PL138259B2 - Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate - Google Patents

Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate Download PDF

Info

Publication number
PL138259B2
PL138259B2 PL25138484A PL25138484A PL138259B2 PL 138259 B2 PL138259 B2 PL 138259B2 PL 25138484 A PL25138484 A PL 25138484A PL 25138484 A PL25138484 A PL 25138484A PL 138259 B2 PL138259 B2 PL 138259B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measuring
oxide layer
penetrator
thickness
metallic substrate
Prior art date
Application number
PL25138484A
Other languages
English (en)
Other versions
PL251384A2 (en
Inventor
Marek Kuna
Jan Zarajczyk
Original Assignee
Akad Rolnicza
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Akad Rolnicza filed Critical Akad Rolnicza
Priority to PL25138484A priority Critical patent/PL138259B2/pl
Publication of PL251384A2 publication Critical patent/PL251384A2/xx
Publication of PL138259B2 publication Critical patent/PL138259B2/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do pomiaru grubosci warstwy tlenków na podlozu metalicznym.Dotychczas, pomiaru grubosci warstwy tlenków dokonywano przy pomocy znanych, uniwer¬ salnych urzadzen takich jak: mikroskop pomiarowy lub elipsometr. Do pomiaru mikroskopem próbke nalezalo przeciac, dokladnie zeszlifowac powierzchnie przekroju, a nastepnie zmierzyc grubosc warstwy tlenków. Pomiar przy uzyciu elipsometru polegal na pomiarze promieni swietl¬ nych przechodzacych przez warstwe tlenków i po odbiciu od podloza metalicznego trafiajacych do ukladu optycznego elipsometru.Niedogodnosc tych urzadzen stosowanych w tym celu wynika z niedogodnosci sposobów pomiaru, zarówno przy pomocy mikroskopu, gdzie szczególnie czaso- i pracochlonne jest przygo¬ towanie próbki, a takze to, ze próbka jest po jednorazowym pomiarze grubosci warstwy tlenków i w kórej nastapil dalszy wzrost grubosci tej warstwy, nie moze byc ponownie uzyta do pomiarów, jak i przy pomocy elipsometru, który moze byc stosowany tylko do pomiaru bardzo cienkich warstw tlenków.Istota wynalazku jest urzadzenie do pomiaru grubosci warstwy tlenków skladajace sie z penetratora zbudowanego z podstawy z osadzona w niej kolumna, na której znajduje sie ramie wsporcze polaczone poprzez mechanizm przesuwu z glowica penetratora, oraz dwóch elektry¬ cznych ukladów pomiarowych, z których pierwszy sklada sie z zasilacza i wlaczonych szeregowo mokroamperomierza oraz rezystora wzorcowego polaczonego równolegle z wielokanalowym magnetofonem pomiarow7m i dalej ploterem a drugi sklada sie z elektonicznego miernika przesu¬ niec polaczonego z wielokanalowym magnetofonem i dalej z ploterem charakteryzujace sie tym, ze w glowicy penetratora jest osadzone ostrze penetracyjne oraz miernik przesuniec, najkorzystniej indukcyjny, z koncówka, przy czym ostrze penetracyjne oraz badana próbka posiadajaca warstwe tlenków, podczas pomiaru grubosci tej warstwy, sa wlaczone w obwód pierwszego ukladu elektry¬ cznego, natomiast miernik przesuniec wlaczony jest w obwód drugiego ukladu elektrycznego.Zaleta urzadzenia wedlug wynalazku wynika ze sposobu pomiaru, który ma charakter nieni¬ szczacy, przez co próbka moze byc kilkakrotnie, w dowolnych odstepach czasu uzyta do badan.Ponadto zastosowanie wielokanalowego magnetofonu pomiarowego do zapisu sygnalów elektry-2 138259 cznych umozliwia odtworzenie ich i dokonanie zapisu na ploterze w warunkach labolatoryjnych, co zwieksza dokladnosc pomiaru.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony schematycznie w przykladzie wykonania.Urzadzenie do pomiaru grubosci warstwy tlenków sklada sie penetratora oraz dwóch elektry¬ cznych ukladów pomiarowych. Penetrator sklada sie z podstawy 1 z osadzona w niej kolumna 2, na której znajduje sie ramie wsporcze 3 polaczone poprzez mechanizm przesuwu 8 z glowjca penetra¬ tora 4, w której osadzone sa ostrze penetracyjne 5 i indukcyjny miernik przesuniec 7 posiadajacy wysuwana koncówke 6. Ostrze penetracyjne 5 wykonane jest z tworzywa o duzej wytrzymalosci mechanicznej najkorzystniej z wolframu, weglików spiekanych lub diamentu. Pierwszy elektryczny uklad pomiarowy sklada sie z zasilacza 10, oraz wlaczonych szeregowo: badanej próbki 9, ostrza penetracyjnego 5, mikroamperomierza 14 i rezystora wzorcowego 15. Równolegle z rezystorem wzorcowym 15 wlaczonyjest wielokanalowy magnetofon pomiarowy 13 i ploter 12. Mikroampero- mierz 14 pozwala na precyzyjne ustawienie ostrza penetracyjnego 5 nad powierzchnia próbki 9 oraz sluzy do oszacowania wielkosci sygnalu podawanego na wejscie wielokanalowego magnetofonu pomiarowego 13. Rezystor wzorcowy 15 sluzy do ograniczania