Opublikowano dnia 28 grudnia 195$ r.?T1%. ^%6 L ^ POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 42559 KI. 42 h, 14/01 Meopta — Praha, narodni podnik Praga, Czechoslowacja Mikroskop porównawczy do obserwacji w swietle rzutujqcym Patent trwa od dnia 16 stycznia 1958 r.Wynalazek dotyczy mikroskopu, mogacego sluzyc jako mikroskop porównawczy, do obser¬ wacji w swietle, wpadajacym pionowo badz tez ukosnie.Znane sa urzadzenia, które przy badaniach mikroskopowych obiektów nieprzejrzystych, po¬ woduja pionowe lub ukosne rzutowanie wiazki promieni oswietlajacych. Pierwsze z nich stosu¬ je sie przy obserwacjach w polu zaciemnio¬ nym* Przejscie z jednego sposobu oswietlania na drugi sposób, wymaga zmiany odpowiednie¬ go urzadzenia. Mikroskop porównawczy stano¬ wi szczególny przypadek mikroskopu do obser¬ wacji w swietle rzutujacym. W mikroskopie porównawczym obrazy obu obiektów (badanego i wzorcowego) sa obserwowane i porównywane jednoczesnie w przedzielonym polu widzenia okularu. Przy tego rodzaju mikroskopach sto¬ suje sie przewaznie pionowo rzutujace swiatlo, co jednak nie stwarza zadowalajacych mozli¬ wosci badania powierzchni, których chropowa¬ tosc Hs jest wyzsza niz 0,5 ij. Znane sa takze, jednak rzadziej stosowane mikroskopy porów¬ nawcze, w których badane obiekty obserwo¬ wane sa przy pomocy ukosnie padajacego swia¬ tla. Obiekty, badany i wzorcowy, oswietlone sa kazdy przez oddzielne zródlo swiatla, przy czym swiatlo to nie pada ukosnie. Wspólna wada obu tych mikroskopów jest mozliwosc stosowania jedynie ukosnie padajacego swia¬ tla, oraz koniecznosc zastosowania dwóch obiek¬ tywów. Dalsza wada ze wspomnianych wyzej mikroskopów, jest stosowanie dwóch zródel swiatla, co umozliwia dokladne porównywanie.W drugim wypadku niska jest moc oswietlenia.Mikroskop wedlug wynalazku, umozliwia do¬ wolne kierowanie wpadajacego swiatla raz pio¬ nowo^ raz ukosnie, na jeden lub dwa obiekty jednoczesnie. Dzieki temu mozna szybko i la¬ two przechodzic on obserwacji w polu rozjasnio¬ nym do obserwacji w polu zaciemnionym i odwrotnie. Przy mikroskopie porównawczym mozna wybrac taki siposób obserwacji, który najlepiej odpowiada strukturze obiektu badane¬ go lub wzorcowego.Zgodnie z wynalazkiem mikroskop dla obser¬ wacji w swietle wpadajacym, a w szczególnosci mikroskcp porównawczy znamienny jest tym,ze na^pfótfJesiennie badanego obiektu lub obiek¬ tów (badanego i wzorcowego) skierowac mozna swiatlo dowolnie, pionowo lub ukosnie, przez co mozna przeprowadzac obserwacje w polu rozjasnionym lub zaciemnionym albo dokony¬ wac porównan powierzchni przy równoleglym rozproszonym odbiciu swiatla.Na rysunku fig. 1 przedstawia schematycz¬ nie sposób wykonania urzadzenia wedlug wy¬ nalazku, fig. 2 — schematycznie to urzadze¬ nie przy mikroskopie porównawczym, a fig. 3 i 4 przedstawiaja rozwiazanie konstrukcyjne elementów optycznych, przedstawionych na fig. 2.Wedlug fig. 1, przy oswietleniu prostopadlym promienie ze zródla swiatla 30 dla oswietlenia prostopadlego biegna przez kondensor 31 do oswietlenia prostopadlego i padaja na pólprze- puszczalna powierzchnie odbijajaca, która po¬ siada celowo ksztalt pólprzepuszczalnej kost¬ ki szesciennej 32. Odbite od obiektu promie¬ nie przechodza z powrotem przez czlon pól- przepuszczalny 32 c(o obiektywu 33 i do oku¬ laru 34.Przy oswietleniu ukosnym promienie ze zró¬ dla swiatla 35 przeznaczonego dla ukosnego oswietlenia przechodza przez kondensor 36 do oswietlania ukosnego i padaja na zwierciadlo 37, które zalamuje bieg