PL136411B1 - Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate - Google Patents

Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate Download PDF

Info

Publication number
PL136411B1
PL136411B1 PL23576182A PL23576182A PL136411B1 PL 136411 B1 PL136411 B1 PL 136411B1 PL 23576182 A PL23576182 A PL 23576182A PL 23576182 A PL23576182 A PL 23576182A PL 136411 B1 PL136411 B1 PL 136411B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measuring
electrodes
head
instrument
plate
Prior art date
Application number
PL23576182A
Other languages
Polish (pl)
Other versions
PL235761A1 (en
Inventor
Jan Groyecki
Ryszard Aleksandrowicz
Wladyslaw Wydra
Original Assignee
Katowice Metalurgiczny Huta
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Katowice Metalurgiczny Huta filed Critical Katowice Metalurgiczny Huta
Priority to PL23576182A priority Critical patent/PL136411B1/en
Publication of PL235761A1 publication Critical patent/PL235761A1/en
Publication of PL136411B1 publication Critical patent/PL136411B1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do kon¬ troli sprawnosci przyrzadu do pomiaru elektroizo¬ lacyjnych wlasnosci powlok wytwarzanych na pod¬ lozu przewodzacym prad elektryczny.Dotychczas najczesciej do wykonywania pomia¬ ru elektroizolacyjnych wlasnosci takich powlok stosowany jest tak zwany aparat Franklina, w którym pomiar polega na okresleniu wielkosci na¬ tezenia pradu plynacego przez badana powloke.Przy idealnej izolacji — wielkosc natezenia pra¬ du wynosi 0,010 A, zas przy calkowitym braku izolacji — 1,00 A. W sklad aparatu Franklina, obok czesci elektronicznej i mechanicznej, wchodzi glowica pomiarowa skladajaca sie z zestawu 10 sztuk elektrod polaczonych z jednym biegunem zródla zasilania oraz z dwóch wiertel osadzonych po obu stronach glowicy i polaczonych z drugim biegunem zródla zasilania. Podczas badania stanu izolacji elektrody przyklada sie do kontrolowanej powloki, zas wiertla przewiercaja powloke i sty¬ kaja sie bezposrednio z metalem przykrytym ba¬ dana powloka. Powierzchnia przewodzenia w cza¬ sie pomiaru powinna byc równa rzeczywistej po¬ wierzchni elektrod. W praktyce mozliwe sa dwa przypadki niesprawnosci aparatu Franklina.Pierwszy wynika z uszkodzenia jednego z ele¬ mentów elektronicznych lub elektrycznych, zas drugi — z róznicy pomiedzy powierzchnia prze¬ wodzenia, a calkowita powierzchnia elektrod.Dotychczas sprawdzanie sprawnosci aparatu 2 Franklina dokonuje sie przy pomocy dwóch kostek miedzianych. Jedna z nich wykonana bez powloki, wykazuje sie dobra przewodnoscia (odczyt 1,00 A), druga kostka — posiada powloke o duzej rezy¬ stancji dla której odczyt wynosi 0,00 A. Powierzch¬ nia kostek na której przeprowadza sie badania ma ksztalt prostokata o wymiarach odpowiadaja¬ cych rozstawowi elektrod i wiertel danej glowicy kontrolowanego urzadzenia. Powyzsze kostki umie¬ szcza sie kolejno pod elektrodami danego aparatu i dokonuje sie pomiaru natezenia przeplywajace¬ go pradu. Badanie przy pomocy wyzej wymienio¬ nych kostek nie uwzglednia kontroli rzeczywistej powierzchni styku elektrod pomiarowych z powlo¬ ka, a takze nie daje informacji o pracy urzadze¬ nia w innych punktach miedzy brzegami zakresu pomiarowego.Urzadzenie wedlug wynalazku, wykorzystujace do odczytu wskazniki pomiarowe kontrolowanego 20 przyrzadu, sklada sie z dwóch testerów posiada¬ jacych wspólna obudowe wykonana z materialu izolacyjnego. Na obudowie tej, w odstepach odpo¬ wiadajacych polozeniu wiertel glowicy badanego przyrzadu, umieszczone sa dwie metalowe plytki 25 doprowadzajace — poprzez wiertla — napiecie z jednego zródla pradu. Pomiedzy wymienionymi wyzej plytkami umieszczona jest monolityczna plyta pomiarowa o powierzchni odpowiadajacej rozstawowi elektrod danej glowicy do badania 30 wlasnosci izolacyjnych powlok. 