wartosci pradu oraz zamienia sygnal pomiarowy z pradowego na napieciowy. Przewody laczace posiadaja oslony neutralizujace wplywy zewnetrzne 16. Drugi elektryczny uklad pomiarowy sklada sie z osadzonego w glowicy penetratora 4 miernika przesuniec 7, który polaczony jest z elektronicznym miernikiem przesuniec 11, wielokanalowym magnetofonem pomiarowym 13 i ploterem 12.Pomiar grubosci warstwy tlenków przeprowadza sie w ten sposób, ze do badanej próbki 9 ustawionej na podstawie 1 penetratora dosuwa sie glowice penetratora 4 tak, by koncówka 6 miernika przesuniec 7 dotykala warstwy tlenków, po czym przy pomocy mechanizmu przesuwu 8 zbliza sie ostrze penetracyjne 5 do warstwy tlenków na odleglosc mozliwie najmniejsza, jednakze taka, by nie nastapil przeplyw pradu elektrycznego, co wskazalby mikroamperomierz 14. Nastep¬ nie przy pomocy mechanizmu przesuwu 8 dosuwa sie glowice penetratora 4 do badanej próbki 9. wskutek czego ostrze penetracyjne 5 dotyka, nastepnie zaglebia sie w warstwie tlenków i po przejsciu przez nia dotyka podloza metalicznego. Uzyskiwane podczas pomiaru sygnaly elektry¬ czne, z których pierwszy uzyskiwany jest obwodu elektrycznego, którego czescia jest ostrze penetracyjne 5 i badana próbka 9, a drugi pochodzacy z miernika przesuniec 7, zapisuje sie na tasmie magnetycznej wielokanalowego magnetofonu pomiarowego 13, po czym odtwarza sie je przy zmniejszonej predkosci przesuwu tasmy magnetycznej, na ploterze 12. Grubosc warstwy tlenków wyznacza sie z zapisanego na ploterze 12 wykresu, jako odleglosc miedzy dwoma punk¬ tami stalej wartosci sygnalu elektrycznego odzwierciedlajacego dwa polozenia ostrza penetracyj¬ nego 5 wzgledem warstwy tlenków to jest punktu styku tego ostrza 5 z warstwa tlenków i punktu styku ostrza penetracyjnego 5 z podlozem metalicznym. Odczytana z wykresu wielkosc mnozy sie przez ustalona przy pomocy elektronicznego miernika przesuniec 11 skale proporcjonalnosci i uzyskuje sie rzeczywista wielkosc grubosci warstwy tlenków.Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru grubosci warstwy tlenków na podlozu metalicznym skladajace sie z penetratora zbudowanego z podstawy z osadzona w niej kolumna, na której znajduje sie ramie wsporcze polaczone poprzez mechanizm przesuwu z glowica penetratora oraz dwóch elektry¬ cznych ukladów pomiarowych, z których pierwszy sklada sie z zasilacza i wlaczonych szeregowo mikroamperomierza oraz rezystora wzorcowego polaczonego równolegle z wielokanalowym mag¬ netofonem pomiarowym i dalej z ploterem, a drugi sklada sie z elektronicznego miernika przesu¬ niec polaczonego z wielokanalowym magnetofonem-pomiarowym i dalej z ploterem, znamienne tym, ze w glowicy penetratora (4) jest osadzone ostrze penetracyjne (5) oraz miernik przesuniec (7). najkorzystniej indukcyjny, z koncówka (6), przy czym ostrze penetracyjne (5) oraz badana próbka (9) posiadajaca warstwe tlenków, podczas pomiaru grubosci tej warstwy, sa wlaczone w obwód pierwszego ukladu elektrycznego, natomiast miernik przesuniec (7) wlaczony jest w obwód dru¬ giego ukladu elektrycznego. *138 259 «\| ^ ^ ^ PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru grubosci warstwy tlenków na podlozu metalicznym skladajace sie z penetratora zbudowanego z podstawy z osadzona w niej kolumna, na której znajduje sie ramie wsporcze polaczone poprzez mechanizm przesuwu z glowica penetratora oraz dwóch elektry¬ cznych ukladów pomiarowych, z których pierwszy sklada sie z zasilacza i wlaczonych szeregowo mikroamperomierza oraz rezystora wzorcowego polaczonego równolegle z wielokanalowym mag¬ netofonem pomiarowym i dalej z ploterem, a drugi sklada sie z elektronicznego miernika przesu¬ niec polaczonego z wielokanalowym magnetofonem-pomiarowym i dalej z ploterem, znamienne tym, ze w glowicy penetratora (4) jest osadzone ostrze penetracyjne (5) oraz miernik przesuniec (7). najkorzystniej indukcyjny, z koncówka (6), przy czym ostrze penetracyjne (5) oraz badana próbka (9) posiadajaca warstwe tlenków, podczas pomiaru grubosci tej warstwy, sa wlaczone w obwód pierwszego ukladu elektrycznego, natomiast miernik przesuniec (7) wlaczony jest w obwód dru¬ giego ukladu elektrycznego. *138 259 «\| ^ ^ ^ PL
PL25138484A 1984-12-28 1984-12-28 Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate PL138259B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL25138484A PL138259B2 (en) 1984-12-28 1984-12-28 Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL25138484A PL138259B2 (en) 1984-12-28 1984-12-28 Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL251384A2 PL251384A2 (en) 1985-11-05
PL138259B2 true PL138259B2 (en) 1986-08-30

