PL112677B1 - Vertical shift system in a sampling oscilloscopes - Google Patents

Description

Opis patentowy opublikowano: 15.03.1982 112677 Int. Cl.2 G01R 13/20 G01R 13/34 Twórca wynalazku: Janusz Morawski • Uprawniony z patentu: Zaklad Urzadzen Elektronicznych „Unima", Warszawa (Polska) Uklad przesuwu pionowego w oscyloskopach próbkujacych Przedimicitem wynalazku jest uklad przesuwu pionowego w oscyloskopach próbkujacych.Znane d dotychczas stosowane uklady przesu¬ wu pionowego w oscyloskopach próbkujacych z bramkami .symetrycznymi! (Nowa technika — ze¬ szyt 98 „Syniohroskopy stroboskopowe, szeroko¬ pasmowe" str. 31, instrukcja serwisowa oscylos¬ kopu próbkujacego typ PM3400 firmy Philips), zawieraja uklady przesuwu pionowego w postaci zródel napieciowych o uregulowanym napieciu wyjsciowym. Uklady te skonstruowane sa jako rozbudowane, skompensowane termicznie wtórir- ki. Stopien skomplikowania takiego wtórnika za¬ lezny jeist od wymaganej stalosci poziomu na¬ piecia oraz od czulosci oscyloskopu i przy oscy¬ loskopach wysokiej klasy jest on bardzo duzy.Istota wynalazku jest to, ze powstale w wy¬ niku podzialu napiecia polaryzujacego diody bramki próbkujacej i regulowane wzgledem ma¬ sy ukladu napiecie przesuwu podawane jest po¬ przez dzielnik sprzezenia zwrotnego na wejscie ukladu pamieci. Z wyjscia tego ukladu pamieci sygnal sprzezenia zwrotnego jest podawany na diody bramkii próbkujacej przez potencjometr re¬ gulacji napiecia przesuwu wlaczony do napiecia polaryzujacego diody bramki próbkujacej. Su¬ wak tego potencjometru polaczony jest z dzielni¬ kiem sprzezenia zwrotnego zamykajac w ten sposób petle sprzezenia zwrotnego toru Y oscy¬ loskopu.U) Uklad wedlug wynalazku jest prosty i sklada sie z malej iilosci elementów a jednoczesnie wy- kaizuje wysoka -niezawodnosc i sltabilnosc napiecia jak równiez lepsza dynamike i liniowosc niz uklady konwencjonalne.Wynalazek jest blizej objasniony w przykladzie wykonania przedstawionym na rysunku w posta- ai schematu.Uklad zawiera dwudiodowa bramke próbkujaca Dl, D2 w postaci mostkai, którego- pozostale ga¬ lezie utworzone sa przez kondensatory. Anoda diody D2 jest polaczona z wejsciem wzmacniacza calkujacego 1, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem ukladu pamieci 2. Wyjscie ukladu pa- ^ mieci 2 jest poprzez dzielnik sprzezenia zwrot¬ nego 3 polaczone z suwakiem potencjometru RV wlaczonego (poprzez rezystory mieldzy obie diody Dl, D2 bramki próbkujacej.Dzialanie ukladu jest opisane nizej. Nai katode 20 diody Dl podawany jest ujemny impuls anaiizu- ^ jacy, a na anode diody D2 podawany jest do¬ datni impuls analizujacy. Impulsy te powoduja analize sygnalu wejsciowego, w wyniku której na wyjsciu ukladu pamieci 2 powstaje poziom sta- 25 ly napiecia wyjsciowego Uwy proporcjonalnego do napiecia wejsciowego Uwe. Powstale w wyni¬ ku podzialu napiecia U polaryzujacego diody DJ, D2, regulowane wzgledem masy ukladu napiecie przesuwu Up podaje sie poprzez dzielnik sprze¬ to zenia zwrotnego 3 na wejscie ukladu pamiec4 112 6773 112 677 4 2. Z wyjscia tego ukladu pamieci 2, sygnal sprze¬ zenia zwrotnego przez potencjometr RV regulacji napiecia przesuwu Up podaje sie na diody bramki próbkujacej Dl, D2. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad przesuwu pionowego w oscyloskopach próbkujacych, znamienny tym, ze powstale w wy¬ niku podzialu napiecia (U) polaryzujacego diody bramki próbkujacej (Dl, D2) i regulowane wzgle- 10 dem masy napiecie przesuwu (Up) podawane jest przez dzielnik sprzezenia zwrotnego (3) na wej¬ scie ukladu pamieci (2), z którego wyjscia sygnal sprzezenia, zwrotnego- jest podawany na diody bramki próbkujacej (Dl, D2) przez potencjometr (RV) regulacji napiecia przesuwu (Up) wlaczony do napiecia (U) polaryzujacego diody bramki próbkujacej (Dl, D2) przy czym suwak potencjo¬ metru (RV) polaczony jest z dzielnikiem sprze¬ zenia zwrotnego (3) zamykajac petle sprzezenia zwrotnego toru Y oscyloskopu. PZGraf. Koszalin D-1028 105 A-4 Cena 45 zl PL