NO144551B - Opptegningsbaerer med informasjon opptegnet som optisk struktur og apparat for opptegning av informasjon paa en slik opptegningsbaerer - Google Patents

Description

Oppfinnelsen angår en opptegningsbærer med informasjon opptegnet som optisk struktur i områder og mellomrom i spor med avstand mellom sporene/ hvilke områder påvirker en avlesningsstråle på en annen måte enn mellomrommene og området mellom sporene, idet lengden av de enkelte områder og mellomrom i sporene bestemmer informasjonen, og ved hvilken opptegningsbærer den mid-

lere områdefrekvens av områdene varierer i avlesningsapparatet,

hvor avlesningsstrålen som er fokusert på den optiske struktur til en stråleflekk som er større enn sporets bredde, og i tilfelle av

flere spor, mindre enn summen av sporets bredde og to ganger avstanden mellom til hverandre grensende spor.

Sporene i tilfellet av en rund opptegningsbærer skal forstås som et antall konsentriske spor eller et spiralformet spor som kan være oppdelt i et antall kvasikonsentriske spor. Med midlere områdefrekvens av områdene skal forstås det midlere antall områder pr. lengdeenhet i sporet.

For avlesning av en opptegningsbærer med optisk informasjonsstruktur er det i norsk patentsøknad nr. 3399/73 foreslått å projisere en strålingsflekk med dimensjoner større enn bredden av sporet på informasjonsstrukturen. Strålingen fra opptegningsbæreren konsentreres på en strålingsfølsom detektor ved hjelp av en linse med begrenset åpning. I de områder, hvor informasjonsstrukturen be-virker avbøyning vil den avbøyede stråle for størsteparten falle utenfor linseåpningen. Følgelig hvis et område anbringes foran linsen, vil mindre stråling nå detektoren enn hvis ikke noe område befinner seg foran linsen.

For å oppnå maksimal optisk signal må geometrien av området på opptegningsbæreren og dimensjonene av strålingsflekken på opptegningsbæreren såvel som strålingsfordelingen på strålingsflekken tilpasses hverandre. Den maksimale åpning for linsen som danner strålingsflekken på opptegningsbæreren må da bestemme en bestemt geometri av området. Den midlere områdefrekvens og dermed den midlere lengde av områdene kan imidlertid variere sterkt i de forskjellige spor. Derfor kan ikke alle spor avleses på optimal måte ved hjelp av en enkelt strålingsflekk som er dannet av en bestemt linse.

Omformingen av informasjon som er opptegnet i den optiske struktur på opptegningsbæreren til elektriske signaler behøver ikke alltid være lineær. Det kan hende at detektoren mottar en viss terskelverdi, mens kanten av området enda ikke er riktig innstillet i forhold til strålingsflekken. Dette vil resultere i forvrengning av det detekterte signal særlig ved lav områdefrekvens, dvs. ved større midlere lengde av områdene og mellomrommene i sporene.

Hensikten med oppfinnelsen er å tilveiebringe en opptegningsbærer, minske den ene eller begge disse problemer.

Dette oppnås ifølge oppfinnelsen ved at de midlere dimensjoner av områdene i sporene er tilpasset den midlere områdefrekvens i sporene på sådan måte, at det oppnås et signal med tilstrekkelig modulasjonsgrad og minimal forvrengning.

Med fordel kan sporbredden øke når den midlere områdefrekvens i sporet øker, og på denne måte kan opptegningsbæreren ifølge oppfinnelsen avleses på maksimal måte ved hjelp av en enkelt strålingsflekk på en bestemt geometri og en bestemt strålingsfor-deling og over strålingsflekken. Tilpassing av sporbredden sikrer videre at de posisjoner av strålingsflekken og arealene i forhold til hverandre hvor styrken av strålen til detektoren er halvparten av differensen mellom maksimal og minimal styrke av strålen som skal detekteres, gir tilnærmet ønskede posisjoner.

Ved lav midlere områdefrekvens kan den midlere lengde av området være mindre enn den midlere lengde som skulle svare til denne frekvens.

Et ytterligere trekk ved oppfinnelsen er et apparat for opptegning av informasjon på en slik opptegningsbærer, omfattende en strålingskilde som avgir en opptegningsstråle, og en moduleringsinnretning for informasjonspulser i samsvar med den informasjon som skal opptegnes, særpreget ved hjelpemidler for påvirkning av opptegningsstrålene i avhengighet av den informasjon som skal opptegnes, på sådan måte at det resulterer i at de midlere dimensjoner av områdene på opptegningsbæreren varierer i samsvar med den midlere områdefrekvens for områdene.

