NL8502440A - APPARATUS FOR MEASURING ELECTRONIC DEVICES. - Google Patents
APPARATUS FOR MEASURING ELECTRONIC DEVICES. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8502440A NL8502440A NL8502440A NL8502440A NL8502440A NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A NL 8502440 A NL8502440 A NL 8502440A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- terminal
- voltage
- resistor
- amplifier
- operational
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
- G01R31/2603—Apparatus or methods therefor for curve tracing of semiconductor characteristics, e.g. on oscilloscope
Description
- 1 - V ' *- 1 - V '*
Toestel voor het doormeten van elektronische inrichtingen.Apparatus for measuring electronic devices.
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een toestel voor het meten van de karakteristieken van elektronische inrichtingen, zoals transistors, dioden, enz.The present invention relates to a device for measuring the characteristics of electronic devices, such as transistors, diodes, etc.
5 Een meettoestel voor elektronische inrichtingen, in het algemeen een krommetekentoestel genoemd, is nuttig voor het meten van de karakteristieken van elektronische inrichtingen, zoals transistors, diodes enz. Eén van de typische bekende meettoestellen voor elektronische in-10 richtingen is weergegeven in fig. 1, waarin een wisselspanning vanuit een lijnbron via een schakelaar 10 aan een energietoevoerketen 12 en een variabele transformator 14 wordt toegevoerd. De energievoedingsketen 12 wekt gelijkspanningen op voor elke keten van de meetinrichting 15 en de variabele'transformator 14 levert een wisselspanning met een bestuurde amplitude aan een primaire wikkeling van een transformator 16. Een aantal aftakkingen is op de secundaire wikkeling van de transformator 16 aanwezig, en ëën van deze aftakkingen, met uitzondering van de 20 laagste, wordt door een schakelaar 18 gekozen.A measuring device for electronic devices, generally called a curve-measuring device, is useful for measuring the characteristics of electronic devices, such as transistors, diodes, etc. One of the typical known measuring devices for electronic devices is shown in Fig. 1 wherein an AC voltage is supplied from a line source through a switch 10 to an energy supply circuit 12 and a variable transformer 14. The power supply circuit 12 generates DC voltages for each circuit of the metering device 15 and the variable transformer 14 supplies an AC voltage with a controlled amplitude to a primary winding of a transformer 16. A number of taps are provided on the secondary winding of the transformer 16, and One of these branches, with the exception of the lowest 20, is selected by a switch 18.
Een diode 20 is een halvegolf-gelijkrichter, die een wisselspanning, afkomstig van schakelaar 18 gelijk-richt. Deze elementen 10-20 vormen een voedingsketen 21 met een vlottende collector. De kathodespanning van de 25 diode 20 wordt aan een eerste klem van de inrichting onder test toegevoerd, bijvoorbeeld de collector van een transistor 26, via een belastingsweerstand 24, die door een schakelaar 22 is uitgekozen. De basis van de transistor 26 ontvangt een trapvormig voorspanningssignaal vanuit de 30 voorspanningstoevoerketen 28 en de emittor ervan is als tweede klem geaard. De aftakking in de laagste stand van de secundaire wikkeling van de transformator 16 is met de emittor van de transistor 26 verbonden via een collector-stroomdetectieweerstand 32, die is uitgekozen door een 35 schakelaar 30. Een spanningsdeler 36, die is uitgekozen door een schakelaar 34, verdeelt de collectorspanning Vc van de transistor 26, en de gedeelde spanning wordt aan c:02440 » ï - 2 - horizontale afbuigplaat van een elektronenstraalbuis 40 toegevoerd via een versterker 38 met een hoge ingangsimpe-dantie. Een differentieelversterker 42 werkt als spannings-detector met hoge ingangsimpedantie die een spanning 5 detecteert over een weerstand 32 (die in het algemeen evenredig is met de collectorstroom Ic) en deze aanlegt aan een vertikale afbuigplaat van de elektronenstraalbuis 40. Op deze wijze kan de elektronenstraalbuis 40 de karakteristieke kromme Vc-Ic van de transistor 26 weergeven. 10 In fig. 1 is de inrichting onder test 26 de transistor met de gemeenschappelijke emittor. Elke elektrode van de transistor kan evenwel geaard zijn de inrichting onder test kan een andere elektronische inrichting zijn, zoals een diode. In elk geval kan de spanning-stroomkarakterisfciek 15 van de inrichting onder test worden weergegeven op de elektronenstraalbuis 40.A diode 20 is a half-wave rectifier which rectifies an alternating voltage from switch 18. These elements 10-20 form a supply chain 21 with a floating collector. The cathode voltage of the diode 20 is applied to a first terminal of the device under test, for example the collector of a transistor 26, via a load resistor 24 selected by a switch 22. The base of transistor 26 receives a stepped bias signal from bias supply circuit 28 and its emitter is grounded as a second terminal. The branch in the lowest position of the secondary winding of the transformer 16 is connected to the emitter of the transistor 26 via a collector current sensing resistor 32 selected by a switch 30. A voltage divider 36 selected by a switch 34 , the collector voltage Vc of the transistor 26 divides, and the divided voltage is fed to the horizontal deflection plate of an electron beam tube 40 through an amplifier 38 with a high input impedance. A differential amplifier 42 acts as a high input impedance voltage detector which detects a voltage 5 across a resistor 32 (which is generally proportional to the collector current Ic) and applies it to a vertical deflection plate of the electron beam tube 40. In this way, the electron beam tube 40 show the characteristic curve Vc-Ic of transistor 26. In Figure 1, the device under test 26 is the transistor with the common emitter. However, each electrode of the transistor may be grounded, the device under test may be another electronic device, such as a diode. In any case, the voltage-current characteristic 15 of the device can be displayed on the electron beam tube 40 under test.
