PL225604B1 - Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości - Google Patents

Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości

Info

Publication number
PL225604B1
PL225604B1 PL409222A PL40922214A PL225604B1 PL 225604 B1 PL225604 B1 PL 225604B1 PL 409222 A PL409222 A PL 409222A PL 40922214 A PL40922214 A PL 40922214A PL 225604 B1 PL225604 B1 PL 225604B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
detector
mirror
electromagnetic radiation
chip
increased sensitivity
Prior art date
Application number
PL409222A
Other languages
English (en)
Other versions
PL409222A1 (pl
Inventor
Paweł Kopyt
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL409222A priority Critical patent/PL225604B1/pl
Publication of PL409222A1 publication Critical patent/PL409222A1/pl
Publication of PL225604B1 publication Critical patent/PL225604B1/pl

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest detektor promieniowania elektromagnetycznego podniesionej czułości, stosowany zwłaszcza do obrazowania lub spektrometrii w paśmie sub-THz i THz.
Znany jest detektor promieniowania elektromagnetycznego w postaci chipów mikroelektronicznych zawierający obwód detekcyjny zazwyczaj łączony z układem optycznym w celu skupienia promieniowania na elemencie aktywnym i podniesienia w ten sposób jego czułości. Detektor w takim wykonaniu zaopatrzony jest w kosztowne zwierciadło paraboliczne o zazwyczaj dużych rozmiarach, dzięki któremu powiększana jest apertura skuteczna detektora.
Wiązka promieniowania elektromagnetycznego (EM) pada na zwierciadło paraboliczne (1) i po odbiciu się od niego skupia się na scalonym detektorze promieniowania (2), co prowadzi do powiększenia czułości detektora. Detektor jest zawsze zamocowany w oprawce (3), której zadaniem jest ułatwienie zamocowania detektora, poprawienia jego odporności mechanicznej i umożliwienia doprowadzania do detektora napięć polaryzujących i odprowadzenie sygnału detekcji.
Znany detektor charakteryzuje się długim czasem wykonania zwierciadła i jego wysoką ceną.
Celem wynalazku jest detektor pozbawiony tych wad tzn. detektor o zwierciadle wykonanym w podstawie spełniającej jednocześnie rolę oprawki detektora.
Istota rozwiązania według wynalazku polega na tym, że oprawkę stanowi podstawa przewodząca z wykonanym na jej powierzchni zwierciadłem wklęsłym, nad którym jest przymocowana do podstawy przewodzącej płytka dielektryczna mająca od strony zwierciadła umocowany w pobliżu ogniska chip detektora. Zwierciadło jest zwierciadłem sferycznym. Płytka dielektryczna jest obwodem druk owanym z chipem detektora przyklejonym do niej od strony dielektrycznej i jest zamocowana do podstawy przewodzącej za pośrednictwem wkrętów.
Rozwiązanie według wynalazku umożliwiła łatwe wykonanie zwierciadła przez frezowanie frezem o zakończeniu kulistym, przy czym frez zagłębia się w materiał na odpowiednią głębokość, co jest operacją szybką i zapewnia dokładność wykonania powierzchni taką jak dokładność wykonania frezu.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia detektor w rzucie perspektywicznym, fig. 2 przedstawia ten detektor w przekroju bocznym, fig. 3 przedstawia detektor od strony płytki dielektrycznej z chipem detektora, a fig. 4 - od strony płytki dielektrycznej z doprowadzeniami.
Jak to przedstawia fig. 1 i fig. 2 zwierciadło 6 jest wykonane w podstawie 4. Na górnej powierzchni podstawy przytwierdzona jest za pomocą śrub 7 płytka dielektryczna 5, do której zamocowany jest poprzez klejenie, lutowanie chip detektora 2. Głębokość frezowania zwierciadła jest dobrana w taki sposób, aby chip detektora 2 zamocowany na płytce znalazł się w pobliżu ogniska zwierciadła po przytwierdzeniu płytki dielektrycznej 5 na krawędzi zwierciadła 6. Płytka dielektryczna 5 zamocowana jest na zwierciadle tak, że detektor umieszczony jest całkowicie wewnątrz zwierciadła. Z zewnątrz nie ma do niego dostępu.
Jak to przedstawia fig. 3 i fig. 4 do chipu detektora 2 doprowadzone są sygnały polaryzujące za pośrednictwem cienkich ścieżek przewodzących 8. Płytka dielektryczna 5 jest przezroczysta dla badanego promieniowania. W tym celu wykonano ją z materiału na bazie teflonu jako laminat RT5880 f-my ROGERS i ma ona grubość 127 pm. Ponadto z obszarów płytki umieszczonych nad zwierciadłem usunięto metal poza koniecznymi ścieżkami przewodzącymi. W pozostałych obszarach metalizację pozostawiono w celu mechanicznego wzmocnienia konstrukcji.
Płytka ta jednocześnie zapewnia mechaniczne podparcie detektora 2 pozwalając na zawieszenie go w pobliżu ogniska zwierciadła. Zwierciadło 6 wykonane w opisany wyżej sposób i zintegrowane z detektorem 2 stanowi oprawkę detektora, umożliwiającą korzystanie z niego. Sam detektor ma postać chipu, który zawsze musi być mocowany w sposób pozwalający na doprowadzanie do niego s ygnałów. W proponowanym pomyśle typowa oprawka jest zastępowana zwierciadłem, które zachowując cechy oprawki: umożliwia zamocowanie mechaniczne detektora, odporność mechaniczną, możliwość doprowadzania do detektora napięć polaryzujących i jednocześnie poprawia czułość detektora.
Fala padająca na płytkę 5 przenika ją i odbija się od zwierciadła 6 umieszczonego poniżej skupiając się w ognisku, w którym umieszczony jest detektor 2. Sposób działania jest więc taki jak w typowych rozwiązaniach. Jednak dzięki innemu wykonaniu detektor jest mniejszy i tańszy niż rozwiązania standardowe, dzięki czemu można go stosować w urządzeniach miniaturowych, przenośnych itp.
Eksperymenty przeprowadzone ze zwierciadłami o średnicach od 5.5 do 25 mm wyfrezowanymi w mosiądzu pokazują że uzyskane w ten sposób zwiększenie czułości detektora oświetlanego falą
PL 225 604 B1 o częstotliwości 325 GHz wynosi od 3 do 194 razy, w zależności od średnicy zwierciadeł. Wzmocnienie jest proporcjonalne do powierzchni apertury zwierciadła.
Zwierciadło 6 wykonywane w podstawie o przewodzącej powierzchni jest elementem pełniącym jednocześnie rolę oprawki chipa detektora 2 jako jego podparcie na cienkiej płytce dielektrycznej 5, będącej przezroczystą dla badanego promieniowania EM zwłaszcza z pasma sub-THz i THz i pozwalającej na umieszczenie chipa detektora 2 w pobliżu ogniska zwierciadła oraz doprowadzanie do niego sygnałów elektrycznych niezbędnych dla pracy detektora.

