PL102263B1 - Method of measuring telephone traffic intensity - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru natezenia ruchu telefonicznego, znajdujacy zastoso¬ wanie w zakresie eksploatacji sdeoi d urzadzen tele¬ fonicznych.

Znany jest z polskiego opisu patentowego nr 59 925, sposób pomiaru natezenia ruchu telefonicz¬ nego oparty na pomiarze wartosci chwilowych na¬ tezenia ruchu telefonicznego poprzez pomiar czasu rozladowania lub czasu ladowania kondensatora, tworzacego obwód RC z rezystancja, stanowiaca uklad szeregowo polaczonych rezystorów pomiaro¬ wych przyporzadkowanych telefonicznym zespolom polaczeniowym, przy czym kazdy z rezystorów pomiarowych jest wlaczony w obwód RC, w przy¬ padku zajetosci odpowiedniego zespolu telefonicz¬ nego. .

Czas rozladowania kondensatora jest wprost pro¬ porcjonalny do liczby znajdujacych sie w obwodzie pomiarowym rezystorów, zgodnie z wzorem: t = N • R • C • In Ul U2 gdzie: t — czas rozladowania kondensatora, pro¬ porcjonalny do liczby jednoczesnie wolnych orga¬ nów polaczeniowych. N — liczba wlaczonych w ob¬ wód pomiarowy rezystorów, odpowiadajacych licz¬ bie jednoczesnie wolnych organów polaczeniowych, R — rezystancja pojedynczego rezystora pomiaro¬ wego wlaczonego szeregowo, Ul — wartosc poczat-. kowa napdecia na kondensatorze, U2 — wartosc koncowa malpiecia na kondensatorze.

Znany jest równiez sposób pomiaru natezenia ruchu telefonicznego w centralach telefonicznych, w których stosowany jest obwód pomiarowy zlo¬ zony z równolegle polaczonych wzgledem siebie rezystorów pomiarowych. Sposób ten polega na tym, ze w celu pomiaru wartosci chwilowej nate- zenna ruchu telefonicznego stosuje sie automatycz¬ nie równowazony mostek Wneatstone'a, zliczajac impulsy podczas równowazenia tego mostka, który w stanie równowagi charakteryzuje sie zaleznoscia Ri • Ra = R« • R* gdzie: Ri — zmieniajaca sie proporcjonalnie do licz¬ by zajetych organów polaczeniowych rezystancja zastepcza obwodu pomiarowego centrali, R2 — zmie¬ niajaca sie rezystancja zastepcza rezystorów rów¬ nowazacych zainstalowanych w obwodzie pomia¬ rowym, R3, R4 — rezystory stpsunkowe o stalej wartosci. Wada tego sposobu jest koniecznosc auto¬ matycznego równowazenia mostka i stosowanie re¬ zystorów w ukladzie równowazacym o wysokiej tolerancji. ..„. -./¦¦_ Istota wynalazku polega na tym, ze zimiana\:koji- dukbancji ukladu równolegle polaczonych rezysto¬ rów pomiarowych o jednakowej rezystancji wla¬ czonych do ukladu w czasie zajeoia. przyporzadko¬ wanych im organów, polaczeniowych,;; z_;których kazdy jest przyporzadkowany osobnemu organawi 102 26?polaczeniowemu, zostaje przetworzona wedlug za¬ leznosci liniowej napiecia i konduktancji, na zmiane wartosci spadku napiecia, a nastepnoje otrzymana zmiane wartosci spadku napiecia przetwarza sie wedlug zaleznosci liniowej na zmiane pradu prze- strajajacego czestotliwosc drgan generatora RC, po czym ze zmian czestotliwosci drgan okresla sie zmiany wartosci chwilowej natezenia ruchu.

W sposobie wedlug wynalazku dzieki liniowosci przebiegów napiec oraz zmian konduktancji uzy¬ skano wysoka dokladnosc pomiaru natezenia ruchu telefonicznego.

