PL227869B1 - Impulsowy system pomiarowy do wyznaczania parametrów sterowanych układów mikrofalowych - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest impulsowy system pomiarowy do wyznaczania zmiennych w czasie parametrów sterowanych układów mikrofalowych, zwłaszcza anten.

W mikrofalowym systemie pomiarowym z przetwarzaniem w dziedzinie czasu możliwe jest wykorzystanie jako sygnału pomiarowego sygnału impulsowego. W szczególności ten typ sygnału pomiarowego wykorzystuje się, gdy celem pomiaru jest wyznaczenie odpowiedzi badanego układu na pobudzenie impulsowe lub gdy zachodzi potrzeba wyznaczenia parametrów badanego układu na podstawie jedynie wybranego odcinka czasowego odpowiedzi na pobudzenie impulsowe, jak to ma miejsce na przykład w mikrofalowych systemach do pomiaru parametrów anten z przetwarzaniem w dziedzinie czasu i z oknowaniem czasowym.

Z publikacji R. de Jough, M. Hajian, L. Ligthart, „Antenna time-domain measurement techniques”, Antennas and Propagation Magazine, IEEE, vol. 39, no. 5, pp. 7-11, Oct. 1997 znany jest wielokanałowy impulsowy mikrofalowy system pomiarowy - Pos. 1 - zaopatrzony w generator impulsów K2-63-2, stanowiący źródło sygnału pomiarowego, wielokanałową jednostkę próbkującą K2-63-3 oraz konwerter próbkujący K2-63-1 współpracujący z komputerem PC. Jednostka próbkująca w jednym z kanałów rejestruje sygnał przechodzący przez badany układ, którym jest łącze radiowe z antenami AUT i „probe”, oraz w innym kanale sygnał odniesienia („referen ce channel”). Konwerter próbkujący K2-63-1 wyzwala („triggering”) generator impulsów, powodując pobudzenie badanego układu sygnałem impulsowym, oraz wyzwala („triggering”) jednostkę próbkującą K2-63-3, która dokonuje pomiaru w chwilach czasowych wyznaczonych przez momenty wyzwalania. Ten sposób pomiaru pozwala na zarejestrowanie przebiegów czasowych sygnałów odpowiedzi badanego układu na pobudzenie, jak również przebiegów czasowych sygnału odniesienia, który jest kopią sygnału impulsowego pochodzącego z generatora impulsów. Na podstawie tych przebiegów można wnioskować o właściwościach układu poddawanego pomiarowi.

W systemie tym układ poddawany pomiarowi jest niezmienny w czasie trwania pomiaru. Zmiana wprowadzona do układu poddawanego pomiarowi wymaga wykonania nowego, niezależnego pomiaru. W ten sposób można zbadać na przykład właściwości badanego łącza radiowego w zależności od kąta obrotu anteny AUT. Wykonuje się wówczas serię niezależnych pomiarów przy różnych ustawieniach anteny AUT, a następnie analizuje zmiany we właściwościach łącza radiowego zachodzące w wyniku zmiany położenia anteny AUT.

W systemie tym nie jest możliwe wykonanie pomiaru parametrów sterowanego układu mikrofalowego, jeśli parametry te zmieniają się w czasie w wyniku przesłania sygnału sterującego do układu poddawanego pomiarowi. Zasada działania systemu wymaga bowiem, aby układ poddawany pomiarowi był niezmienny w trakcie wykonywania pomiaru.

Celem wynalazku jest usunięcie tej wady.

Istota pierwszego rozwiązania według wynalazku polega na tym, że system pomiarowy zawiera układ formowania sygnału sterującego podłączany do wejścia sterującego układu poddawanego pomiarowi i połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych. System zawiera regulowany układ opóźniający i dodatkowy regulowany układ opóźniający połączone z układem sterowania i akwizycji danych. Tor wyzwalania podłączony jest do wejścia wyzwalania układu formowania sygnału sterującego, za pośrednictwem regulowanego układu opóźniającego. Za pośrednictwem dodatkowego regulowanego układu opóźniającego połączony jest do wejścia wyzwalania generatora impulsu pomiarowego. Generator impulsu pomiarowego stanowi generator ultrakrótkich impulsów.

