PL119852B1 - Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta - Google Patents

Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta Download PDF

Info

Publication number
PL119852B1
PL119852B1 PL21406979A PL21406979A PL119852B1 PL 119852 B1 PL119852 B1 PL 119852B1 PL 21406979 A PL21406979 A PL 21406979A PL 21406979 A PL21406979 A PL 21406979A PL 119852 B1 PL119852 B1 PL 119852B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
zinc
doping
semiconductor light
sourcesija
primesi
Prior art date
Application number
PL21406979A
Other languages
English (en)
Other versions
PL214069A1 (pl
Inventor
Janusz Zak
Original Assignee
Inst Tech Elektronowej
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Tech Elektronowej filed Critical Inst Tech Elektronowej
Priority to PL21406979A priority Critical patent/PL119852B1/pl
Publication of PL214069A1 publication Critical patent/PL214069A1/xx
Publication of PL119852B1 publication Critical patent/PL119852B1/pl

Links

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarza¬ nia stalego zródla domieszkowania cynkiem, zwla¬ szcza do produkcji pólprzewodnikowych zródel swiatla, w którym cynk dyfunduje sie do podloza pólprzewodnikowego, np. ze zwiazków AmBv ta¬ kich jak GaAsP, GalnP, GaAlAs, GaP.Znany jest sposób wytwarzania stalego zródla domieszkowania cynkiem w postaci warstwy o skladzie xZnO • ySi02. Wedlug opisu patentowego USA nr 3721589 warstwe te otrzymuje sie w wy¬ niku reakcji pirolizy czteroetoksysilanu i propio- nianu cynku w temperaturze 450°iC w obojetnej atmosferze. Nie jest to optymalna temperatura pi¬ rolizy czteroetoksysilanu.Optymalna temperatura rozkladu czteroetoksysi¬ lanu, jak podaje J. Klerer w artykule umieszczo¬ nym w J. Electrochem. Soc. 108, 1070, 1961, wynosi 740°C. Stosowanie temperatury nizszej niz opty¬ malna jest niezbedne ze wzgledu na dysocjacje termiczna szeregu zwiazków AmBv juz w tempe¬ raturach powyzej 600°C. Prowadzenie pirolizy w temperaturze 450°C prowadzi do otrzymywania warstwy zawierajacej produkty niepelnego rozkla¬ du stosowanych zwiazków organicznych. Zmienia to w niekontrolowany sposób strukture warstwy domieszkowanej, wplywa niezaleznie od zmian efektywnej koncentracji cynku w warstwie na efektywny wspólczynnik dyfuzji cynku w warstwie i w efekcie na wlasnosci uzyskiwanych obszarów 10 15 dyfuzyjnych oraz na powtarzalnosc procesów dy¬ fuzji.Istota wynalazku polega na tym, ze warstwe o skladzie xZnO • ySi02 otrzymuje sie w procesie reakcji krzemowodoru z organicznym zwiazkiem cynku w atmosferze utleniajacej.Zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest to, ze reakcje krzemowodoru ze zwiazkiem cynku wy¬ konuje sie w temperaturze juz od 300°C, w której w podlozu ze zwiazku pólprzewodnikowego nie za¬ chodza niekorzystne zmiany w wyniku dysocjacji termicznej. Ponadto stosowanie krzemowodoru, be¬ dacego gazem w temperaturze pokojowej, pozwala dokladniej regulowac stosunek reagentów w komo-" rze reakcyjnej, umozliwia to otrzymywanie w pow¬ tarzalny sposób warstwy xZnO • ySi02 o wymaga¬ nym skladzie.Jednoczesnie prowadzenie reakcji w atmosferze utleniajacej umozliwia pelne utlenianie organicz¬ nego zwiazku cynku i zastosowanie innych niz pro- pionian cynku zwiazków cynku, jak np. acetylo- acetonian cynku, który ma nizsza temperature top¬ nienia + 131°C, co ulatwia prowadzenie procesów przez .stosowanie nizszych temperatur doprowadza¬ jacych domieszke przewodów grzejnych oraz zmniejsza niebezpieczenstwo kondensacji jego par na chlodniejszych czesciach scian wewnetrznych komory reakcyjnej urzadzenia technologicznego do nakladania warstw metoda chemiczna z fazy gazo¬ wej. W efekcie uzyskuje sie w powtarzalny spo- 119 852119 854 3 4 sób warstwe xZnO • ySi02 charakteryzujaca sie stalym skladem i stabilna wartoscia parametrów struktur swiecacych, uzyskiwanych w wyniku dy¬ fuzji cynku. z tej warstwy.Sposób wedlug wynalazku jest objasniony na przykladzie wykonania.W kamorze reakcyjnej do chemicznego naklada¬ nia z fazy gazowej umieszczone sa podlozowe plyt¬ ki pólprzewodnikowe. Do reaktora wprowadza sie w strumieniu gazu nosnego jednoczesnie krzemo¬ wodór rozcienczony uprzednio gazem obojetnym, np. argonem i pary zwiazku cynkoorganicznego, np. propionianu cynku, utrzymywanego w satura- torze w granicach temperatur 150—250°C oraz tlen.W celu unikniecia kondensacji par zwiazku cyn¬ ku stosuje sie ogrzewane przewody doprowadza¬ jace.Jako organiczny zwiazek cynku moze byc wy¬ korzystany równiez acetyloacetonian cynkowy lub inny odpowiednio lotny zwiazek cynku. Podlozowa plytke pólprzewodnikowa poddaje sie obróbce fo¬ tolitograficznej przed lub po nalozeniu warstwy xZnO • ySiOj. Plytka z warstwa xZnO • ySi02 o ¦ grubosci od 0,1 do 0,5 fwn na powierzchni obszarów dyfuzyjnych jest przygotowana do dyfuzji.Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania stalego zródla domieszkowa¬ nia cynkiem, zwlaszcza do produkcji pólprzewod¬ nikowych zródel swiatla, wykorzystujacy jako stale zródlo cynku warstwe o skladzie xZnO • ySiC2 po¬ wstala w wyniku reakcji chemicznej zwiazku krze¬ mu i organicznego zwiazku cynku, znamienny tym, ze w celu otrzymania reakcji krzemowodoru z or¬ ganicznym zwiazkiem cynku prowadzi sie w atmo¬ sferze utleniajacej. u ii WZGraf. Z-d 2 — 536/83 — 85+16 Cena lfO il PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania stalego zródla domieszkowa¬ nia cynkiem, zwlaszcza do produkcji pólprzewod¬ nikowych zródel swiatla, wykorzystujacy jako stale zródlo cynku warstwe o skladzie xZnO • ySiC2 po¬ wstala w wyniku reakcji chemicznej zwiazku krze¬ mu i organicznego zwiazku cynku, znamienny tym, ze w celu otrzymania reakcji krzemowodoru z or¬ ganicznym zwiazkiem cynku prowadzi sie w atmo¬ sferze utleniajacej. u ii WZGraf. Z-d 2 — 536/83 — 85+16 Cena lfO il PL
PL21406979A 1979-03-12 1979-03-12 Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta PL119852B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21406979A PL119852B1 (en) 1979-03-12 1979-03-12 Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL21406979A PL119852B1 (en) 1979-03-12 1979-03-12 Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL214069A1 PL214069A1 (pl) 1980-11-17
PL119852B1 true PL119852B1 (en) 1982-01-30

