PL178303B1 - Układ wytwarzania impulsów probierczych - Google Patents

Abstract

Układ wytwarzania impulsów probierczych, zawierający urządzenie badane połączone z układem zasilania, źródło wysokiego napięcia, elementy RC i diody, znamienny tym, że pomiędzy zaciski wyjściowe układu formowania impulsów probierczych (2), a zaciski wejściowe urządzenia badanego (4) włączona jest szeregowo dioda druga (D2), a pomiędzy zaciski wyjściowe źródła wysokiego napięcia (1) i układ formowania impulsów probierczych (2) włączony jest równolegle rezystor (R) oraz dioda pierwsza (1), przy czym dioda pierwsza (1) i dioda druga (2) sązbocznikowane równolegle zestykami zwiernymi (Z).

Description

Przedmiotem wynalazku jest układ wytwarzania impulsów probierczych, przeznaczony do badania wytrzymałości na impulsowe przeciążenia elektryczne. Układ ma zastosowanie w badaniach bezpieczeństwa obsługi aparatów i urządzeń współpracujących z siecią telekomunikacyjną, z uwzględnieniem narażeń ze strony obwodów zasilania z sieci energetycznej.

Znany układ wytwarzaj ący impulsy 2 kV i przeznaczony do badań wytrzymałości na przeciążenie elektryczne jest podany w normie PN-92/T-83000 pt. „Aparaty telefoniczne elektroniczne ogólnego przeznaczenia dla analogowych łączy abonenckich. Wymagania i badania”, rys.

22. Układ zawiera zasilacz o napięciu wyjściowym 2 kV oraz czwómik złożony z elementów RC, zapewniający wymagany kształt impulsu o nominalnych czasach narastania napięcia 10 ps i opadania napięcia 700 ps. Za pomocąwyłączników wysokiego napięcia W1, W2, energia udaru gromadzona jest najpierw w pierwszym kondensatorze, a następnie przekazana do obciążenia przy galwanicznym oddzieleniu badanego urządzenia od zasilacza wysokiego napięcia.

Badanie wymaga wytwarzania 10 impulsów ze zmianą polaryzacji przy zachowaniu przerwy około 60 s pomiędzy kolejnymi impulsami. Badane urządzenie jest zasilane w sposób typowy dla sieci telekomunikacyjnej np. napięciem 60 V przez dwa dławiki L1, L2. Odpowiada to zasilaniu badanego urządzenia z centrali telefonicznej przez łącze abonenckie. Zastosowana w układzie dioda zabezpiecza przed przepływem prądu stałego przez czwómik ze źródła 60 V, co może spowodować istotne zmiany napięcia i prądu zasilania badanego urządzenia. Przy wymaganych warunkach zasilania tego urządzenia, a więc wartości napięcia i jego polaryzacji nie daje się pogodzić tych warunków z potrzebą przeprowadzenia badań dla 10 impulsów probierczych wysokiego napięcia o zmiennej polaryzacji, co stanowi wadę tego rozwiązania.

Układ wytwarzania impulsów probierczych, zawierający urządzenie badane połączone z układem zasilania, źródło wysokiego napięcia, elementy RC i diody, charakteryzuje się tym, że pomiędzy zaciski wyjściowe układu formowania impulsów probierczych, a zaciski wejściowe urządzenia badanego włączona jest szeregowo dioda druga. Pomiędzy zaciski wyjściowe źródła wysokiego napięcia i układ formowania impulsów probierczych włączony jest równolegle rezystor oraz dioda pierwsza, przy czym każda z diod jest zbocznikowana równolegle zestykami zwiemym.

Zaletą układu według wynalazku jest możliwość przekazywania do badanego urządzenia ciągu impulsów probierczych wysokiego napięcia o zmienanej polaryzacji, niezależnie od biegunowości zasilania tego urządzenia odpowiednim napięciem Uz, które w różnych fazach działania badanego urządzenia może być przełączane. Występujące w układzie napięcia są wzajemnie niezależne i ich niepożądany wpływ na siebie zostaje wyeliminowany. We wszystkich fazach działania układu niemożliwy jest przepływ prądu stałego przez układ wytwarzania impulsów probierczych, wywołany napięciem zasilania od strony sieci telekomunikacyjnej.