Istota drugiego rozwiązania według wynalazku polega na tym, że system pomiarowy zaw iera układ formowania sygnału sterującego połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych i podłączany do wejścia sterującego układu poddawanego pomiarowi. System zawiera regulowany układ opóźniający połączony z cyfrowym układem sterowania i akw izycji danych. Tor wyzwalania za pośrednictwem generatora impulsu pomiarowego i regulowanego układu opóźniającego podłączony jest do wejścia wyzwalania układu formowania sygnału sterującego. Generator impulsu pomiarowego stanowi generator ultrakrótkich impulsów.

Przedmiot wynalazku został uwidoczniony w przykładach wykonania na rysunku, na którym Fig. 1 przedstawia schemat systemu pomiarowego według wynalazku, zawierającego jedne wrota pomiarowe, jeden tor odbiorczy i jeden tor referencyjny, Fig. 2 przedstawia schemat systemu poPL 227 869 B1 miarowego według wynalazku, zawierającego dwa wrota pomiarowe, dwa tory odbiorcze i jeden tor referencyjny, natomiast Fig. 3 przedstawia przykładowy przebieg impulsu pomiarowego.

Na Fig. 1 i Fig. 2 połączenia przeznaczone do przenoszenia sygnałów mikrofalowych są wyróżnione podwójną linią, a sterowany mikrofalowy układ poddawany pomiarowi 16 posiada wejście sterujące WS oraz przynajmniej jedne wrota mikrofalowe, podłączane do wrót pomiarowych W1 lub W2 systemu pomiarowego.

W systemie pomiarowym przedstawionym na Fig. 1 jedne z wrót mikrofalowych układu poddawanego pomiarowi 16 są podłączone do wrót pomiarowych W1 systemu pomiarowego. System ma układ próbkujący, który stanowi konwerter próbkujący 11 z jednostką próbkującą 14. Sygnał wyzwalający z konwertera próbkującego 11 jest doprowadzony za pośrednictwem toru wyzwalającego TW, podzielonego na dwie gałęzie, do wejścia wyzwalania WW12 generatora impulsu pomiarowego 12, pierwsza gałąź, poprzez regulowany układ opóźniający 23A, oraz do wejścia wyzwalania WW23 układu formowania sygnału sterującego 23, druga gałąź, poprzez regulowany układ opóźniający 23B. Układ formowania sygnału sterującego 23 na wyjściu wystawia sygnał sterujący dostosowany do wymagań układu poddawanego pomiaro wi 16 oraz opóźniony o regulowaną wartość, wynikającą z nastaw regulowanego układu opóźniającego 23B. Sygnał sterujący jest doprowadzany na wejście sterujące WS układu poddawanego pomiarowi 16, za pośrednictwem toru sterującego TS i wywołuje proces zmian właściwości układu poddawanego pomiarowi 16. Poprzez regulację opóźnienia impulsu pomiarowego za pomocą regulowanego układu opóźniającego 23A oraz regulację opóźnienia sygnału sterującego za pomocą regulowanego układu opóźniającego 23B możliwe jest pobudzenie impulsem pomiarowym układu poddawanego pomiarowi 16 w dowolnej chwili procesu zmian właściwości tego układu. Impuls pomiarowy z generatora impulsu pomiarowego 12 wprowadzany jest do toru nadawczego TN systemu pomiarowego, który zawiera kolejno sprzęgacz 19 oraz sprzęgacz 20. Jeden z portów sprzęgacza 19 jest zakończony dopasowanym obciążeniem 19A, wobec czego sprzęgacz pracuje jako dzielnik sygnału, z nierównym podziałem. Port sprzężony sprzęgacza 19 jest połączony z kanałem K1 jednostki próbkującej 14. Jednostka próbkująca 14 wraz z konwerterem próbkującym 11 tworzące razem układ próbkujący mogą mieć postać odrębnych urządzeń lub być połączone w jedno urządzenie. Fragment obwodu pomiarowego dołączony do kanału K1 stanowi tor referencyjny TR systemu pomiarowego. Ostatni port sprzęgacza 19 jest połączony z portem wejściowym sprzęgacza 20. Port sprzęgacza 20 sprzężony z portem wejściowym sprzęgacza 20 jest zakończony dopasowanym obciążeniem 20A. Sygnał z portu wejściowego sprzęgacza 20 za pośrednictwem wrót pomiarowych W1 jest doprowadzony do układu poddawanego pomiarowi 16. Tam ulega częściowemu odbiciu. Sygnał odbity wraca do portu wyjściowego sprzęgacza 20, zostaje odsprzęgnięty i doprowadzony do jednostki próbkującej 14 przez kanał K2. Fragment obwodu pomiarowego dołączony do kanału K2 jednostki próbkującej 14 stanowi tor odbiorczy TO systemu pomiarowego. Pracą systemu pomiarowego steruje cyfrowy układ sterowania i akwizycji danych 10, który połączony jest z konwerterem próbkującym 11, z regulowanym układem formowania sygnału sterującego 23 oraz z regulowanymi układami opóźniającymi 23A i 23B.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 umożliwia wyznaczenie współczynnika odbicia układu poddawanego pomiarowi 16 w funkcji częstotliwości oraz czasu, liczonego względem chwili podania sygnału sterującego na układ poddawany pomiarowi 16.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym układ formowania sygnału sterującego 23 nie jest połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych 10. Wówczas nastawy układ formowania sygnału sterującego 23 nie są kontrolowane przez cyfrowy układ sterowania i akwizycji danych 10, w szczególności nastawy te mogą być stałe.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym występuje tylko jeden regulowany układ opóźniający, 23A lub 23B. Wówczas odpowiednio układ formowania sygnału sterującego 23 lub generator impulsu pomiarowego 12 jest podłączony bezpośrednio do toru wyzwalania TW.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym układ formowania sygnału sterującego 23 stanowi podzespół jednego z regulowanych układów opóźniających 23A lub 23B.

