NL8700433A - METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT. - Google Patents

METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT. Download PDF

Info

Publication number
NL8700433A
NL8700433A NL8700433A NL8700433A NL8700433A NL 8700433 A NL8700433 A NL 8700433A NL 8700433 A NL8700433 A NL 8700433A NL 8700433 A NL8700433 A NL 8700433A NL 8700433 A NL8700433 A NL 8700433A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
scattered light
area
black
light
plane
Prior art date
Application number
NL8700433A
Other languages
Dutch (nl)
Original Assignee
Eskofot As
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Eskofot As filed Critical Eskofot As
Publication of NL8700433A publication Critical patent/NL8700433A/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/32Projection printing apparatus, e.g. enlarger, copying camera
    • G03B27/323Copying cameras
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/72Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
    • G03B27/74Positioning exposure meters in the apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Projection-Type Copiers In General (AREA)

Description

s τ * *s τ * *

Werkwijze voor het meten van verstrooid licht.Method for measuring scattered light.

De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het meten van verstrooid licht in een reproduktiecamera voor grafische reproduktie, omvattende: een draagconstructie, waaraan drie onderling verplaatsbare vlakken zijn bevestigd, 5 en wel een afbeeldingsvlak, een origineelvlak en een objectief vlak, en een balg en ten minste één lichtbron.The invention relates to a method for measuring scattered light in a reproduction camera for graphic reproduction, comprising: a supporting construction to which three mutually displaceable surfaces are attached, namely an image surface, an original surface and an objective surface, and a bellows and at least one light source.

Hier heeft verstrooid licht (diffuus licht) de betekenis van de hoeveelheid licht, die een relatief klein gebied van het afbeeldingsvlak treft, en dat niet afkomstig 10 is van het overeenkomstige gebied van het origineelvlak.Here, scattered light (diffuse light) has the meaning of the amount of light that strikes a relatively small area of the image plane and does not originate from the corresponding area of the original plane.

Het is bekend de hoeveelheid verstrooid licht te schatten. Een dergelijke schatting is echter onzeker, omdat het verstrooide licht afhankelijk is van verscheidene omstandigheden, zoals het origineel, de vergroting (de geometrie), 15 stof en het diafragma (breking).It is known to estimate the amount of scattered light. However, such an estimate is uncertain because the scattered light is dependent on various circumstances, such as the original, magnification (geometry), dust, and aperture (refraction).

Het is vaak van essentieel belang de hoeveelheid verstrooid licht met grote nauwkeurigheid te kennen, bijvoorbeeld bij het berekenen van belichtingstijden in verbinding met schermen volgens bijvoorbeeld de Deense octrooiaanvrage 20 nr. 2559/84, die enige formules beschrijft voor het corrigeren van belichtingstijden. Deze correctiewerkwijze vereist relatief veel arbeid en houdt geen rekening met alle factoren, die invloed hebben op het verstrooide licht.It is often essential to know the amount of scattered light with great accuracy, for example when calculating exposure times in connection with screens according to, for example, Danish Patent Application No. 2059/84, which describes some formulas for correcting exposure times. This correction method requires relatively much labor and does not take into account all factors affecting the scattered light.

Het doel van de uitvinding is weer te geven hoe 25 rekening gehouden kan worden met alle factoren, die het verstrooide licht beïnvloeden. Het doel van de onderhavige uitvinding is tevens het verschaffen van een werkwijze van de bovengenoemde soort, die volgens de uitvinding wordt gekenmerkt, doordat in een gebied van het afbeeldingsvlak, dat 30 overeenkomt met een "zwart" gebied in het origineel vlak de lichtsterkte wordt gemeten.The object of the invention is to show how all factors influencing the scattered light can be taken into account. The object of the present invention is also to provide a method of the above-mentioned type, which according to the invention is characterized in that the luminous intensity is measured in an area of the image plane corresponding to a "black" area in the original plane. .

Op deze wijze wordt een meer direkte meting verkregen omdat nagenoeg alleen het verstrooide licht wordt gemeten en omdat het verstrooide licht kan worden gemeten in respon-35 sie op verschillende parameterwaarden van de reproduktiecamera. Het zwarte gebied moet relatief klein zijn om de hoe- 870 0 433 - 2 - 1 ·* * Λ * veelheid verstrooid licht niet te beperken en op deze wijze de meting te beïnvloeden.In this way, a more direct measurement is obtained because almost only the scattered light is measured and because the scattered light can be measured in response to different parameter values of the reproduction camera. The black area should be relatively small so as not to limit the amount of scattered light 870 0 433 - 2 - 1 · * * Λ * and thus influence the measurement.