10 15 136 4113 136 411 4 Monolityczna plyta pomiarowa wykonana jest z materialu o dpbrej przewodnosci elektrycznej i pokryta dodatkowo warstwa metalu szlachetne¬ go. Obok monolitycznej plyty pomiarowej i rów¬ niez pomiedzy plytkami doprowadzajacymi napie¬ cie poprzez wiertla badanego przyrzadu, umiesz¬ czona jest kolejna plyta utworzona poprzez zato¬ pienie w masie izolacyjnej znacznej ilosci kolków stykowych. Przewodnosc plyty kolkowej jest fun¬ kcja liczby kolków stykowych majacych styk elek¬ tryczny z elektrodami glowicy pomiarowej bada¬ nego przyrzadu, doprowadzajacych napiecie — po¬ prze-elektrody tej glowicy — z drugiego bieguna zródla «aasilania. \ , Urzadzenie umozliwia dokladne zlokalizowanie niesprawnosci w obwodzie pradowym zespolu elek¬ trod danego przyrzadu oraz pozwala na okresle¬ nie stopnia zuzycia^powierzehni elektrod glowicy pomiarowej badanego przyrzadu.Urzadzenie wedlug wynalazku pokazane jest w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia urzadzenie w widoku z góry, fig. 2 — przekrój testera wzdluz linii A—A poka¬ zanej na fig. 1, fig. 3 — uklad polaczen miedzy monolityczna plyta pomiarowa a plytkami dopro¬ wadzajacymi napiecie poprzez wiertla badanej glowicy, z zastosowaniem bistafbilnego przelaczni¬ ka, fig. 4 — szczegól B plyty kolkowej testera pokazanej na fig. 1, fig. 5 — przekrój pionowy czesci szczególu B pokazanego na fig. 4, a fig. 6 — przykladowy schemat ideowy polaczen kolków plyty kolkowej.Na obudowie 1 wykonanej z tekstolitu, zamo¬ cowane sa dwie metalowe plytki 2 poprzez które doprowadzone jest napiecie z jednego bieguna zró¬ dla pradu. Miejsce zamocowania i odleglosci po¬ miedzy plytkami 2 uwarunkowane sa rozstawem wiertel glowicy danego przyrzadu poddanego kon¬ troli. Pomiedzy metalowymi plytkami 2 umiesz¬ czone sa dwie plyty pomiarowe 3 i 8 o wymia¬ rach odpowiadajacych powierzchni zajmowanej przez czola elektrod glowicy pomiarowej badanego przyrzadu.Jedna plyta 3 wykonana jest z blachy miedzia¬ nej pokrytej warstwa srebra. Plyta ta 3 ma pola¬ czenie elekttryczne z zespolem rezystorów Ri, Ra, R3 z pirzelaczndkaima Pi, Pt, Pj. Zespól^rezystorów wraz z zespolem przelaczników uimeszczony jest w skrzynce 4 przyft^erdzonej do obudowy 1.Druga, kolkowa plyta 8 przeznaczona do kon¬ troli rzeczywistego styku elektrod z powierzchnia badanej powloki, utworzona jest przez osadzenie w plytce tekstoiiltowej 5 i za/topienie w masie izo¬ lacyjnej 6 dwustu osiemdziesieciu kolków styko¬ wych 7 rozmieszczonych równomiernie na po¬ wierzchni w punktach przeciecia dwóch rodzajów Mmii równoleglych. Powierzchnia kolkowej plyty 8 podzielona jest na osiem pol. Poziomo linia po¬ dzialu przechodzi przez srodek plyty. W górnej i dolnej polowie znajduije sie po siedem rzedów kolków stykowych 7 ponumerowanych cyframi rzymskimi od I do VII. Pionowo, plyta podzielona jest na cztery równe czesci. W kazdej czesci, w kolumnach, kolki- stykowe 7 ponumerowane sa cy- fratrm* od 1 do 5.W rzedach kolki stykowe 7 oznaczone ta sama cyfra arabska, polaczone sa elektrycznie miedzy soba. W kolumnach, polaczenie elektryczne maja kolki stykowe 7, górnego i dolnego pola, ozna¬ czone tym samym symbolem II, 11; E2, 12; ...III, III; ... iitd. Obwody elektryczne uirzajdizeoia wedlug wynalazku dziela sie na dwie gruipy. Jed¬ na grupa zwiazana z monolityczna plytka mie¬ dziana 3, sluzy do kontroli obwodu prajdowego sprawdzanego aparaltu i druga grulpa— z kolkowa plyta 8 sluzy do oceny elektrycznego stanu po¬ wierzchni elektrod glowicy pomiarowej. Miedzy monolityczna plyta 3 a plytki 2 wlaczone sa cztery obwody elektryczne, trzy zawieraja rezystor Ri, R* R3 i jedna sekcje bistalbdilnego przelaiczndka Pi, P2, P3, zas czwarty obwód zawiera monolityczna plyte miedziana 3 z plytkami 2, przy wylaczonych wyzej wymfienionych