PL155379B1 - Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorach - Google Patents
Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorachInfo
- Publication number
- PL155379B1 PL155379B1 PL26979987A PL26979987A PL155379B1 PL 155379 B1 PL155379 B1 PL 155379B1 PL 26979987 A PL26979987 A PL 26979987A PL 26979987 A PL26979987 A PL 26979987A PL 155379 B1 PL155379 B1 PL 155379B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- voltage
- focusing
- value
- screen
- components
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Description
| RZECZPOSPOLITA POLSKA | OPIS PATENTOWY | 155 379 |
| Patent dodatkowy do patentu nr- | Int. Cl.5 H01J 29/58 | |
| flf | Zgłoszono: 87 12 JO (P. 269799) Pierwszeństwo - | |
| URZĄD PATENTOWY | Zgłoszenie ogłoszono: 89 07 10 | |
| RP | Opis patentowy opublikowano: 1992 02 28 |
Twórca wynalazku: Lech Niepiekło
Uprawniony z patentu: Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy
Elektronicznego Sprzętu Powszechnego Użytku, Warszawa (Polska)
SPOSÓB USTAWIANIA NAPIĘCIA OGNISKUOBCEGO KINESKOPU, ZWŁASZCZA W MONITORACH
Przedmiotem wynalazku jest sposób ustawiania napięcia ogniskującego kineskopu, zwłaszcza w monitorach.
Według znanego dotychczas sposobu ustawianie napięcia ogniskującego odbywa się poprzez regulację wartości napięcia na elektrodzie ogniskującej, przy pomocy potencjometrów lub przełączników z równoczesną obserwacją obrazu testowego na ekranie. W monitorach, w których wymagania na jakość zogniskowania są znacznie wyższe niż w odbiornikach telewizyjnych, stosuje się tak zwane ogniskowanie dynamiczne, polegające na dostarczeniu do elektrody ogniskującej napięcia zawierającego oprócz składowej stałej także składowe zmienne o częstotliwości odchylania pionowego i poziomego i o kształtach paraboli. Ustawianie napięcia ogniskującego polega na oddzielnym dobraniu każdej z trzech składowych przebiegu ogniskującego, tak aby uzyskać optymalną ostrość na całej powierzchni ekranu. W praktyce jest to bardzo pracochłonne ponieważ każda z regulacji powoduje zmiany na całym ekranie, ale o intensywności zależnej od miejsca na ekranie. Dlatego ustawianie odbywa się metodą kolejnych przybliżeń i wymaga od pracownika długiego i intensywnego wpatrywania się w obraz testowy, co jest niekorzystne dla zdrowia.
Sposób według wynalazku polega na obserwacji ekranu kineskopu kolejno w trzech wybranych punktach i regulacji napięcia stałego doprowadzonego do elektrody ogniskującej oraz pomiarze wartości napięć przy których każdy z trzech punktów jest najlepiej zogniskowany. Z tak pomierzonych trzech wartości napięć oblicza się w znany sposób wartość składowej stałej i poszczególnych składowych zmiennych, które ustawia się regulując przebieg nacięcia doprowadzonego do elektrody ogniskującej kineskoou kontrolując ich wartość orzy pomocy oscyloskopu. Korzystnie jest obserwować dokonując pomiarów napięć dla trzech punktów, z których jeden znajduje się w środku ekranu, drugi w jednym z rogów ekranu a trzeci w środku jednej z krawędzi ekranu.
Przy takim rozwiązaniu czas obserwant obrazu testowego na ekranie ulega radykaleemu skróceniu, zaś obszar obserwanci zmniejsza się z całej powierzchni ekranu do trzech wybranych punktów.
155 379
155 379
Wynalazek zostanie bliżej objaśniony na podstawie przykładowej kolejności czynności przy ustawianiu przebiegu ogniskującego. Fig.1 przedstawia ekran kineskopu z trzema charakterystycznymi punktami obserwacji. Fig.2 przedstawia przykładowy optymalny przebieg napięcia ogniskującego .
W celu ustawienia optymalnego przebiegu napięcia ogniskującego na elektrodzie ogniskującej kineskopu należy do elektrody ogniskującej kineskopu dołączyć źródło napięcia stałego oraz oscyloskop. Obserwując punkt w środku ekranu 1 dobieramy i rejestrujemy wartość napięcia ogniskującego Uj, aby zogniskowanie w tym punkcie 1 było optymalne. Obserwując punkt w lewym górnym rogu 2 ekranu dobieramy i rejestrujemy wartość napięcia ogniskującego U2, aby zogniskowanie w tym punkcie 2 było optymalne. Obserwując punkt 3 w środku lewej krawędzi ekranu dobieramy i rejestrujemy wartość napięcia ogniskującego U^, aby zogniskowanie w tym punkcie 3 było optymalne. Następnie obliczamy zawartość składowych optymalnego przebiegu ogniskującego a mianowicie składowej stałej Ug, składowej zmiennej o częstotliwości odchylania poziomego UH, składowej zmiennej o częstotliwości odchylania pionowego według znanych zależności. Zależności te dla wybranych punktów przedstawiają się następująco:
Us = U1 uh = U3 - Ui Uv = U2 - Uj
Następnie ustawiamy przy pomocy oscyloskopu obliczone wartości składowych przebiegu ogniskującego. Ustawiony w ten sposób przebieg napięcia ogniskującego jest optymalny dla danego kineskopu i nie wymaga sprawdzenia ogniskowania na ekranie.