Het zwarte gebied in het origineelvlak kan bijvoorbeeld gevormd worden door een spiegel.For example, the black area in the original face can be a mirror.

5 Vervolgens zal de uitvinding nader worden beschre ven met betrekking tot de bijgaande tekeningen, waarin:The invention will be described in more detail below with reference to the accompanying drawings, in which:

Figuur 1 een reproduktiecamera volgens de uitvinding toont;Figure 1 shows a reproduction camera according to the invention;

Figuur 2 een weergave is van het verstrooide licht 10 in de reproduktiecamera;Figure 2 shows the scattered light 10 in the reproduction camera;

Figuur 3 een verplaatsbare lichtdetector is voor het meten van het verstrooide licht in het afbeeldingsvlak; enFigure 3 is a movable light detector for measuring the scattered light in the image plane; and

Figuur 4 een grafische weergave is van de afhanke-15 lijkheid van het strooilicht van de vergroting.Figure 4 is a graphical representation of the dependence of the scattered light on the magnification.

De in figuur 1 getoonde inrichting wordt gevormd door een draagconstructie, die door een steunorgaan 2 wordt gedragen, en die aan zijn bovenzijde een stationaire tafel met een glazen plaat 4 draagt. Op de glazen plaat kan een vél 20 lichtgevoelig materiaal worden geplaatst. Bovenop de glazen plaat kan een deksel worden geplaatst voor het fixeren van het vel lichtgevoelig materiaal.The device shown in figure 1 is formed by a support structure, which is supported by a support member 2, and which carries on its top a stationary table with a glass plate 4. A lot of photosensitive material can be placed on the glass plate. A lid can be placed on top of the glass plate to fix the sheet of photosensitive material.

Een fotografisch objectief 6, dat aan een balg 7 is bevestigd, kan glijdbaar naar boven of naar beneden worden 25 bewogen. Onder het objectief 6 is een tafel 8 aangebracht, die door twee zich daarop loodrecht uitstrekkende geleide-organen in de vorm van kolomen 9 wordt gesteund. Aldus is de tafel in de boven- en benedenwaartse richting glijdbaar. In de tafel is een glazen plaat aangebracht, waarop een origi-30 neel, zoals een tekening of een blad papier kan worden geplaatst, dat gereproduceerd moet worden, d.w.z. door middel van het objectief 6 op de glazen plaat moet worde geprojecteerd.A photographic objective 6, which is attached to a bellows 7, can be slidably moved up or down. A table 8 is arranged under the objective 6, which is supported by two guide members in the form of columns 9 extending at right angles thereto. The table is thus slidable in the up and down direction. A glass plate is arranged in the table, on which an original, such as a drawing or a sheet of paper, can be placed, which is to be reproduced, i.e., to be projected onto the glass plate by means of the objective 6.

Het origineel wordt belicht door middel van enige 35 op draaibare armen 11 bevestigde lichtbronnen 12.The original is exposed by means of some light sources 12 mounted on rotatable arms 11.

Wanneer de camera wordt ingesteld wordt de tafel 8 in een loodrechte richting bewogen door middel van een niet-getoond mechanisme en een handwiel.When the camera is adjusted, the table 8 is moved in a perpendicular direction by means of a mechanism (not shown) and a handwheel.

8700433 - 3 - * * ♦8700433 - 3 - * * ♦

De loodrechte stand van zowel het objectief als van de tafel kan op enige schaalverdelingen worden afgelezen.The perpendicular position of both the objective and the table can be read on some graduations.

Zoals uit figuur 3 blijkt/ omvat de stationaire tafel een draaibaar bevestigde arm 15r die aan zijn vrije 5 einde een lichtdetector 16 draagt. Deze lichtdetector 16 kan door het draaien van de arm in een vlak worden ingesteld, dat hoofdzakelijk parallel is aan het vlak, waarop het lichtgevoelige blad is geplaatst, en waarop de afbeelding van het origineel is gevormd. Het vlak, waarin de lichtdetector 16 10 kan worden ingesteld bevindt zich binnen het traject van de stralen en direct onder de glazen plaat 4. Wanneer bij een reproduktiecamera de toegevoegde belichting (flitsbelichting of lampbelichting) wordt berekend in verbinding met de schermen, is het van het grootste belang dat de hoeveelheid 15 strooilicht (diffuus licht) bekend is, omdat de toegevoegde belichting in overeenstemming daarmee moet worden gecorrigeerd. Het verstrooide licht hangt af van het origineel, de vergroting (de geometrie), stof, diafragma (breking), de instelling van de lichtbronnen, de samendrukking van de balg, 20 enz.As shown in Figure 3, the stationary table includes a rotatably mounted arm 15r which carries a light detector 16 at its free end. This light detector 16 can be adjusted by rotating the arm in a plane which is substantially parallel to the plane on which the photosensitive sheet is placed and on which the image of the original is formed. The plane in which the light detector 16 10 can be adjusted is located within the range of the rays and directly below the glass plate 4. When the added exposure (flash exposure or lamp exposure) is calculated in connection with the screens in a reproduction camera, it is of it is of utmost importance that the amount of stray light (diffuse light) is known, because the added exposure must be corrected accordingly. The scattered light depends on the original, the magnification (geometry), fabric, aperture (refraction), the setting of the light sources, the compression of the bellows, etc.