Ved lav midlere områdefrekvens kan områdenes ender smalne av til et punkt i sporets lengderetning.

Oppfinnelsen skal nedenfor beskrives nærmere under hen-visning til tegningene, hvor fig. 1 viser skjematisk en del av en optisk struktur på en opptegningsbærer som skal avleses, fig. 2 viser skjematisk et apparat for avlesning av en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen, fig. 3 viser et diagram for amplituden av fordelingen i strålingsflekken før og etter samvirke med opptegningsbæreren, fig. 4 viser skjematisk deler av to informasjonsspor med forskjellig områdefrekvens, fig. 5 viser et diagram for samvirke mellom en strålingsflekk og sporene på fig. 4, fig. 6 viser en del av et spor med høy områdefrekvens ifølge oppfinnelsen, fig. 7 viser skjematisk og som diagram styrkevariasjoner i strålen fra opptegningsbæreren som funksjon av stillingen av kantérn av et område i forhold til strålingsflekken, og

fig. 8 viser et diagram som representerer deformasjonen

av det detekterte signal som opptrer ved lav områdefrekvens.

Fig. 9 og 10 viser deler av en optisk informasjonsstruktur som er korrigert for deformasjonen ifølge oppfinnelsen. Fig. 11 viser skjematisk et apparat for opptegning av informasjon på en opptegningsbærer ifølge oppfinnelsen. Fig. 1 viser en del av en optisk struktur på en opptegningsbærer som skal avleses, f.eks. en rund opptegningsbærer 1. På opptegningsbæreren er opptegnet et antall områder g i sporene 2. Områdene har forskjellig virkning på en avlesningsstråle som treffer opptegningsbæreren i forhold til resten av opptegningsbæreren,dvs.

i forhold til mellomrommene t og de informasjonsfrie områder 3 mellom sporene. Sporene kan være anordnet parallelt med hverandre, dvs. konsentrisk i forhold til ppptegningsbærerens sentrum. Opptegningsbæreren kan også være forsynt med et kontinuerlig spiralformet spor. Lengden av område og mellomrommene i sporene er bestemt av den informasjon som er lagret i sporet.

En ikke vist avlesningsstråle frembringer en strålingsflekk V på den optiske struktur. Ved å bevege opptegningsbæreren i retning av pilen 4 vil avlesningsstrålen tidsmoduleres i samsvar med rekken av områder og mellomrom i sporet. Diameteren d av strålingsflekken V er større enn bredden av sporet 2, men mindre enn summen av sporbredden og to ganger bredden av området 3 mellom sporene.

Åpningen av en linse L (fig. 2), som tjener til å avbilde opptegningsbæreren på en detektor D, er valgt slik at linsen ikke kan avbilde de smale områder g. Så lenge en strålingsflekk projiseres utenfor et område g, vil detektoren D motta maksimal stråling. Når en strålingsflekk projiseres på et område g med finere struktur enn d, vil meget stråling av-bøyes utenfor linsen L slik at praktisk talt ingen stråling treffer detektoren.

Informasjon kan lagres på opptegningsbæreren som amplitudestruktur 'idet områdene ligger i samme plan som overflaten av opptegningsbæreren. Områdene kan da være strålingsabsorberende, mens selve opptegningsbæreren kan slippe gjennom stråling eller reflektere stråling, eller omvendt kan områdene slippe gjennom stråling eller reflektere stråling men opptegningsbæreren er strålingsabsorberende. Områdenes plan kan også ligge i liten avstand fra overflaten av opptegningsbæreren. Et eksempel på en slik fasestruktur er en reflekterende opptegningsbærer hvor fordypninger er presset inn på områdestedene.

Por maksimal modulasjon av detektorstrømmen ved hjelp av mønstere av fordypninger på opptegningsbæreren reflekteres strålen fra bunnen av fordypningen og på opptegningsbæperens overflate som grenser til fordypningene må det være en faseforskjell på l80° med samme styrke. En l80° faseforskjejl oppnås ved at fordypningens dybde er lik en kvart bølgelengde av strålingen som anvendes, slik at forskjellen i vei-lengde mellom de.to refleksjoner vil være en halv bølgelengde. Lik styrke oppnås ved å sikre at samme mengde stråling opptrer i og utenfor fordypningen. Enhver sporgeometri er således forbundet med en maksimal styrkefordeling over strålingsflekken og fordi fordelingen er avhengig av avbøyningen i linseåpningen, altså med maksimal verdi av åpningen for linsen som danner strålingsflekken.