Anderzijds worden de schakelaars 30 en 34 bestuurd in overeenstemming met een gewenst meetbereik.On the other hand, switches 30 and 34 are controlled in accordance with a desired measuring range.
Een horizontale asafmeting van de weergave wordt bepaald 20 door een deelverhouding van de spanningsdeler 36, die door de schakelaar 34 is uitgekozen, terwijl een vertikale asafmeting ervan bepaald wordt door een waarde van de weerstand 32, die door de schakelaar 30 is uitgekozen.A horizontal axis size of the display is determined by a dividing ratio of the voltage divider 36 selected by the switch 34, while a vertical axis size thereof is determined by a value of the resistor 32 selected by the switch 30.
De maximale spanning, die aan de inrichting onder test 25 kan worden aangelegd of het meetbereik, wordt bepaald door de instelling van de variabele transformator 14 en de keuze van de keuze van de schakelaar 18. Op deze wijze is het nodig de weerstand 32 te kiezen met een geringe waarde, wanneer de grote stroom, die door de 30 inrichting onder test vloeit wordt gemeten, en is het nodig de spanningsdeler 36 te kiezen met een grote deelverhouding, wanneer een hoge spanning over de inrichting onder test wordt gemeten.The maximum voltage, which can be applied to the device under test 25 or the measuring range, is determined by the setting of the variable transformer 14 and the choice of the selection of the switch 18. In this way it is necessary to choose the resistor 32 of small value when the large current flowing through the device under test is measured, and it is necessary to select the voltage divider 36 with a large dividing ratio when a high voltage across the device under test is measured.
Zoals- eerder is beschreven is de spanningsdeler 35 36 nodig voor het instellen van het meetbereik. Tengevolge van de spanningsdeler 36 is de stroom, die door de uitgekozen weerstand 32 vloeit de som van de collectorstroom van de transistor 26 en de stroom, die door de spanningsdeler 36 vloeit. Opgemerkt dient te worden dat de basis-40 stroom van de transistor 26 via aarde naar de voorspannings- "Tl !;& / i:. ~ ^ r' ‘_tv v ^ * Μ - 3 - toevoerketen 28 vloeit en niet door de weerstand 32 gaat, omdat de uitgangsstroomwaarde van de collectortoevoerketen 21 (bij de kathode van de diode 20) gelijk is aan de ingangsstroomwaarde daarvan (bij de klem van de laagste 5 stand van de transformator 16). Op deze wijze is de spanning over de weerstand 32 niet direkt evenredig met de collectorstroom van de transistor 26 en leidt zij tot geen fouten in het meetresultaat.As previously described, the voltage divider 35 36 is required to set the measuring range. As a result of the voltage divider 36, the current flowing through the selected resistor 32 is the sum of the collector current of the transistor 26 and the current flowing through the voltage divider 36. It should be noted that the base-40 current from transistor 26 flows through ground to the bias voltage "T1!" ~ "R" _tv v ^ * Μ - 3 - supply circuit 28 and not through the resistor. 32 goes, because the output current value of the collector supply circuit 21 (at the cathode of the diode 20) is equal to its input current value (at the terminal of the lowest 5 position of the transformer 16). In this way, the voltage across the resistor 32 not directly proportional to the collector current of transistor 26 and leads to no errors in the measurement result.
