Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru re¬ zystancji termicznej przyrzadu pólprzewodnikowe¬ go na podstawie pomiaru temperatury zlacza.Znane sa sposoby pomiairu rezystancji termicz¬ nej przyrzadu pólprzewoidnikowego polegajace na tym, ze po ogrzaniu zlacza stalym pradem grzej¬ nym, przy stalym napieciu na zaciskach badanego przyrzadu pólprzewodnikowego zastepuje sie ten staly prad grzejny pradem pomiarowym o war¬ tosci znacznie mniejszej niz wartosc pradu grzej¬ nego. Nastepnie mierzy sie spadek napiecia na zaciiskach badanego przyrzadu pólprzewodnikowe¬ go, spowodowany przeplywem pradu pomiarowego.Temperature zlacza wyznacza sie z oidipowiedhich wykresów zmian temperatury danego zlacza w za¬ leznosci od napiecia na zaciskach badanego przy¬ rzadu pólprzewodnikowego. Znajac moc grzejna Ph = In X Uh oraz przyrost temperatury zlacza AT w odniesieniu do temperatury otoczenia okre¬ sla sie rezystancje termiczna RT tego przyrzadu ze wzoru AT Rt — ¦ Znane sposoby pomiaru rezystancji przyrzadów pólprzewodnikowych sa obarczone znacznymi ble¬ dami pomiarowymi'.Blad pomiaru jest tym wiekszy im wiekszy jest 10 15 20 czas zycia nosników w obszarze zlacza i im mniej¬ sza jest tenmiozna stala czasu zlacza. Blad ten powoduje, ze mierzona wartosc temperatury zla¬ cza jest mniejsza niz wartosc rzeczywista, a takze moze prowadzic do wyników pomiarów wskazu¬ jacych na pozorne wzrastanie telmjperatjury zlacza po wylaczeniu pradu grzejnego. Jak wskazuja nie¬ którzy autorzy wartosci temjperatury zlacza mie¬ rzone znanymi sposobami moga byc nawet kil¬ kakrotnie nizsze niz wartosci rzeczywiste.Istota wynalazku polega na tym, ze po ogrza¬ niu zlacza przyrzadu pólprzewodnikowego pradem grzejnym przyklada sie do zacisków przyrzadu póljprzewodnikowego imjpufls wyciagajacy nosniki o polaryzacja przeciwnej niz prad grzejny. Czas trwa¬ nia tego impulsu dobiera sie tak, aby byl wiekszy niiz czas, w kltóryim prad wyciagajacy nosniki ma wartosc stala, oraz alby byl mniejszy ndz czas, w którym prad wyciagajacy nosniki przyjmiiije wlar- tosc zero. W czasie trwania imipudsu wyciagajacego moc doprowadzana do zlacza przyrzadu póAprze- wodmiikowego powinna byc równa mocy wydzie¬ lanej podczas przeplywu praidlu jgrzejinego. Po za¬ konczeniu impulsu wyciagajacego do zacisków przy¬ rzadu pól|przewodnckowego doprowadza sie prad pomiarowy i mierzy sie s(padek napiecia na tych zaciskach. Rezystancje termiczna wylicza sie ze At wzoru RT — — , gdzie Ph jest moca grzejna 122 4593 122 459 4 wytwarzana przez prad grzejny, T — przyrost temjperatury zlacza w odniesieniu do temperatury otoazenia. Temperature zlacza wyznacza sie z od- 'póm&dxódl^wytex£$bw zmian temperatury danego jzA(*z5* 4fci zaleznosci od napiecia na odpowiednich 2zaciskach przyrizadiu pólprzewodnikowego. t Ooiproswgidzenie jmpullisu wyciagajacego nosnijki I sfl^ ^wSEfcsKenie-dóddaonosci pomiaru, przez eliminacje lufo zmniejsizenie ladunku wprowadzanego do ob¬ szaru zlacza przez prad grzejny. Zwiekszenie do- klaidnosci pomiaru je&t szczególnie znaczne w przy¬ padku badanych prizyrizadów pólprzewodnikowych o duzych czaisacih zycia nosników. iPrzedmioit wynalazku jest blizej objasniony przykladowo na podstawie rysunku, na którym fig. 1 przedstawia uklad blokowy umozliwiajacy pomiar rezystancji termicznej diody pólprzewodni¬ kowej sposobem wedlug wynalazku, a fig. 2 —prze¬ biegi czasowe napiec zródel zasilajacych Uz, prze¬ biegi czasowe pradów plynacych pnzez badana dio¬ de Id oraz przebiegi czasowe napiec na zaciskach badanej diody Ud, w trakcie pomiaru sposobem wedlug wynalazku.Uklad pomiarowy zawiera zródlo napiecia