Dette er vist på fig. 3 hvor kurven a representerer amplituden A som funksjon av radien r i en rund strålingsflekk. Hvis strålingsflekken projiseres på en fordypning k på en opptegningsbærer med en dybde på en kvart bølgelengde, vil det overføres en amplitude.i samsvar med kurven c. Strålingen som reflekteres fra bunnen av fordypningen er l80° faseforskjøvet i forhold til stråling som reflekteres av arealet rundt fordypningen. Detektoren er anordnet på den optiske akse i et punkt som ligger forholdsvis langt fra fordypningen. Den totale stråling i dette punkt kan bestemmes ved addisjon av de sammensatte amplituder av alle komponentene e og f. Det er klart at ved egnet valg av amplitudefordeling og dimensjoner av fordypningen kan summen av de komplekse amplituder og således styrken av strålingen som treffer detektoren gjøres ubetydelig små.

Som tidligere nevnt er lengden av fordypningene bestemt av informasjonen som opptegnes på opptegningsbæreren. For et stort antall etter hverandre følgende fordypninger kan imidlertid angis en midlere lengde. Denne midlere lengde kan variere over opptegningsbæreren. Dette er f.eks. tilfelle med en rund skiveformet opptegningsbærer på hvilket er opptegnet et fjernsynsprogram og inneholder konsentriske eller kvasikonsentriske spor med informasjon for et fjernsynsbilde. Det er klart at for en slik opptegningsbærer er den midlere lengde av fordypningene i det ytre spor større enn for fordypningene i det innerste spor, f.eks. med en faktor 3 for en indre diameter på lOcm og en ytre diameter på 30 cm. Dette betyr at når åpningen av linsen L velges slik at det ytre spor avleses på maksimal måte, vil det indre spor ikke kunne avleses på maksimal måte ved hjelp av denne linse.

Fig. 4 viser deler av enninformasjonsstruktur med stor midlere lengde 1 av fordypningene og en informasjonsstruktur med liten midlere lengde 1' av fordypningen. I virkeligheten kan lengden av fordypningene i et spor moduleres i samsvar med informasjonen som skal lageres i sporet.

Det antas at amplitudefordelingen over strålingsflekken

og dimensjonene av strålingsflekken er slik at sporet med en midlere fordypningslengde 1 tillater maksimal avlesning. Dette betyr at når strålingsf lekken projiseres på en fordypning.?, er summen av de sammensatte amplituder av de reflekterte strålingskomponenter j og h hovedsakelig null, slik at detektoren mottar et minimum av stråling. Hvis strålingsflekken projiseres midt mellom to fordypninger, vil ingen avbøyning opptre slik at graden av stråling på detektoren er maksimal. Variasjon av strålingsstyrken som funksjon av bevegelsen x av avlesningsflekken i retning av sporet, er da representert ved kurven u på fig. 5.

Hvis den samme strålingsflekk anvendes for avlesning av informasjonsspor med liten midlere lengde 1<*> av fordypningene, vil variasjon av strålingsstyrken som treffer detektoren være meget mere ugunstig som vist ved kurven u' på fig. 5. Mellomrommet mellom fordypnhgene i sporets lengderetning er mindre enn diameteren av strålingsflekken, slik at strålingsflekken alltid projiseres på en fordypning eller på deler av tilgrensende fordypninger. Som følge herav vil maksimal strålingsstyrke på detektoren være vesentlig mindre enn når et spor med større midlere lengde av fordypningen avleses. Når strålingsflekken projiseres på en fordypning vil den samlede amplitude av de reflekterte strålingskomponenter j og h av--vike fra null, slik at maksimal strålingsstyrke som treffer detektoren er større enn når et spor med større midlere lengde 1 av fordypningene avleses. Modulasjonsgraden for det detekterte signal vil ved avlesning av et spor med mindre midlere lengde av fordypningene være mindre enn ved avlesning av et sper med større midlere lengde av fordypningene.

