PL107593B1 - Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej - Google Patents
Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej Download PDFInfo
- Publication number
- PL107593B1 PL107593B1 PL18203075A PL18203075A PL107593B1 PL 107593 B1 PL107593 B1 PL 107593B1 PL 18203075 A PL18203075 A PL 18203075A PL 18203075 A PL18203075 A PL 18203075A PL 107593 B1 PL107593 B1 PL 107593B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- layer
- hall effect
- semiconductor
- thin
- plate
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 31
- 230000005355 Hall effect Effects 0.000 claims description 19
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 claims description 13
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 2
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 10,10-dioxo-2-[4-(N-phenylanilino)phenyl]thioxanthen-9-one Chemical compound O=C1c2ccccc2S(=O)(=O)c2ccc(cc12)-c1ccc(cc1)N(c1ccccc1)c1ccccc1 FGRBYDKOBBBPOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- -1 chromium - copper - silver - gold Chemical compound 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magne-, tycznej nalezacy do dziedziny techniki akumulacji informacji z wykorzystaniem ruchu wzglednego, wystepujacego miedzy elementem pamieciowym a przetwornikiem.Znany jest sposób wytwarzana cienkowarstwo¬ wych glowic hallotronowych polegajacy na naparo- waniu na podloze o duzej przenikalnosci magnetycz¬ nej warstwy izolacyjnej, na która nanosi sie ma¬ terial odznaczajacy sie efektem Halla np. InSb.Warstwe te nastepnie wytrawia sie uzyskujac sze¬ reg elementów, po czym na kazdym elemencie wy¬ twarza sie nabiegunnik o duzej przenikalnosci ma¬ gnetycznej .' Nabiegunnik i przeciwlegla wzgledem niego czesc podloza zostaje nastepnie podzielona na szereg glowic, z których kazda posiada jeden lub szereg hallotronów.^ Jeden z wariantów tego sposo¬ bu jest przedmiotem patentu polskiego nr 73931.Znany jest z opisu patentowego RFN nr 2312163 sposób wytwarzania glowic, wedlug którego na po¬ dlozu o duzej przenikalnosci magnetycznej wytwa¬ rza sie szereg hallotronów i elektrod metalicznych, a dla wytwarzania obwodu magnetycznego nad warstwa hallotronów nanosi sie nabiegunnik o du¬ zej przenikalnosci magnetycznej w ksztalcie grze¬ bieniowej plytki. Plytka ta ma tak dobrane ksztalty, ze jej wystajace czesci pokrywaja hallotrony lecz nie przykrywaja elektrod. 10 15 20 25 Po odcieciu czesci glównej nabiegunaika otrzymu¬ je sie szereg elementów usytuowanych na podlozu pokrytym wystajacymi czesciami grzebieniowego na- biegunnika. Podloze z wystajacymi czesciami na- biegunnika mozna dzielic dowolnie dla uzyskania wymaganej liczby elementów. Znany jest tez z opi¬ su patentowego USA nr 3787638 sposób wytwarza¬ nia cienkowarstwowych glowic hallotronowych skla¬ dajacych sie z podloza z osadzonym na nim przez naparowanie jednym lub kilkoma hallotronami, przy czym glowica ta posiada naniesione na podloze do¬ datkowe koncówki detekcyjne umozliwiajace po¬ miar usytuowania hallotronów wzgledem powierz¬ chni roboczej podloza stykajacego sie z osrodkiem zapisu magnetycznego. W sposobie tym podczas szli¬ fowania czola glowicy mierzy sie rezystencje kon¬ cówek detekcyjnych co umozliwia dokladne usta¬ wienie hallotronu w glowicy oraz duza powtarzal¬ nosc wykonywanych glowic.Istota wynalazku polega na tym, ze na plytke fer¬ rytowa nanosi sie technika prózniowa warstwe izo¬ lacyjna oraz warstwe pólprzewodnika w podwyzszo¬ nej temperaturze, a nastepnie elektrody pradowe i napieciowe skladajace sie z 4 kolejno naklada¬ nych podczas jednego procesu parowania warstw w nastepujacej kolejnosci, a mianowicie chrom, miedz, srebro i zloto. Tak przygotowana