promieni pod odpo¬ wiednim katem, na przyklad 45° i rzuca je na badany obiekt. Dalszy przebieg promieni jest taki sam, jak przy oswietleniu prostopadlym.Ze wzgledów konstrukcyjnych, koniecznym jest czesto umieszczenie zródla swiatla 35 w innym miejscu' urzadzenia, np. w punkcie 35a. Wy¬ maga to odpowiedniego nachylenia zwierciadla 39 albo zastosowania dodatkowego zwiercia¬ dla 38 i przestawienia kondensora w poloze¬ nie 36a.Fig. 2 — przedstawia zastosowanie takiego urzadzenia w mikroskopie porównawczym. Przy oswietleniu prostopadlym, promienie ze zródla swiatla 1 do prostopadlego oswietlenia, po¬ przez szybe matowa 2 i kondensor 3 dla oswie¬ tlenia prostopadlego, padaja na pólprzepuszczal- na plaszczyzne odbijajaca, która celowo po¬ siada ksztalt pólprzepuszczalnego szescianu 4 (zwanego dalej pólprzepuszczalnym czlonem 4).W elemencie tym promienie rozdzielaja sie na dwa prostopadle do siebie kierunki, oswietla.- jac czesc obiektu wzorcowego 7, przyslonietego przez przeslone 5, oraz czesc obiektu badane¬ go 8, przyslonietego przez przeslone 6. Oswie¬ tlone czesci obiektu wzorcowego 7 i badanego 8 ograniczone sa przez pólokragle otwory ora: przez obie przeslony 5 i 6.Promienie odbite przechodza przez pólprze- puszczalny czlon '4 do obiektywu 9 i do oku¬ laru 10. Pole widzenia okularu wydaje sie byc podzielone na dwie czesci, w których mozna jednoczesnie obserwowac oba obiekty (bada¬ ny i wzorcowy).Przy oswietleniu ukosnym, promienie ze zró¬ dla swiatla 11 dla oswietlenia ukosnego, prze¬ chodza przez kondensor 12 przeznaczony dla oswietlenia ukosnego i padaja na pólprzepusz- czalna plaszczyzne odbijajaca, która celowo po¬ siada ksztalt pólprzepuszczalnego szescianu 13 dla oswietlenia ukosnego. Tu promienie rozdzie¬ laja sie na dwa prostopadle do siebie kierunki i odbijaja sie od dwóch zwierciadel 14, 15. Po¬ lozenie tych zwierciadel zaznaczone jest perspe¬ ktywicznie na fig. 2. Po odbiciu od zwierciadel promienie padaja ukosnie na powierzchnie oswietlonej czesci obiektu wzorcowego 7 i oswietlonej czesci obiektu badanego 8. Pew¬ na czesc tych promieni, po odbiciu sie od mi¬ kroskopowych i makroskopowych nierównosci powierzchni, rzutowana, jest na pólprzepusz- czalny czlon 4, po czym promienie te biegna poprzez obiektyw 9 do okularu 10.Przy tym oswietleniu uplastycznione sa chro¬ powatosci powierzchni podczas, gdy wieksza czesc promieni odbitych od blyszczacych i glad¬ kich powierzchni przebiega poza torem optycz¬ nym mikroskopu porównawczego. Z tego po¬ wodu oswietlenie ukosne, przy powierzchniach blyszczacych moze sluzyc do pomiaru wzgled¬ nego polysku; bardziej blyszczacej powierzchni odpowiada ciemniejsze pole. Kat padania mo¬ ze byc regulowany przez odpowiednie nasta¬ wienie zwierciadel. W opisywanym wypadku wybrano kat 45°.Rozwiazanie konstrukcyjne przedstawionych na fig. 2 optycznych czesci skladowych uwi¬ doczniono na fig. 3 i 4, przy czym fig. 3 przedstawia przekrój pionowy przez korpus mikroskopu 16 w czesci przeznaczonej dla pio¬ nowego oswietlenia, a fig. 4 przekrój poziomy przez oba systemy oswietlenia i przekrój pio¬ nowy oraz przez czesc do oswietlenia ukosne¬ go obiektu badanego.Oznaczenia cyfrowe wszystkich odpowiadaja¬ cych sobie'czesci skladowych na fig. 2, 3 i 4 sa jednakowe.Rozwiazanie konstrukcyjne o swietlenia w przypadku oswietlenia pionowego jest uwi¬ docznione w przekroju pionowym na fig. 3 i czesciowo na fig. 4 o przekroju poziomym.