Ifølge oppfinnelsen kan denne situasjon bedres med hensyn til amplitudefordelingen over strålingsflekken for et spor med mindre midlere lengde

• av fordypningene, ved at bredden av fordypningene•er slik at

når strålingsflekken projiseres på fordypningen, vil styrken av strålingen som reflekteres fra bunnen av fordypningen og strålingen som reflekteres fra arealet som omgir fordypningen være tilnærmet lik hverandre.

Fig. 6 viser en. del av et informasjonsspor ifølge oppfinnelsen med midlere lengde 1' av fordypningen. Bredden av fordypningene er vesentlig større enn på fig. 4. Dette sikrer at nivået for minimal strålingsstyrke på detektoren minskes, slik at modulasjonsgraden for det detekterte signal blir større enn ved kurven u' på fig. 5-

Det å utvide sporet har også en innvirkning på likespenningskomponenten i det detekterte signal. Det er klart at likespenningskomponenten varierer med variasjon av den midlere områdefrekvens „ dvs. at ved en økning av den midlere områdefrekvens for områdene, vil likespenningskomponenten avta, som vist ved nivåene n og n' på fig. 5. Variasjonen av likespenningskomponenten øker i et bestemt område av områdefrekvensen med økning av fordypningenes bredde. Variasjonen av likespenningskomponenten under avlesning av en opptegningsbærer kan medføre vanskeligheter når det elektriske signal fra detektoren skal viderebehandles elektronisk. Hvis liten variasjon av likespenningskomponenten er ønskelig, f.eks. for bestemt koding av et fjernsynssignal på en opptegningsbærer, må bredden av sporet være resultatet av et kompromiss. I det tilfellet må det gis avkall på en forbedring av modulasjonsdybden ifølge oppfinnelsen til fordel for en mest mulig konstant likespennings-komponent i det detekterte signal.

Foruten lik grad av tidsinformasjon pr. spor på en rund opptegningsbærer kan ifølge oppfinnelsen fcnhver opptegningsbærer anvendes hvor av en eller annen grunn områdeinformasjonstetthet i en optisk struktur endres i en bestemt retning.

Det antas at når sentrum for strålingsflekken passerer begynnelsen eller enden av en fordypning mens opptegningsbæreren avleses, vil strålingsstyrken som treffer detektoren være halvparten av differensen mellom den mulige maksimale og minimale strålingsstyrke på.detektoren. I praksis oppnås imidlertid ikke alltid dette og resultatet er ulineæritet, særlig ved liten midlere områdefrekvens.

Fig. 7 viser i tilfelle av en fordypningsstruktur med lav områdefrekvens, at strålingsstyrken på detektoren varierer som funksjon av strålingsflekkens posisjon i forhold til fordypningen. I dette tilfellet antas at strålingsflekken har en diameter på 1,3 ^um med Gauss fordeling. Fordypningen har en lengde på 3/,um og en bredde på 0,8 ^urn. Posisjonene for enden av fordypningen i forhold til strålingsflekken er vist med strekede linjer og betegnet 10, 11 og 12. Strålingsstyrken I_ er lik I _ - I . , idet I represan-

0 max mm' max r

terer den totale styrke av strålingen på detektoren hvis strålingsflekken er projisert utenfor en fordypning, og Im:j_n er den- minste strålingsstyrke rettet mot detektoren hvis strålingsflekken projiseres på en fordypning. En dump i kurven som representerer styrken på fig. 7 er bevirket av at fordypningen og strålingsflekken ikke er tilpasset hverandre.

For små fordypninger vil dumpen forsvinne. Fig. 7 viser

at allerede i tilstanden 11, dvs. når enden av fordypningen frem-deles har en forholdsvis stor avstand fra midten m av strålingsflekken, har styrken av den reflekterte stråling til detektoren allerede fallt til .ca. \ IQ. Som følge herav vil det elektriske signal som leveres av detektoren ha en form som er vist med den ubrutte kurve på fig. 8.

