PL110682B1 - Method of manufacturing silicon semiconductor diode - Google Patents

Method of manufacturing silicon semiconductor diode Download PDF

Info

Publication number
PL110682B1
PL110682B1 PL20206577A PL20206577A PL110682B1 PL 110682 B1 PL110682 B1 PL 110682B1 PL 20206577 A PL20206577 A PL 20206577A PL 20206577 A PL20206577 A PL 20206577A PL 110682 B1 PL110682 B1 PL 110682B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
silicon
structures
plate
layers
etched
Prior art date
Application number
PL20206577A
Other languages
English (en)
Other versions
PL202065A1 (pl
Inventor
Andrzej Uszynski
Original Assignee
Inst Tech Elektronowej
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Tech Elektronowej filed Critical Inst Tech Elektronowej
Priority to PL20206577A priority Critical patent/PL110682B1/pl
Publication of PL202065A1 publication Critical patent/PL202065A1/pl
Publication of PL110682B1 publication Critical patent/PL110682B1/pl

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarza¬ nia krzemowej diody pólprzewodnikowej, zwlasz¬ cza diody mikrofalowej, w której aktywne zlacze p-n przecina powierzchnie boczna struktury, jak na przyklad diody mocy, niektóre mikrofalowe dio¬ dy generacyjne i inne.Znane sa sposoby wytwarzania przyrzadów pól¬ przewodnikowych, w których po przeprowadzeniu procesu domieszkowania plytki pólprzewodnikowej oraz wykonaniu metalowych kontaktów warstwo¬ wych, z których jeden stanowi gruba warstwa me¬ talowa, wykonuje sie trawienie fotolitograficzne cienkiej warstwy metalowej po drugiej stronie plyt¬ ki. Nastepnie, ewentualnie po kolejnym fotolito¬ graficznym maskowaniu odslonietej czesci powierz¬ chni krzemu, trawi sie krzem na cala grubosc plytki, w wyniku czego powstaja wyspowe struk¬ tury pólprzewodnikowe, po czym nastepuje pasy¬ wacja powierzchni bocznych struktur.W innym zblizonym rozwiazaniu wykonuje sie omowe kontakty warstwowe po jednej stronie plyt¬ ki, zmniejsza sie grubosc plytki od drugiej strony plytki, a nastepnie wykonuje sie na niej kontakty omowe.Znany jest równiez sposób, wedlug którego po wykonaniu procesów wprowadzenia domieszek oraz warstwowych kontaktów omowych plytka jest cieta lub roztrawiana po fotolitograficznym wykonaniu wzoru na struktury. We wszystkich znanych roz¬ wiazaniach pasywacja nastepuje po wykonaniu kon- 15 20 25 30 taktów omowych, co uniemozliwia pasywowanie termicznym dwutlenkiem krzemu, który ma lepsze wlasnosci elektryczne, gdyz w procesie wytwarza¬ nia termicznego dwutlenku krzemu zostalyby na¬ ruszone warstwy kontaktowe.W sposobie wedlug wynalazku przed wykonaniem metalowych warstw kontaktowych na obie strony plytki nanosi sie warstwy maskujace z materialu, którego szybkosc trawienia jest inna, niz szybkosc trawienia krzemu i dwutlenku krzemu, plytke dzie¬ li sie na struktury, po czym powierzchnie boczne struktur trawi sie w mieszance trawiacej krzem i utlenia sie termicznie, a nastepnie strawia sie warstwy maskujace i na odsloniete powierzchnie krzemu nanosi sie metalowe warstwy kontaktowe.Jako warstwe maskujaca stosuje sie np. azotek krzemu lub dwutlenek glinu.W niektórych zastosowaniach korzystnie jest, jesli dzielenie plytki na struktury wykonuje sie po uprzednim wytrawieniu fotolitograficznym wzo¬ ru w warstwie maskujacej. Nastepne trawienie krzemu przez odslonieta w procesie fotolitograficz¬ nym powierzchnie plytki na okreslona grubosc po¬ zwala nadac strukturze wymagany ksztalt, nato¬ miast w wyniku trawienia na cala grubosc plytki