PL31319B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL31319B1
PL31319B1 PL31319A PL3131937A PL31319B1 PL 31319 B1 PL31319 B1 PL 31319B1 PL 31319 A PL31319 A PL 31319A PL 3131937 A PL3131937 A PL 3131937A PL 31319 B1 PL31319 B1 PL 31319B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
layer
electrode
cell
photoelectric cell
photosensitive layer
Prior art date
Application number
PL31319A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL31319B1 publication Critical patent/PL31319B1/pl

Links

Description

M Znane jest przy warstwowej budowie ko¬ mórek fotoelektrycznych z ulozonymi war¬ stwami stosowanie elektrod metalowych, przepuszczajacych swiatlo. Warstwe te al¬ bo natlacza sie w postaci cieniutkiego list¬ ka na swiatloczula warstwe lub tez napyla sie ja znanym sposobem katodowym wzglednie naparowuje lub naklada jeszcze inaczej.Ta pólprzezroczysta elektroda metalowa, tzw. elektroda nakrywkowa, przepuszcza promienie swietlne, które padaja na swia¬ tloczula warstwe komórki fotoelektrycznej a zarazem dzieki wykonaniu jej z przewod¬ nika umozliwia przedostawanie sie wol¬ nych elektronów, powstajacych pod wply¬ wem promieni swietlnych, do okreslonego miejsca tej komórki.Doswiadczenia wykazaly, ze sprawnosc komórki fotoelektrycznej, zaopatrzonej w warstwe zaporowa, zalezna jest w duzej mierze od dzialalnosci prostowniczej tej warstwy zaporowej, dzialalnosc zas war¬ stwy zaporowej zalezy od materialu i wy¬ konania elektrody nakrywkowej.Stwierdzono poza tym, ze stosowane do¬ tychczas do wyrobu pólprzezroczystych e- lektrod nakrywkowych metale, np. zloto, platyna lub srebro, wzglednie inne mate¬ rialy nie nadaja sie zbytnio do otrzymania dobrej warstwy zaporowej, która by gwa¬ rantowala dostatecznie dobre zdjecia fo¬ tograficzne. Wedlug przeprowadzonych prób dzialalnosc prostownicza komórek fo¬ toelektrycznych ze znanymi elektrodami nakrywkowymi, mierzona przy najmniej-Szym napieciu powstajacym w komórce fo¬ toelektrycznej z warstwa zaporowa, jest stosunkowo bardzo mala. Te uzywane do¬ tad do wytworzenia warstwy nakrywkowej metale tworza bowiem, bedac w stalej stycznosci z pólprzewodzaca warstwa swia¬ tloczula zwiazki chemiczne, które obnizaja stopniowo coraz wiecej wlasnosci warstwy zaporowej komórek fotoelektrycznych, sprzyjajace uzyskiwaniu dobrych zdjec fotograficznych. I tak powstaje np. w ko¬ mórce fotoelektrycznej selenowej, posiada¬ jacej warstwe pólprzezroczysta z napylone¬ go zlota, pomiedzy warstwami selenu i zlo¬ ta zwiazek chemiczny zlota i selenu, który zmienia na niekorzysc wlasnosci elektrycz¬ ne tej komórki.Aby usunac te niedomagania, naklada sie wedlug wynalazku na warstwe swiatlo¬ czula komórki fotoelektrycznej najpierw pólprzezroczysta warstwe kadmu, a potem pólprzezroczysta elektrode ze zlota. Wlas¬ ciwosc zaporowa kadmu przy malych na¬ pieciach, jakie powstaja przy naswietlaniu komórki fotoelektrycznej, a z nia równiez warunki fotograficzne sa znacznie lepsze niz przy dotychczas znanych komórkach, które posiadaja tylko elektrode z napylone¬ go zlota. W przeciwienstwie do kadmu po¬ siada zloto stosunkowo duza przewodnosc, tak ze straty pradu powstajace w tych war¬ stwach sa nieznaczne. Obie warstwy nakla¬ da sie jednym ze znanych sposobów na war¬ stwe pólprzewodzaca, np. za pomoca napy¬ lania katodowego albo naparowania. Szcze¬ gólnie korzystny jest tutaj sposób napylania katodowego.Wyzej opisany nowy uklad ma jeszcze te zalete, ze przez dobór grubosci oraz ilosci pojedynczych warstw metalowych mozna oddzialywac w szerokich granicach na czu¬ losc komófek na poszczególne barwy Wid¬ ma. W dotychczas znanych komórkach re¬ guluje sie czulosc te za pomoca dodatkowo uzywanego filtru ze szkla wzglednie filtru, który przepuszcza tylko jedna albo druga barwe widma (np. niebieska albo czerwona) lub tez przez pomalowanie komórek lakie¬ rem. W nowym ukladzie osiaga sie filtro¬ wanie bez strat spowodowanych dodatko¬ wymi filtrami, a to dzieki stosowaniu dwóch elektrod nakrywkowych, skladajacych sie z róznych metali a nalozonych na warstwe swiatloczula, i dzieki ewentualnemu dobo¬ rowi grubosci tych warstw. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe. 1. Komórka fotoelektryczna z elektroda¬ mi nakrywkowymi na warstwie swiatloczu¬ lej, znamienna tym, ze na swiatloczulej warstwie np. z selenu jest nalozona bezpos¬ rednio pólprzezroczysta elektroda nakryw¬ kowa z kadmu, a nastepnie elektroda ze zlota.
  2. 2. Komórka fotoelektryczna wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze grubosc elek¬ trody nakrywkowe) jest dobrana odpo¬ wiednio do pozadanej czulosci komórki na poszczególne barwy widma. Siiddeut sche Apparjtte- Fabrik G. m. b. H. Zastepca: inz. St. Glowacki rzecznik patentowy 40248 PL
PL31319A 1937-03-30 PL31319B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL31319B1 true PL31319B1 (pl) 1943-01-30

