PL120607B2 - Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh - Google Patents
Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh Download PDFInfo
- Publication number
- PL120607B2 PL120607B2 PL1979215359A PL21535979A PL120607B2 PL 120607 B2 PL120607 B2 PL 120607B2 PL 1979215359 A PL1979215359 A PL 1979215359A PL 21535979 A PL21535979 A PL 21535979A PL 120607 B2 PL120607 B2 PL 120607B2
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- thin dielectric
- insulating
- layer
- substratesa
- podlozhkakh
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 11
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 11
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000006056 electrooxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyj¬ nych, znajdujacych zastosowanie w wytwarzaniu cienkowarstwowych kondensatorów do mikroelektronicznych obwodów hybrydowych oraz linii typu RC o stalych rozlozonych.Znane sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych polegaja na anodowym utlenianiu cienkiej folii aluminiowej lub warstwy aluminium uprzednio naniesionej na podloze izolacyjne. Podczas elektrochemicz¬ nego utleniania cienkich warstw aluminium powstaja duze naprezenia w tlenku, powodujace zrywanie sie warstw z podloza, wskutek czego maksymalna grubosc tlenku jest ograniczona do 100 nm. Próby poprawy przyczepno¬ sci warstw przez zwiekszenie szybkosci nanoszenia i podniesienie temperatury podlozy, wywoluja natomiast niekorzystny efekt zwiekszania sie tekstury krystalicznej warstw aluminium. Prowadzi to do powstawania w ano¬ dowym tlenku wielu punktów nieodpornych na przebicie elektryczne.Z powyzszych wzgledów znane sposoby otrzymywania warstw dielektrycznych na bazie cienkich warstw aluminium nie znajduja zastosowania na skale przemyslowa.Znane sa takze sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych przez anodowe utlenianie uprzednio naniesionej na podloze warstwy tantalu. Dielektryk uzyskany tym sposobem charakteryzuje sie jednak gorszymi od warstwy tlenku aluminium parametrami elektrycznymi, zwlaszcza wieksza stratnoscia dielektryczna.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyj¬ nych polegajacy na prózniowym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu.Istota wnalazku polega na tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawar¬ tosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500—1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V.Podczas badan okazalo sie, ze jezeli dielektryczne podloze pokryje sie prózniowo warstwa stopu tytanu w aluminium o malej zawartosci tytanu, to uzyskuje sie dobra przyczepnosc warstwy do podloza umozliwiajaca wykonywanie grubej warstwy dielektrycznej do 500 nm, na której naniesione warstwy metaliczne moga byc2 120 607 cynowane bez obawy oderwania struktury dielektrycznej od podloza. Wprowadzenie tytanu jako domieszki do czystego aluminium nie powoduje niekorzystnych zmian w trakcie utleniania anodowego. Parametry dielektrycz¬ ne uzyskiwanych warstw tlenku sa porównywalne z parametrami tlenku czystego aluminium.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladowym wykonaniu, dotyczacym wytwarzania cienko¬ warstwowych kondensatorów na podlozu ze szkla amorficznego lub grubokrystalicznego. Podloze to pokrywa sie stopem tytan-aluminium z mieszaniny o proporcji wagowej 5% tytanu w aluminium, przez odparowanie w prózni lepszej niz 10"5 Tr, z szybkoscia wieksza niz lOnm/s. Temperature podloza podczas nanoszenia war¬ stwy utrzymuje sie na stalym poziomie 423°K. Po wytworzeniu warstwy o grubosci 600 nm poddaje sie ja anodowemu utlenianiu, az do otrzymania warstwy tlenku o grubosci 300 nm. Utlenianie wykonuje sie w 17% roztworze piecioboranu amonu w glikolu etylenowym, przy nastepujacych parametrach procesu: — temperatura 300°K, gestosc pradu 0,5 mA/cm2, czas 14 minut, po czym stosuje sie anodyzacje stalonapieciowa przez czas 40 minut, przy napieciu 320 V. Na warstwe kontaktowa do kondensatorów stosuje sie chromonikiel-nikiel, która nanosi sie metoda naparowywania w tych samych warunkach prózniowych, przy temperaturze podloza 393°K.Wytworzone w ten sposób struktury pojemnosciowe charakteryzuja sie nastepujacymi parametrami elek¬ trycznymi: Napiecieprzebicia - Up « 100 V Tangenskatastrat — tg 5 < 65 • 10"4 Temperaturowywspólczynnik pojemnosci — TWC < + 500 • 10"6 [°/K Wzgledna stala dielektryczna - Er < 9 Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na próznio¬ wym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu, znamienny tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawartosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500-1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V.Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na próznio¬ wym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu, znamienny tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawartosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500-1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V. Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz. Cena 100 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL1979215359A PL120607B2 (en) | 1979-05-04 | 1979-05-04 | Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL1979215359A PL120607B2 (en) | 1979-05-04 | 1979-05-04 | Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL215359A2 PL215359A2 (pl) | 1980-04-21 |
| PL120607B2 true PL120607B2 (en) | 1982-03-31 |
Family
ID=19996081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL1979215359A PL120607B2 (en) | 1979-05-04 | 1979-05-04 | Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL120607B2 (pl) |
-
1979
- 1979-05-04 PL PL1979215359A patent/PL120607B2/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL215359A2 (pl) | 1980-04-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4936957A (en) | Thin film oxide dielectric structure and method | |
| US6433379B1 (en) | Tantalum anodization for in-laid copper metallization capacitor | |
| CA1156598A (en) | Treating etched aluminum electrolytic capacitor foil | |
| US1330581A (en) | Preparation of plates for electrolytic cells | |
| US3085052A (en) | Method for making film capacitors | |
| PL120607B2 (en) | Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh | |
| EP2202766A1 (en) | Capacitor production method, capacitor, circuit board, electronic device, and ic card | |
| US2719097A (en) | Method for the production of thin continuous surface layers of precious metals | |
| JPS59167009A (ja) | 電解コンデンサ用電極材料の製造方法 | |
| US2554237A (en) | Rectifier | |
| EP0501047A1 (en) | Method for manufacturing aluminum foils used as electrolytic capacitor electrodes | |
| US3335073A (en) | Method of making anodized tantalum foil | |
| JP2847087B2 (ja) | 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法 | |
| JPS5935169B2 (ja) | コンデンサ | |
| US3553087A (en) | Method of manufacturing solid electrolytic capacitors | |
| JPH0864481A (ja) | 電解コンデンサ用電極箔およびその製造方法 | |
| Rao et al. | Improved thin film Al2O3 capacitors | |
| KR920010628B1 (ko) | 알루미늄 전해 콘덴서용 화성박 유전체 피막의 결정화 방법 | |
| JPS63304613A (ja) | 電解コンデンサ用アルミニウム電極の製造方法 | |
| Cobianu et al. | Dc dielectric breakdown in SiO2 films prepared by low temperature chemical vapour deposition | |
| SU1202493A1 (ru) | Способ изготовлени интегральной схемы | |
| JPS6211487B2 (pl) | ||
| Igarashi et al. | Development of a new Al-Ti alloy electrolytic capacitor | |
| US3852171A (en) | Process for manufacturing tantalum-oxide semiconductor capacitors | |
| KR100375261B1 (ko) | 콘덴서용 금속증착 필름의 제조방법 |