trzech obwodach. Pomiedzy kolkami stykowymi1 7 plyty kolkowej 8 a plytka¬ mi 2 istnieje dwiescie osiemdziesiat obwodów pra¬ dowych. Obwody te podzielone sa na osiem grup po trzydziesci piec obwodów w grupie. Pomiedzy grupami obwody sa zwarte i polaczone przez trzy¬ dziesci piec rezystorów 9 z plytkami 2.Zastosowanie przedlmiotowego wynalazku prze¬ prowadzono na aparacie Franklina model 7105.Przyrzad ten posiada 10 jednakowych elektrod o lacznej powierzchni 1 cal', a nacisk elektrod na badana powierzchnie wynosi 2,11 MPa, zas napiecie pomiarowe 0J5 V. Pod glowica pomiarowa umiesz¬ czono najpierw tester pokazany na fig. 1 celem dokonania kontroli obwodu pradowego badanego przyrzadu. Nastepnie opuszczono glowice -przyrza¬ du tak, ze wiertla zetknely sie z metalowymi plyt¬ kami 2, a elektrody uzyskaly styk z plyta pomia¬ rowa 3 i wyznaczono wartosc przeplywu pradu, która dla tego przykladu powinna wynosic: dla rx _ iiooo imA^lO, dla Ra — 300 miA±5, dla Ra — 50 mA±& Jezeli wskazania nie odpowiada¬ ja wymienionym wyzej wartosciom, kontrolowany przyrzad zostaje poddany dodatkowym badaniom polegajacym na kontroli indywidualnych elektrod danej glowicy pomiarowej.W opisanym przykladzie uzyskano nastepujace wartosci prajdfu: dla Ri — 995 mA, dla R* — 305 mA i dla Ra — 51 mA. Wartosci te mieszcza sie w zakresie bledu pomiarowego co swiadczy o sprawnosci ukladiu elektrycznego badanego przy¬ rzadu. Po uniesieniu glowicy aparaltu Franklina i odpowiednim pilzeonieszczeniiu urzadzenia, przy¬ stapiono do wyznaczania spadków nalpiec na re¬ zystorze wewnetrznym kazdej elektrody. W oma¬ wianym przykladzie, dla rezystancji- kolków sty¬ kowych 7 wynoszacej 47 Q i napieciu zródla za¬ silania 0,6 V, spadek naipiecia powinien wynosic 258 nW±5. Uzyskanie nizszych wartosci swiadczy o mniejszej powierzchni rzeczywistego styku po¬ wierzchni czola danej elektrody i elektroda taka wymaga przeszlifowania.Zastrzezenie patentowe (Urzadzenie do kontroli1 sprawnosci przyrzadu do .pomiaru elektroizolacyjnych wlasnosci powlok wy¬ twarzanych na podlozu przewodzacym prad elek- 10 15 20 ss 10 35 40 49 30 35 605 136411 6 tryczny, wykorzystujace do odczytu wskazniki po¬ miarowe kontrolowanego' przyrzadu, znamienne tym, ze sklada sie z dwóch testerów posiadaja¬ cych wspólna obudowe (1) wykonana z materialu izolacyjnego, na której w odstepach odipowiada- jaicyioh polozeniu Wiertel glowicy badanego przy¬ rzadu, umieszczone sa dwie metalowe plytki (2) doprowadzajace — poprzez wiierlia — napiecie z jednego bieguna zródla pradu, zas pomiedizy plyt¬ kami (2) umieszczona j'e&t monolityczna plyta po- mliairowa (3) o powierzchni odpowiadajacej roz¬ stawowi, elektrod danej glowicy pomiarowej do 10 badania wlasnosci izolacyjnych powlok,, wykonana z materialu o dobrej parzewodnosci elektrycznej i pokryta dodatkowo warstwa metalu szlachetne¬ go oraz umieszczona obok niej plyta (8) utworzo¬ na poprzez zatopienie w masie izolacyjnej (6) zna¬ cznej ilosci kolków stykowych (7), której prze¬ wodnosc jest funkcja liczby kolków stykowych (7) majacych styk elektryczny z elektrodami glowicy pomiarowej badanego ptrzyrzadu, doprowadzaja¬ cych napiecie poprzez elektrody tej glowicy z dru¬ giego bieguna zródla zasilania.Fig. 1 fig.3 i 2 Fig. Z136 411 /* ! rl! Fvl "i Fic5 H+ + + + ¦©•+ + + + + ++ + Fig. 6 Drukarnia Narodowa, Zaklad Nr 6, 129/86 Cena 100 xl V PLThe subject of the invention is a device for checking the efficiency of an instrument for measuring the electroinsulating properties of coatings produced on an electrically conductive substrate. Until now, the so-called Franklin apparatus is used to measure the electrical insulating properties of such coatings, in which the measurement consists in determining the value of the current flowing through the tested coating. With perfect