Een ander conventioneel meettoestel, dat deze 10 meetfouten uitsluit is het kromme-optekentoestel van Tektronix model 576, en is vereenvoudigd in het blok-schema van fig. 1 weergegeven. Fig. 2 toont slechts verbeterde delen van het blokschema van fig. 1. In fig. 2 is een eerste spanningsdeler 36, die uit de weerstanden 15 44 en 46 bestaat, verbonden tussen de collector van de transistor 26 en de collectorvoedingszijde van de stroom-detectieweerstand 32, en een tweede spanningsdeler 52, die bestaat uit weerstanden 48 en 50 is parallel met de weerstand 32 verbonden. Gedeelde uitgangen vanuit de 20 eerste en tweede spanningsdeler 36 en 52 worden aan een differentieelversterker 54 toegevoerd. Opgemerkt dient te worden, dat de grootte van de weerstand 32 en de deelverhouding van de eerste spanningsdeler 36 variabel zijn. Aangezien een stroom, die door de spanningsdeler 36 25 vloeit, ook door de spanningsdeler 52 vloeit in plaats van de weerstand 32, omdat weerstandswaarden van de transistors 48 en 50 zeer groot zijn, leidt deze stroom tot geen meetfout.Another conventional measuring device which excludes these 10 measurement errors is the Tektronix model 576 curve recording device, and is shown simplified in the block diagram of FIG. Fig. 2 shows only improved parts of the block diagram of FIG. 1. In FIG. 2, a first voltage divider 36, consisting of resistors 44 and 46, is connected between the collector of transistor 26 and the collector supply side of the current sensing resistor 32. and a second voltage divider 52, consisting of resistors 48 and 50, is connected in parallel with the resistor 32. Shared outputs from the first and second voltage dividers 36 and 52 are applied to a differential amplifier 54. It should be noted that the magnitude of the resistor 32 and the division ratio of the first voltage divider 36 are variable. Since a current flowing through voltage divider 36 also flows through voltage divider 52 instead of resistor 32, because resistance values of transistors 48 and 50 are very large, this current does not result in a measurement error.
Een spanning over de eerste spanningsdeler 36 30 stemt niet overeen met de spanning tussen de collector en de emittor van de transistor 26 (de eerste en de tweede klemmen van de inrichting onder test) door de spanning over de weerstand 32, maar een uitgangsspanning vanuit de differentiaalversterker 54 wordt niet beïnvloed 35 door een spanning over de weerstand 32, omdat een deelverhouding van de tweede spanningsdeler 52 wordt·ingesteld om gelijk te zijn aan die van de eerste spanningsdeler 36.A voltage across the first voltage divider 36 30 does not correspond to the voltage between the collector and the emitter of the transistor 26 (the first and second terminals of the device under test) by the voltage across the resistor 32, but an output voltage from the differential amplifier 54 is not affected by a voltage across resistor 32, because a split ratio of the second voltage divider 52 is set to be equal to that of the first voltage divider 36.
Bij deze bekende techniek worden de weerstandswaarden van de weerstanden 48 en 50 zeer hoog ingesteld ten opzich-40 te van de waarde van de weerstand 32. Wanneer evenwel §502440 » » - 4 - de weerstand 32 van een hoge weerstandswaarde wordt uitgekozen door de schakelaar 30 voor het meten van een kleine stroom, wordt een klein deel van de collectorstroom van de transistor 26 neven-gesloten naar de tweede spanningsdeler 5 52. Hierdoor ontstaat een fout in het meetresultaat.In this known technique, the resistance values of the resistors 48 and 50 are set very high relative to the value of the resistance 32. However, when the resistor 32 is selected from a high resistance value by the switch 30 for measuring a small current, a small part of the collector current from the transistor 26 is side-closed to the second voltage divider 52. This results in an error in the measurement result.
Deze meetfout wordt uitgeschakeld door het kromme-optekentoestel van Textronix model 577, waarvan een belangrijk onderdeel in fig. 3 is weergegeven. In fig.This measurement error is eliminated by the Textronix model 577 curve recording device, an important part of which is shown in Figure 3. In fig.
3 is de collector van de transistor 26 (de eerste klem 10 van de inrichting onder test) met een bufferversterker 56 verbonden en een uitgangsspanning daarvan wordt aan de spanningsdeler 36 aangelegd. Aangezien een ingangsimpedantie van de bufferversterker 56 zeer hoog is, vloeit slechts de collectorstroom van de transistor 26 door de 15 stroomdetectieweerstand 32. Bovendien is de gedeelde uitgangsspanning van de spanningsdeler 36 nauwkeurig evenredig met de collectorspanning van de transistor 26. Er zijn verschillende soorten wan inrichtingen onder test met inbegrip van een hoogspanningstransistor, zodat een 20 ingangsspanning van de bufferversterker 56 binnen een ruim bereik varieert. Dientengevolge moet de bufferversterker 56 vlotteren. De vlotterende versterker heeft een bijzondere energievoeding nodig, een afkapversterker enz., en de meetapparatuur wordt ingewikkeld en kostbaar van 25 constructie.3, the collector of the transistor 26 (the first terminal 10 of the device under test) is connected to a buffer amplifier 56 and an output voltage thereof is applied to the voltage divider 36. Since an input impedance of the buffer amplifier 56 is very high, only the collector current of the transistor 26 flows through the current detecting resistor 32. In addition, the divided output voltage of the voltage divider 36 is precisely proportional to the collector voltage of the transistor 26. There are different types of devices under test including a high voltage transistor so that an input voltage from the buffer amplifier 56 varies over a wide range. As a result, the buffer amplifier 56 must float. The floating amplifier needs a special power supply, a cut-off amplifier, etc., and the measuring equipment becomes complicated and expensive in construction.