Volgens de uitvinding wordt het verstrooide licht gemeten door de lichtsterkte te meten in een gebied van het afbeeldingsvlak, dat op het origineel overeenkomt met een zwart gebied 17. Een dergelijk zwart gebied kan bijvoorbeeld 25 wanneer de lichtbronnen aan de zijden van de spiegel zijn geplaatst, gevormd worden door een spiegel. Het zwarte gebied kan echter ook gevormd worden door een zwarte, schaduwwerpen-de kom.According to the invention, the scattered light is measured by measuring the light intensity in an area of the image plane, which on the original corresponds to a black area 17. Such a black area can be, for example, when the light sources are placed on the sides of the mirror, are formed by a mirror. However, the black area can also be formed by a black, shadow-throwing bowl.

Op deze wijze wordt hoofdzakelijk slechts het ver-30 strooide licht gemeten, dat normaliter 1-5%, meestal circa 2% vormt van de totale afbeeldingsbelichting. Het wordt verder mogelijk het verstrooide licht te meten in responsie op de verschillende parameterwaarden van de reproduktiecamera.In this way, mainly only the scattered light is measured, which normally constitutes 1 - 5%, usually about 2% of the total image exposure. It also becomes possible to measure the scattered light in response to the different parameter values of the reproduction camera.

Figuur 4 toont het verstrooide licht als een funktie van de 35 vergroting. Zoals hieruit blijkt neemt de hoeveelheid strooilicht toe met de vergroting.Figure 4 shows the scattered light as a function of the magnification. As can be seen from this, the amount of stray light increases with magnification.

Het zwarte gebied 17 moet zo klein zijn, dat het niet in aanzienlijke mate de hoeveelheid verstrooid licht be- 8700433 é ± - 4 - perkt en op deze wijze de meting beïnvloed. Het zwarte gebied wordt bij voorkeur aangebracht op de plaats, waar de optische as het origineel snijdt.The black area 17 should be so small that it does not significantly reduce the amount of scattered light 8700433 ± 4 - and thus affect the measurement. The black area is preferably applied where the optical axis intersects the original.

Aldus verschaft de uitvinding een zeer eenvoudige 5 werkwijze voor het meten van het verstrooide licht.The invention thus provides a very simple method for measuring the scattered light.

De meting van het verstrooide licht wordt uitgevoerd onder omstandigheden, die overeenkomen met de gewenste belichting, bijvoorbeeld de mate van vergroting, de maten en stoffigheid van het origineel en de reflectietoestanden van 10 de balg.The measurement of the scattered light is carried out under conditions corresponding to the desired exposure, for example, the magnification degree, the size and dustiness of the original and the reflective conditions of the bellows.

Het percentage van het verstrooide licht wordt verkregen door de hoeveelheid verstrooid licht te delen door de hoofdbelichting, die eveneens moet worden gemeten. Het percentage toegevoegde belichting (flitspercentage) wordt dan 15 door middel van het percentage verstrooid licht gecorrigeerd.The percentage of the scattered light is obtained by dividing the amount of scattered light by the main exposure, which must also be measured. The percentage of added exposure (flash percentage) is then corrected by means of the percentage of scattered light.

De werkwijze kan op veel manieren worden veranderd zonder daarbij van het idee van de uitvinding af te wijken.The method can be changed in many ways without departing from the idea of the invention.