* -Rozwiazanie konstrukcyjne systemu oswietle¬ nia przy oswietleniu ukosnym jest uwidocz¬ nione na fig; 4, przy czym czejsc sluzaca do oswietlenia obiektu wzorcowego uwidoczniono w przekroju poziomym, natomiast Gzesc prze¬ znaczona do oswietlenia obiektu badanego w przekroju pionowym. Na rysunku uwidocz¬ niono takze droge przebiegu promieni przy oswietleniu ukosnym.Na fig. 2 uwidocznione jest rozwiazanie kon¬ strukcyjne calego mikroskopu porównawczego jednookularowego z tubusem o stalej dlugosci.Cyfra 17 oznaczony jest tubus okularu, 16 — korpus mikroskopu, a 18 — uchwyt ze sztucz¬ nego tworzywa z wbudowanym transformato¬ rem elektrycznym (120—220 V/6V). Prad elek¬ tryczny jest doprowadzony z sieci poprzez sznur 20 do listwy z zaciskami 21 i stad do transformatora 19. Prad z uzwojenia wtórnego, posiadajacy napiecie 6 V, jest doprowadzony poprzez listwe z zaciskami do przelacznika 22.Jedna polowa tego przelacznika sluzy do oswie¬ tlenia pionowego, a druga polowa — do oswie¬ tlenia ukosnego. Z przelacznika prad przebie¬ ga do zródel swiatla 1 i 11 (fig. 4). Wylacznik sieciowy pradu elektrycznego znajduje sie przy sznurze poza mikroskopem.. Jezeli nie ma do¬ stepu do pradu sieciowego, mozna dolaczyc bezposrednio do listwy z zaciskami zródlo pra¬ du stalego lub zmiennego o napieciu 6 V, przy czym nie trzeba wymieniac zarówek, które obliczone sa na napiecie 6 V.Mikroskop zaopatrzony jest w uklad obiek¬ tywów (3X) iw uklad okularów, które umo¬ zliwiaja powiekszenie od 12 X 60 X. Osiagnie¬ cie odpowiedniej ostrosci nastepuje przez prze¬ suwanie okularu. Tubus okularu umozliwia za¬ stosowanie nakladanej kamery. Azeby uchro¬ nic obiekt wzorcowy przed otarciem, przeslo¬ na obiektu wzorcowego wykonana jest ze sztucznego tworzywa. Przy glównym korpusie mikroskopu mozna zastosowac równiez rózne prowadnice odpowiadajace róznym ksztaltom obiektu wzorcowego.Pryzmat 23 ze sprezyna dociskowa 24 umiesz¬ czony na trzpieniu prowadniczym 25, moze byc nastawiany przez srube nastawcza 26, umozli¬ wiajaca wlasciwe nalozenie mikroskopu na obiektyw o srednicy do 6 mm. Obserwacja obiektów o mniejszej srednicy, jest równiez mozliwa. Przy obserwacji obiektów plaskich, pryzmat 23 nastawia sie w ten sposób, ze mi¬ kroskop jest nasadzony na obiekt badany za pomoca przeslony 6 oraz dolnej czesci pryzma¬ tu 23. Przy waskich rowkach wzglednie przy otworach wpustowych, p*yzmat Z& moztia zdjac, rozluzniajac zupelnie srube 26 przez co zwol¬ niona zostaje podkladka 27 i trzpien prawad- niczy mozna wykrecic tak, ze pozostaje tylko wlasciwa czesc mikroskopu. Ruchoma przy¬ krywka 28 zapewnia dostap do zarówek- Jest ona zaopatrzona w okienko kontrotote 29x Kombinacja oswietlenia pionowego i ukosne¬ go za pomoca swiatla padajacego oraz inne elementy konstrukcyjne tworza calosc, która jako urzadzenie stosowane dla wizualnych me¬ tod porównawczych, umozliwia szerokie ich stosowanie np. przy okreslaniu jakosci obiek¬ tów metalowych i niemetalowych, tkanin, pa¬ pieru, powloki filmów oraz przy okreslaniu wielkosci ziarenek materialów sproszkowanych itd.W polaczeniu z czesciami dodatkowymi (jak np. obiektowy mikromierz porównawczy, filtry kolorowe i polaryzujace, kamera do nasadza¬ nia lub specjalne uchwyty obiektów badanych) urzadzenie zgodne z wynalazkiem przedstawia soba odpowiedni instrument laboratoryjny, któ¬ ry moze byc zastosowany do okreslania rozma¬ itych wlasciwosci powierzchni, przez wizualne porównanie, oraz do bezposrednich pomiarów dlugosci i powierzchni.Dogodny ksztalt i maly ciezar mikroskopu czynia go odpowiednim równiez dla zastoso¬ wania warsztatowego. PL