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Hu et al. Understanding the role of cesium and rubidium additives in perovskite solar cells: trap states, charge transport, and recombination
US2765385A (en) Sintered photoconducting layers
Morasch et al. Reactively magnetron sputtered Bi2 O 3 thin films: analysis of structure, optoelectronic, interface, and photovoltaic properties
Schneider et al. Evolution of photovoltaic performance in fully printable mesoscopic carbon‐based perovskite solar cells
SU1301327A3 (ru) Электролюминесцентное устройство
DE2055269C3 (de) Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
DE3015362A1 (de) Solarbatterie
US4107724A (en) Surface controlled field effect solid state device
CA3032257C (en) Secondary battery
PL31319B1 (pl)
NO134847B (pl)
DE1277015B (de) Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
DE2364967C3 (de) Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
USRE22052E (en) Light-sensitive device
KR102483904B1 (ko) 이차 전지 및 제조 방법
US3561964A (en) Method for production of solid state storage panels
DE2250184B2 (de) Optisches Relais, das ein photoleitendes Element enthält
US4118546A (en) Triple electrode photogalvanic cell with energy storage capability
Gupta et al. Measurement of the work function of some metals using internal voltage in MIM structures
DE2028641C3 (de) Verfahren zur Erzeugung eines Ladungsbildes und Aufzeichnungsmaterial zur Durchführung des Verfahrens
DE2555014A1 (de) Halbleiteranordnungen
DE837424C (de) Herstellung von hochempfindlichen Cadmiumsulfid-Schichten
DE3227294A1 (de) Roentgenelektrofotografisches aufzeichnungsmaterial und verfahren zur erzeugung eines elektrischen ladungsbildes
DE2945309C2 (de) Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
DE2250689B2 (de) Elektrofotografisches Röntgenaufnahmeverfahren