Om de nadelen van deze bekende inrichtingen op te heffen bevat het meettoestel volgens de uitvinding een energievoeding voor het toevoeren van een spanning tussen de eerste en tweede klemmen van de inrichting onder 30 test, een stroomdetectieweerstand, die verbonden is tussen de energievoeding en de tweede klem van de inrichting onder test, een spanningsdeler, die verbonden is tussen de energievoedingszijde van de stroomdetectieweerstand en de eerste klem van de inrichting onder test, een eerste 35 bufferversterker waarvan de ingangsklem verbonden is met de uitgangsklem van de spanningsdeler, een "tweede bufferversterker waarvan de ingangsklem verbonden is met de tweede klem van de inrichting onder test, een derde bufferversterker, waarvan de ingangsklem verbonden is met de 40 energietoevoerzijde van de stroomdetectieweerstand en een 8502 4-, u - 5 - operationele keten voor het ontvangen van de signalen vanuit de eerste, tweede en derde bufferversterkers.In order to overcome the drawbacks of these known devices, the measuring device according to the invention comprises an energy supply for supplying a voltage between the first and second terminals of the device under test, a current detection resistance, which is connected between the energy supply and the second terminal of the device under test, a voltage divider connected between the power supply side of the current sensing resistor and the first terminal of the device under test, a first buffer amplifier whose input terminal is connected to the output terminal of the voltage divider, a second buffer amplifier whose input terminal is connected to the second terminal of the device under test, a third buffer amplifier, the input terminal of which is connected to the 40 power supply side of the current sensing resistor and an 8502 4, u - 5 operational circuit for receiving the signals from the first , second and third buffer amplifiers.
Aangezien de spanningsdeler voor het delen van de spanning tussen de eerste en tweede klemmen van de 5 inrichting onder test niet met de gemeenschappelijke verbinding van de tweede klem van de inrichting onder test en de stroomdetectieweerstand is verbonden en de ingangs-impedanties van de bufferversterkers zeer hoog zijn, vloeit slechts de stroom, die tussen de eerste en tweede 10 klemmen van de inrichting onder test stroomt, door de stroomdetectieweerstand en deze stroom kan nauwkeurig gedetecteerd worden. Doordat de eerste bufferversterker de eerste klemspanning ontvangt, gedeeld door de spanningsdeler, ontvangt deze eerste bufferversterker niet de 15 hoge spanning en behoeft hij niet te vlotteren. Wanneer de spanningsdeler de spanning tussen de eerste en tweede klemmen van de inrichting onder test deelt, treedt een foutspanning op dankzij de spanning over de stroomdetectieweerstand. Deze foutspanning wordt gecompenseerd door de 20 uitgangssignalen vanuit de eerste, tweede en derde bufferversterker aan de operationele keten toe te voeren. De tweede bufferversterker verhindert dat de stroom bij de tweede klem van de inrichting onder test de operationele keten binnenvloeit, en de derde bufferversterker verhindert 25 de stroom vanuit de energiespanningsbron van de tweede bufferversterker door de uitgangsklem daarvan en de operationele keten naar de spanningsbron van de inrichting onder test te vloeien. Om deze reden kan de meting nauwkeurig worden uitgevoerd.Since the voltage divider for dividing the voltage between the first and second terminals of the device under test is not connected to the common connection of the second terminal of the device under test and the current detection resistance and the input impedances of the buffer amplifiers are very high only the current flowing between the first and second terminals of the device under test flows through the current detection resistor and this current can be accurately detected. Since the first buffer amplifier receives the first clamp voltage divided by the voltage divider, this first buffer amplifier does not receive the high voltage and does not need to float. When the voltage divider divides the voltage between the first and second terminals of the device under test, an error voltage occurs due to the voltage across the current sense resistor. This error voltage is compensated by supplying the 20 output signals from the first, second and third buffer amplifiers to the operational circuit. The second buffer amplifier prevents current from flowing into the operational circuit at the second terminal of the device under test, and the third buffer amplifier prevents current from the energy voltage source of the second buffer amplifier through its output terminal and the operational circuit to the voltage source of the device. to flow under test. For this reason, the measurement can be performed accurately.
30 Het is dienovereenkomstig een doel van de onderhavige uitvinding te voorzien in een toestel, dat karakteristieken van elektronische inrichtingen nauwkeurig meet.Accordingly, it is an object of the present invention to provide an apparatus that accurately measures characteristics of electronic devices.
Het is een verder doel van de onderhavige 35 uitvinding te voorzien in een toestel voor het meten van elektronische inrichtingen, dat op nauwkeurige wijze een stroom detecteert, die door een inrichting onder test stroomt, ongeacht de spanningsdeler, die met de inrichting onder test verbonden is.It is a further object of the present invention to provide an electronic device measuring device that accurately detects a current flowing through a device under test, regardless of the voltage divider connected to the device under test .
40 Het is een verder doel van de uitvinding 8502 44 0 i> > - 6 - te voorzien in een toestel voor het meten van elektronische inrichtingen, dat geen ingewikkelde en kostbare bufferversterker van het vlottende type behoeft.It is a further object of the invention to provide an apparatus for measuring electronic devices, which does not require a complicated and expensive floating-type buffer amplifier.