plytke ferrytowa z naniesiona warstwa czynna pólprzewodnika i elek¬ trodami zabezpiecza sie ochronna warstwa izolacyj- 107 593107 593 3 na i poddaje sie procesowi stabilizacji, po czym zabezpiecza sie powtórnie warstwa zabezpieczajaca.Nastepnie plytke tnie sie na pojedyncze struktury lub zespoly hallotronów, z których montuje sie rdze¬ nie glowic, wklejone nastepnie w obudowie.Sposób wedlug wynalazku charakteryzuje sie pro¬ sta technologia, umozliwiajac jednoczesnie uzyska¬ nie duzej powtarzalnosci parametrów glowic, a po¬ nadto elektrody glowicy odznaczaja sie bardzo duza przyczepnoscia do podloza, co pozwala na bezpo¬ srednie podlaczenie wyprowadzen.Przedmiot wynalazku jest odtworzony schema¬ tycznie w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia plytke ferrytowa z ele¬ mentami hallotronowymi, a fig. 2 — przekrój po¬ dluzny'frallotrdnó^j glowicy magnetycznej."Na wypolerowana plytke ferrytowa 1 nanosi sie przez prózniowe haparowanie w temperaturze 170°C warstwe monotlenku krzemu SiO 2 o grubo¬ sci ..okolo 0,5 ^m. Nastepnie nie zmieniajac maski, nanosi sie w tej 'samej temperaturze i w tym samym ukladzie prózniowym z parownika molibdenowego warstwe pólprzewodnika 3 Cd3As2 o grubosci 1—2 [im. Po zmianie maski nanosi sie cztery elek¬ trody 4, a mianowicie dwie elektrody pradowe.Elektrody 4 otrzymuje sie poprzez naparowywanie kolejnych warstw, a mianowicie warstwy chromu o grubosci ok. 0,1 \xm, warstwy miedzi o grubosci ok. 0,1 [Jim, nastepnie warstwy srebra o grubosci powyzej 1 \im, a na zakonczenie warstwy zlota o grubosci 0,1 \xm. Naniesiona warstwe pólprzewod¬ nika 3 oraz elektrody 4 zabezpiecza sie cienka war¬ stwa izolacyjna SiO 5 o grubosci 0,1 jim. Tak otrzy¬ many element wygrzewa sie w temperaturze 460— —500°C w powietrzu lub atmosferze ochronnej w ciagu 2—3 minut, osiagajac stabilizacje termicz¬ na elementu hallotronowego. Po wygrzaniu nanie¬ sione warstwy zabezpiecza sie dodatkowa warstwa zabezpieczajaca 6 SiO o grubosci 0,1 firn, w celu calkowitej hermetyzacji elementu, to jest pokrycia ewentualnych por powstalych podczas wygrzewania.Plytke ferrytowa 1 z naniesionymi elementami hal¬ lotronowymi z fig. 1 tnie sie na poszczególne frag- 15 ?o 35 40 menty stanowiace pojedyncze struktury lub zespoly hallotronów, po czym do elektrod 4 przymocowuje sie przez przylutowanie wzglednie zgrzewanie opo¬ rowo przewody laczace 7.Nastepnie plytke 1 laczy sie z drugim wyprofilo¬ wanym elementem ferrytowym 8 w ten sposób, aby obwód magnetyczny w rdzeniu ferrytowym zamy¬ kal sie tylko poprzez naniesione warstwy hallotro- nu 2, 3, 4, 5, 6. Tak utworzony element stanowi rdzen glowicy hallotronowej, który nastepnie wkle¬ ja sie w obudowe 9 za pomoca zywicy epoksydowej 10. W obudowie 9 umieszcza sie jeden, wzglednie kilka rdzeni glowicy hallotronowej w zaleznosci od liczby sciezek magnetycznych do odczytu informacji.Obudowa 9 glowicy spelnia role ekranu elektrycz¬ nego i magnetycznego.Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowej hallotro¬ nowej glowicy magnetycznej polegajacy na nano¬ szeniu poprzez naparowywanie prózniowe na podlo¬ ze o duzej przenikalnosci magnetycznej warstwy izo¬ lacyjnej a nastepnie warstwy pólprzewodnika od¬ znaczajacego sie efektem Halla, po czym dzieli sie plytke na pojedyncze hallotrony lub ich zespoly, znamienny tym, ze na wypolerowana plytke ferry¬ towa (1) nanosi sie w podwyzszonej temperaturze warstwe izolacyjna monotlenku krzemu (2) a nas¬ tepnie warstwe pólprzewodnika (3) a po zmianie masek nanosi sie w jednym procesie parowania poszczególne warstwy elektrod (4) w kolejnosci chrom — miedz — srebro — zloto, po czym po zmianie masek powierzchnie pólprzewodnika pokry¬ wa sie warstwa izolacyjna (5), a nastepnie caly ele¬ ment stabilizuje sie w temperaturze 460—500°C w atmosferze powietrza lub gazu ochronnego i nanosi sie druga warstwe zabezpieczajaca (6), po czym plyt¬ ke ferrytowa (1) z elementami hallotronu (2, 3, 4, 5, 6) tnie sie na poszczególne struktury lub zespoly hallo¬ tronów i laczy sie z wyprofilowanym elementem fer¬ rytowym (8) stanowiacym nabiegunnik, a nastepnie wkleja sie w obudowe (9). 23434 FIG.1 FIG. 2 LDA 2, Typo — zam. 608/80, nakl. 100 egz.Cena 45 zl PL
