PL34903B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL34903B1
PL34903B1 PL34903A PL3490349A PL34903B1 PL 34903 B1 PL34903 B1 PL 34903B1 PL 34903 A PL34903 A PL 34903A PL 3490349 A PL3490349 A PL 3490349A PL 34903 B1 PL34903 B1 PL 34903B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
circuits
tuning
bandwidth
frequency
measuring
Prior art date
Application number
PL34903A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL34903B1 publication Critical patent/PL34903B1/pl

Links

Description

Strojenie obwodów sprzezonych, np. filtrów pasmowych do wzmacniaczy wielkiej czestotli¬ wosci i czestotliwosci posredniej, dokonuje sie zazwyczaj przez zmienianie indukcyjnosci lub pojemnosci, az do osiagniecia maksymalnego na¬ piecia w strojonym obwodzie, przy czym napie¬ cie wejsciowe, ze specjalnego generatora wzor¬ cowego, pozostaje przez caly czas niezmienione (stale). Przy postepowaniu tym trzeba jednak tlumic jeden ze.. sprzezonych obwodów (o ile filtr sklada sie tylko z dwóch sprzezonych obwo¬ dów rezonansowych), a to w celu utrzymania sprzezenia wynikowego ponizej wartosci kry¬ tycznej, tzn. w celu zapobiezenia powstawaniu wyraznej charakterystyki dwuwierzcholkowej, która moglaby wplywac niekorzystnie na do¬ kladnosc strojenia.Szerokosc pasma mierzy sie zazwyczaj w po¬ nizej podany sposób. Czestotliwosc generatora wzorcowego zmienia sie okolo czestotliwosci re¬ zonansowej tak dlugo, az napiecie filtru po obu stronach czestotliwosci rezonansowej opadnie do wartosci zadanej, np. do Vio lub Vio«, gdyz wówczas odczytuje sie na skali generatora wzor¬ cowego odpowiednie rozstrojenie, np. wyrazone w cyklach na sekunde. Zamiast tego mozna tez zmieniac okresowo czestotliwosc generatora wzorcowego tak, ze napiecie wyjsciowe obwodu powoduje powstanie w oscylografie obrazu charakterystyki czestotliwosci. Jesli os czesto¬ tliwosci generatora wzorcowego jest wycecho- wana, mozna wyznaczyc na podstawie uzyska¬ nego obrazu szerokosc pasma badanego filtrupasmowego obwodu rezonansowego lub calego wzmacniacza.Opisane zabiegi (strojenie i mierzenie szero¬ kosci pasma) dokonuje sie czesto dla kazdej sztuki przy produkcji masowej sprzetu radio¬ technicznego. Jasne wiec jest, ze znane dotych¬ czas sposoby sa z róznych wzgledów niedogodne.Urzadzenie pomiarowe jest skomplikowane i dosc kosztowne, g^yi wymaga dokladnego ge¬ neratora wzorcowego lub modulatora czestotli¬ wosci, oscylografu itd., sama zas manipulacja jest uciazliwa i trudna. Trzeba bowiem staran¬ nie kontrolowac amplitude sygnalu z generatora wzorcowego, jego czestotliwosc lub odchylenie czestotliwosci; trzeba równiez regulowac jasnosc, ostrosc i polozenie promienia swietlnego w oscy¬ lografie itd. Tak skomplikowane urzadzenia ule¬ gaja latwo uszkodzeniom, powodujacym straty w produkcji.W przeciwienstwie do dotychczasowych spo¬ sobów, które dla mierzenia szerokosci pasma obwodów sprzezonych i dla strojenia ich opieka¬ ja sie na stosunku, zachodzacym pomiedzy stro¬ jeniem a krzywa selektywnosci w warunkach spoczynkowych, wynalazek polega na zastoso¬ waniu w tym celu chwilowych (przejsciowych) skladowych pradu, powstajacego w jednym ze sprzezonych obwodów przez spowodowanie w nim naglej zmiany napiecia (fala urwana).W filtrze pasmowym, skladajacym sie z dwóch sprzezonych obwodów, nastrojonych na te sama czestotliwosc, sprzezenie powoduje rozstrojenie drgan swobodnych obwodu. Jesli warunki dla powstawania swobodnych drgan sa spelnione, wówczas, stosownie do znanych wspólzaleznosci, powstaja dwa swobodne drgania w obwodzie pierwotnym i wtórnym, przy czym róznica czestotliwosci tych drgan jest tym wieksza, im wyzsze jest wzajemne sprzezenie, co przejawia sie jako dudnienia pomiedzy drganiami swobo¬ dnymi; czestotliwosc dudnien jest przy tym równa róznicy czestotliwosci