PL 227 869 B1

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym nie występuje tor referencyjny TR ani kanał K1, zaś tor nadawczy TN nie zawiera sprzęgacza 19.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym występują drugie wrota pomiarowe, a tor odbiorczy TO jest podłączony do tych wrót zamiast do sprzęgacza 20, zaś tor nadawczy TN nie zawiera sprzęgacza 20. Taki system pomiarowy umożliwia wyznaczenie współczynnika transmisji układu poddawanego pomiarowi 16 w funkcji częstotliwości oraz czasu, liczonego względem chwili podania sygnału sterującego na układ poddawany pomiarowi 16.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym występują co najmniej jedne dodatkowe wrota pomiarowe, połączone z jednostką próbkującą 14 za pośrednictwem takiej samej liczby dodatkowych torów odbiorczych. Taki system pomiarowy umożliwia dodatkowo wyznaczenie współczynnika transmisji układu poddawanego pomiarowi 16 do dodatkowych wrót pomiarowych, w funkcji częstotliwości oraz czasu, liczonego względem chwili podania sygnału sterującego na układ poddawany pomiarowi 16.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w wariancie wykonania, w którym generator impulsu pomiarowego 12 posiada dodatkowe wyjście wyzwalające i jest włączony w tor wyzwalania TW szeregowo między regulowanym układem opóźniającym 23B a konwerterem próbkującym 11 albo regulowanym układem próbkującym 23A, albo w którym układ formowania sygnału sterującego posiada dodatkowe wyjście wyzwalające i jest włączony w tor wyzwalania TW szeregowo między regulowanym układem opóźniającym 23A a konwerterem próbkującym 11 albo regulowanym układem próbkującym 23B.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 1 może występować w warianci e wykonania stanowiącym połączenie dowolnych z wyżej wymienionych wariantów wykonania.