Wynalazek objasniony jest na rysunku, przedsta¬ wiajacym schemat ideowy ukladu do pomiaru na_ tezenia ruchu.

; Uklad równolegle polaczonych rezystorów Ri, R2 .;.Rn pomiarowych o jednakowej wartosci rezystan¬ cji, z których kazdy jest przyporzadkowany osob¬ nemu telefonicznemu organowi polaczeniowemu jest polaczony z wejsciem stabilizatora L napiecia.

Dwa symetryczne wyjscia wyjsciowego stopnia sta¬ bilizatora L napiecia sa polaczone z wejsciem ste¬ rujacym generatora G zbudowanego w ukladzie przenzutnika astabilnego. Wyjscie generatora G jest polaczone z jednym wejsciem elementu „I" lo¬ gicznego B a drugie wejscie elementu „I" logicz¬ nego B jest polaczone zv generatorem P impulsów taktujacych. Wyjscie elementu „I" logicznego B jest polaczone z licznikiem LI impulsów. W czasie zajecia telefonicznego organów polaczeniowych na¬ stepuje zalaczenie rezystorów Ri, R2 ...Rn, z któ¬ rych kazdy jest przyporzadkowany osobnemu orga¬ nowi polaczeniowemu.

Uklad równolegle polaczonych rezystorów Ri ...Rn pomiarowych, o konduktancji wprost propor¬ cjonalnej do liczby n wlaczonych w danym stanie zajetosci rezystorów, jest przylaczony do wejscia stabilizatora L napiecia, W stabilizatorze L uzy¬ skiwana jest zaleznosc liniowa napiecia wyjscio¬ wego, które okreslone jest zaleznoscia: gdzie: V — napiecie na rezystorze Ra, Ki — wspól¬ czynnik proporcjonalnosci, wyrazajacy sie wzorem Ki =rRa*UE, w którym Ra — rezystancja w ukla¬ dzie stabilizatora wlaczona poprzez tranzystor w szereg z rezystorami pomiarowymi, UE— napiecie na równolegle polaczonych wzgledem siebie rezy¬ storach Ri, R2 ...Rn, zas n — liczba wlaczonych rezystorów pomiarowych, natomiast R — rezystan¬ cja rezystora pomiarowego.

Prad Ip stabilizatora L ojEreslony jest zalezno¬ scia: Ip.=lK*'U - gdzie: K2 — wspólczynnik proporcjonalnosci o sta- 1 lej wartosci wyrazony wzorem K2 =—¦, w którym Re Re — rezystancja obciazenia wlaczona szeregowo z tranzystorem, zas U — napiecie wyjsciowe sta¬ bilizatora^ ' Prad Ip stabilizatora jest jednoczesnie pradem 1 przentóennego rozladowania kondensatorów Ci i C2 w^ ppzerzutniku astabilnym sterowanego generato- Kondensatory Ci i C2 posiadaja jednakowa war¬ tosc pojemnosci, zapewniajac liniowa zaleznosc czestotliwosci fp drgan sterowanego generatora G od wartosci pradu Ip, przy czym czestotliwosc fp okreslona jest zaleznoscia: fp = K3-Ip gdzie: K3 — wspólczynnik proporcjonalnosci wy- 1 razajacy sie wzorem K3= , w którym t 2C (Ug—'Ui) C = Ci=iC2 pojemnosci kondensatorów w ukla¬ dzie przerzutnika astabilnego, Ui — napiecie zasila¬ jace stopien wejsciowy stabilizatora, zas U2 — na¬ piecie zasilajace stopien wyjsciowy stabilizatora, Ip — prad stabilizatora.

