PL414064A1 - Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów oraz sposób pomiaru parametrów elementu fazowego elementu fazowego i dyspersji światłowodów - Google Patents

Abstract

Urządzenie do pomiarów parametrów elementów fazowych i dyspersji światłowodów charakteryzuje się tym, że zawiera co najmniej jedno źródło światła, połączone szeregowo z co najmniej jednym sprzęgaczem światłowodowym, którego jedno ramię stanowi część ramienia referencyjnego urządzenia, a drugie stanowi część ramienia pomiarowego urządzenia, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia zamontowany jest co najmniej jeden stolik liniowy przesuwny, a co najmniej jedno z ramion urządzenia przyłączone jest bezpośrednio albo poprzez dodatkowy sprzęgacz do co najmniej jednego detektora, a w co najmniej jednym ramieniu urządzenia, co najmniej przed mierzonym elementem fazowym umieszczony jest co najmniej jeden kolimator. Sposób pomiaru parametrów elementu fazowego i dyspersji światłowodów z wykorzystaniem powyższego urządzenia charakteryzuje się tym, że prowadzony co najmniej dwuetapowo, w jakim pierwszy etap obejmuje kalibrację urządzenia według wynalazku, a drugi jest pomiarem właściwym w którym podczas kalibracji urządzenia według wynalazku światło pochodzące z niskokoherentnego źródła światła (1.1), jest kierowane do sprzęgacza światłowodowego (2.1), gdzie zostaje rozdzielone na dwa ramiona: pomiarowe i referencyjne, a następnie przesuwa się stolik liniowy (6) zapisując informację o różnicy dróg optycznych, aż do uzyskania zerowej różnicy dróg optycznych pomiędzy ramionami sprzęgacza. Interferencja powstaje na sprzęgaczu (2.2) po przejściu przez kolimatory (3.2 i 4.2), a interferogram zbiera się w opóźnieniu czasowym, co przekłada się na przesuw stolika. Interferogram zbiera się przez detektor natężeniowy, w szczególności poprzez diodę półprzewodnikową, a po kalibracji urządzenia wykonuje się pomiar właściwy, w którym w ramię pomiarowe urządzenia według wynalazku, pomiędzy kolimatory (3.1 i 3.2) wkładana jest soczewka przeznaczona do pomiaru, następnie przesuwając stolik optyczny ustawia się takie jego położenie, jakie daje zerową różnicę dróg optycznych, na podstawie różnicy położeń równoważonej drogi optycznej w pomiarze kalibrującym i w pomiarze właściwym z elementem fazowym oraz znajomości współczynnika załamania szkła, z którego została wykonana soczewka, zostaje wyznaczona grubość elementu fazowego.