Andere doeleinden en voordelen van de uitvin-5 ding zullen voor de vakman blijken uit de beschrijving, die in het onderstaande aan de hand van de tekening gegeven wordt.Other objects and advantages of the invention will be apparent to those skilled in the art from the description given below with reference to the drawing.
Fig. 1 toont een blokschema van een conventioneel meettoestel voor een elektronische inrichting; 10 Fig. 2 toont een vereenvoudigd blokschema van een ander conventioneel toestel voor het meten van elektronische inrichtingen;Fig. 1 shows a block diagram of a conventional electronic device measuring device; FIG. 2 shows a simplified block diagram of another conventional electronic device measuring device;
Fig. 3 toont een vereenvoudigd blokschema van een derde conventioneel toestel voor het meten van elek-15 tronische inrichtingen; enFig. 3 shows a simplified block diagram of a third conventional device for measuring electronic devices; and
Fig. 4 toont een schakelschema van een deel van een toestel voor het meten van elektronische inrichtingen volgens de uitvinding.Fig. 4 shows a circuit diagram of part of an electronic device measuring device according to the invention.
In fig. 4 is een schakelschema weergegeven 20 van een deel van voorkeursuitvoeting van de uitvinding voorzien van een spanningsdetector voor het detecteren van de spanning over de inrichting onder test. Deze uitvoeringsvorm gebruikt aftasttechniéken volgens Kelvin om te vermijden, dat de meetweerstand wordt beïnvloed door 25 contactweerstanden, wanneer de inrichting onder test met het toestel voor het meten van elektronische inrichtingen is verbonden. De collector van de transistor 26 die de inrichting onder test vormt, is in aanraking met de contacten 58 en 60 en zijn emittor is in aanraking 30 met de contacten 62 en 64. Dit wordt tot stand gebracht door de elektrode van de transistor tussen de twee contacten aan te brengen. De contacten 58 en 60 komen overeen met een eerste klem van de inrichting onder test en de contacten 62 en 64 stemmen overeen met de tweede klem ervan. 35 Het contact 58 is via de uitgekozen belastingsweerstand 24 met ëén elektrode van een vlottende collectorvoeding 21 verbonden, en het contact 62 is via de uitgekozen stroom-detectieweerstand 32 met de andere elektrode van de voeding 21 met vlottende collector verbonden. De collectorvoeding 40 21 kan de keten zijn die uit de transformator 16, de 8 5 0 2 4 -j 0 - 7 - schakelaar 18 en de diode 20 bestaat en die in fig. 1 is weergegeven. Het contact 62 is geaard voor de basisstroomweg. De spanningsdeler 36, die bestaat uit de weerstanden 44 en 46 is tussen het contact 60 en de collectorvoedingszijde 5 van de weerstand 32 verbonden. De weerstanden 44 en 46 kunnen verwisseld worden door de schakelaar 34 van fig. 1.Fig. 4 shows a circuit diagram of a part of a preferred embodiment of the invention provided with a voltage detector for detecting the voltage across the device under test. This embodiment uses Kelvin scanning techniques to prevent the measuring resistance from being affected by contact resistances when the device is connected to the electronic device measuring device under test. The collector of the transistor 26 constituting the device under test is in contact with the contacts 58 and 60 and its emitter is in contact with the contacts 62 and 64. This is accomplished by the electrode of the transistor between the two make contacts. Contacts 58 and 60 correspond to a first clamp of the device under test and contacts 62 and 64 correspond to its second clamp. The contact 58 is connected to one electrode of a floating collector power supply 21 via the selected load resistor 24, and the contact 62 is connected to the other electrode of the floating collector power supply 21 via the selected current detection resistor 32. The collector power supply 40 21 may be the circuit consisting of the transformer 16, the 8 5 0 2 4 0-7 switch 18 and the diode 20 shown in FIG. Contact 62 is grounded to the base current path. The voltage divider 36, which consists of the resistors 44 and 46, is connected between the contact 60 and the collector supply side 5 of the resistor 32. Resistors 44 and 46 can be interchanged by switch 34 of Figure 1.
De deelverhouding van de spanningsdeler 36 is variabel en bepaalt als n. Zo geldt R44=(n-1)R46, waarin R44 en R46 de weerstandswaarden van de weerstanden 44 resp. 46 voor-10 stellen.The division ratio of the voltage divider 36 is variable and determines as n. For example, R44 = (n-1) R46, where R44 and R46 are the resistance values of the resistors 44, respectively. 46 for-10.
