Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Technologii ElektronowejfiledCriticalInstytut Technologii Elektronowej
Priority to PL389930ApriorityCriticalpatent/PL219166B1/pl
Publication of PL389930A1publicationCriticalpatent/PL389930A1/pl
Publication of PL219166B1publicationCriticalpatent/PL219166B1/pl
PL389930A2009-12-152009-12-15Sposób określania temperatury podłoży w procesach epitaksji z wiązek molekularnych związków półprzewodnikowych AIII BV
PL219166B1
(pl)
Sposób kalibracji pirometru optycznego do pomiaru temperatury powierzchni podłoża o nieznanej emisyjności podczas krystalizacji warstw w warunkach wysokiej próżni
EPITACTICAL SUBSTRATE FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT, SEMICONDUCTOR COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING AN EPITACTICAL SUBSTRATE FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT
EPITACTICAL SUBSTRATE FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT, SEMICONDUCTOR COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING AN EPITACTICAL SUBSTRATE FOR A SEMICONDUCTOR COMPONENT