Signalet er sterkt forvrengt i forhold til signalet som

er vist på den strekede kruve som ville oppnås hvis verdien J IQ

ble oppnådd når enden av fordypningen faller sammen med midten m av strålingsflekken s. Ifølge oppfinnelsen kan danne ulineæritet hovedsakelig unngås ved å anvende spor med liten områdefrekvens, f.eks. de ytre spor i en rund opptegningsbærer smalere. Dette sikrer at det sted i strålingsflekken hvor slutten av en fordypning må ligge for at strålingsstyrken til detektoren skal ha verdien \ IQ, forskyves mot midten av strålingsflekken. Ved større områdefre-

kvenser, når strålingsflekken kontinuerlig projiseres på en fordypning eller deler av til hverandre grensende fordypninger, vil ulineæriteten ikke lenger være vesentlig. Sporene med gjennom-snittelig kortere fordypninger kan gjøres bredere slik at den ønskede maksimale avlesning oppnås, fordi mest mulig lik strålingsstyrke fra fordypningen og fra arealet rundt en fordypning oppnås. Inn-virkningen av to feil kan stort sett elimineres ved en enkelt for-anstaltning, nemlig å gjøre sporene med liten områdefrekvens smalere enn sporene med stor områdefrekvens.

Ifølge oppfinnelsen er det likeledes mulig i tilfelle av

en opptegningsbærer med konstant sporbredde å hindre ulineær avlesning, ved at selve fordypningene kan gjøres noe kortere. Dette er vist på fig. 9 ved strekede linjer idet de ubrutte linjer representerer en tidligere struktur av fordypningene. Ved å gjøre den midlere lengde av fordypningene mindre enn halvparten av den midlere periode, kan det oppnås at avstanden mellom posisjonene hvor den reflékterte stråling inntar invået \ IQ blir lik den ønskede avstand forven halv periode.

Den samme virkning kan oppnås ved som. vist på fig. 10 og smalne av endene av fordypningene.

Oppfinnelsen er beskrevet på bakgrunn av en opptegningsbærer med reflekterende .mønster i fordypninger. Da imidlertid oppfinnelsen er ålmenngyldig for forbedring av en opptegningsbærer som avleses ved prinsippet ifølge oppfinnelsen, nemlig at strålingsflekken er større enn sporbredden, kan det også anvendes andre opptegningsbærere. F.eks. kan en fullstendig transparent opptegningsbærer forsynes med områder i en halv bølgelengde fra opptegnings-bærerens overflate (fasestruktur) eller en transparent eller reflekterende opptegningsbærer forsynt med spor med strålingsabsorberende områder (amplitudestruktur). Fordelene ved avlesnings-prinsippet. nemlig at strålingsflekken er større enn sporbredden, er imidlertid særlig fremtredende ved en fasestruktur fordi en mindre fasevariasjon resulterer i en vesentlig variasjon av detektorsignalet.

For opptegning av informasjon på en opptegningsbærer

ifølge oppfinnelsen kan det anvendes et spesielt opptegningsapparat som er forsynt med spesielle hjelpemidler ifølge oppfinnelsen for å påvirke opptegningsstrålen i avhengighet av informasjonen som akal

opptegnes på sådan måte at i opptegningsbæreren blir de midlere dimensjoner av områdene tilpasset den midlere områdefrekvens på opptegningsbæreren. Opptegningsbæreren kan gis informasjon som er opptegnet ved hjelp av et slikt apparat og kan gis form av en pressematrise som kan tjene som verktøy for fremstilling av en rekke tilsvarende opptegningsbærere.

På fig. 11 er vist et appafcat som omfatter en strålingskilde 18 som leverer en stråle med tilstrekkelig energi. Strålen er rettet på opptegningsbæreren 1 på hvilken det skal opptegnes informasjon ved hjelp av prismene 19,020 og 21 og en objektivlinse 27 som konsentrerer strålingen til en flekk på opptegningsbæreren. Opptegningsbæreren er forsynt med et sjikt av strålingsfølsomt materiale. Strålingsbanen mellom kilden 18 og opptegningsbæreren 1 omfatter videre' en blender 22 og en elektro-optisk strålingsmodula-tor 23. Strålingsmodulatoren i forbindelse med en elektronisk styreinnretning 24 danner en modulasjonsenhet. Ved hjelp av modula-sjonsenheten blir informasjonen, f.eks. et fjernsynsprogram, til-ført klemmene 30,31 i form av et elektrisk signal,< omformet til strålingspulser fra laserkilden 18. I et bestemt øyeblikk vil informasjonen på klemmene 30,31 resultere i strålingsflekker som projiseres på opptegningsbæreren.

Opptegningsbæreren er sirkelformet og roterer om sin akse ved hjelp av en motor 15 som ved hjelp av en vogn 16 er radialt forskyvbar slik at det f.eks. kan opptegnes et spiralformet spor på opptegningsbæreren 1.