Een uitgangsklem van de spanningsdeler 36 is met een ingangsklem van een eerste bufferversterker 66 verbonden, het contact 64 is met een ingangsklem van een tweede bufferversterker 68 verbonden en de collectorvoe-15 dingszijde van de weerstand 32 is met een ingangsklem van een derde bufferversterker 70 verbonden. Deze bufferver-sterkers zijn bijvoorbeeld operationele versterkers, die als spanningsvolgschakelingen zijn aangesloten. Aangezien de stromen, die door de contacten 60 en 64 vloeien aanmerke-20 lijk geringer zijn dan de stromen, die door de contacten 58 en 62 vloeien, dankzij de hoge weerstand van de spanningsdeler 36 en de hoge impedantie van de bufferversterkers, kunnen de spanningen over de inrichting onder test gedetecteerd worden zonder dat de contactweerstanden daar invloed 25 op hebben. Een uitgangsspanning vanuit de bufferversterker 66 wordt door de weerstanden 72 en 74 gedeeld en aan een niet inverterende ingangsklem van een bufferversterker 76 toegevoerd. De uitgangsspanningen vanuit de bufferversterkers 68 en 70 worden aan een inverterende ingangsklem 30 van de bufferversterker 76 toegevoerd via weerstanden 78 resp. 80. Een terugkoppelweerstand 82 is opgenomen tussen een uitgangsklem en een inverterende ingangsklem van de bufferversterker 76. De weerstandswaarden van de weerstanden 78 en 80 worden veranderd in overeenstemming met de deel-35 verhouding van de spanningsdeler 36, zoals in het volgende nog beschreven zal worden. Deze weerstanden 72, 74, 78 t/m 82 en de operationele versterker 76 vormen een operationele keten. De weerstanden 84 en 86 zijn opgenomen tussen de contacten 58 en 60 resp. tussen de contacten 62 en 64, 40 waarbij de weerstandswaarden van de weerstanden 84 en 86 6 3 J 2 4 4 Ö - 8 - aanmerkelijk hoger zijn dan de contactweerstand. Op deze wijze zijn de spanningsniveaus van de contacten 58 en 60 aan elkaar gelijk en zijn de spanningniveaus van de contacten 62 en 64 aan elkaar gelijk, zelfs wanneer de inrichting 5 onder test niet is aangesloten. De uitgangsklem van de versterker 76 kan met de versterker 38 van fig. 1 verbonden zijn en de klem van de weerstand 32 kan met de differentieelversterker 42 van fig. 1 verbonden zijn.An output terminal of the voltage divider 36 is connected to an input terminal of a first buffer amplifier 66, the contact 64 is connected to an input terminal of a second buffer amplifier 68, and the collector supply side of the resistor 32 is connected to an input terminal of a third buffer amplifier 70 . These buffer amplifiers are, for example, operational amplifiers, which are connected as voltage monitoring circuits. Since the currents flowing through the contacts 60 and 64 are significantly smaller than the currents flowing through the contacts 58 and 62, due to the high resistance of the voltage divider 36 and the high impedance of the buffer amplifiers, the voltages can be detected across the device under test without the contact resistors influencing it. An output voltage from the buffer amplifier 66 is shared by the resistors 72 and 74 and applied to a non-inverting input terminal of a buffer amplifier 76. The output voltages from the buffer amplifiers 68 and 70 are applied to an inverting input terminal 30 of the buffer amplifier 76 via resistors 78 and 70, respectively. 80. A feedback resistor 82 is included between an output terminal and an inverting input terminal of the buffer amplifier 76. The resistance values of the resistors 78 and 80 are changed in accordance with the part-35 ratio of the voltage divider 36, as will be described below. . These resistors 72, 74, 78 to 82 and the operational amplifier 76 form an operational circuit. Resistors 84 and 86 are included between contacts 58 and 60, respectively. between the contacts 62 and 64, 40 where the resistance values of the resistors 84 and 86 6 3 J 2 4 4 Ö - 8 - are significantly higher than the contact resistance. In this way, the voltage levels of the contacts 58 and 60 are the same and the voltage levels of the contacts 62 and 64 are the same even when the device 5 is not connected under test. The output terminal of the amplifier 76 may be connected to the amplifier 38 of Figure 1 and the terminal of the resistor 32 may be connected to the differential amplifier 42 of Figure 1.
Een stroom van de spanningsdeler 36 stroomt 10 vanuit de collectorvoeding 21 door de contacten 58 en 60 (een klein deel van de stroom vloeit door de weerstand 84) en de spanningsdeler 36 naar de collectorvoeding 21.A current from the voltage divider 36 flows from the collector supply 21 through the contacts 58 and 60 (a small part of the current flows through the resistor 84) and the voltage divider 36 to the collector supply 21.