Wartosc chwilowa natezenia ruchu at okre¬ sla sie dokonujac pomiaru czestotliwosci fp drgan na wyjsciu sterowanego generatora G we¬ dlug zaleznosci: at = n = Kn-ip gdzie: n — liczba wlaczonych w danym stanie za¬ jetosci rezystorów, Kn — wspólczynnik proporcjo- R nalnosci wyrazajacy sie wzorem: Kn = — K1JK2.K3 w którym R — rezystancja rezystora pomiarpwe- go, zas Ki, K2, K3 — wspólczynniki proporcjo¬ nalnosci, a Ip — czestotliwosc drgan.

Praktycznie pomiar natezenia ruchu at telefonia cznego realizowany jest na drodze rejestracji w liczniku LI impulsów tej liczby impulsów pojawia¬ jacych sie na wyjsciu sterowanego generatora G, jaka zostanie podana w trakcie trwania impulsu testujacego z dodatkowego generatora P pojedyn- 33 czych impulsów, który to impuls otwiera element „I" logiczny B. Czas trwania testujacego impulsu z generatora P jest odpowiednio dobrany, za¬ pewniajac, ze zarejestrowana liczba impulsów ge¬ neratora G wyraza wartosc natezenia ruchu at 40 bezposrednio w jednostkach natezenia ruchu.

K3 zystora pomiarowego, Ki — wspólczynnik propor¬ cjonalnosci, K2 — wspólczynnik proporcjonalnosci wyrazajacy sie wzorem K2 = — , gdzie: Rc — — rezystancja obciazenia wlaczona szeregowo z tranzystorem, K3 — wspólczynnik proporcjonal¬ nosci.

Rl R3 ¦i—1—1 u WE -d/r \ x m L3 -£¦ -ik- Fig.l

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe « Sposób pomiaru natezenia ruchu telefonicznego, wykorzystujacy.zasade reprezentowania stanu zaje¬ tosci okreslonej liczby telefonicznych organów po¬ laczeniowych przez wartosc rezystancji zastepczej ukladu polaczonych rezystorów pomiarowych, wla- 50 czonych do ukladu w czasie zajecia przyporzadko¬ wanych im telefonicznych zespolów polaczenio¬ wych, znamienny tym, *ze zmiana konduktancji u- kladu równolegle polaczonych rezystorów (Ri, R2 ...Rn) o jednakowej wartosci rezystancji (R), z- 55 których kazdy jest przyporzadkowany osobnemu telefonicznemu organowi polaczeniowemu zostaje przetworzona wedlug zaleznosci liniowej ¦. [°-*(i + i.'+.-';i)};- gdzie U — napiecie wyjsciowe stabilizatora, Ki — wspólczynnik proporcjonalnosci wyrazajacy sie wzorem Ki = Ra ,UE, w którym Ra -^ rezystancja w ukladzie stabilizatora, wlaczona poprzez tran- 05 zystor w szereg z rezystorami pomiarowymi, Ue —1Ó2 263 napiecie na równolegle polaczonych wzgledem sie¬ bie rezystorach pomiarowych, na zmiane wartosci napiecia (U), a nastepnie otrzymana zmiane war¬ tosci napiecia (U) przetwarza sie wedlug zaleznosci liniowej na zmiane wartosci pradu (Ip) przestra- jajacego czestotliwosc fp drgan sterowanego gene¬ ratora (G) impulsów wedlug zaleznosci liniowej (fP =iK3.Ip), gdzie K3 — wspólczynnik propor- 1 cjonalnosci wyrazajacy sie wzorem K3= 2C(U2—Ui) w którym: C = Ci=iC2 pojemnosci kondensatorów w ukladzie przerzutnika astabilnego, Ui — napie¬ cie zasilajace stopien wejsciowy stabilizatora, U2— napiecie zasilajace stopien wyjsciowy stabilizatora -a Ip — prad stabilizatora, przy czym ze zmian 10 15 A . czestotliwosci fp drgan sterowanego generatora tezenia ruchu telefonicznego wedlug zaleznosci li¬ niowej (at = Kn . fP), gdzie: Kn — wspólczynnik proporcjonalnosci wyrazajacy sie wzorem Kn = w którym R — rezystancja re- Kj • K2 *