PL368785A1 - Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii - Google Patents

Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii

Info

Publication number
PL368785A1
PL368785A1 PL368785A PL36878504A PL368785A1 PL 368785 A1 PL368785 A1 PL 368785A1 PL 368785 A PL368785 A PL 368785A PL 36878504 A PL36878504 A PL 36878504A PL 368785 A1 PL368785 A1 PL 368785A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
imaging
filter
energy
electrons
electro
Prior art date
Application number
PL368785A
Other languages
English (en)
Inventor
Krzysztof Grzelakowski
Original Assignee
Krzysztof Grzelakowski
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Krzysztof Grzelakowski filed Critical Krzysztof Grzelakowski
Priority to PL368785A priority Critical patent/PL368785A1/pl
Priority to DE102005031537A priority patent/DE102005031537B4/de
Priority to US11/168,728 priority patent/US7126117B2/en
Publication of PL368785A1 publication Critical patent/PL368785A1/pl

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/05Electron or ion-optical arrangements for separating electrons or ions according to their energy or mass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/44Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
    • H01J49/46Static spectrometers
    • H01J49/48Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter
    • H01J49/484Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter with spherical mirrors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/15Means for deflecting or directing discharge
    • H01J2237/151Electrostatic means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
PL368785A 2004-06-28 2004-06-28 Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii PL368785A1 (pl)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL368785A PL368785A1 (pl) 2004-06-28 2004-06-28 Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii
DE102005031537A DE102005031537B4 (de) 2004-06-28 2005-06-27 Abbildender Energiefilter für geladene Teilchen, insbesondere Elektronen
US11/168,728 US7126117B2 (en) 2004-06-28 2005-06-28 Imaging energy filter for electrons and other electrically charged particles and method for energy filtration of the electrons and other electrically charged particles with the imaging energy filter in electro-optical devices

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL368785A PL368785A1 (pl) 2004-06-28 2004-06-28 Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL368785A1 true PL368785A1 (pl) 2006-01-09

Family

ID=35504596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL368785A PL368785A1 (pl) 2004-06-28 2004-06-28 Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7126117B2 (pl)
DE (1) DE102005031537B4 (pl)
PL (1) PL368785A1 (pl)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007024353B4 (de) * 2007-05-24 2009-04-16 Ceos Corrected Electron Optical Systems Gmbh Monochromator und Strahlquelle mit Monochromator
FR2957674B1 (fr) * 2010-03-19 2012-06-08 Commissariat Energie Atomique Procede de caracterisation d'un echantillon cristallin par diffusion d'ions ou atomes

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0185789B1 (de) * 1984-12-22 1991-03-06 Vg Instruments Group Limited Analysator für geladene Teilchen
JPH02201857A (ja) * 1989-01-30 1990-08-10 Shimadzu Corp 球面型荷電粒子アナライザ
GB2244369A (en) * 1990-05-22 1991-11-27 Kratos Analytical Ltd Charged particle energy analysers
EP0470299B1 (en) * 1990-08-08 1996-06-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Energy filter for charged particle beam apparatus
DE69529987T2 (de) * 1994-07-15 2004-01-15 Hitachi Ltd Elektronischer energiefilter
DE19633496B4 (de) * 1996-08-20 2006-06-08 Ceos Corrected Electron Optical Systems Gmbh Monchromator für die Elektronenoptik, insbesondere Elketronenmikroskopie
FR2753303B1 (fr) * 1996-09-12 1998-12-04 Centre Nat Rech Scient Filtre d'energie, microscope electronique a transmission et procede de filtrage d'energie associe
PL338538A1 (en) * 2000-02-20 2001-08-27 Krzysztof Grzelakowski Emission-type electron microscope

Also Published As

Publication number Publication date
DE102005031537B4 (de) 2007-10-11
US20050285032A1 (en) 2005-12-29
DE102005031537A1 (de) 2006-01-19
US7126117B2 (en) 2006-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB2409180B (en) High conductivity particle filter
TWI350219B (en) Copper fine particles and method for preparing the same
EP1811553A4 (en) APPARATUS AND METHOD FOR DEPOSITING FINE PARTICLES
HK1123526A1 (en) Copper fine particle dispersion liquid and method for producing same
EP2037518A4 (en) CARBON PARTICLE COATED WITH FINE PARTICLES, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME, AND ELECTRODE FOR FUEL CELL
EP1702375A4 (en) CARBON COATED SILICON PARTICULATE POWDER AS ANODE FOR LITHIUM ION BATTERIES AND PROCESS FOR PRODUCING THE SAME
HK1105453A1 (en) Pathogen and particle detector system and method
GB0511386D0 (en) Method for introducing ions into an ion trap and an ion storage apparatus
EP1643232A4 (en) METHOD FOR PREPARING THIN PIECES SPECIMENS AND COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
EP1720636A4 (en) SCODAPHORESIS, METHODS AND APPARATUS FOR DISPLACING AND CONCENTRATING PARTICLES
HUE056248T2 (hu) Eljárás részecskék manipulálására vezetõ oldatokban
IL206034A0 (en) Ion filter for use in a spectrometer and a spectrometer using such a filter
GB2427069B (en) Method and apparatus for ion fragmentation by electron capture
GB0700754D0 (en) Charged particle analyser and method
IL164254A0 (en) Paramagnetic particles that provide improved relaxivity
ZA200704720B (en) Solar energy collection apparatus and method
EP1791570A4 (en) SUPERPARAMAGNETIC GADOLINIUM OXIDE NANOPARTICLES AND COMPOSITIONS COMPRISING SUCH PARTICULATES
GB0303305D0 (en) Apparatus for collecting particles
EP1789365A4 (en) METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING FINE CARBON PARTICLES
SG115694A1 (en) Apparatus and method for removal of surface oxides via fluxless technique involving electron attachment and remote ion generation
AU2003283349A8 (en) Energy filter image generator for electrically charged particles and the use thereof
PL368785A1 (pl) Obrazujący filtr energii dla elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek oraz sposób filtrowania energii elektronów i innych elektrycznie naładowanych cząstek w urządzeniach elektrooptycznych za pomocą obrazującego filtru energii
EP1751801A4 (en) METHOD AND PROCESS INTERVAL FOR PROTECTION AGAINST ELECTROSTATIC DISCHARGES IN FLAT PANEL IMAGING DETECTORS
GB0427686D0 (en) Method for detection and imaging of synchronous spin and charged particle motion
IL178900A0 (en) Method and apparatus for airborne particle collection

Legal Events

Date Code Title Description
DISC Decisions on discontinuance of the proceedings (taken after the publication of the particulars of the applications)