8 7 0 0 t8 7 0 0 t

Claims (7)

1. Werkwijze voor het meten van verstrooid licht in een reproduktiecamera voor grafische reproduktie, welke camera omvat: een draagconstructie, waaraan drie ten opzichte van elkaar verplaatsbare vlakken zijn bevestigd, namelijk een 5 afbeeldingsvlak (4), een origineelvlak (8), een objectief vlak (6) en een balg (7) en één of meer lichtbronnen (12), met het kenmerk, dat de lichtsterkte gemeten wordt in een gebied van het afbeeldingsvlak (3), dat overeenkomt met een "zwart" gebied (17) in het origineelvlak.Method for measuring scattered light in a reproduction camera for graphic reproduction, the camera comprising: a supporting structure to which three surfaces which are movable relative to each other are attached, namely an image plane (4), an original plane (8), a lens plane (6) and a bellows (7) and one or more light sources (12), characterized in that the light intensity is measured in an area of the image plane (3) corresponding to a "black" area (17) in the original plane. 2. Werkwijze volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het "zwarte" gebied in het origineelvlak relatief klein is.Method according to claim 1, characterized in that the "black" area in the original plane is relatively small. 3. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat het zwarte gebied in het origineelvlak door een 15 spiegel wordt gevormd.3. Method according to claim 1 or 2, characterized in that the black area in the original plane is formed by a mirror. 4. Werkwijze volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat het zwarte gebied in het origineelvlak gevormd wordt door een zwarte, een schaduwwerpende kom.Method according to claim 1 or 2, characterized in that the black area in the original plane is formed by a black shadow-casting bowl. 5. Werkwijze volgens één van de conclusies 1-4, met 20 het kenmerk, dat het percentage van het verstrooide licht verkregen wordt door de hoeveelheid verstrooid licht te delen door de hoofdbelichting.5. A method according to any one of claims 1-4, characterized in that the percentage of the scattered light is obtained by dividing the amount of scattered light by the main exposure. 6. Werkwijze volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat het percentage toegevoegde belichting (het flitspercen- 25 tage) gecorrigeerd wordt door middel van het percentage verstrooid licht.6. Method according to claim 5, characterized in that the percentage of added exposure (the flash percentage) is corrected by means of the percentage of scattered light. 7. Inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze volgens één van de voorafgaande conclusies. 8700433Device for carrying out the method according to one of the preceding claims. 8700433
NL8700433A 1986-03-12 1987-02-20 METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT. NL8700433A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DK114686A DK157717C (en) 1986-03-12 1986-03-12 METHOD OF MEASURING STRAEL LIGHT
DK114686 1986-03-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8700433A true NL8700433A (en) 1987-10-01

Family

ID=8101527

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8700433A NL8700433A (en) 1986-03-12 1987-02-20 METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT.

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPS62217232A (en)
DE (1) DE3705723A1 (en)
DK (1) DK157717C (en)
GB (1) GB2187857B (en)
NL (1) NL8700433A (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102944533B (en) * 2012-11-26 2014-11-19 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 Portable stray light detection device of center shielding structure
CN106770329A (en) * 2017-01-09 2017-05-31 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 A kind of details in a play not acted out on stage, but told through dialogues microscopic imaging device for detecting transparent material surface and internal flaw

Also Published As

Publication number Publication date
DE3705723A1 (en) 1987-09-17
GB2187857B (en) 1989-12-20
DK157717B (en) 1990-02-05
DK114686D0 (en) 1986-03-12
DK157717C (en) 1990-06-25
JPS62217232A (en) 1987-09-24
GB2187857A (en) 1987-09-16
DK114686A (en) 1987-09-13
GB8705518D0 (en) 1987-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100729290B1 (en) Phase profilometry system with telecentric projector
TW382654B (en) Light intensity measurement system
TW200925791A (en) Position detecting apparatus, position detecting method, exposure apparatus and device manufacturing method
JP5007070B2 (en) Exposure equipment
US4286871A (en) Photogrammetric measuring system
JP2005244126A5 (en)
US4174159A (en) Exposure meter for photomicrography
KR960009024A (en) Auto Focus and Auto Leveling Device and Control Method in Exposure Equipment
NL8700433A (en) METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT.
US4118719A (en) Microscope attachment camera
US2805599A (en) Optical contrast amplifier
KR970062817A (en) Exposure device
JPH0588835B2 (en)
Marchant et al. An interference technique for the measurement of in-plane displacements of opaque surfaces
US2800834A (en) Photographic exposure probe device
US5111037A (en) Device for measuring light scattered by an information support
JP2012042218A (en) Defect inspection device
US3625609A (en) Combined focusing and probe device for photographic enlargers
US4973114A (en) System for producing holograms
US3765310A (en) Optical system
JP2817794B2 (en) Eye refractive power measuring device
JPS5838822A (en) Device for measuring uniformity of illuminance in ring field projection device
RU2224982C2 (en) Method of interference measurement of form of surface of optical parts
JPS61202432A (en) Projection exposure apparatus
JPH0225511B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
BV The patent application has lapsed