For å oppnå at bredden av sporene som opptegnes varierer i samsvar med den midlere områdefrekvens som vist på fig. 4 og 6, må det sørges for at størrelsen av strålingsflekken som projiseres på opptegningsbæreren er innstillbar i én retning . Til dette form-ål tjener f.eks. blenderen 22 som er innstillbar i en retning. Fortrinnsvis anvendes imidlertid en blender som er innstillbar i en retning i umiddelbar nærhet av objektivlinsen 27 og er antydet med streker 32 pa fig. 11.

Ifølge oppfinnelsen kan områder med avsmalnen.de ender som vist på fig. 10 tegnes opp ved å tilpasse stigetiden for strålingspulsene som formes i modulatoren 23,24. Dette kan f.eks. oppnås ved å anordne en variabel kondensator 33 parallelt med kapasiteten i den elektro- optiske modulator, slik at RC-tiden som bestemmer stigetiden for moduleringsinnretningen kan innstilles på forskjellig verdi for forskjellige områdefrekvenser på opptegningsbæreren.

Moduleringsinnretningen 23,24 muliggjør også et mønster av fordypningene som vist med strekede linjer på fig. 9 som kan oppnås ved elektroniske hjelpemidler. Dette er f.eks. mulig uavhengig av den informasjon som opptegnes, ved å innføre en variabel forsinkelse mellom den forreste og bakre flanke av de firkant-bølgeformede informasjonssignaler som tilføres klemmene 30 og 31-

Claims (9)

1. Opptegningsbærer med informasjon opptegnet som optisk struktur i områder (g) og mellomrom (t) i spor med avstand mellom sporene, hvilke områder påvirker en avlesningsstråle (B) på en annen måte enn mellomrommene og området (3) mellom sporene, idet lengden av de enkelte områder og mellomrom i sporene bestemmer informasjonen, og ved hvilken opptegningsbærer (1) den midlere områdefrekvens av områdene varierer i avlesningsapparatet hvor avlesningsstrålen som er fokusert på den optiske struktur til en stråleflekk som er større enn sporets bredde, og i tilfelle av flere spor, mindre enn summen av sporets bredde og to ganger avstanden mellom til hverandre grensende spor, karakterisert ved at de midlere dimensjoner av områdene'(g) i sporene er tilpasset den midlere områdefrekvens i sporene på sådan måte, at det oppnås et signal med tilstrekkelig modulasjonsgrad og minimal forvrengning.

2. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at sporbredden øker når den midlere områdefrekvens i sporet øker (fig. 6).

3. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at ved lav midlere områdefrekvens er den midlere lengde av området (g) mindre enn den midlere lengde som skulle svare til denne frekvens.

4. Opptegningsbærer ifølge krav 1, karakterisert ved at ved lav midlere områdefrekvens smalner områdenes (g) ender av til et punkt i sporets lengderetning (fig.10).

5- Apparat for opptegning av informasjon på en opptegningsbærer ifølge krav 1, omfattende en strålingskilde (18) som avgir en opptegningsstråle, og en moduleringsinnretning (23,24) for informasjonspulser i samsvar med den informasjon som skal opptegnes, karakterisert ved hjelpemidler (32,33) for påvirkning av opptegningsstrålene i avhengighet av den informasjon som skal opptegnes på sådan måte at det resulterer i at de midlere dimensjoner av områdene (g) på opptegningsbæreren varierer i samsvar med den midlere områdefrekvens for områdene (fig. 11).

6. Apparat ifølge krav 5, karakterisert ved at strålingsbanen mellom strålingskilden (18) og opptegningsbæreren (1) omfatter et optisk element (32) som er istand til å endre bredden av strålingen i én retning (fig. 11).

7. Apparat ifølge krav 6, karakterisert ved at det optiske element (32) består av en innstillbar blender som er anordnet i nærheten av et objektivlinsesystem (27) som danner en strålingsflekk på opptegningsbæreren (fig. 11).

8. Apparat ifølge krav 5»karakterisert ved at moduleringsinnretningen (23,24) omfatter elektroniske elementer (33) for å endre stigetiden av strålingspulsene som leveres av moduleringsinnretning i avhengighet av den informasjon som skal opptegnes.

9. Apparat ifølge krav 5, karakterisert ved at moduleringsinnretningen (23,24) omfatter hjelpemidler for regulering av bredden av strålingspulsene som leveres av moduleringsinnretningen uavhengig av den informasjon som skal opptegnes.