PL129535B1 - Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures - Google Patents

Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures Download PDF

Info

Publication number
PL129535B1
PL129535B1 PL22743280A PL22743280A PL129535B1 PL 129535 B1 PL129535 B1 PL 129535B1 PL 22743280 A PL22743280 A PL 22743280A PL 22743280 A PL22743280 A PL 22743280A PL 129535 B1 PL129535 B1 PL 129535B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
input
output
amplifier
measuring
controller
Prior art date
Application number
PL22743280A
Other languages
English (en)
Other versions
PL227432A1 (pl
Inventor
Piotr Machalica
Stanislaw Porebski
Stanislaw Oleszkiewicz
Radoslaw Molenda
Wlodzimierz Mocny
Original Assignee
Przemyslowy Inst Elektroniki
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Przemyslowy Inst Elektroniki filed Critical Przemyslowy Inst Elektroniki
Priority to PL22743280A priority Critical patent/PL129535B1/pl
Publication of PL227432A1 publication Critical patent/PL227432A1/xx
Publication of PL129535B1 publication Critical patent/PL129535B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad z automaty¬ cznym wzorcowaniem do pomiaru charakterystyk pojemnosciowo-napieciowych struktur pólprzewod¬ nikowych. Wynalazek ma zastosowanie w urza¬ dzeniach pomiarowych do pomiaru pojemnosci, zwlaszcza nieliniowej, zwlaszcza do pracy w wa¬ runkach przemyslowych.Stan techniki. Znany i stosowany jest uklad „C-V Plotting system" firmy Princeton Applied Research. Uklad zawiera generator sinusoidalny 1 MHz o niskiej impedancji wyjsciowej, generator funkcyjny jako zródlo polaryzacji, wzmacniacz selektywny 1 MHz, przesuwnik fazy, detektor fa- zoczuly oraz wzmacniacz pradu stalego z wyjsciem na rejestrator X—Y. Na jeden z kontaktów pomia¬ rowych badanej struktury podawany jest sygnal 1 MHz o malej zawartosci harmonicznych i malej amplitudzie oraz napiecie polaryzacji z generatora funkcyjnego. Drugi kontakt badanej struktury jest polaczony z selektywnym w?;macniaczem pomiaro¬ wym.Detekcja sygnalu wielkiej czestotliwosci propor¬ cjonalnego do wartosci pojemnosci badanej stru¬ ktury odbywa sie w detektorze fazoczulym. Na re¬ jestrator X—Y jest podane ze wzmacniacza pradu stalego napiecie stale proporcjonalne do pojemno¬ sci badanej struktury (os Y) oraz z generatora funkcyjnego napiecia polaryzacji (os X). Wzorco¬ wanie toru pomiarowego odbywa sie recznie za 15 20 25 30 pomoca wzorca pojemnosci umieszczonego na zew¬ natrz i polaczonego z torem pomiarowym.Podobny, co do konstrukcji uklad, w którym wzorcowanie toru pomiarowego przeprowadza sie poprzez potencjometryczna zmiane parametrów wzmacniacza pomiarowego po wlaczeniu kondensa¬ tora wzorcowego i w którym amplituda generatora pomiarowego jest ustawiona potcncjometrycznie jest opisany w artykule J. T. Lue w-.JEEE Jour¬ nal of Solid — State Circuits vol. SC 13 nr 4 1978 rok.W znanych ukladach zachodzi koniecznosc okre¬ sowego wzorcowania calego toru pomiarowego.Czestosc wzorcowania zalezy od zalozonej klasy dokladnosci urzadzenia oraz od wymagan na sta¬ bilnosc paramterów w funkcji zmian termicznych i czasowych. Dla uzyskania wysokiej stabilnosci parametrów toru pomiarowego, szczególnie w wa¬ runkach przemyslowych czyli przy pracy ciaglej w niestabilnych warunkach termicznych, wymaga- , ne jest badz czeste wzorcowanie urzadzenia przez obsluge badz kosztowna rozbudowa systemu z uzy¬ ciem precyzyjnych podzespolów biernych i czyn¬ nych.Istota wynalazku. Istota ukladu wedlug wynala¬ zku, zawierajacego programowany generator wiel¬ kiej czestotliwosci, zasilacz funkcyjny, wzmacniacz pomiarowy oraz komparator sledzacy ze zródlem