Claims (2)
1. ppoóób ustawinnaa napięcia ggnikkuąąeggo kinekopuu , zwassccza w monitorchh z zastosowaniem ogniskowania dyizmięciego przy pomocy napięcia złożonego z trzech składowych, składowej stałej, składowej zmiennej o kształcie parabolicznym i częstotliwości odchylania pionowego, składowej zmiennej o kształcie parabolicznym i częstotliwości odchylania poziomego, znamienny tym, że obserwując ekran kineskopu kolejno w trzech wybranych punktach i regulując wartość napięcia stałego doprowadzonego do elektrody ogniskującej mierzy się wartość tych napięć przy których każdy z trzech punktów jest najlepiej zogniskowany, następnie oblicza się w znany sposób wartość składowych stałej i poszczególnych zmiennych napięcia ogniskującego i obliczone składowe ustawia się regulując przebieg napięcia doprowadzonego do elektrody ogniskującej kineskopu kontrolując ich wartość przy pomocy oscyloskopu.
2. Sposób według . znamienny tym, że trzy punkty w których obserwuje się optymalne zogniskowanie i dokonuje pomiaru napięcia ogniskującego to jeden (1) znajdurogów ekranu i trzeci (3) w środku jednej z
Fig. 2
Zakład Wydawnictw UP RP. Nakład 100 egz.
Cena 3000 zł
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL26979987A PL155379B1 (pl) | 1987-12-30 | 1987-12-30 | Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorach |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL26979987A PL155379B1 (pl) | 1987-12-30 | 1987-12-30 | Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorach |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL269799A1 PL269799A1 (en) | 1989-07-10 |
| PL155379B1 true PL155379B1 (pl) | 1991-11-29 |
Family
ID=20039849
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL26979987A PL155379B1 (pl) | 1987-12-30 | 1987-12-30 | Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorach |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL155379B1 (pl) |
-
1987
- 1987-12-30 PL PL26979987A patent/PL155379B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL269799A1 (en) | 1989-07-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE69115475T2 (de) | Projektionssystem | |
| DE3789763T2 (de) | Flüssigkristallanzeigegerät. | |
| DE3924605A1 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
| US4680469A (en) | Focusing device for a television electron microscope | |
| PL155379B1 (pl) | Sposób ustawiania napięcia ogniskuobcego kineskopu, zwłaszcza w monitorach | |
| EP0557971A1 (en) | Display monitor | |
| KR950008130B1 (ko) | 비디오 표시장치 | |
| US5583401A (en) | Beam landing correction apparatus for a cathode ray tube | |
| White et al. | Counterphase lightness induction | |
| US3597609A (en) | Method of image focusing in particle-beam apparatus comprising changing the beam incidence angle at 10 to 15 hertz | |
| DE1035806B (de) | Bildwiedergabevorrichtung mit mindestens zwei optisch in Kaskade geschalteten Feststoff-Bildverstaerkern | |
| GB2074429A (en) | Method and apparatus for compensating for astigmatism in electron beam devices | |
| NL8001395A (nl) | Katodestraalbuis met laagspanningfocussering en dynamische correctie. | |
| US3087057A (en) | Means for varying the picture brightness in an electron microscope | |
| EP0021486B1 (en) | Device for displaying an analog signal on a display screen | |
| US3541233A (en) | Color conversion system for x-rays | |
| DE60300961T2 (de) | Vektorskop | |
| Heddle et al. | Measurements of the magnification behaviour of some three-element electrostatic lenses | |
| US3293483A (en) | Radiation controlled electron radiation source | |
| GB2274962A (en) | Focus voltage control apparatus | |
| JP3117250B2 (ja) | イオンビームモニタ装置付きイオン注入装置 | |
| ES8404768A1 (es) | Perfeccionamientos en un dispositivo para la obtencion de radiografias | |
| DE2550773A1 (de) | Verfahren zur steuerung einer fernsehkamera | |
| HK105295A (en) | Display apparatus with a cathode ray tube and a device for measuring the beam circuit | |
| CN108922484A (zh) | 显示屏显示优化方法、系统及终端 |