W systemie pomiarowym przedstawionym na Fig. 2 jedne z wrót mikrofalowych układu poddawanego pomiarowi 16 są podłączone do pierwszych wrót pomiarowych W1 systemu pomiarowego, a inne wrota mikrofalowe układu poddawanego pomiarowi 16 są podłączone do drugich wrót pomiarowych W2 systemu pomiarowego. System ma układ próbkujący, który stanowi konwerter próbkujący 11 z jednostką próbkującą 14. Sygnał wyzwalający z konwertera próbkującego 11 jest doprowadzony za pośrednictwem toru wyzwalającego TW do układu formowania sygnału sterującego 23 poprzez kolejno generator impulsu pomiarowego 12, posiadający wejście wyzwalania WW12 i wyjście wyzwalające, oraz regulowany układ opóźniając y 23B. Układ formowania sygnału sterującego 23 na wyjściu wystawia sygnał sterujący dostosowany do wymagań układu poddawanego pomiarowi 16 oraz opóźniony o regulowaną wartość, wynikającą z nastaw regulowanego układu opóźniającego 23B. Sygnał sterujący jest doprowadzany na wejście sterujące WS układu poddawanego pomiarowi 16, za pośrednictwem toru sterującego TS i wywołuje proces zmian właściwości układu poddawanego pomiarowi 16. Poprzez regulację opóźnienia sygnału sterującego za pomocą regulowanego układu opóźniającego 23B możliwe jest pobudzenie impulsem pomiarowym układu poddawanego pomiarowi 16 w dowolnej chwili procesu zmian właściwości tego układu. Impuls pomiarowy z generatora impulsu pomiarowego 12 wprowadzany jest do toru nadawczego TN systemu pomiarowego, który zawiera sprzęgacz 19 oraz sprzęgacz 20. Jeden z portów sprzęgacza 19 jest zakończony dopasowanym obciążeniem 19A, wobec czego sprzęgacz pracuje jako dzielnik sygnału, z nierównym podziałem. Port sprzężony sprzęgacza 19 jest połączony z kanałem K1 jednostki próbkującej 14. Jednostka próbkująca 14 wraz z konwerterem próbkującym 11 tworzące razem układ próbkujący mogą mieć postać odrębnych urządzeń lub być połączone w jedno urządzenie. Fragment obwodu pomiarowego dołączony do kanału K1 stanowi tor referencyjny TR systemu pomiarowego. Ostatni port sprzęgacza 19 jest połączony z portem wejściowym sprzęgacza 20. Port sprzęgacza 20 sprzężony z portem wejściowym sprzęgacza 20 jest zakończony dopasowanym obciążeniem 20A. Sygnał z portu wejściowego sprzęgacza 20 za pośrednictwem wrót pomiarowych W1 jest doprowadzony do układu poddawanego pomiarowi 16. Tam ulega częściowemu odbiciu. Sygnał odbity wraca do portu wyjściowego sprzęgacza 20, zostaje odsprzęgnięty i doprowadzony do jednostki próbkującej 14 przez kanał K2. Fragment obwodu pomiarowego dołączony do kanału K2 jednostki próbkującej 14 stanowi tor odbiorczy TO systemu pomiarowego. Część sygnału pomiarowego zostaje przetransmitowana przez układ poddawany pomiarowi 16 do drugich wrót pomiarowych W2 i następnie przez kanał K3 trafia do jednostki próbkującej 14. Fragment obwodu pomiarowego dołączony do kanału K3

PL 227 869 B1 jednostki próbkującej 14 stanowi dodatkowy tor odbiorczy TO systemu pomiarowego. Pracą systemu pomiarowego steruje cyfrowy układ sterowania i akwizycji danych 10, który połączony jest z konwerterem próbkującym 11, z regulowanym układem formowania sygnału sterującego 23 oraz z regulowanym układem opóźniającym 23B.