Een stroom voor de inrichting onder test 26 vloeit vanuit de collectorvoeding 21 door het contact 58, de inrichting 15 onder test 26 (de collector-emittorweg van de transistor 26), het contact 62 en de weerstand 32 naar de collectorvoeding 21 terug. Op deze wijze wordt de stroom die door de weerstand 32 vloeit niet beïnvloed door de spanningsdeler 36. Aangezien de stroom vanuit de voorspannings-20 voedingsketen 28 door de basis-emittorovergang van de transistor 26, het contact 62 en aarde naar de voorspannings-voedingsketen 28 gaat, vloeit deze stroom niet door de weerstand 32. Bijgevolg is de stroom die door de weerstand 32 vloeit slechts de stroom, die tussen de eerste en 25 tweede klemmen van de inrichting onder test 26 vloeit, zodat de stroom van de inrichting onder test nauwkeurig gedetecteerd kan worden.Current for the device under test 26 flows from the collector supply 21 through the contact 58, the device 15 under test 26 (the collector-emitter path of the transistor 26), the contact 62 and the resistor 32 to the collector supply 21. In this way, the current flowing through the resistor 32 is not affected by the voltage divider 36. Since the current from the bias voltage supply circuit 28 through the base-emitter junction of transistor 26, contact 62 and ground to the bias voltage supply circuit 28 this current does not flow through the resistor 32. Consequently, the current flowing through the resistor 32 is only the current flowing between the first and second terminals of the device under test 26, so that the current from the device under test is accurate. can be detected.
De spanning op de bovenste klem van de spanningsdeler 36 is de spanning op de eerste klem van de 30 inrichting onder test (de collector van de transistor 26), maar de spanning op de benedenste klem van de spanningsdeler 36 is de spanning op de tweede klem van de inrichting onder test (de emittor van de transistor 26), verschoven door de spanning over de contactweerstand van het contact 35 62 en de spanning over de weerstand 32. Aannemende dat de spanning op de bovenste en benedenste klemmen van de spanningsdeler Vc resp. zijn en dat de spanning op de tweede klem van de inrichting onder test VE is, is de gedeelde uitgangsspanning VD van de spanningsdeler 36:The voltage on the top terminal of the voltage divider 36 is the voltage on the first terminal of the device under test (the collector of the transistor 26), but the voltage on the bottom terminal of the voltage divider 36 is the voltage on the second terminal of the device under test (the emitter of the transistor 26), shifted by the voltage across the contact resistance of the contact 35 62 and the voltage across the resistor 32. Assuming that the voltage on the upper and lower terminals of the voltage divider Vc. and that the voltage on the second terminal of the device is under test VE, the divided output voltage VD of the voltage divider 36 is:
40 VD = (Vc-VGi/n+VG40 VD = (Vc-VGi / n + VG
3502 44 0 - 9 -3502 44 0 - 9 -
Aangezien de versterkingen van alle buffer-versterkers 66, 68 en 70 gelijk zijn aan +1, is de uitgangs- spanning Vqï V0={R74/(R72+R74)}{R82/(R78//R80)+1}VD 5 -(R82/R78)Vg - (R82/R80) V-, waarin R72 t/m R82 op respectievelijke wijze de weerstands-waarden van de weerstanden 72 t/irt 82 voorstellen en R78//R80 de parallelweerstand van de weerstanden 78 en 80 10 voorstelt. Aannemende dat R72=R74=R82, R78=nR72 en R80={n/(n-1)}R72, is V0: ν(ννΕ>/ηSince the gains of all buffer amplifiers 66, 68 and 70 are equal to +1, the output voltage Vqï V0 = {R74 / (R72 + R74)} {R82 / (R78 // R80) +1} VD 5 - (R82 / R78) Vg - (R82 / R80) V-, where R72 to R82 represent the resistance values of the resistors 72 to 82, respectively, and R78 // R80 represent the parallel resistance of the resistors 78 and 80 10. Assuming R72 = R74 = R82, R78 = nR72 and R80 = {n / (n-1)} R72, V0 is: ν (ννΕ> / η
Op deze wijze is de spanning VQ de spanning 15 tussen de eerste en tweede klemmen, gedeeld door n.In this way, the voltage VQ is the voltage 15 between the first and second terminals divided by n.
De operationele keten (72-82) compenseert de spanningen over het contact en de weerstand 32. De bufferversterker 70 is daarentegen voorzien van een direkte verbinding van de benedenste klem van de weerstand 80 met de rechter 20 zijde van de weerstand 32, zodat de stroom vanuit de energieklem van de bufferversterker 68 verhinderd wordt door de weerstand 32 te vloeien. Bijgevolg kunnen de spanning tussen de eerste en tweede klemmen van de inrichting onder test en de stroom, die door de inrichting onder 25 test vloeit nauwkeurig gemeten worden met een eenvoudige constructie. Opgemerkt dient te worden, dat de buffer-versterkers emittorvolgversterkers kunnen zijn of spannings-volgversterkers.The operational circuit (72-82) compensates for the voltages across the contact and the resistor 32. The buffer amplifier 70, on the other hand, includes a direct connection of the lower terminal of the resistor 80 to the right side of the resistor 32, so that the current from the energy terminal of the buffer amplifier 68 is prevented from flowing through the resistor 32. Consequently, the voltage between the first and second terminals of the device under test and the current flowing through the device under test can be accurately measured with a simple construction. It should be noted that the buffer amplifiers may be emitter follow amplifiers or voltage follow amplifiers.
Hoewel in het bovenstaande een voorkeursuit-30 voering van de uitvinding is weergegeven en beschreven, zal het voor de vakman duidelijk zijn dat daarin veranderingen en wijzigingen kunnen worden aangebracht zonder buiten het kader van de uitvinding te treden.Although a preferred embodiment of the invention has been shown and described above, it will be apparent to those skilled in the art that changes and modifications can be made therein without departing from the scope of the invention.