insulation - the value of the current intensity is 0.010 A, while with no insulation at all - 1.00 A. The Franklin apparatus, apart from the electronic and mechanical parts, includes a measuring head consisting of from a set of 10 electrodes connected to one pole of the power source and two drills mounted on both sides of the head and connected to the other pole of the power source. When testing the insulation condition, the electrodes are applied to the coating to be inspected, and the drills pierce the coating and contact directly the metal covered with the coating being tested. The conductive area during the measurement should be equal to the actual area of the electrodes. In practice, there are two possible cases of failure of the Franklin apparatus: the first is due to the failure of one of the electronic or electrical components, and the second - due to the difference between the conductor surface and the total surface area of the electrodes. copper cubes. One of them, made without coating, shows good conductivity (reading 1.00 A), the other cube - has a coating with high resistance for which the reading is 0.00 A. The surface of the cubes on which the tests are carried out has the shape of a rectangle. with dimensions corresponding to the spacing of the electrodes and the drill of the given head of the controlled device. The above cubes are placed successively under the electrodes of a given apparatus and the intensity of the flowing current is measured. The test with the above-mentioned cubes does not include the control of the actual contact surface of the measuring electrodes with the coating, and also does not provide information about the operation of the device at other points between the edges of the measuring range. The device according to the invention, using the measurement indicators of the controlled 20 The device consists of two testers having a common housing made of insulating material. On this casing, at intervals corresponding to the location of the drill head of the tested device, there are two metal plates 25 supplying the voltage from one source of current through drills. Between the above-mentioned plates there is a monolithic measuring plate with a surface corresponding to the spacing of the electrodes of the given head for testing the insulating properties of the coatings. 10 15 136 4113 136 411 4 The monolithic measuring plate is made of a material with a good electrical conductivity and is additionally coated with a layer of precious metal. Next to the monolithic measuring plate, and also between the plates that lead the voltage through the drills of the device under test, another plate is placed, which is formed by embedding a large number of contact pins in the insulating mass. The conductivity of the colon plate is a function of the number of contact pins having electrical contact with the electrodes of the measuring head of the device under test, applying a voltage - through the electrodes of this head - from the other pole of the power source. The device makes it possible to accurately locate the failure in the current circuit of the electrode assembly of a given device and to determine the degree of wear of the electrode surface of the measuring head of the device under test. The device according to the invention is shown in the example of the embodiment in the drawing, in which Fig. 1 shows the device in plan view, Fig. 2 - cross-section of the tester along the line A-A shown in Fig. 1, Fig. 3 - connection system between the monolithic measuring plate and the tension plates through the drill bits of the tested head, using a bistaphy switch Fig. 4 shows detail B of the pin plate of the tester shown in fig. 1, fig. 5 - vertical section of a part of detail B shown in fig. 4, and