System pomiarowy przedstawiony na Fig. 2 umożliwia jednoczesne wyznaczenie współczynnika odbicia oraz współczynnika transmisji układu poddawanego pomiarowi 16 w funkcji częstotliwości oraz czasu, liczonego względem chwili podania sygnału sterującego na układ poddawany pomiarowi 16. Zastosowanie toru referencyjnego TR w systemach pomiarowych przedstawionych na Fig. 1 i 2 umożliwia wykorzystanie danych zarejestrowanych w kanale K1 jednostki próbkującej 14 w procedurach kalibracji systemu pomiarowego i korekcji wyników pomiarów. Dla specjalisty z dziedziny miernictwa mikrofalowego znane są różne sposoby przeprowadzania tych procedur.

W systemach pomiarowych według Fig. 1 i 2 dzięki pobudzaniu układu poddawanego pomiarowi 16 sygnałem impulsowym z generatora impulsu pomiarowego 12 w dowolnej chwili procesu zmian właściwości tego układu, wywołanego sygnałem sterującym podanym na wejście WS układu poddawanego pomiarowi 16, możliwe jest wyznaczenie parametrów opisujących te właściwości w chwili pobudzenia, w szczególności współczynnika odbicia oraz współczynnika transmisji. Dla specjalisty z dziedziny mikrofal jasne jest, że istnieją różne metody wyznaczania parametrów układu poddawanego pomiarowi, w których wykorzystuje się sygnały zarejestrowane w torze referencyjnym i w jednym lub w większej liczbie torów odbiorczych, a także że istnieją różne metody korekcji błędów tak realizowanego pomiaru. Poprzez wielokrotne powtarzanie pomiaru z różnymi nastawami opóźnienia regulowanych układów opóźniających 23A i 23B, możliwe jest wyznaczenie parametrów układu poddawanego pomiarowi 16 w różnych chwilach procesu zmian właściwości tego układu i w konsekwencji odtworzenie przebiegu zmian parametrów układu poddawanego pomiarowi 16 w funkcji czasu. Ponadto poprzez wielokrotne powtarzanie pomiaru z różnymi nastawami układu formowania sygnału sterującego 23, możliwe jest wyznaczenie parametrów układu poddawanego pomiarowi 16 dodatkowo także dla różnych sygnałów sterujących. Nastawy układu formowania sygnału sterującego 23 służą do sterowania parametrami sygnału sterującego podawanego za pośrednictwem toru sterującego TS na wejście sterujące WS układu poddawanego pomiarowi 16. Przykładami parametrów sygnału sterującego są między innymi: wartość szczytowa napięcia, czas trwania impulsu prostokątnego, szybkość naras tania lub opadania napięcia i inne.

Dla specjalisty z dziedziny mikrofal jest jasne, że w miejsce sprzęgaczy 19 i 20 na Fig. 1 i 2 można zastosować dzielniki mocy, trójniki lub inne przyrządy, pozwalające uzyskać podział mocy sygnału mikrofalowego.

W systemie pomiarowym przedstawionym na Fig. 1 układem poddawanym pomiarowi 16 może być antena, w szczególności antena sterowana, wyposażona w wejście sterujące WS. Wówczas za pomocą systemu pomiarowego możliwe jest wyznaczenie współczynnika odbicia anteny, w dowolnej chwili procesu zmian właściwości anteny, wywołanego sygnałem sterującym podanym na wejście WS anteny, przy czym chwila ta jest wyznaczona przez moment pobudzenia wrót pomiarowych W1 impulsowym sygnałem pomiarowym.

