wzorców niezaleznie od sie¬ bie i we wszystkich kierunkach-oraz mierzenie dowolnych wielkosci badanego materialu Wzór jednoraz. Stól. Zakl. Graf. — WG.W zaleznosci od rodzaju badan, obserwacje materialu i wzorców prowadzi sie w swietle odbitym lub przechodzacym. PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe 1. ¦„.l. Stereokomparator do identyfikowania, a zwlaszcza klasyfikowania mikroskopijnych wielkosci, przestrzennej budowy oraz struk¬ tury powierzchni róznych materialów, zna¬ mienny tym, ze jest zbudowany z trzech stereoskopowych ukladów mikroskopowych i posiada 6 obiektywów, po dwa dla kazdej pary mikroskopów oraz biokular wspólny dla wszystkich par mikroskopów i jest zao¬ patrzony w dowolne znane uklady optycz¬ ne, odwracajace pozorne obrazy mikro¬ skopów tak, iz w biokularze otrzymuje sie w jednej plaszczyznie i we wspólnym polu widzenia trzy rzeczywiste powiekszone obrazy, z których jeden jest przestrzennym obrazem budowy lub struktury powierzchni badanego materialu, pozostale dwa ' zas przestrzennymi obrazami budowy lub struk¬ tury powierzchni dobranych wzorców, przy czym obrazy wzorców rozmieszczone sa po obydwu stronach obrazu badanego materialu i stykaja sie z tym obrazem wzdluz dwóch równoleglych do siebie linii prostych.
2. 2. Stereokomparator wedlug zastrz. I, zna¬ mienny tym, ze odleglosci miedzy osiami okularów sa rózne od odleglosci miedzy osiami obiektywów ukladów mikroskopo¬ wych.
3. 3. Stereokomparator wedlug zastrz. 1—3, zna¬ mienny tym, ze osie okularów i wszysl- kich obiektywów sa wzgledem siebie rów¬ nolegle. %
4. 4. Stereokomparator wedlug zastrz. 1, ,zna- mienny tym, ze posiada urzadzenia, umoz¬ liwiajace obracanie i przesuwanie badane¬ go materialu i wzorców niezaleznie od sie¬ bie i we wszystkich kierunkach oraz mie¬ rzenie dowolnych wielkosci badanego ma¬ terialu. S tan i s l a w S.,z u I c Zastepca: mgr inz. Antoni Sentek» rzecznik patentowy Zam. 789, 100 egz., Al pism.,kl.V.III.. . PL