NL8201342A - Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. - Google Patents
Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8201342A NL8201342A NL8201342A NL8201342A NL8201342A NL 8201342 A NL8201342 A NL 8201342A NL 8201342 A NL8201342 A NL 8201342A NL 8201342 A NL8201342 A NL 8201342A NL 8201342 A NL8201342 A NL 8201342A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- pulse
- analysis device
- amplifier
- ray
- level
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/40—Stabilisation of spectrometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
PHN 10.312 ! N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven.
Röntgen analyse apparaat net pulsshiftcorrectie.
De uitvinding heeft betrekking op een röntgen analyse apparaat met een röntgenbron, een preparaathouder en een röntgendetector net een pulsversterker en een pulsteller.
Een dergelijk apparaat is, in de vorm van een röntgenfluores-5 centie-apparaat, bekend uit US 3.119.012. In dergelijke apparaten kunnen ten gevolge van pulsverschuivingen meetfouten optreden die de nauwkeurigheid van de analyse nadelig beïnvloeden. Dergelijke pulsverschuivingen worden voornamelijk veroorzaakt door veranderingen in de eigenversterking van de toegepaste röntgengasdetector,maar ook wel door thermische drift.
10 De uitvinding beoogt een automatische correctie voor dergelijke pulsverschuivingen te verschaffen. Een röntgen analyse apparaat van de in de aanhef genoemde soort heeft daartoe volgens de uitvinding tot kenmerk, dat de pulsversterker regelbaar is met een correctiespanning die met behulp van een pulsvergelijkingsschakeling als maat voor optredende 15 pulsverschuivingen wordt opgewekt.
Door de versterking van de pulsversterker bij te regelen met een, aan de mate van de pulsverschuiving gerelateerde correctiespanning, worden in een apparaat volgens de uitvinding de te meten pulsen op hun vaste positie teruggebracht. Hierdoor kan nauwkeuriger worden gemeten of 20 kunnen anderzijds variaties in de eigenversterking van de gasdetector worden ondervangen.
In een voorkeursuitvoering bevat de pulsverschuivingscorrectie-schakeling drie^ parallel geschakelde,, niveau discriminatoren, twee daaraan aangesloten niveau vensters en daaraan aangesloten een, naar de ver-25 sterker teruggekoppelde, met een analoog geheugen en een regelschakeling uitgeruste comperator. Het is daarbij gunstig aan de beide niveau versterkers een ratemeter toe te voegen, die de countrates van beide kanalen omzetten in elk een analoge spanning. In de comperator worden deze analoge spanningen onderling vergeleken. Bij ongelijkheid van de spanningen 30 wordt een spanningsvariatie opgewekt die als sturing voor het regelgedeelte van een uitgangsspanning daarvan wordt toegevoerd aan de regelbare versterker waardoor de versterking daarvoor wordt bij gesteld. Door deze regeling wordt de pulspiek terug geschoven naar een daarvoor gefixeerde 8201342 PHN 10.312 2 positie.
In het onderstaande is, aan de hand van de tekening een uitvoer ings voorbeeld volgens de uitvinding nader beschreven. In de tekening toont : 5 Figuur 1 zeer schematisch een röntgen analyse apparaat uitgerust met een correctieschakeling volgens de uitvinding,
Figuur 2 een blokschema van een aldaar toegepast correctieschakeling, en
Figuur 3 een voorbeeld van een te meten pulsverdeling.
10 Een röntgen analyse apparaat geschetst in figuur 1 bevat een röntgenbron 1, een preparaatdrager 2, collimatoren 3 en 4, een analyse kristal 5, en een detektor 6. Een röntgenbundel 7 treft een preparaat 8 en wordt daar gedeeltelijk gereflecteerd. Een gereflecteerde röntgen-bundel 9 treft via de collimator 3 een oppervlak 10 van het analyse 15 kristal 5 waarna een daar gereflecteerde bundel 11 via de collimator 4 de detector 6 bereikt. Een aandrijfmotor 14 verzorgt via een overbrenging 15 rotatie van het analyse kristal om een dwars op het vlak van tekening gerichte as. De motor 14 verzorgt met een overbrenging 16 een aan de rotatie van het kristal aangepast rotatie van de detector eveneens on een 20 dwars op het vlak van tekening gerichte as. Door deze rotatie beweegt de detector langs een cirkelboog 17. De detector bevat bijvoorbeeld een gasgevulde detectiecel en meetpulsenjdie daarin door invallende stralings-quanta door ionisatie worden opgewekt, worden toegevoerd aan een puls-versterker, die een voorversterker 20 en een hoofdversterker 21 bevat.
25 Aan de versterker is volgens de uitvinding een pulsshiftcorrectieschake-ling 22 toegevoegd waaraan een registratie apparaat 23 is aangesloten.