178 303

Układ wytwarzania impulsów probierczych według wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat układu dostosowany do badania urządzenia współpracującego z łączem telekomunikacyjnym, odpowiadający określonej fazie zestawiania połączenia przez centrale telekomunikacyjną, a fig. 2 - analogiczny układ, odpowiadający innej fazie zestawienia połączenia, w której biegunowość zasilania łącza telekomunikacyjnego jest zmieniona, zaś fig. 3 - układ z zastosowaniem dwóch źródeł wysokiego napięcia i dwóch układów formowania impulsów probierczych ale tylko jednej polaryzacji, zamiast dwóch w poprzednich układach.

Układ według wynalazku zawiera źródło wysokiego napięcia 1, którego zaciski wyj ściowe a i b, pomiędzy którymi włączony jest równolegle rezystor R, sąpołączone z zaciskami wejściowymi układu formowania impulsu probierczego 2 zawierającego elementy RC. Zaciski wyjściowe układu formowania impulsów probierczych 2 są dołączone do wejścia urządzenia badanego 4, do którego równolegle jest również dołączony układ zasilania 3 urządzenia badanego 4. Pomiędzy wyjściem układu formowania impulsu probierczego 2 i wejściem urządzenia badanego 4 włączonajest szeregowo dioda druga D2. Pomiędzy zaciski wyjściowe źródła wysokiego napięcia 1 i układ formowania impulsów probierczych 2 włączony jest równolegle rezystor R oraz dioda pierwsza Dl, przy czym dioda pierwsza 1 i dioda druga 2 są zbocznikowane równolegle zestykami zwiemymi Z. Ze względu na wolne przebiegi układ może być przełączany za pomocą przełączników wysokiego napięcia lub zestyków stycznika. W układzie według fig. 1 i fig. 2 w żadnym stanie układu nie j est możliwy przepływ prądu stałego przez źródło wysokiego napięcia 1, gdyż energia wysokiego napięcia jest gromadzona na kondensatorze, który jest dołączony do zacisków wyjściowych a i b źródła wysokiego napięcia 1. Obwód prądu stałego może być zamknięty przez układ formowania impulsów probierczych 2, jednak w dowolnej chwili czasu jest włączona przynajmniej jedna z dwóch diod: dioda pierwsza D1 lub dioda druga D2 w kierunku zaporowym. Oznacza to, że zwieranie tych diod nigdy nie występuje jednocześnie.

Przed pojawieniem się napięcia probierczego o polaryzacji plus na zacisku a i minus na zacisku b, zwartajest dioda pierwsza D1. Impuls probierczy za pośrednictwem układu formowania impulsów probierczych 2 przepływa przez diodę druga D2 i obciążenie urządzeniem badanym 4. Wpływ równolegle dołączonego układu zasilania 3 jest mały ze względu na duże indukcyjności w tym układzie. Przed przekazaniem impulsu probierczego o zmienionej polaryzacji zostaje włączona dioda pierwsza Dl i zwarta dioda druga D2. Zapewnia to, że impuls probierczy pojawiający się na wejściu urządzenia badanego 4 będzie miał zwrot przeciwny niż poprzednio. W odmianie układu przedstawionej na fig. 3 źródło wysokiego napięcia 1 nie musi być przystosowane do zmian polaryzacji wysokiego napięcia i wykluczona jest możliwość nawet chwilowego zwarcia obu diod: diody pierwszej Dl i diody drugiej D2 wskutek ewentualnych błędów lub uszkodzeń. Istnieje również możliwość dołączenia tylkojednego źródła wysokiego napięcia 1 odpowiednio do zacisków a1, b1 lub a2, b2.

178 303

Fig. 1

Fig. 2

Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 70 egz. Cena 2,00 zł.

Claims (1)

1. Zastrzeżenie patentowe

   Układ wytwarzania impulsów probierczych, zawierający urządzenie badane połączone z układem zasilania, źródło wysokiego napięcia, elementy RC i diody, znamienny tym, że pomiędzy zaciski wyjściowe układu formowania impulsów probierczych (2), a zaciski wejściowe urządzenia badanego (4) włączonajest szeregowo dioda druga (D2), a pomiędzy zaciski wyjściowe źródła wysokiego napięcia (1) i układ formowania impulsów probierczych (2) włączony jest równolegle rezystor (R) oraz dioda pierwsza (1), przy czym dioda pierwsza (1) i dioda druga (2) są zbocznikowane równolegle zestykami zwiemymi (Z).