Claims (6)
1. Zastrzezenie patentowe
2. Sposób wytwarzania cienkowarstwowej hallotro¬ nowej glowicy magnetycznej polegajacy na nano¬ szeniu poprzez naparowywanie prózniowe na podlo¬ ze o duzej przenikalnosci magnetycznej warstwy izo¬ lacyjnej a nastepnie warstwy pólprzewodnika od¬ znaczajacego sie efektem Halla, po czym dzieli sie plytke na pojedyncze hallotrony lub ich zespoly, znamienny tym, ze na wypolerowana plytke ferry¬ towa (1) nanosi sie w podwyzszonej temperaturze warstwe izolacyjna monotlenku krzemu (2) a nas¬ tepnie warstwe pólprzewodnika (
3. ) a po zmianie masek nanosi sie w jednym procesie parowania poszczególne warstwy elektrod (
4. ) w kolejnosci chrom — miedz — srebro — zloto, po czym po zmianie masek powierzchnie pólprzewodnika pokry¬ wa sie warstwa izolacyjna (
5. ), a nastepnie caly ele¬ ment stabilizuje sie w temperaturze 460—500°C w atmosferze powietrza lub gazu ochronnego i nanosi sie druga warstwe zabezpieczajaca (6), po czym plyt¬ ke ferrytowa (1) z elementami hallotronu (2, 3, 4, 5,
6. ) tnie sie na poszczególne struktury lub zespoly hallo¬ tronów i laczy sie z wyprofilowanym elementem fer¬ rytowym (8) stanowiacym nabiegunnik, a nastepnie wkleja sie w obudowe (9). 23434 FIG.1 FIG. 2 LDA 2, Typo — zam. 608/80, nakl. 100 egz. Cena 45 zl PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18203075A PL107593B1 (pl) | 1975-07-14 | 1975-07-14 | Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL18203075A PL107593B1 (pl) | 1975-07-14 | 1975-07-14 | Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL107593B1 true PL107593B1 (pl) | 1980-02-29 |
Family
ID=19972948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL18203075A PL107593B1 (pl) | 1975-07-14 | 1975-07-14 | Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL107593B1 (pl) |
-
1975
- 1975-07-14 PL PL18203075A patent/PL107593B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101467178B1 (ko) | 열적 측정을 제공하도록 구성된 터빈 구성요소 | |
| CA2732983C (en) | Thermocouple for gas turbine environments | |
| KR0161964B1 (ko) | 자기헤드 및 여러 자기헤드를 구비하는 장치 | |
| JPH04310801A (ja) | 磁界検知装置のためのパッケージ | |
| US6159386A (en) | Electrical resistance with at least two contact fields on a ceramic substrate and process for manufacturing the same | |
| PL107593B1 (pl) | Sposob wytwarzania cienkowarstwowej hallotronowej glowicy magnetycznej | |
| JP2005502052A (ja) | 磁気抵抗センサのための三次元ストラップ | |
| US3745506A (en) | Thermistor and method of manufacturing same | |
| KR20050051655A (ko) | 자기 저항 효과 소자, 이 제조 방법 및 사용 방법 | |
| JP2007115938A (ja) | 薄膜サーミスタ | |
| JP4417186B2 (ja) | 抵抗器およびその製造方法 | |
| US4381529A (en) | Magnetic head construction | |
| US4267510A (en) | Integrated thin layer magnetic field sensor | |
| JP2005003477A (ja) | 磁気センサ | |
| JPS59195887A (ja) | ヨ−ク付強磁性体磁気抵抗効果素子の製造方法 | |
| JPH0720080A (ja) | 湿度センサ | |
| JPH0577737U (ja) | 薄膜測温抵抗体 | |
| JP3715380B2 (ja) | ホール素子 | |
| JPS62131589A (ja) | 強磁性体磁気抵抗素子の製造法 | |
| RU2222790C2 (ru) | Датчик температуры | |
| JPH03263886A (ja) | 磁気抵抗素子とその製造方法 | |
| JPS625284B2 (pl) | ||
| Andrä et al. | Current measurements based on thin-film magnetoresistive sensors | |
| JP2913793B2 (ja) | 熱式流量センサー | |
| JPS6139325Y2 (pl) |