W systemie pomiarowym przedstawionych na Fig. 2 oraz w tych wariantach wykonania systemu pomiarowego przedstawionego na Fig. 1, w których występują co najmniej dwa wrota pomiarowe, W1 i W2, układem poddawanym pomiarowi 16 może być zestaw dwóch anten zorien towanych względem siebie w ustalony sposób, przez co tworzą tor radiowy, z których jedna jest podłączona do wrót pomiarowych W1, a druga do wrót pomiarowych W2. W szczególności przynajmniej jedna z anten może być sterowana i wyposażona w wejście sterujące WS. Wówczas za pomocą systemu pomiarowego możliwe jest wyznaczenie współczynnika odbicia anteny podłączonej do wrót pomiarowych W1 systemu pomiarowego oraz współczynnika transmisji między antenami. Parametry te są mierzone w dowolnej chwili procesu zmian właściwości anteny, wywołanego sygnałem sterującym podanym na wejście WS anteny, przy czym chwila ta jest wyznaczona przez moment pobudzenia wrót pomiarowych W1 impulsowym sygnałem pomiarowym. Współczynnik transmisji może posłużyć do wyznaczenia parametrów anten wchodzących w tor radiowy, w szczególności zysku antenowego. W przypadku, gdy pomiar jest powtarzany wielokrotnie dla różnej orientacji anten względem siebie, możliwe jest wyznaczenie charakterystyki kierunkowej promieniowania.

PL 227 869 B1

Istotny wpływ na rozdzielczość czasową wyników pomiarów realizowanych za pomocą systemu pomiarowego według wynalazku ma przebieg czasowy impulsu z generatora impulsów 12. Z analizy właściwości systemu pomiarowego wynika, że im krótszy jest ten impuls, tym lepszą rozdzielczość czasową uzyskuje system pomiarowy.

W związku z tym korzystnym wariantem wykonania impulsowego systemu pomiarowego do wyznaczania parametrów sterowanych układów mikrofalowych jest system, w którym jako generator impulsów pomiarowych 12 jest zastosowany generator ultrakrótkich impulsów. Generator ten cechuje się tym, że 95% energii niesionej przez impuls z tego generatora jest skupione w przedziale czasu krótszym niż 100 ps. Innym kryterium generatora ultrakrótkich impulsów może być czas zanikania oscylacji występujących po głównym „piku” impulsu do określonego poziomu lub czas trwania impulsu mierzony przy określonej wartości amplitudy sygnału. Zastosowanie generatora ultrakrótkich impulsów zapewnia rozdzielczość czasową systemu pomiarowego wystarczającą do pomiaru układów sterowanych zrealizowanych w oparciu o większość dostępnych obecnie mikrofalowych podzespołów. Fig. 3 przedstawia przykładowy przebieg czasowy impulsu pomiarowego pochodzącego z generatora ultrakrótkich impulsów GZ1117DN-25-TS. Na przebiegu na Fig. 3 zaznaczono przedziały czasu, w których mieści się 50%, 95% oraz 99% energii niesionej przez impuls.

Przykładem systemu, którego schemat uwidoczniono na Fig. 2, jest system, w którym zastosowano konwerter próbkujący 11, jednostkę próbkującą 14 złożoną z dwóch dwukanałowych jednostek SU3118, generator impulsów pomiarowych 12 realizowany przez generator ultrakrótkich impulsów GZ1117DN- 25-TS, regulowany układ opóźniający 23B realizowany przez generator przebiegów cyfrowych T560, regulowany układ formowania sygnału sterującego 23 realizowany przez generator przebiegów cyfrowych T564 oraz sprzęgacze 19 i 20 model 4226-10.

Konwerter próbkujący 11 SD 10620 powtarza okresowo sygnał wyzwalający z częstotliwością około 500 kHz. W sytuacji, gdy konwerter próbkujący powtarza okresowo sygnał wyzwalający, korzystną jest taka konfiguracja układu pomiarowego, że regulowany układ opóźniający, 23A i 23B lub zależnie od wariantu wykonania jeden z nich, umożliwia uzyskanie różnicy między chwilą dotarcia sygnału sterującego do wejścia sterującego WS układu poddawanego pomiarowi 16 a chwilą dotarcia impulsu pomiarowego do wrót pomiarowych W1 toru nadawczego większej lub równej okresowi powtarzania sygnału wyzwalającego, co do wartości bezwzględnej. Dzięki takiej konfiguracji systemu pomiarowego w szczególności możliwe jest uzyskanie szerokiego zakresu regulacji wzajemnych opóźnień między impulsem pomiarowym a sygnałem sterującym z wykorzystaniem jednego regulowanego układu opóźniającego, 23A lub 23B, włączonego tylko w jedną z gałęzi toru wyzwalania TW, co jest korzystne z uwagi na uproszczenie konstrukcji systemu. W związku z tym, że wartości parametrów są wyznaczane w pom iarze dla chwili pobudzenia układu poddawanego pomiarowi 16 sygnałem pomiarowym pochodzącym z generatora impulsu pomiarowego 12, w omawianej konfiguracji możliwe jest, że ten sygnał pomiarowy jest skutkiem innego sygnału wyzwalającego z konwertera próbkują cego 11, wcześniejszego lub późniejszego, niż sygnał wyzwalający, którego skutkiem jest proces zmian właściwości układu poddawanego pomiarowi, w czasie którego wykonywany jest pomiar parametrów układu poddawanego pomiarowi 16.

