NL2023157A - Metrology tools comprising aplanatic objective singlet - Google Patents

Metrology tools comprising aplanatic objective singlet Download PDF

Info

Publication number
NL2023157A
NL2023157A NL2023157A NL2023157A NL2023157A NL 2023157 A NL2023157 A NL 2023157A NL 2023157 A NL2023157 A NL 2023157A NL 2023157 A NL2023157 A NL 2023157A NL 2023157 A NL2023157 A NL 2023157A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
aplanatic
singlet
wavelength
spherochromatic
lens
Prior art date
Application number
NL2023157A
Other languages
English (en)
Inventor
Zijp Ferry
Original Assignee
Asml Netherlands Bv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asml Netherlands Bv filed Critical Asml Netherlands Bv
Priority to NL2023157A priority Critical patent/NL2023157A/en
Publication of NL2023157A publication Critical patent/NL2023157A/en

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Claims (1)

1. Een lithografieinrichting omvattende: een belichtinginrichting ingericht voor het leveren van een stralingsbundel; een drager geconstrueerd voor het dragen van een patroneerinrichting, welke patroneerinrichting in staat is een patroon aan te brengen in een doorsnede van de stralingsbundel ter vorming van een gepatroneerde stralingsbundel; een substraattafel geconstrueerd om een substraat te dragen; en een projectieinrichting ingericht voor het projecteren van de gepatroneerde stralingsbundel op een doelgebied van het substraat, met het kenmerk, dat de substraattafel is ingericht voor het positioneren van het doelgebied van het substraat in een brandpuntsvlak van de projectieinrichting.
NL2023157A 2019-05-17 2019-05-17 Metrology tools comprising aplanatic objective singlet NL2023157A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL2023157A NL2023157A (en) 2019-05-17 2019-05-17 Metrology tools comprising aplanatic objective singlet

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL2023157A NL2023157A (en) 2019-05-17 2019-05-17 Metrology tools comprising aplanatic objective singlet

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL2023157A true NL2023157A (en) 2019-05-29

Family

ID=66791953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL2023157A NL2023157A (en) 2019-05-17 2019-05-17 Metrology tools comprising aplanatic objective singlet

Country Status (1)

Country Link
NL (1) NL2023157A (nl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10394137B2 (en) Inspection method, lithographic apparatus, mask and substrate
JP6618551B2 (ja) 検査装置、検査方法、リソグラフィ装置、パターニングデバイス及び製造方法
US9563131B2 (en) Lithographic apparatus, substrate and device manufacturing method
JP6008851B2 (ja) オーバレイ誤差を決定する方法及び装置
JP4896092B2 (ja) 検査方法および装置、リソグラフィ装置、リソグラフィ処理セル、およびデバイス製造方法
JP6132499B2 (ja) 検査装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法
KR20190051071A (ko) 계측 레시피 선택
JP6744984B2 (ja) 波面の可変コレクタ
EP3696606A1 (en) A metrology apparatus with radiation source having multiple broadband outputs
US11237484B2 (en) Metrology tools comprising aplanatic objective singlet
US20230333290A1 (en) Achromatic optical relay arrangement
US11675276B2 (en) Metrology apparatus and photonic crystal fiber
WO2021032366A1 (en) Illumination and detection apparatus for a metrology apparatus
NL2023157A (en) Metrology tools comprising aplanatic objective singlet
EP4187321A1 (en) Metrology method and associated metrology tool
WO2024022720A1 (en) Method and apparatuses for fourier transform spectrometry
NL2022582A (en) A metrology apparatus with radiation source having multiple broadband outputs
NL2023181A (en) Detection apparatus for simultaneous acquisition of multiple diverse images of an object
NL2022659A (en) Alignment method and associated metrology device