drgan.Na fig. 1 przedstawiono schematycznie jak scislejsze sprzezenie wplywa na charakterystyke czestotliwosci filtru pasmowego. Fig. 1 odnosi sie do sprzezenia bardzo luznego (ponizej war¬ tosci krytycznej), fig. Ib przedstawia wplyw sprzezenia nieco scislejszego (nieco powyzej wartosci krytycznej), fig. lc zas przedstawia sprzezenie bardzo scisle (znacznie powyzej war¬ tosci krytycznej).Fig. 2 przedstawia wplyw wzmozonego sprze¬ zenia na filtr pasmowy ponad oslone drgan swo¬ bodnych, wytworzonych w obwodzie wtórnym, przy naglej zmianie woltazu w obwodzie pier¬ wotnym. Fig. 2a, 2b i 2c odnosza sie do sprzezen o takiej samej wspólzaleznosci jak na fig. la, Ib i lc.Podobne warunki powstana tez jesliby sprze¬ zenie pozostalo stale, a obwody bylyby roz¬ strojone.Z powyzszego wynika, ze dokladnie rozstro¬ jony filtr pasmowy wytwarza najnizsza czesto¬ tliwosc dudnien, co umozliwia strojenie w szyb¬ ki sposób. Najnizsza uzyskana czestotliwosc dudnien wskazuje bezposrednio odleglosc po¬ miedzy drganiami swobodnymi, stanowi zatem miare stopnia sprzezenia, a przez to równiez szerokosci pasma, gdy wspólczynnik dobroci danego obwodu mozna dla wszystkich celów praktycznych w produkcji masowej okreslonego typu traktowac jako wielkosc stala.Ponizej opisano sposób mierzenia, nastawiania i strojenia obwodów sprzezonych wedlug wyna¬ lazku, przy czym urzadzenie do przeprowadza¬ nia tego sposobu przedstawione jest w przykla¬ dowej postaci wykonania na fig. 3.Generator drgan prostokatnych lub generator impulsów G zasila sprzezone obwody F w drga¬ nia prostokatne lub krótkie impulsy o danej czestotliwosci. Napiecie wyjsciowe uzwojenia wtórnego albo obserwuje sie w oscylografie O, albo wyprostowuje sie go za pomoca detekto¬ ra D i nastepnie przyklada sie do przyrzadu po¬ miarowego Af, którego odchylenia zaleza wy¬ lacznie tylko od wielkosci czestotliwosci dudnien. Jeden z mierzonych obwodów jest np. dokladnie nastrojony. Wszystkie inne obwody dostraja sie kolejno dokladnie do tej samej czestotliwosci, zmieniajac ich indukcyjnosc lub pojemnosc tak, by wskaznik wyjsciowy za kaz¬ dym razem wykazywal najmniejsze (lecz nie zerowe) odchylenie. Z chwila otrzymania tego minimalnego odchylenia, wszystkie obwody sa nastrojone na te sama czestotliwosc, pozostale zas odchylenie przedstawia wartosc proporcjo¬ nalna do nastawionego stopnia sprzezenia, a za¬ tem wynikowa szerokosc pasma; wartosc ta moze byc równiez dostosowana do zadanej wartosci.Urzadzenia tego mozna równiez uzywac do wyznaczania oddzielnych obwodów rezonanso¬ wych. Zaznaczono powyzej, ze rozstrojenie obwodów powoduje podobne zjawiska przej¬ sciowe, jak sprzezenie scislejsze, a zatem w przypadku gdy obwody sa oddzielone przez separator lub podobne urzadzenie. Mozna zatem uzywac tego samego sposobu w celu dostrojenia do tej samej czestotliwosci, np. oddzielnych ob¬ wodów lub urzadzen wielostopniowych rnaja- cych jakis typ sprzezenia. Po prawidlowym na¬ strojeniu wszystkich obwodów, wynikowe zja- 2wiska przemijajace beda mialy te sama postac, Jak w filtrach pasmowych o krancowo luznym sprzezeniu, co oznacza, ze czestotliwosc dudnien zostala zmniejszona niemal do zera.Jesli chodzi o nastrojenie oddzielnego obwo¬ du, to nalezy sprzac go z obwodem dokladnie nastrojonym, co mozna uskutecznic w jakikol¬ wiek znany sposób.Jak widac, nowy sposób strojenia filtrów pas¬ mowych i mierzenia szerokosci ich pasma przed¬ stawia wiele korzysci w porównaniu z uzywa¬ nymi dotad sposobami.Wynalazek umozliwia obnizenie kosztów pro¬ dukcji sprzetu radiotechnicznego, zawierajacego filtry pasmowe, gdyz uproszczone urzadzenie wedlug wynalazku moze byc stosowane odrecz¬ nie i nie wymaga wiekszych kwalifikacji, czas zas niezbedny dla przyuczenia obslugi urzadze¬ nia jest krótszy, anizeli przy innych sposobach. PL