od¬ niesienia, polega na tym, ze pierwszy kontakt pomia¬ rowy badanej struktury dolaczony jest równocze- 129 535129 535 snie do wejscia^wzmacniacza pomiarowego i jednej okladki kondensatora wzorcowego. Druga okladka kondensatora wzorcowego jest polaczona poprzez pierwszy klucz z wezlem sumacyjnym, do którego przez drugi klucz dolaczony jest drugi kontakt ba¬ danej 'struktury. Obydwa klucze sterowane sa z kontrolera, którego cyfrowe wyjscie danych jest polaczone z wejsciem przetwornika cyfrowo-ana- logowego. Wyjscie przetwornika cyfrowo-analogo- wego jest poprzez wzmacniacz sumujacy polaczone z wejsciem programujacym generatora wielkiej czestotliwosci. Do wejscia zegarowego kontrolera jest poprzez element pamietajacy dolaczony zegar ukladu, do wejscia blokujacego tego kontrolera dolaczone jest wyjscie komparatora sledzacego.Pierwsze wejscie komparatora sledzacego dolaczo¬ ne jest do wyjscia wzmacniacza pomiarowego, a drugie wejscie tego komparatora jest dolaczone do zródla napiecia odniesienia.Korzystne jest gdy do pierwszego wejscia ^wzma¬ cniacza sumujacego jest dolaczone wyjscie przet¬ wornika cyfrowo-analogowego, a do drugiego wej¬ scia tego wzmacniacza jest dolaczone zródlo na¬ piecia stalego. Korzystne jest równiez dolaczenie wyjscia informujacego o stanie pracy zasilacza funkcyjnego do wejscia uaktywniajacego element pamietajacy.Uklad wedlug wynalazku dokonuje automatycz¬ nego wzorcowania calego toru pomiarowego z do¬ wolnie wybrana czestoscia. W celu skorygo¬ wania wszelkich bledów w torze pomiarowym spo¬ wodowanych zmiennymi warunkami termicznymi, dlugotrwala praca badz dryftami wzmacniaczy operacyjnych w czasie wzorcowania, zmieniana jest w niewielkich granicach amplituda generatora wielkiej czestotliwosci.Przyklad wykonania. Przyklad wykonania ukla¬ du wedlug wynalazku przedstawiony jest na ry¬ sunku w postaci schematu blokowego. Pierwszy kontakt pomiarowy badanej struktury 5 dolaczony jest równoczesnie do wejscia wzmacniacza pomia¬ rowego 7 i jednej okladki kondensatora wzorcowe¬ go 6. Druga okladka kondensatora wzorcowego jest polaczona poprzez pierwszy klucz 4 z wezlem sumujacym 2, do którego pfzez drugi klucz 3 do¬ laczony jest drugi kontakt pomiarowy badanej struktury 5.Obydwa klucze 3 i 4 sterowane sa z kontro¬ lera 10, którego cyfrowe wyjscie danych jest po¬ laczone z wejsciem przetwornika cyfrowo-analo¬ gowego 14. Wyjscie przetwornika cyfrowo-analo- gowego 14 jest dolaczone poprzez wzmacniacz su¬ mujacy 15 do wejscia programujacego generato¬ ra 1. Do wejscia zegarowego kontrolera 10 jest po¬ przez element pamietajacy 11 dolaczony zegar u- kladu 12, a do wejscia blokujacego kontrolera 10 dolaczone jest wyjscie komparatora sledzacego 8.Pierwsze wejscie tego komparatora 8 jest dola¬ czone do wyjscia wzmacniacza pomiarowego 7, zas drugie wejscie komparatora sledzacego 8 jest do¬ laczone do zródla napiecia odniesienia 9. Do pier¬ wszego wejscia wzmacniacza sumujacego 15 jest dolaczone wyjscie przetwornika cyfrowo-analogo- wego 14, a do drugiego wejscie tego wzmacniacza 10 15 20 25 30 40 45 50 55 jest dolaczone zródlo napiecia stalego 16. Do wej¬ scia uaktywniajacego element pamietajacy 11 jest dolaczone wyjscie informujace o stanie pracy za¬ silacza funkcyjnego. Dzialanie ukladu.Zegar ukladu 12 z dowolnie wybrana czestoscia uruchamia poprzez element pamietajacy 11 kon¬ troler 10, który otwiera drugi klucz 3 a zamyka pierwszy klucz 4. Na wyjsciu kontrolera 10 poja¬ wia sie sekwencja cyfrowa, która poprzez przet¬ wornik cyfrowo-analogowy 14 oraz wzmacniacz sumujacy 15 zmienia w niewielkich granicach amplitude wyjsciowa generatora 1. W mo¬ mencie gdy