Aan de voorversterker is tevens een met een referentiespanningselement 25 verbonden schakelelement 26 aangesloten waarin, door de instelling van van het apparaat gegeven waarden voor bijvoorbeeld het type kristal, de 3Q orde van reflectie, de sin & en de gevoeligheidsinste 11 ing worden gevormd.
In figuur 2 is een neer uitgebreid blokschema weergegeven van het in figuur 1 omstippelde gedeelte van het detectoruitleessysteem.
De versterker 21 is duidelijkheidshalve gesplitst in een instelbare versterker 30 en een vaste versterker 31. Aan de versterker zijn in parallel-35 schakeling drie niveau discriminatoren aangesloten en wel een hoog niveau discriminator 32 en midden niveau discriminator 33 en een laag niveau discriminator 34. Door de hoog niveau discriminator 32 geaccepteerde pulsen worden toegevoerd aan een hoogdoorlaatvenster 35. Door de laagniveau 8201342 PHN 10.312 3 discriminator geaccepteerde pulsen worden doorgegeven aan laagdoorlaat-venster 36 en door het midden niveau discriminator geaccepteerde pulsen worden aan beide vensters toegevoerd. Het laagdoorlaatvenster geeft alleen die pulsen door die liggen in een gebied tussen een laag niveau 5 LL en een midden niveau ML, terwijl het hoogdoorlaatvenster alleen de pulsen doorgeeft die liggen tussen het midden niveau ML en een hoog niveau HL. Een en ander is geschetst in figuur 3, alwaar het aantal pulsen N als functie van de pulsenergie E is weergegeven. Aan de doorlaatvensters zijn respectievelijk rateneters 37 en 38 toegevoegd. De ratemeters vormen 10 van de door de respectievelijke vensters doorgelaten reeksen pulsen analoge spanningssignalen die aan een camperatorschakeling 39 werden toegevoerd. In de camperator 39 worden de twee spanningssignalen onderling vergeleken. Als beide signalen ongelijk zijn wordt een signaal gevormd dat een functie is van het optredende verschil en dit wordt aan een regelscha-15 keling 40 toegevoerd. De versterking van de meetpulsen wordt hiermede zodanig aangepast, dat het midden ML van de pulsverdeling naar een vaste positie, overeenkomend met het midden niveau van de midden discriminator 33 wordt verschoven. Aldus wordt door middel van het terugkoppelmechanisme een actieve versterkingscorrectie gerealiseerd met als resultaat het hand-20 haven van de middenwaarde van de pulsverdeling op een vast in te stellen punt. Wanneer ten gevolge van pulsverschuiving in de detector, bijvoorbeeld in de vorm van een gasgevulde telbuis, de versterking af neemt, dan wordt deze afname in de versterker gecompenseerd zodat de totale versterking steeds constant blijft. Het voordeel van een zodanige actieve 25 correctieregeling is dat die ongeacht het type teller of de gebruikte hoogspanning steeds optimaal compenseert. Op een weergeef inrichting 41 kunnen de gemeten signalen worden geëtaleerd en worden geregistreerd.
30 35 8201342
Claims (3)
1. Röntgen analyse apparaat met een röntgenbron (1), een preparaat-houder (2) en een röntgendetector (6) met een pulsteller en een pulsver-sterker (20) met bet kenmerk, dat de pulsversterker regelbaar is net een correctiespanning die met behulp van een pulsvergelijkingsschakeling 5 (22) als maat voor optredende pulsverschuivingen wordt opgewekt.
2. Röntgen analyse apparaat volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de pulsverschuivingsschakeling is uitgerust met drie parallel geschakelde niveau discriminatoren (32 , 33 , 34), twee daaraan aangesloten niveau vensters (35 en 36) en daaraan aangesloten een, met een geheugen en een 10 regelschakeling (40) uitgeruste, naar de versterker teruggekoppelde, comperator (39).