jednoczesnie dzieli sie ja na struktury.Zaleta sposobu jest umozliwienie wykorzystania do pasywacji aktywnych powierzchni bocznych dwutlenku krzemu i otrzymywanie w wyniku tego lepszych wlasnosci elektrycznych przyrzadów pól- 110 682przewodnikowych. Ponadto otrzymanie kontaktów omowych na calej powierzchni struktury pozwala latwo laczyc struktury w stosy i realizowac szere¬ gowe polaczenie kilku struktur w jednej obudowie.Sposób jest objasniony na przykladzie wykonania uwidocznionym na rysunku, którego fig. 1 przed¬ stawia plytka krzemowa z warstwami maskujacy¬ mi, fig. 2 — strukture po procesie utleniania ter¬ micznego i fig. 3 — strukture po wykonaniu kon¬ taktówomowych. . ' Na powierzchniach 5 i 5' plytki krzemowej 1 ze zlaczem p-n nanosi sie warstwy maskujace 2 i 2', a nastepnie dzieli sie ja na struktury poprzez ciecie lub rysowanie i lamanie. Powierzchnie boczne 6 struktury przygotowuje sie do procesu utleniania przez trawienie w mieszance trawiacej krzem.Struktury poddawane sa utlenianiu termicznemu, w wyniku którego na powierzchniach bocznych 6 tworzy sie warstwa tlenku 3. W nastepnym proce¬ sie trawienia warstw pasywujacych 2 i 2' odslania sie powierzchnie krzemu 5 i 5' i wykonuje sie na nich kontakty omowe 4, na przyklad na drodze bezpradowego osadzania niklu, a,nastepnie zlota.W niektórych zastosowaniach warstwe maskuja¬ ca nanosi sie najpierw po jednej stronie plytki krze¬ mowej ze zlaczem p-n, nastepnie od drugiej strony zmniejsza sie grubosc plytki do wymaganej, wpro¬ wadza sie od tej strony domieszki i dopiero wyko¬ nuje sie na niej warstwe maskujaca.Poniewaz osadzanie warstwy maskujacej bezpo¬ srednio na powierzchni krzemu moze spowodowac zwiekszenie gestosci dyslokacji, w niektórych przy¬ padkach celowe jest zabezpieczenie powierzchni krzemu warstwa dwutlenku krzemu przed osadza¬ niem warstw maskujacych. Warstwy te zdejmuje sie przed wykonaniem metalicznych kontaktów omowych. 682 4 Ze wzgledu na trudnosci, w operowaniu malymi strukturami stosowanie sposobu wedlug wynalazku ograniczone jest rozmiarami struktury. 5' Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania krzemowej diody pólprze¬ wodnikowej polegajacy na wykonaniu struktur w plytce krzemowej przez wprowadzenie domieszek, 10 wykonanie warstw, pasywujacych i metalicznych kontaktów omowych, z zastosowaniem warstw ma¬ skujacych na posrednich etapach technologicznych, oraz na dzieleniu plytki na struktury, znamienny tym, ze przed wykonaniem metalowych warstw 15 kontaktowych na obie strony plytki nanosi sie war¬ stwy maskujace, korzystnie z'azotku krzemu,, plyt¬ ke dzieli sie na struktury, po czym powierzchnie boczne struktur trawi sie w mieszance trawiacej ¦krzem i pasywuje sie przez utlenianie termiczne, 20 a nastepnie strawia sie warstwy maskujace i na odsloniete powierzchnie krzemu nanosi sie meta¬ lowe warstwy kontaktowe. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze jako warstwe maskujaca stosuje sie dwutlenek 25 glinu. 3. Sposób wedlug zastrz. 1 albo 2, znamienny tym, ze dzielenie plytki na struktury wykonuje sie po uprzednim wytrawieniu fotolitograficznym wzoru w warstwie maskujacej. 30 4. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze przez odslonieta w procesie fotolitograficznym po¬ wierzchnie krzemu trawi sie plytke na wymagana grubosc. 5. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze przez odslonieta w procesie fotolitograficznym po¬ wierzchnie krzemu trawi sie plytke na cala gru¬ bosc plytki.110 682 f'3' i PL