Claims (3)

1. Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości w postaci chipu zamocowanego w oprawce i usytuowanego w pobliżu ogniska zwierciadła wklęsłego układu optycznego, znamienny tym, że oprawkę stanowi podstawa przewodząca (4) z wykonanym na jej powierzchni zwierciadłem (6) wklęsłym, nad którym jest przymocowana do podstawy przewodzącej (4) płytka dielektryczna (5) mająca od strony zwierciadła (6) umocowany w pobliżu ogniska chip detektora (2).
2. Detektor według zastrz. 1, znamienny tym, że zwierciadło (6) jest zwierciadłem sferycznym.
3. Detektor według zastrz. 1 albo 2, znamienny tym, że płytka dielektryczna (5) jest obwodem drukowanym z chipem detektora (2) przyklejonym do niej od strony dielektrycznej i jest zamocowana do podstawy przewodzącej (4) za pośrednictwem wkrętów (7).
PL409222A 2014-08-20 2014-08-20 Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości PL225604B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL409222A PL225604B1 (pl) 2014-08-20 2014-08-20 Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL409222A PL225604B1 (pl) 2014-08-20 2014-08-20 Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL409222A1 PL409222A1 (pl) 2016-02-29
PL225604B1 true PL225604B1 (pl) 2017-04-28

Family

ID=55361149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL409222A PL225604B1 (pl) 2014-08-20 2014-08-20 Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL225604B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL409222A1 (pl) 2016-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Li et al. 340-GHz low-cost and high-gain on-chip higher order mode dielectric resonator antenna for THz applications
US11536760B2 (en) Testing device, testing system, and testing method
US10393649B2 (en) THz bolometer detector
JP5303641B2 (ja) X線検出器用のセンサヘッド、及び同センサヘッドを含むx線検出器
TWI453440B (zh) Light transmission elements, lenses, megahertz radiation microscopes and components
US10066927B2 (en) Inspection of microelectronic devices using near-infrared light
Yu et al. Ultra-thin artificial magnetic conductor for gain enhancement of antenna-on-chip
ATE472098T1 (de) Bolometrischer detektor, vorricthung zur detektion elektromagnetischer submillimeter- und millimeterwellen mit einem solchen detektor
JP2008244620A (ja) テラヘルツアンテナモジュール
CN104101933A (zh) 平面光学元件及其设计方法
US20190259917A1 (en) Light source device
CN101238389A (zh) 光电测距仪
KR20150004146A (ko) 테라헤르츠를 이용한 검사 장치
CN103219587A (zh) 基于体硅mems工艺天线的太赫兹前端集成接收装置
TW200423102A (en) Semiconductor integrated apparatus
PL225604B1 (pl) Detektor promieniowania elektromagnetycznego o podniesionej czułości
JP2004207288A (ja) テラヘルツ光発生器及びテラヘルツ光検出器
US20180115077A1 (en) Antenna unit, radio frequency circuit and method for manufacturing an antenna unit
Klier et al. Influence of substrate material on radiation characteristics of THz photoconductive emitters
US10908103B2 (en) X-ray fluorescence spectrometer
Rusch et al. LTCC endfire antenna with housing for 77-GHz short-distance radar sensors
US20140183361A1 (en) Ir sensor with increased surface area
CN107917900A (zh) 红外线检测装置
US10665933B2 (en) Antenna unit, radio frequency circuit and method for manufacturing an antenna unit
CN109799042B (zh) 用于防水测试的装置和方法