3. Röntgen analyse apparaat volgens conclusie 2, net het kenmerk, dat aan elk van de niveau vensters (35 en 36) een rateireter (37, 38) is toegevoegd. 15 20 25 30 35 8201342
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8201342A NL8201342A (nl) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. |
CA000424346A CA1210530A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-24 | X-ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction |
DE8383200406T DE3365792D1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-24 | X-ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction |
EP83200406A EP0090465B1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-24 | X-ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction |
JP58051748A JPS58182544A (ja) | 1982-03-31 | 1983-03-29 | X線分析装置 |
US06/480,548 US4546488A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | X-Ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8201342A NL8201342A (nl) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. |
NL8201342 | 1982-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8201342A true NL8201342A (nl) | 1983-10-17 |
Family
ID=19839510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8201342A NL8201342A (nl) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4546488A (nl) |
EP (1) | EP0090465B1 (nl) |
JP (1) | JPS58182544A (nl) |
CA (1) | CA1210530A (nl) |
DE (1) | DE3365792D1 (nl) |
NL (1) | NL8201342A (nl) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU584311B2 (en) * | 1983-10-21 | 1989-05-25 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Gain stabilization of radiation spectrometers |
DE69327609T2 (de) * | 1992-04-15 | 2000-08-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven | Röntgenanalysegerät mit Impulsamplitudenverschiebungskorrektur |
EP0566191B1 (en) * | 1992-04-15 | 2000-01-19 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction |
JPH0672075U (ja) * | 1992-11-11 | 1994-10-07 | アースニクス株式会社 | Ri計測装置 |
CN112213766B (zh) * | 2020-09-29 | 2023-10-20 | 中广核核电运营有限公司 | 一种中子探测器可靠性验证方法及装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2837655A (en) * | 1953-08-28 | 1958-06-03 | Philips Corp | X-ray fluorescent analysis apparatus |
NL247901A (nl) * | 1960-01-29 | |||
FR1437072A (fr) * | 1965-06-10 | 1966-04-29 | Vakutronik Veb | Procédé de mesure du taux de dose d'un rayonnement de particules ou d'un rayonnement électromagnétique |
JPS5121358B2 (nl) * | 1971-09-10 | 1976-07-01 | ||
DD131800B1 (de) * | 1977-06-27 | 1979-12-27 | Gero Polivka | Anordnung zur normierung der detektorimpulshoehe in kristalldispersiblen roentgenfluoreszenzspektrometern |
US4352288A (en) * | 1980-07-24 | 1982-10-05 | Texaco Inc. | Measurement of salt content in petroleum flow lines |
-
1982
- 1982-03-31 NL NL8201342A patent/NL8201342A/nl not_active Application Discontinuation
-
1983
- 1983-03-24 EP EP83200406A patent/EP0090465B1/en not_active Expired
- 1983-03-24 CA CA000424346A patent/CA1210530A/en not_active Expired
- 1983-03-24 DE DE8383200406T patent/DE3365792D1/de not_active Expired
- 1983-03-29 JP JP58051748A patent/JPS58182544A/ja active Granted
- 1983-03-30 US US06/480,548 patent/US4546488A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA1210530A (en) | 1986-08-26 |
JPH0564312B2 (nl) | 1993-09-14 |
US4546488A (en) | 1985-10-08 |
DE3365792D1 (en) | 1986-10-09 |
EP0090465A1 (en) | 1983-10-05 |
EP0090465B1 (en) | 1986-09-03 |
JPS58182544A (ja) | 1983-10-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6118125A (en) | Method and a device for planar beam radiography and a radiation detector | |
US3980568A (en) | Radiation detection system | |
US3525863A (en) | Differential emission x-ray gauging apparatus and method using two monochromatic x-ray beams of balanced intensity | |
CA1222072A (en) | X-ray analysis apparatus | |
US3562525A (en) | X-ray fludrescence gauging employing a single x-ray source and a reference sample for comparative measurements | |
NL8201342A (nl) | Roentgen analyse apparaat met pulsschiftcorrectie. | |
US2539203A (en) | Noncontacting thickness gauge | |
CN113295655A (zh) | 一种大动态范围光谱透射率测量装置及其标定与测量方法 | |
US2999937A (en) | X-ray apparatus | |
US2963585A (en) | Non-contacting thickness gauges | |
US3351755A (en) | Method of and apparatus for spectroscopic analysis having compensating means for uncontrollable variables | |
US4030829A (en) | Keying waveform generator for spectrophotometer | |
US3671744A (en) | Digital differential emission x-ray gauge | |
JPS59208445A (ja) | 試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置 | |
US3137170A (en) | Infrared telethermometer | |
Smith et al. | Optical Methods for Negative Ion Studies | |
Riegler et al. | A high resolution position sensitive detector for ultraviolet and x-ray photons | |
US3376415A (en) | X-ray spectrometer with means to vary the spacing of the atomic planes in the analyzing piezoelectric crystal | |
Melhuish et al. | Double‐Beam Spectrofluorimeter | |
Bonfiglioli et al. | Apparatus for Thermoluminescence Measurements | |
Wartski et al. | Thin films on linac beams as non-destructive devices for particle beam intenstty, profile, centertng and energy monitors | |
CN116184478B (zh) | 一种半导体探测器能谱测量方法 | |
Lynch et al. | New fluorescence photometer | |
SU1536525A1 (ru) | Устройство дл определени высокого напр жени на рентгеновской трубке | |
Abramov et al. | Spectrometer of ring imaging Cherenkov radiation with hodoscope photomultipliers |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A1B | A search report has been drawn up | ||
BV | The patent application has lapsed |