Family

ID=20024918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL25138484A PL138259B2 (en) 1984-12-28 1984-12-28 Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL138259B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL251384A2 (en) 1985-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5748003A (en) Microwaves used for determining fatigue and surface crack features on metal surfaces
JPH0621783B2 (ja) 機械部品の疲労・余寿命評価法
US4249423A (en) Semi-nondestructive residual stress measurement
PL138259B2 (en) Apparatus for measuring thickness of oxide film on a metallic substrate
DE69108504D1 (de) Dickenmessgerät zum Messen der auf einem Substrat liegenden Schicht.
US3938037A (en) Device for measuring the ferrite content in an austenitic stainless steel weld material
US3439532A (en) Tensile testing machine for metallic test pieces
US6286227B1 (en) Micrometer system and process of use therefor
US4088954A (en) Magnetometer with a miniature transducer and automatic scanning
SE8505813L (sv) Anordning for detektering av slaggnivan i ett metallbad
JPS56130653A (en) Measuring method for position of probe for ultrasonic wave and sheet for position measuring used in this method
Borner et al. A fast response superconducting thin-film probe for detection of second-sound shock waves in superfluid helium
JPH043826B2 (pl)
Wenzler¹ et al. Measurement of film thickness
FR2386044A1 (fr) Procede et installation pour la mesure automatique de parametres electriques et mecaniques de fils conducteurs
JPS54112174A (en) Testing method for semiconductor device
US4266186A (en) Method of testing silicon content in aluminium alloys
SU1583763A1 (ru) Способ определени механических напр жений
Kalyanaraman et al. An Electronic Fabric Stiffness Meter—Performance Evaluation with the Known Instruments
SU82274A1 (ru) Способ определени микротвердости различных материалов и покрытий
Parton et al. A new magnetic flux probe
Kearns et al. Vibration stress measurements in strong centrifugal fields
Prestwood et al. NDT for irradiated reactor fuel pins by eddy currents and gamma scanning
KR840001814B1 (ko) 준비파괴 잔류응력 측정
Fletcher et al. Measurement of Film Thickness