PL120607B2 - Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh - Google Patents

Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh Download PDF

Info

Publication number
PL120607B2
PL120607B2 PL1979215359A PL21535979A PL120607B2 PL 120607 B2 PL120607 B2 PL 120607B2 PL 1979215359 A PL1979215359 A PL 1979215359A PL 21535979 A PL21535979 A PL 21535979A PL 120607 B2 PL120607 B2 PL 120607B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
thin dielectric
insulating
layer
substratesa
podlozhkakh
Prior art date
Application number
PL1979215359A
Other languages
English (en)
Other versions
PL215359A2 (pl
Inventor
Anna Goreckadrzazga
Eugeniusz Prociow
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL1979215359A priority Critical patent/PL120607B2/pl
Publication of PL215359A2 publication Critical patent/PL215359A2/xx
Publication of PL120607B2 publication Critical patent/PL120607B2/pl

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyj¬ nych, znajdujacych zastosowanie w wytwarzaniu cienkowarstwowych kondensatorów do mikroelektronicznych obwodów hybrydowych oraz linii typu RC o stalych rozlozonych.Znane sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych polegaja na anodowym utlenianiu cienkiej folii aluminiowej lub warstwy aluminium uprzednio naniesionej na podloze izolacyjne. Podczas elektrochemicz¬ nego utleniania cienkich warstw aluminium powstaja duze naprezenia w tlenku, powodujace zrywanie sie warstw z podloza, wskutek czego maksymalna grubosc tlenku jest ograniczona do 100 nm. Próby poprawy przyczepno¬ sci warstw przez zwiekszenie szybkosci nanoszenia i podniesienie temperatury podlozy, wywoluja natomiast niekorzystny efekt zwiekszania sie tekstury krystalicznej warstw aluminium. Prowadzi to do powstawania w ano¬ dowym tlenku wielu punktów nieodpornych na przebicie elektryczne.Z powyzszych wzgledów znane sposoby otrzymywania warstw dielektrycznych na bazie cienkich warstw aluminium nie znajduja zastosowania na skale przemyslowa.Znane sa takze sposoby wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych przez anodowe utlenianie uprzednio naniesionej na podloze warstwy tantalu. Dielektryk uzyskany tym sposobem charakteryzuje sie jednak gorszymi od warstwy tlenku aluminium parametrami elektrycznymi, zwlaszcza wieksza stratnoscia dielektryczna.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyj¬ nych polegajacy na prózniowym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu.Istota wnalazku polega na tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawar¬ tosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500—1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V.Podczas badan okazalo sie, ze jezeli dielektryczne podloze pokryje sie prózniowo warstwa stopu tytanu w aluminium o malej zawartosci tytanu, to uzyskuje sie dobra przyczepnosc warstwy do podloza umozliwiajaca wykonywanie grubej warstwy dielektrycznej do 500 nm, na której naniesione warstwy metaliczne moga byc2 120 607 cynowane bez obawy oderwania struktury dielektrycznej od podloza. Wprowadzenie tytanu jako domieszki do czystego aluminium nie powoduje niekorzystnych zmian w trakcie utleniania anodowego. Parametry dielektrycz¬ ne uzyskiwanych warstw tlenku sa porównywalne z parametrami tlenku czystego aluminium.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladowym wykonaniu, dotyczacym wytwarzania cienko¬ warstwowych kondensatorów na podlozu ze szkla amorficznego lub grubokrystalicznego. Podloze to pokrywa sie stopem tytan-aluminium z mieszaniny o proporcji wagowej 5% tytanu w aluminium, przez odparowanie w prózni lepszej niz 10"5 Tr, z szybkoscia wieksza niz lOnm/s. Temperature podloza podczas nanoszenia war¬ stwy utrzymuje sie na stalym poziomie 423°K. Po wytworzeniu warstwy o grubosci 600 nm poddaje sie ja anodowemu utlenianiu, az do otrzymania warstwy tlenku o grubosci 300 nm. Utlenianie wykonuje sie w 17% roztworze piecioboranu amonu w glikolu etylenowym, przy nastepujacych parametrach procesu: — temperatura 300°K, gestosc pradu 0,5 mA/cm2, czas 14 minut, po czym stosuje sie anodyzacje stalonapieciowa przez czas 40 minut, przy napieciu 320 V. Na warstwe kontaktowa do kondensatorów stosuje sie chromonikiel-nikiel, która nanosi sie metoda naparowywania w tych samych warunkach prózniowych, przy temperaturze podloza 393°K.Wytworzone w ten sposób struktury pojemnosciowe charakteryzuja sie nastepujacymi parametrami elek¬ trycznymi: Napiecieprzebicia - Up « 100 V Tangenskatastrat — tg 5 < 65 • 10"4 Temperaturowywspólczynnik pojemnosci — TWC < + 500 • 10"6 [°/K Wzgledna stala dielektryczna - Er < 9 Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na próznio¬ wym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu, znamienny tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawartosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500-1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V.Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz.Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzanie cienkich warstw dielektrycznych na podlozach izolacyjnych, polegajacy na próznio¬ wym ich nanoszeniu na podloze i nastepnie poddawaniu utlenianiu anodowemu, znamienny tym, ze jako material wyjsciowy na warstwe stosuje sie stop tytan-aluminium o zawartosci tytanu do 10% wagowych, grubosc warstwy ustala sie w granicach 500-1000 nm, zas utlenianie anodowe prowadzi sie przy napieciu od kilkunastu do 350 V. Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz. Cena 100 zl PL
PL1979215359A 1979-05-04 1979-05-04 Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh PL120607B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL1979215359A PL120607B2 (en) 1979-05-04 1979-05-04 Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL1979215359A PL120607B2 (en) 1979-05-04 1979-05-04 Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL215359A2 PL215359A2 (pl) 1980-04-21
PL120607B2 true PL120607B2 (en) 1982-03-31