- conclusies -- conclusions -
i c v 2 h '· Gi c v 2 h 'G
Claims (4)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25719684 | 1984-12-05 | ||
| JP25719684A JPS61134682A (en) | 1984-12-05 | 1984-12-05 | Element characteristic measuring device |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL8502440A true NL8502440A (en) | 1986-07-01 |
| NL190940B NL190940B (en) | 1994-06-01 |
| NL190940C NL190940C (en) | 1994-11-01 |
Family
ID=17303010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL8502440A NL190940C (en) | 1984-12-05 | 1985-09-05 | Device for measuring characteristics of electronic chain elements. |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61134682A (en) |
| CA (1) | CA1228176A (en) |
| DE (1) | DE3542121A1 (en) |
| GB (1) | GB2168162B (en) |
| NL (1) | NL190940C (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0721526B2 (en) * | 1987-08-18 | 1995-03-08 | ソニ−・テクトロニクス株式会社 | Element measuring device |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2980853A (en) * | 1958-04-28 | 1961-04-18 | Ryan Aeronautical Co | Component output characteristic tracer |
| DE1926900A1 (en) * | 1968-05-27 | 1970-01-08 | Dilley Willam G | Attachment for an oscilloscope |
| US4456880A (en) * | 1982-02-04 | 1984-06-26 | Warner Thomas H | I-V Curve tracer employing parametric sampling |
-
1984
- 1984-12-05 JP JP25719684A patent/JPS61134682A/en active Granted
-
1985
- 1985-09-05 NL NL8502440A patent/NL190940C/en not_active IP Right Cessation
- 1985-09-13 GB GB08522687A patent/GB2168162B/en not_active Expired
- 1985-09-30 CA CA000491892A patent/CA1228176A/en not_active Expired
- 1985-11-28 DE DE19853542121 patent/DE3542121A1/en active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2980853A (en) * | 1958-04-28 | 1961-04-18 | Ryan Aeronautical Co | Component output characteristic tracer |
| DE1926900A1 (en) * | 1968-05-27 | 1970-01-08 | Dilley Willam G | Attachment for an oscilloscope |
| US4456880A (en) * | 1982-02-04 | 1984-06-26 | Warner Thomas H | I-V Curve tracer employing parametric sampling |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8522687D0 (en) | 1985-10-16 |
| NL190940C (en) | 1994-11-01 |
| GB2168162B (en) | 1988-12-07 |
| DE3542121A1 (en) | 1986-06-05 |
| GB2168162A (en) | 1986-06-11 |
| DE3542121C2 (en) | 1991-09-05 |
| CA1228176A (en) | 1987-10-13 |
| JPS61134682A (en) | 1986-06-21 |
| JPH0137701B2 (en) | 1989-08-09 |
| NL190940B (en) | 1994-06-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5436581A (en) | Circuit arrangement for monitoring the drain current of a metal oxide semiconductor field effect transistor | |
| JPS62168043A (en) | Method and circuit for measuring semiconductor wafer by using four-point probe | |
| US4473796A (en) | Resistance and capacitance measuring device | |
| US4278931A (en) | Location of contact faults on electrically conductive cables | |
| US3430077A (en) | Semiconductor temperature transducer | |
| US3421375A (en) | Temperature measurement system | |
| JPH0450772A (en) | Current detector | |
| NL8502440A (en) | APPARATUS FOR MEASURING ELECTRONIC DEVICES. | |
| WO2005116672A1 (en) | Power supply current measuring apparatus and testing apparatus | |
| US6968249B2 (en) | Current measuring circuit for measuring drive current to load | |
| US4131846A (en) | Meter control circuit | |
| US4497203A (en) | Apparatus for measuring flow velocity | |
| US3457507A (en) | Method and apparatus for matching the current/voltage characteristics of two nonlinear resistances | |
| JPH04340477A (en) | Measuring apparatus for multiple resistance | |
| JPS599781A (en) | Light position detector | |
| US3988672A (en) | Parametric tester for semiconductor devices | |
| US6861717B2 (en) | Device for defecting a magnetic field, magnetic field measure and current meter | |
| JP3147486B2 (en) | Semiconductor element measurement circuit | |
| US3287643A (en) | Method and apparatus for measuring the beta parameter of an in-circuit transistor without the application of d. c. biasing thereto | |
| JPH0921832A (en) | Current measuring instrument | |
| JPH11304877A (en) | Voltage applying current measuring circuit | |
| SU1288612A1 (en) | Device for reading voltage-current characteristics of sources of electric power | |
| JPH01295175A (en) | Current measuring circuit | |
| JPS5916310B2 (en) | Minimum or maximum value detection circuit | |
| KR850000355B1 (en) | Temperature compensation for transducer components |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
| BB | A search report has been drawn up | ||
| BC | A request for examination has been filed | ||
| V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 19960401 |