fig. 6 - an exemplary schematic diagram of the connections of the pin plate pins. of textolite, two metal plates 2 are mounted through which a voltage is supplied from one pole for a current. The place of attachment and the distances between the plates 2 are determined by the bore spacing of the head of the inspected device. Between the metal plates 2 are placed two measuring plates 3 and 8 with dimensions corresponding to the surface area occupied by the electrode faces of the measuring head of the tested device. One plate 3 is made of copper sheet coated with a silver layer. This board 3 has an electrical connection with a set of resistors Ri, Ra, R3 with a saw blade Pi, Pt, Pj. The set of resistors together with the set of switches is installed in the box 4 attached to the housing 1. The second, pin-shaped plate 8 intended to control the actual contact of the electrodes with the surface of the coating being tested, is formed by embedding in a textililt plate 5 and melting it in of the insulating mass 6 of two hundred and eighty contact pins 7 uniformly distributed over the surface at the points of intersection of two types of parallel Mmi. The surface of the ring plate 8 is divided into eight fields. A horizontal partition line passes through the center of the disc. In the upper and lower half there are seven rows of 7 contact pins, numbered with Roman numerals from I to VII. Vertically, the board is divided into four equal parts. In each section, in columns, the pin-pins 7 are numbered * from 1 to 5. In the rows, the pin-pins 7 marked with the same Arabic numeral are electrically connected to each other. In the columns, the electrical connection is provided by contact pins 7 of the upper and lower field, denoted by the same symbol II, 11; E2, 12; ... III, III; ... etc. According to the invention, the electric circuits of the uirzajdizeoia are divided into two groups. One group, associated with the monolithic copper plate 3, serves to control the current circuit of the apparatus under test, and the other group, with the pin-shaped plate 8, serves to assess the electrical condition of the electrode surfaces of the measuring head. Between the monolithic plate 3 and the plates 2 are connected four electric circuits, three contain the resistor Ri, R * R3 and one section of the bistable converter Pi, P2, P3, and the fourth circuit consists of a monolithic copper plate 3 with plates 2, with the three circuits off above . Two hundred and eighty current circuits exist between the contact pins 1 7 of the pin plate 8 and the plates 2. These circuits are divided into eight groups of thirty-five circuits per group. The circuits between the groups are short-circuited and connected by thirty five resistors 9 to the plates 2. The invention was applied to a Franklin model 7105 apparatus. This apparatus has 10 identical electrodes with a total area of 1 inch, and the pressure of the electrodes on the tested surfaces is 2.11 MPa, and the test voltage is 0.15 V. The tester shown in Fig. 1 was first placed under the measuring head in order to check the current circuit of the tested device. Then the heads of the instrument were lowered so that the drills touched the metal plates 2, and the electrodes were in contact with the measuring plate 3, and the value of the current flow was determined, which for this example should be: for rx , for Ra - 300 miA ± 5, for Ra - 50 mA ± & If the indications do not correspond to the above-mentioned values, the controlled instrument is subjected to additional tests consisting in checking individual electrodes of a given measuring head. In the described example, the following values were obtained: Ri - 995 mA, for R * - 305 mA and for Ra - 51 mA. These values are within the range of the measurement error, which proves the efficiency of the electrical system of the tested instrument. After lifting the head of Franklin's apparatus and moving the device appropriately, it was reduced to the determination of the slopes of the slopes on the internal resistor of each electrode. In the discussed example, for a resistance of the pin 7 of 47 ohms and a supply voltage of 0.6 V, the voltage drop should be 258 nW ± 5. Obtaining lower values indicates a smaller surface area of the actual contact surface of the given electrode, and such an electrode requires grinding. 