Claims (4)

1. Impulsowy system pomiarowy do wyznaczania parametrów sterowanych układów mikrofalowych, wyposażony we wrota pomiarowe, do których podłączane są wrota mikrofalowe układu poddawanego pomiarowi, w wyzwalany generator impulsu pomiarowego, podłączony do toru nadawczego zakończonego wrotami pomiarowymi, w układ próbkujący podłączony do toru wyzwalania, w cyfrowy układ sterowania i akwizycji danych połączony z układem próbkującym, oraz w tor odbiorczy i tor referencyjny podłączone do układu próbkującego i poprzez sprzęgacze połączone z torem nadawczym, znamienny tym, że zawiera układ formowania sygnału sterującego (23) podłączany do wejścia sterującego (WS) układu poddawanego pomiarowi (16) i połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych (10) oraz zawiera regulowany układ opóźniający (23B) i dodatkowy regulowany układ opóźniający (23A) połączone z układem sterowania i akwizycji danych

PL 227 869 B1 (10), przy czym tor wyzwalania (TW) podłączony jest do wejścia wyzwalania (WW23) układu formowania sygnału sterującego (23), za pośrednictwem regulowanego układu opóźniającego (23B) i za pośrednictwem dodatkowego regulowanego układu opóźniającego (23A) połączony jest do wejścia wyzwalania (WW12) generatora impulsu pomiarowego (12).

2. Impulsowy system pomiarowy według zastrz. 1, znamienny tym, że generator impulsu pomiarowego (12) stanowi generator ultrakrótkich impulsów.

3. Impulsowy system pomiarowy do wyznaczania parametrów sterowanych układów mikrofalowych, wyposażony w pierwsze wrota pomiarowe, do których podłączane są wrota mikrofalowe układu poddawanego pomiarowi, w wyzwalany generator impulsu pomiarowego, wyposażony w wejście wyzwalania połączone z torem wyzwalania oraz podłączony do toru nadawczego zakończonego pierwszymi wrotami pomiarowymi, w układ próbkujący podłączony do toru wyzwalania, w cyfrowy układ sterowania i akwizycji danych połączony z układem próbkującym, oraz w tor odbiorczy, i tor referencyjny podłączone do układu próbkującego i poprzez sprzęgacze połączone z torem nadawczym i w drugi tor odbiorczy podłączony do układu próbkującego i do drugich wrót pomiarowych podłączanych do układu poddawanego pomiarowi, znamienny tym, że zawiera układ formowania sygnału sterującego (23) połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych (10) i podłączany do wejścia sterującego (WS) układu poddawanego pomiarowi (16) oraz regulowany układ opóźniający (23B) połączony z cyfrowym układem sterowania i akwizycji danych (10), oraz tym, że tor wyzwalania (TW) za pośrednictwem generatora impulsu pomiarowego (12) i regulowanego układu opóźniającego (23B) podłączony jest do wejścia wyzwalania (WW23) układu formowania sygnału sterującego (23).

4. Impulsowy system pomiarowy według zastrz. 3, znamienny tym, że generator impulsu pomiarowego (12) stanowi generator ultrakrótkich impulsów.