Claims (1)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób nastawiania i strojenia filtrów pas¬ mowych oraz mierzenia szerokosci ich pasma lub strojenia oddzielnych obwodów rezonan¬ sowych, które sa w tym celu luzno sprzezone z pomocniczym obwodem prawidlowo strojo¬ nym, znamienny tym, ze w jednym z obwo¬ dów powoduje sie wystepowanie okresowo powtarzajacej sie naglej zmiany pradu lub napiecia, w celu wytworzenia w sprzezonych obwodach swobodnych drgan o róznych cze¬ stotliwosciach dudnien, które mierzy sie. Urzadzenie do strojenia filtrów pasmowych i mierzenie szerokosci ich pasma sposobem wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zawiera oscylograf (O), za pomoca którego obserwuje sie dudnienia. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze posiada miernik czestotliwosci (M), za po¬ moca którego mierzy sie dudnienia. Urzadzenie wedlug zastrz. 2, 3, znamienne tym, ze przyrzad wskaznikowy (M lub O) jest wycechowany wprost w jednostkach wartosci stopnia sprzezenia, strojenia lub szerokosci pasma. Tesla, narodni podnik Bohdan Carniol Zastepca: Kolegium Rzeczników Patentowych BIBLIOTEK* i Urzedu Patentowego!Bo opisu patentowego nr 34903 flfr 1 ft$2 F'9-3. & °~ F t i i , 0 M 6 4 0 „Prasa" K-ce, 2427 — 19. IV. 52 — R-3-16824 — 70 X100 pism. 100 g. — 150. PL
PL34903A 1949-06-07 PL34903B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL34903B1 true PL34903B1 (pl) 1952-02-28

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3120196C2 (de) Hochfrequenzgenerator für die Versorgung eines Massenspektrometers
DE69231462T2 (de) Atomuhrsystem mit einem verbesserten Servosystem
US1871404A (en) Method of and apparatus for indicating speed
DE2154511A1 (de) Mikrowellen-Spektrometer
PL34903B1 (pl)
CN105529603A (zh) 一种基于全通锁相光纤环形腔的光梳重频加倍系统
US2764676A (en) Gyromagnetic integrator circuit
US2457136A (en) Arrangement for frequency measurements
Krutsenko et al. Spectral density of parametrically excited waves
US2252870A (en) Carrier frequency heterodyne oscillator
US2670460A (en) Subaudio electrical filter
US4136313A (en) Apparatus for measuring q-quality of oscillatory circuit components
US2967995A (en) Apparatus for measuring the equivalent electrical parameters of crystal units
US2572343A (en) Automatic synchronization of oscillators
US2614153A (en) Method of and device for measuring and controlling the quality factor and damping factor of electric circuits and components thereof
DE923979C (de) Verfahren zur Messung von Frequenzen mit Hilfe eines Quarzes
Lerner et al. Measurement of bandwidth of microwave resonator by phase shift of signal modulation
RU2604573C1 (ru) Быстродействующее устройство измерения температуры газового потока
US3405365A (en) Automatic adjusting system of tuned amplifier
DE960120C (de) Verfahren zur Messung der Frequenz einer Wechselspannung in einem grossen Messbereich
DE2821241C2 (de) Ring-Laser-Gyroskop
GB662280A (en) A device for tuning, and measuring the band width of, band pass filters or separate oscillatory circuits
US3323055A (en) Apparatus for measuring the amplitude of a rectangular wave in the presence of noise
US1867131A (en) Method of and apparatus for testing condensers
SU188597A1 (ru) Способ получения управляющего сигнала в релейных органах