40 49 30 35 605 136411 6, using the measuring pointers of the controlled device for reading, characterized in that it consists of two testers having a common housing (1) made of insulating material, on which the intervals correspond to the position Drill of the head of the tested instrument, two metal plates (2) are placed which supply - through the bolts - the tension from one pole of the current source, and between the plates (2) there is a monolithic polystyrene plate (3) with a surface corresponding to spacing of the electrodes of a given measuring head for testing the insulating properties of coatings, made of an aluminum with good electrical steadiness and additionally covered with a layer of precious metal and a plate (8) placed next to it, formed by embedding in the insulating mass (6) a significant number of contact pins (7), the conductivity of which is a function of the number of pins contacts (7) having electrical contact with the electrodes of the measuring head of the tested device, supplying voltage through the electrodes of this head from the other pole of the power source. 1 Figs. 3 and 2 Fig. Z136 411 / *! rl! Fvl "and Fic5 H + + + + ¦ © • + + + + + ++ + Fig. 6 National Printing House, Plant No. 6, 129/86 Price 100 xl V PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe (Urzadzenie do kontroli1 sprawnosci przyrzadu do .pomiaru elektroizolacyjnych wlasnosci powlok wy¬ twarzanych na podlozu przewodzacym prad elek- 10 15 20 ss 10 35 40 49 30 35 605 136411 6 tryczny, wykorzystujace do odczytu wskazniki po¬ miarowe kontrolowanego' przyrzadu, znamienne tym, ze sklada sie z dwóch testerów posiadaja¬ cych wspólna obudowe (1) wykonana z materialu izolacyjnego, na której w odstepach odipowiada- jaicyioh polozeniu Wiertel glowicy badanego przy¬ rzadu, umieszczone sa dwie metalowe plytki (2) doprowadzajace — poprzez wiierlia — napiecie z jednego bieguna zródla pradu, zas pomiedizy plyt¬ kami (2) umieszczona j'e&t monolityczna plyta po- mliairowa (3) o powierzchni odpowiadajacej roz¬ stawowi, elektrod danej glowicy pomiarowej do 10 badania wlasnosci izolacyjnych powlok,, wykonana z materialu o dobrej parzewodnosci elektrycznej i pokryta dodatkowo warstwa metalu szlachetne¬ go oraz umieszczona obok niej plyta (8) utworzo¬ na poprzez zatopienie w masie izolacyjnej (6) zna¬ cznej ilosci kolków stykowych (7), której prze¬ wodnosc jest funkcja liczby kolków stykowych (7) majacych styk elektryczny z elektrodami glowicy pomiarowej badanego ptrzyrzadu, doprowadzaja¬ cych napiecie poprzez elektrody tej glowicy z dru¬ giego bieguna zródla zasilania. Fig. 1 fig.3 i 2 Fig. Z136 411 /* ! rl! Fvl "i Fic5 H+ + + + ¦©•+ + + + + ++ + Fig. 6 Drukarnia Narodowa, Zaklad Nr 6, 129/86 Cena 100 xl V PL1. Patent claim (A device for checking the efficiency of an instrument for measuring the electro-insulating properties of coatings produced on an electrically conductive substrate 10 35 40 49 30 35 605 136411 6 using the measurement indicators of the controlled instrument for reading , characterized by the fact that it consists of two testers having a common casing (1) made of insulating material, on which, at intervals corresponding to the drill head position of the tested