Family

ID=19996081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL1979215359A PL120607B2 (en) 1979-05-04 1979-05-04 Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL120607B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL215359A2 (pl) 1980-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4936957A (en) Thin film oxide dielectric structure and method
US6433379B1 (en) Tantalum anodization for in-laid copper metallization capacitor
CA1156598A (en) Treating etched aluminum electrolytic capacitor foil
US1330581A (en) Preparation of plates for electrolytic cells
US3085052A (en) Method for making film capacitors
PL120607B2 (en) Method of manufacture of thin dielectric films on insulating substratesa izoljacionnykh podlozhkakh
EP2202766A1 (en) Capacitor production method, capacitor, circuit board, electronic device, and ic card
US2719097A (en) Method for the production of thin continuous surface layers of precious metals
JPS59167009A (ja) 電解コンデンサ用電極材料の製造方法
US2554237A (en) Rectifier
EP0501047A1 (en) Method for manufacturing aluminum foils used as electrolytic capacitor electrodes
US3335073A (en) Method of making anodized tantalum foil
JP2847087B2 (ja) 電解コンデンサ用アルミニウム箔の製造方法
JPS5935169B2 (ja) コンデンサ
US3553087A (en) Method of manufacturing solid electrolytic capacitors
JPH0864481A (ja) 電解コンデンサ用電極箔およびその製造方法
Rao et al. Improved thin film Al2O3 capacitors
KR920010628B1 (ko) 알루미늄 전해 콘덴서용 화성박 유전체 피막의 결정화 방법
JPS63304613A (ja) 電解コンデンサ用アルミニウム電極の製造方法
Cobianu et al. Dc dielectric breakdown in SiO2 films prepared by low temperature chemical vapour deposition
SU1202493A1 (ru) Способ изготовлени интегральной схемы
JPS6211487B2 (pl)
Igarashi et al. Development of a new Al-Ti alloy electrolytic capacitor
US3852171A (en) Process for manufacturing tantalum-oxide semiconductor capacitors
KR100375261B1 (ko) 콘덴서용 금속증착 필름의 제조방법