napijcie na wyjsciu wzmacnia¬ cza pomiarowego 7 zrówna sie z napieciem zródla odniesienia 9 komparator^sledzacy 8 podaje sygnal „stop" do kontrolera 10, który pamieta ostatnia sekwencje cyfrowa na wejsciu do nastepnego cy¬ klu wzorcowania oraz otwiera drugi klucz 3.W czasie rejestracji charakterystyk pojemnoscio- wo-napieciowych uklad wzorcowania jest zabloko¬ wany. Informacje o wzorcowaniu przechowuje" uklad pamietajacy 11. Wzorcowanie nastepuje za¬ raz po skonczonej rejestracji przebiegu pojemno- sciowo-napieciowego.Zastrzezenia patentowe 1. Uklad z automatycznym wzorcowaniem do po¬ miaru charakterystyk pojemnosciowo-napieciowych struktur pólprzewodnikowych, zawierajacy progra¬ mowany generator wielkiej czestotliwosci, zasilacz funkcyjny, wzmacniacz pomiarowy oraz kompara¬ tor sledzacy ze zródlem odniesienia, znamienny tym, ze pierwszy kontakt pomiarowy badanej stru¬ ktury (5) dolaczony jest równoczesnie do wejscia wzmacniacza pomiarowego (7) i jednej okladki kondensatora wzorcowego' <6), a druga okladka tego kondensatora jest polaczona poprzez klucz (4) z wezlem sumacyjnym (2), do którego poprzez klucz (3) dolaczony jest drugi kontakt badanej struktu¬ ry (5), zas obydwa klucze (3 i 4) sterowane sa z kontrolera (10), którego wyjscie cyfrowe danych jest polaczone z wejsciem przetwornika cyfrowo- analogowego (14), którego wyjscie jest dolaczone poprzez wzmacniacz sumujacy (15) do wejscia pro¬ gramujacego generatora (1), przy czym do wejscia ze¬ garowego kontrolera (10) jest poprzez element pamie¬ tajacy (11) dolaczony zegar ukladu (12), zas do wejscia blokujacego kontrolera (10) dolaczone jest wyj¬ scie komparatora sledzacego (8), którego pierwsze wejscie jest dolaczone do wyjscia wzmacniacza pomiarowego <7), a drugie wejscie tego kompara¬ tora jest dolaczone do zródla napiecia odniesie¬ nia (9). 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze do pierwszego wejscia wzmacniacza sumujace¬ go (15) jest dolaczone wyjscie przetwornika cyfro¬ wo analogowego (14), a do drugiego wejscia tego wzmacniacza jest dolaczone zródlo napiecia sta¬ lego (16). 3. Uklad wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze do wejscia uaktywniajacego element pamietajacy (11) jest dolaczone wyjscie informujace o stanie pracy zasilacza funkcyjnego (13).129 535 stoc.L . A ¥ PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad z automatycznym wzorcowaniem do po¬ miaru charakterystyk pojemnosciowo-napieciowych struktur pólprzewodnikowych, zawierajacy progra¬ mowany generator wielkiej czestotliwosci, zasilacz funkcyjny, wzmacniacz pomiarowy oraz kompara¬ tor sledzacy ze zródlem odniesienia, znamienny tym, ze pierwszy kontakt pomiarowy badanej stru¬ ktury (5) dolaczony jest równoczesnie do wejscia wzmacniacza pomiarowego (7) i jednej okladki kondensatora wzorcowego' <6), a druga okladka tego kondensatora jest polaczona poprzez klucz (4) z wezlem sumacyjnym (2), do którego poprzez klucz (3) dolaczony jest drugi kontakt badanej struktu¬ ry (5), zas obydwa klucze (3 i 4) sterowane sa z kontrolera (10), którego wyjscie cyfrowe danych jest polaczone z wejsciem przetwornika cyfrowo- analogowego (14), którego wyjscie jest dolaczone poprzez wzmacniacz sumujacy (15) do wejscia pro¬ gramujacego generatora (1), przy czym do wejscia ze¬ garowego kontrolera (10) jest poprzez element pamie¬ tajacy (11) dolaczony zegar ukladu (12), zas do wejscia blokujacego kontrolera (10) dolaczone jest wyj¬ scie komparatora sledzacego (8), którego pierwsze wejscie jest dolaczone do wyjscia wzmacniacza pomiarowego <7), a drugie wejscie tego kompara¬ tora jest dolaczone do zródla napiecia odniesie¬ nia (9).