Claims (5)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania krzemowej diody pólprze¬ wodnikowej polegajacy na wykonaniu struktur w plytce krzemowej przez wprowadzenie domieszek, 10 wykonanie warstw, pasywujacych i metalicznych kontaktów omowych, z zastosowaniem warstw ma¬ skujacych na posrednich etapach technologicznych, oraz na dzieleniu plytki na struktury, znamienny tym, ze przed wykonaniem metalowych warstw 15 kontaktowych na obie strony plytki nanosi sie war¬ stwy maskujace, korzystnie z'azotku krzemu,, plyt¬ ke dzieli sie na struktury, po czym powierzchnie boczne struktur trawi sie w mieszance trawiacej ¦krzem i pasywuje sie przez utlenianie termiczne, 20 a nastepnie strawia sie warstwy maskujace i na odsloniete powierzchnie krzemu nanosi sie meta¬ lowe warstwy kontaktowe.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze jako warstwe maskujaca stosuje sie dwutlenek 25 glinu.
  3. 3. Sposób wedlug zastrz. 1 albo 2, znamienny tym, ze dzielenie plytki na struktury wykonuje sie po uprzednim wytrawieniu fotolitograficznym wzoru w warstwie maskujacej. 30
  4. 4. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze przez odslonieta w procesie fotolitograficznym po¬ wierzchnie krzemu trawi sie plytke na wymagana grubosc.
  5. 5. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze przez odslonieta w procesie fotolitograficznym po¬ wierzchnie krzemu trawi sie plytke na cala gru¬ bosc plytki.110 682 f'3' i PL
PL20206577A 1977-11-11 1977-11-11 Method of manufacturing silicon semiconductor diode PL110682B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20206577A PL110682B1 (en) 1977-11-11 1977-11-11 Method of manufacturing silicon semiconductor diode

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20206577A PL110682B1 (en) 1977-11-11 1977-11-11 Method of manufacturing silicon semiconductor diode

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL202065A1 PL202065A1 (pl) 1979-06-18
PL110682B1 true PL110682B1 (en) 1980-07-31

Family

ID=19985486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20206577A PL110682B1 (en) 1977-11-11 1977-11-11 Method of manufacturing silicon semiconductor diode

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL110682B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL202065A1 (pl) 1979-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1238480A (en) Method of fabricating solar cells
US4002501A (en) High speed, high yield CMOS/SOS process
US4292156A (en) Method of manufacturing semiconductor devices
CA1067038A (en) Planarizing insulative layers by resputtering
KR20040040404A (ko) 패키징된 집적회로 및 그 제조 방법
CA1066144A (en) Process for the production of fine structures consisting of a vapor-deposited material on a base
US3913217A (en) Method of producing a semiconductor device
US4462846A (en) Semiconductor structure for recessed isolation oxide
US3537921A (en) Selective hydrofluoric acid etching and subsequent processing
US3447235A (en) Isolated cathode array semiconductor
PL110682B1 (en) Method of manufacturing silicon semiconductor diode
JPS582076A (ja) シヨツトキダイオ−ドの製造方法
EP0075875A2 (en) Method of making integrated circuits comprising dielectric isolation regions
GB2059679A (en) Method of making composite bodies
US3800412A (en) Process for producing surface-oriented semiconducting devices
US4066485A (en) Method of fabricating a semiconductor device
US3615947A (en) Method of selective etching
US3956820A (en) Method of manufacturing a semiconductor device having a lead bonded to a surface thereof
US4255229A (en) Method of reworking PROMS
US3783046A (en) Method of making a high-speed shallow junction semiconductor device
KR20000003647A (ko) 반도체 소자의 소자분리절연막 형성방법
GB1294515A (en) Improvements in or relating to the fabrication of semiconductor devices
JPH05315629A (ja) 太陽電池の製造方法
KR100398586B1 (ko) 반도체 소자의 금속 배선 형성 방법
JPS54161285A (en) Manufacture of semiconductor device