grza¬ nia Uau, zródlo napiecia wyciagajacego Uzr, oraiz zródlo napiecia pomiarowego Uzm. Zródla te pod¬ laczone sa do badanej diody pólprzewodnikowej D oraz do Ukladu sterujacego wlaczaniem zródel. Do badanej diody D podlaczony jest równiez miernik napiecia) i pradu U/T. iW czasie Th grzania zlacza do badanej diody pólponzeiwodndkowej D podlaczone jelst zródlo sta- lego napiecia grzania U^. Napiecie to powoduje pnzeiplylw przez zlacze pólprzewodnikowe tej diody pradu grizeonego lh przy napieciu grzejnym Uh na zaciskach badanej diody D. Moc wydzielana w diodzie w tym czasie wynosi: Ph=UhXlh (Po wlaczeniu napiecia grzania U^ przykladamy jest do diody ujemny impuOls Uzr wyciagajacy nos¬ niki z obszarfu zlacza. W czasie trwania imiptuilBu wyciagajacego Tr przez diode przeplywa prad wy¬ ciagajacy Ir przy napieciu, na jej zaciskach Ur.W czasie trwania jmpaAsu wyciagajacego Tr moc wydzielana w diodzie wynosi: Pr = Ir*Rr gdzie Rf jeat rezystancja badanej diody w prze¬ dziale czasowym Trl (Prad wyciagajacy Ir w czaisie T, jest staly, a nastepnie jego wartosc maleje do zera. Wartosc napiecia impulsu wyciagajacego U„ jest tak do¬ brana, ze prad wyciagajacy Ir w czasie Tg jest równy pradowa grzejnemu In dLody. Wtedy to moc grzania oraz moc wydzielana podczas trwa¬ nia impulsu wyciagajacego sa sobie równe w cza¬ sie Ts, gidy wartosc prajdu wyciagajacego Ir jest stala. Czas- trwania danpufljsu wyciagajacego Tr jest wiekszy niz czas Ts,,w którym prad wyciagajacy 5 Ir ma wartosc stala, ale tez jest mniejszy niz ozais, po którym ten prad zanika do zera, a wiec wszystkie nosniki zostaja wyciagniete z obszaru zlajciza. Czas- ten zwykle wynosi kilka wartosci cza¬ su1 zycia nosników. Po uplywie tak dobranego cza- 10 su trwania impulisu wyciagajacego Tr wlacza sie na czas Tm zródlo stalego napdecia pomiarowego Uzm o wartosci znacznie mniejszej niz napiecie gnzejne Uzh. To napiecie pomiarowe Uzm powo¬ duje przeplyw przez diode D pradu pomiarowego 15 Im i powstanie na jej zaciskach spadku napiecia Um. TemperaJbure zlacza odczytuje sie z odpowied¬ nich wykresów temperatury danego zlacza od na¬ piecia na zaciskach diody. Rezystancje termiczna badanej diody RT okresla sie jako: AT Ph gdzie: AT — przyrost temperatury zlacza w od¬ niesieniu do temperatury otoczenia, a Ph — moc grzejna diody.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru rezystancji termicznej przy¬ rzadu pólprzewodnikowego, w którym po ogrza¬ niu zlacza tego przyrzadu stalym pradem grzej¬ nym, zastepuje sie prad grzejny pradem pomia¬ rowym o znacznie mniejszej wartosci i mierzy sie spadek napiecia na zaciskach tego przyrzadu, a wartosc rezystancji termicznej wylicza sie ze znanych wzorów, znamienny tym, ze bezposred¬ nio po wylaczeniu pradu grzejnego (Ih), a przed doprowadzeniem pradu pomiarowego (Im) przy¬ klada sie do zacisków przyrzadu pólprzewodniko¬ wego impuls wyciagajacy nosniki (Uzr) o polary¬ zacji przeciwnej niz napiecie grzania (Uzm), przy czym czas trwania tego impulsu wyciagajacego korzystnie dobiera sie tak, aby byl wiekszy niz czas, w którym prad wyciagajacy nosniki (Ir) ma wartosc stala, oraz byl mniejszy niz czas, w któ¬ rym prad wyciagajacy nosniki (Ir) przyjmuje war¬ tosc zero. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze w czasie trwania impulsu wyciagajacego (U^) do¬ prowadza sie do zlacza przyrzadu pólprzewodni¬ kowego (D) moc, która w czasie (Ty, gdy prad wyciagajacy (Ir) ma wartosc stala jest równa mo¬ cy wydzielanej podczas przeplywu pradu grzej¬ nego (Ih). 25 30 35 40 45 50122 459 us 1 1 1_ 1 Uzh Uzr Uzm - D U/J i FIG.1 z ' Uzh ' Uzr Uzm i I i i 1 Uzh ^ t FIG. 2 PL