Family

ID=19995057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL21406979A PL119852B1 (en) 1979-03-12 1979-03-12 Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL119852B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL214069A1 (pl) 1980-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Morosanu Thin films by chemical vapour deposition
US5476679A (en) Method for making a graphite component covered with a layer of glassy carbon
US4904337A (en) Photo-enhanced pyrolytic MOCVD growth of group II-VI materials
EP0529593B1 (en) A glass carbon coated graphite chuck for use in producing polycrystalline silicon
EP0164928A3 (en) Vertical hot wall cvd reactor
JP2008532932A (ja) 有機アルミニウム前駆体化合物
US3681132A (en) Method of producing a protective layer of sio2 on the surface of a semiconductor wafer
JP2001521284A (ja) 高速昇降温処理(rtp)システムにおける半導体ウェーハの酸化方法
JP4130645B2 (ja) 金属酸窒化物膜被着方法及び金属酸窒化物膜形成方法
US3899557A (en) Hollow semiconductor bodies and method of producing the same
PL119852B1 (en) Method of producing permanent source of doping with zinc,especially for manufacture of semiconductor light sourcesija primesi cinka,a osobenno dlja proizvodstva poluprovodnikovykh istochnikov sveta
US3962670A (en) Heatable hollow semiconductor
JPH0219468A (ja) 金属酸化物の形成方法
EP0140625B1 (en) Tellurides
US4034130A (en) Method of growing pyrolytic silicon dioxide layers
JP2758247B2 (ja) 有機金属ガス利用薄膜形成装置
JPS62171993A (ja) 半導体ダイヤモンドの製造方法
JPH0977592A (ja) ビスマス層状強誘電体薄膜の製造方法
Greenwald et al. Mocvd Erbium Sourcesa
KR0139840B1 (ko) 산소와 마그네슘이 일대일의 비로 들어 있는 마그네슘 유도체를 사용하여 산화마그네슘을 기질 위에 피막하는 방법
JP2004075493A (ja) CVD−SiC被覆黒鉛材及びその製造方法
US3297403A (en) Method for the preparation of intermetallic compounds
Woelk et al. III-Nitride multiwafer MOCVD systems for blue-green LED material
EP0090817B1 (en) Thin films of compounds and alloy compounds of group iii and group v elements
JPS61247686A (ja) 半導体単結晶の製造方法