PL42077B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dnia 31 pazdziernika 1959 r. «**t*a iOAAAA & a POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 42077 AL 42 b, 26/03 Fabryka Lin i Drutu *) Zabrze, Polska Prolllomelr elektronowy Patent trwa od dnia 11 pazdziernika 1958 r.Profilometr elektronowy sluzy do pomiaru powierzchni przekroju profili nieregularnych ciagnionych drutów oraz drobnych profili wal¬ cowanych. Dotychczasowe metody obliczania powierzchni przekroju profili nieregularnych za pomoca planimetrowania, rozrysowania na pa¬ pierze milimetrowym, wzglednie wazenia w po¬ wietrzu i wodzie sa malo dokladne, a bledy po¬ pelniane przy tych metodach daja zbyt duze odchylki wzgledem rzeczywistych wartosci po¬ wierzchni przekroju tych profili. Obliczone na podstawie powierzchni przekroju wartosci wiel¬ kosci gniotów lub wytrzymalosci na rozciaganie sa tylko przyblizone. Profilometr elektronowy usuwa te bledy oraz stwarza mozliwosci szyb¬ kiego i dokladnego pomiaru powierzchni prze¬ kroju profili nieregularnych. Pomiar profilo- metrem wedlug wynalazku oparty jest na zasa¬ dzie zmiany natezenia pradu fotokomórki w za¬ leznosci od wielkosci badanej próbki.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest mgr inz. Jerzy Binder.Profilometr elektronowy wedlug wynalazku sklada sie z czesci elektronowo-optycznej oraz wzmacniacza lampowego. Fig. 1 i 2 przedstaw wiaja. schemat ideowy profilometru elektrono¬ wego, a fig. 3 przedstawia przekrój czesci elek¬ tronowo-optycznej.Przystepujac do badania nieznanej powierz¬ chni przekroju, na przyklad drutu o profilu nie¬ regularnym, szlifuje sie te powierzchnie prosto¬ padle do osi ciagnienia, a nastepnie ucima do dlugosci okolo 10 mm. Próbke ustawia sie po¬ wierzchnia oszlifowana na szybie wzorcowej 3.Próbka jest oswietlona z góry zarówka ' 1.Skretka zarówki 1 jest oddalona od soczewki 2 o odleglosc równa ogniskowej soczewki 2. Dzie¬ ki temu otrzymuje sie równolegla wiazke swia¬ tla, padajaca na szybe wzorcowa 3 z umieszczo¬ na na niej próbka drutu profilowego. Powstaly obraz- przechodzi przez uklad optyczny socze¬ wek pomniejszajacych 5 i 7 i pada na katode fotokomórki 8. Na katodzie fotokomórki 8 otrzy¬ muje sie pomniejszony czarny obaz badanej próbki drutu profilowego oraz czarny konturmetalowej ramki 4. Przez fotokomórke poplynie wtedy prad, który wzmocniony przez wzmac¬ niacz, uwidoczniony na fig. 2, spowoduje wy¬ chylenie wskazówki mili amperomierza 12 o pe- . wna liczbe kresek, które równe sa wartosci po¬ wierzchni przekroju badanej próbki. Miliampe- romierz 12 jest wyskalowany bezposrednio w jednostkach powierzchni. Skalowanie odby¬ wa sie w nizej opisany sposób. Przez szybe wzorcowa 3 o znanej powierzchni przepuszcza sie wiazke swiatla i za pomoca galek potencjo¬ metrów 9 ustawia sie wskazówke miliampero- mierza 12 na maksymalne wychylenie oznaczo¬ ne na miliamperomierzu przez 0. Po tej czyn¬ nosci wstawia sie na szybe wzorcowa 3 badana, próbke. Powstaly obraz na fotokatodzie przyslo¬ ni pewna czesc powierzchni swiatloczulej. Prad fotokomórki jest proporcjonalny do ilosci swia¬ tla padajacego na powierzchnie swiatloczula, a w przypadku przysloniecia pewnej jej czesci przez czarny obraz próbki i kontur ramki 4 po¬ plynie mniejszy prad niz poprzednio. W ten sposób miliamperomierz wykaze wartosc po¬ wierzchni przekroju badanej próbki. Profilo- metr elektronowy posiada wyposazenie w po¬ staci czterech ramek metalowych 4 o róznych wymiarach. Przy pomiarach powierzchni dobie¬ ra sie zawsze te ramke, której wymiary sa naj¬ bardziej zblizone do wymiaru gabarytowego ba¬ danej próbki. Miliamperomierz 12 posiada rów¬ niez odpowiednie cztery skale oznaczone rów¬ niez tymi samymi literami. W zaleznosci od uzy¬ tej ramki 4 odczytu dokonuje sie na skali ozna¬ czonej ta sama litera, co i ramka. Otrzymuje sie w ten sposób dokladny odczyt na miliam¬ peromierzu. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Profilometr elektronowy do- pomiarów po¬ wierzchni przekroju profili nieregularnych, zna¬ mienny tym, ze zawiera uklad elektronowo- optyczny, który sklada sie z zarówki (1), so¬ czewki (2), odleglej od zarówki (1) o odleglosc równa jej ogniskowej, szyby wzorcowej (3), kon¬ turowej ramki metalowej (4), soczewek (5, 6 i 7) i fotokomórki (8) oraz wzmacniacza elektrono¬ wego, który wyposazony jest w miliamperomierz, wyskalowany bezposrednio w jednostkach po¬ wierzchni, przy czym pomiar oparty jest na za¬ sadzie zmiany natezenia pradu fotokomórki w zaleznosci od wielkosci badanej próbki. Fabryka Lin i Drutu r/g.i /VVVV\AAAAAAAAAAA/WV\AAAAAAAAAA/|Do opisu patentowego nr 42077 Rc.5 PL