instrument, two metal plates (2) leading through the drill - voltage from one pole of the current source, and between the plates (2) there is a monolithic polystyrene plate (3) with an area corresponding to the spacing of the electrodes of the given measuring head for testing the insulating properties of the coatings, made of material with good electrical vapor resistance and additionally coated with a layer of precious metal and a plate (8) placed next to it, formed by in the insulating mass (6) of a significant number of contact pins (7), the conductivity of which is a function of the number of contact pins (7) having electrical contact with the electrodes of the measuring head of the tested device, supplying voltage through the electrodes of this head with a wire the first pole of the power source. Fig. 1 Fig. 3 and Fig. Z136 411 / *! rl! Fvl "and Fic5 H + + + + ¦ © • + + + + + ++ + Fig. 6 National Printing House, Plant No. 6, 129/86 Price 100 xl V PL
PL23576182A 1982-03-31 1982-03-31 Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate PL136411B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23576182A PL136411B1 (en) 1982-03-31 1982-03-31 Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23576182A PL136411B1 (en) 1982-03-31 1982-03-31 Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL235761A1 PL235761A1 (en) 1983-10-10
PL136411B1 true PL136411B1 (en) 1986-02-28

Family

ID=20012036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL23576182A PL136411B1 (en) 1982-03-31 1982-03-31 Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL136411B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
PL235761A1 (en) 1983-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4056773A (en) Printed circuit board open circuit tester
JP3228982B2 (en) In-circuit test equipment
US3217244A (en) Multiple conductor cable tester having rotatable annular switch means for testing insulation resistance, cross wiring and continuity
US3777260A (en) Grid for making electrical contact
KR19980702943A (en) Manufacturing defect analyzer with improved detection range
US6452410B1 (en) Apparatus and method for electrolytic bare board testing
JP4987862B2 (en) Method for inspecting a large non-component printed circuit board using a finger tester
US4777432A (en) Device for electrically checking printed circuit boards
ES8704019A1 (en) Method for detecting and obtaining information about changes in variables.
JP2006126197A (en) General-purpose testing tool
FR2417779A1 (en) ELECTRICAL WIRING PLATE ANALYSIS DEVICE INTENDED TO IDENTIFY A FAULTY INTEGRATED CIRCUIT
PL136411B1 (en) Apparatus for checking performance of an instrument used for measuring electroinsulating properties of coatings produced on an electric current conducting substrate
CN106771980A (en) A kind of flexible circuit board detecting device and detection method
US4904067A (en) Selection device
JPH11101841A (en) Conductive paste through hole type double-sided printed wiring board and its electric characteristics inspection equipment
US5198778A (en) Method for inspecting printed circuit boards with through-holes
US3102979A (en) Apparatus for measuring corrosion having probe with cathodically-protected, temperature compensating element
US4662975A (en) Apparatus for determining the etch rate of nonconductive materials
JPH034179A (en) Electric testing method by contact probe
US3197388A (en) Method and apparatus for estimating corrosion rate
Hines Measurement of land to plated-through-hole interface resistance in multilayer boards
GB2252832A (en) Testing insulation resistance of materials
RU2101814C1 (en) Method and device for testing composite brushes
JP2005049314A (en) Probing test method and probe condition detector
CN101285863A (en) Circuit board measurement method and device