  2. 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze do pierwszego wejscia wzmacniacza sumujace¬ go (15) jest dolaczone wyjscie przetwornika cyfro¬ wo analogowego (14), a do drugiego wejscia tego wzmacniacza jest dolaczone zródlo napiecia sta¬ lego (16).
  3. 3. Uklad wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze do wejscia uaktywniajacego element pamietajacy (11) jest dolaczone wyjscie informujace o stanie pracy zasilacza funkcyjnego (13).129 535 stoc. L . A ¥ PL
PL22743280A 1980-10-21 1980-10-21 Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures PL129535B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL22743280A PL129535B1 (en) 1980-10-21 1980-10-21 Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL22743280A PL129535B1 (en) 1980-10-21 1980-10-21 Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL227432A1 PL227432A1 (pl) 1982-04-26
PL129535B1 true PL129535B1 (en) 1984-05-31

Family

ID=20005571

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL22743280A PL129535B1 (en) 1980-10-21 1980-10-21 Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL129535B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL227432A1 (pl) 1982-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4041382A (en) Calibrating a measurement system including bridge circuit
Lo et al. Switch-controllable OTRA-based square/triangular waveform generator
CN102203624B (zh) 电流传感器电容测量电路
JPH0772205A (ja) 半導体試験システム用電力供給装置
Huijsing et al. Two-wire bridge-to-frequency converter
US20230370033A1 (en) Noise detecting circuit and associated system and method
PL129535B1 (en) Network with automatic calibration for measurement of capacity-voltage characteristics of semiconductor structures
Clark et al. Application of single electron tunneling: Precision capacitance ratio measurements
KR100272951B1 (ko) 전압인가회로
EP0659310B1 (en) Integrated mosfet resistance and oscillator frequency control, trim methods and apparatus
Funke et al. A 200 μm by 100 μm smart dust system with an average current consumption of 1.3 nA
RU2099722C1 (ru) Измеритель малых сопротивлений
SU1026095A1 (ru) Измеритель электрофизических параметров МДП-структур
SU773540A1 (ru) Устройство дл контрол селективных усилителей, перестраиваемых по частоте
KR102334597B1 (ko) 임피던스 모니터링 장치 및 이의 동작 방법
SU1196785A1 (ru) Устройство дл автоматического контрол селективных усилителей
Huijsing et al. Two-wire ratio-frequency converter
JP2022096640A (ja) 応力センサ及びその操作方法
SU1585766A1 (ru) Измерительный преобразователь среднеквадратичных значений напр жений
RU1789054C (ru) Устройство стабилизации выходной мощности генератора качающейс частоты
JPS57204468A (en) Noise figure measuring method
Colbeck A CMOS low-distortion switched capacitor oscillator with instantaneous start-up
SU1295346A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента гармоник усилителей мощности
Freire et al. A pn junction temperature sensor with switched current excitation
SU1684728A1 (ru) Устройство дл измерени емкости полупроводниковых структур