PL39124B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano dnia 20 kwietnia 1956 r. ^01«ntj RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY »r39124 KI. 42 h, 38 Politechnika Warszawska (Zaklad Konstrukcji Telekomunikacyjnych i Radiofonii) *) Warszawa, Polska Sposób odwzorowania przebiegów przestrzennych za pomoca dwóch lub wiecej wiazek elektronowych i urzadzenie do przestrzennego odwzorowania przebiegów przestrzennych Patent trwa od dnia 12 lipca 1955 r.Wynalazek dotyczy elektronowych sposobów odwzorowania przebiegów w przestrzeni, zwlasz¬ cza sposobów elektronowego odwzorowania przeDiegów przestrzennych opisanych w paten¬ tach NN 38662 i 38721.W tych przypadkach, gdy celem odwzorowania jest nie tylko jakosciowe zbadanie przebiegów przestrzennych, lecz równiez pomiar wspólrzed¬ nych przebiegów, tó wedlug wynalazku taki przebieg przestrzenny odwzorowuje sie w prze¬ strzeni o elektronowo wyznaczonych wspólrzed¬ nych.Wspólrzedne przestrzenne moga byc wyzna¬ czone wedlug wynalazku przez wytworzenie w przestrzeni w sposób elektronowy swiecacej siatki przestrzennej z linii pelnych lub przery¬ wanych. Siatka taka stanowi skale, z której mozna odczytac wspólrzedne z poszczególnych punktów krzywej ¦»odw^ór&Warifcgó pi&ebfcgu.Wedlug jednego ze sposobów wedlug wynalaz¬ ku siatke taka wytwarza sie za pomoca tej pary wiazek elektronowych, która sluzy do odwzoro¬ wania badanego przebiegu. W tym celu wiazki te steruje sie poprzez odpowiednie przelaczniki elektronowe lub inne np. takie, jakie sa stosowa¬ ne do reprodukcji dwóch przebiegów na ekranie lampy oscyloskopowej o jednej wiazce elektro¬ nowej.Mozna tez wedlug, wynalazku siatke wspól¬ rzednych wytworzyc za pomoca dodatkowej pa¬ ry wiazek, niezaleznych od wiazek odwzorowu¬ jacych przebieg przestrzenny. W tym przypadku lampa do przestrzennego odwzorowania przebie¬ gów posiada co najmniej 2 pary wiazek elektro¬ nowych.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórcami wynalazku sa Antoni Kilinski i January Kossa¬ kowski.Zastosowanie przestrzennej siatki wspólrzed¬ nych czyni z urzadzenia do odwzorowania prze¬ biegów i wielkosci przestrzennych miernik, któ¬ rym mierzy sie,,od razu 3 skladowe danej wiel¬ kosci. Szczególne zalety posiada wynalazek przy zastosowaniu go w urzadzeniach do tenzo- metrii przestrzennej. PL

Claims (1)

Zastrzezenia patentowe 1. Sposób odwzorowania przebiegów przestrzen¬ nych za pomoca dwóch lub wiecej wiazek elektronowych przecinajacych sie w gazowej przestrzeni, znamienny tym, ze przebieg od¬ wzorowuje sie w przestrzeni o elektronowo wyznaczonych wspólrzednych jej punktów. 2. Sposób odwzorowania wedlug zastrz. 1, zna¬ mienny tym, ze wspólrzedne przestrzeni wy¬ znacza sie przez wytworzenie w sposób elek¬ tronowy swiecacej siatki przestrzennej z linii pelnych lub przerywanych. 3. Sposób odwzorowania wedlug zastrz. 2, zna¬ mienny tym, ze siatke przestrzenna wytwarza sie stosujac przelaczniki elektronowe lub in¬ ne za pomoca tej samej pary wiazek elektro¬ nowych, które sluza do odwzorowania bada¬ nego przebiegu. 4. Sposób odwzorowania wedlug zastrz. 2, zna¬ mienny tym, ze siatke przestrzenna wytwarza sie za pomoca osobnej pary wiazek promieni elektronowych. 5. Urzadzenie do przestrzennego odwzorowania przebiegów przestrzennych w sposób wedlug zastrz. 1, 2, 4 znamienne tym, ze lampa do przestrzennego odwzorowania przebiegów po¬ siada prócz zespolu elektrod do odwzorowa¬ nia przestrzennego badanych przebiegów jesz¬ cze zespól elektrod do wytwarzania siatki przestrzennej. Politechnika Warszawska (Zaklad Konstrukcji Telekomunikacyjnychi Radiofonii) RSW „Prasa" Bydg. 28.

1. 56 nakl. 100 +23, f. B5, pap. druk. 3 ki. zani. 384 PL