Przedmiotem wynalazku jest sposób porównywania powierzchni proszków o statystycznej powtarzalnosci ksztaltów ziarn poszczególnych frakcji, umozliwiajacy okreslenie optymalnej zawartosci lepiszcza w sproszkowa¬ nej masie materialowej poddawanej procesowi prasowania w trakcie procesu technologicznego produkcji spieków z proszków.Dotychczas do okreslania optymalnej zawartosci le¬ piszcza w masie materialowej stosowano metode prób technologicznych. Wada tego sposobu jest niestabilnosc procesu technologicznego polegajaca na gorszych wlasci¬ wosciach wyprasek wyprodukowanych w pierwszym etapie prób -technologicznych oraz czasochlonnosc i materialo¬ chlonnosc etapu przygotowania nowego gatunku proszku do produkcji.Celem wynalazku jest sposób pozwalajacy na szybkie okreslenie optymalnej zawartosci lepiszcza w dowolnej masie materialowej w oparciu o proste pomiary i obliczenia.Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie sposobu porównywania powierzchni proszków o statycznej powta¬ rzalnosci ksztaltów ziarn poszczególnych frakcji polegajacy na tym, ze dokonuje sie analizy sitowej proszków do usta¬ lenia skladów granulometrycznych, a nastepnie wykonuje sie zdjecia najdrobniejszej frakcji i w oparciu o rozmiary duzych ziarn ustala sie osobno dla kazdego zdjecia wymiar oczka w najdrobniejszym sicie, po czym dokonuje sie po- miaiu sredniego rozmiaru ziarna na danym zdjeciu, który usrednia sie po wszystkich zdjeciach dla otrzymania usrednionej srednicy zastepczej ziarn najdrobniejszej frakcji a nastepnie porównuje sie powierzchnie badanych proszków wedlug wzoru: 10 15 20 Sx j , j =l Q'sr gdzie: So, Si — powierzchnie ziarn okreslonej masy proszków (0), (1); X|),XJ —udzial masowy j-tej frakcji w calej masie proszku (0), (1) n — liczba frakcji djsr — usrednione srednice zastepcze dla j-tej frakcji Dla j=^=l usrednione srednice zastepcze oblicza sie we¬ dlug wzoru: gdzie; Qj — wymiar oczka w sicie, na którym zatrzymaly sie ziarna j-tej frakcji Qj+i — wymiar oczka w ostatnim sicie przez które prze¬ szly ziarna j-tej frakcji.Sposób wedlug wynalazku jest odpowiedni dla proszków o "statystycznej powtarzalnosci ksztaltów ziarn poszcze¬ gólnych frakcji.W celu sprawdzenia tego parametru stosuje sie metode mikroskopowa oraz makroskopowa. Badany proszek, dla 118 503118 503 ^którego sprawdza sie przydatnosc sposobu poddaje sie analizie sitowej otrzymujac n frakcji-ziarn. Dokonuje sie pomiaru -gestosci nasypowych frakcji proszku, która to wielkosc jest funkcja izometrycznosci ziarn. Proszek jest nieodpowiedni do sposobu, jezeli gestosci nasypowe n frLkcji róznia sie o wielkosc wieksza od bledu pomiarowego.Proszek spelniajacy wymagarra pomiaru makroskopowego jest poddawany pomiarowi nrkroskopowemu. Pomiar mikroskopowy polega na wykonaniu zdjec próbek ziarn, wyróznieniu klas z:arn o okreslonym ksztalcie oraz przypo¬ rzadkowaniu ziarn z poszczególnych frakcji do odpowied¬ nichklas.Proszek jest odpowiedni do sposobu wedlug wynalazku jezeli statystyczny rozklad ziarn na klasy jest niezalezny od frakcji. Wystarczajace jest jednorazowe sprawdzenie statystycznej powtarzalnosci ksztaltów ziarn frakcji dla pro¬ szku danego materialu. przygotowywanego "okreslona te¬ chnolog^.W omawianym sposobie proszkiem odpowiednim o- kazal sie prószJ< szklany mielony w mlynach kulowych.Nastepnie dokonuje sie analizy sitowej proszku w celu ustalenia skladu granulometrycznego. Jezeli nie dysponuje sie sitami o wymiarach ra tyle malych by przez ostatnie sito nie przelatywaly ziarna proszku, to usredniona siednice zastepcza dla ziarn najdrobniejszych frakcji oblicza sie oddzielnie metoda optyczno-geometryczna. W tym celu wykonuje sie zdjecia najdrobniejszej frakcji a w oparciu o rozmiary duzych ziarn ustala sie dla kazdego zdjecia o- sobno wymiar oczka w najdrobniejszym sicie po czym dokonuje sie pomiaru siedniego rozmiaru iiarna na danym zdjeciu. Usredniajac ta srednice po wszystkich zdjeciach otrzymuje sie usredniona srednice zastepcza ziarn frakcji dlsr- Wystarczajace jest jednorazowe okreslenie usrednionej srednicy zastepczej pierwszej frakcji disr dla danego ma¬ terialu przygotowywanego okreslona technologia. Usred¬ nione srednice zastepcze pozostalych Trakcji j^l oblicza sie wedlug podanego wyzej wzoru.Znajac sklady granulometryczne proszku o optymalnej zawartosci lepiszcza oraz proszku badanego oblicza sie stosunek optymalnej zawartosci lepiszcza w porównywanych proszkach równy stosunkowi powierzchni proszków ko¬ rzystajac z wzoru: gdzie: Z0, S0 — optymalne zawartosci lepiszcza oraz powierz¬ chnia na jednostke masy proszku (o skladzie granulometrycznym X? Zi Si — optymalne zawartosci lepiszcza oraz powierz-. chnia na jednostke masy proszku o skladzie granulometrycznym X.1 Zaleta sposobu wedlug wynalazku jest wystarczalnosc jednorazowego sprawdzenia statystycznej powtarzalnosci ksztaltów ziarn frakcji, obliczenia usrednionych srednic zastepczych oraz "wykonanie analizy sitowej dla proszku o optymalnej zawartosci lepiszcza i obliczenia S* wedlug wzoru: 20 30 40 45 50. 55 j = l — dl«r _ Przy kolejnych proszkach dokonuje sie tylko analizy sitowej proszku oraz obliczen. Sposobem wedlug wynalazku mozna wiec po opanowaniu metody bardzo szybko obliczyc optymalna zawartosc lepiszcza dla dowolnego proszku wedlug wzoru: yx/ Z1 = i djsr •Zo Sposób porównywania powieizchni proszków wedlug -wynalazku moze znalezc zastosowanie do okreslania op¬ tymalnej zawartosci lepiszcza w masie materialowej cerami¬ cznej, szklanej badz metalowej w procesie technologicznym produkcji spieków z proszków.Zastrzezenie patentowe Sposób porównywania powierzchni proszków o statys¬ tycznej powtarzalnosci ksztaltek ziarn poszczególnych frakcji znamienny tym, ze dokonuje sie analizy sitowej proszków do ustalenia skladów granulometrycznych (x|) a nastepnie wykonuje sie zdjecia najdrobniejszej frakcji i w oparciu o rozmiary duzych ziarn ustala sie osobno dla kazdego zdjecia wymiar oczka w najdrobniejszym sicie, po czym dokonuje sie pomiaru sredniego rozmiaru ziarna na danym zdjeciu, który usrednia sie po wszystkich zdjeciach dla otrzymania usrednionej srednicy zastepczej ziarn najdrobniejszej frakcji (d^r), a nastepnie porównuje sie powierzchnie badanych proszków wedlug wzoru: SD n i _v j = l ^ Jsr gdzie: So, Si — powierzchnie ziarn okreslonej masy proszków (0), (1), - Xj, Xj — udzial masowy j-tej frakcji w calej masie pro¬ szku (0), (1) n — liczba frakcji djsr — usredniona srednica zastepcza dla j-tej frakcji, przy czym dla j^l usrednione srednica, zastep¬ cza oblicza sie wedlug wzoru Ijsr : gdzie: Qj — wymiar oczka w sicie, na którym zatrzymaly sie, ziarna j-tej frakcji Qj + i —wymiar oczka w ostatnim sicie przez które przeszly ziarna j-tej frakcji LDD Z-d 2, z. 1112/1400/82, n. 110+20 egz, Cena 100 zl PL