NL2003134C - Laser interferometer. - Google Patents

Laser interferometer. Download PDF

Info

Publication number
NL2003134C
NL2003134C NL2003134A NL2003134A NL2003134C NL 2003134 C NL2003134 C NL 2003134C NL 2003134 A NL2003134 A NL 2003134A NL 2003134 A NL2003134 A NL 2003134A NL 2003134 C NL2003134 C NL 2003134C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
beams
reflected
interferometer
light
laser interferometer
Prior art date
Application number
NL2003134A
Other languages
English (en)
Inventor
Jonathan David Ellis
Ki-Nam Joo
Josephus Wilhelmus Spronck
Original Assignee
Univ Delft Tech
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Delft Tech filed Critical Univ Delft Tech
Priority to NL2003134A priority Critical patent/NL2003134C/nl
Priority to PCT/NL2009/050541 priority patent/WO2010030179A1/en
Application granted granted Critical
Publication of NL2003134C publication Critical patent/NL2003134C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02007Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02002Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
    • G01B9/02003Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using beat frequencies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02015Interferometers characterised by the beam path configuration
    • G01B9/02027Two or more interferometric channels or interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/15Cat eye, i.e. reflection always parallel to incoming beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/45Multiple detectors for detecting interferometer signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2290/00Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
    • G01B2290/70Using polarization in the interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Claims (7)

1. Laserinterferometer, omvattende een of meer laser-lichtbronnen die ten minste één lichtbundel verschaffen op twee of meer afzonderlijke frequenties, een bundelsplitser voor het splitsen van de ten minste ene lichtbundel in referentie- en 5 meetbundels, een eerste reflector en een tweede reflector voor reflectie van de referentie- en meetbundels, en ten minste één detector voor het detecteren van het interferentiesignaal dat betrekking heeft op de gereflecteerde referentie- en meetbundels, met het kenmerk, dat de laserlichtbron voorziet in eerste 10 en tweede lichtbundels die ruimtelijk van elkaar gescheiden zijn en waarin de eerste luchtbundel een eerste van genoemde afzonderlijke frequenties en de tweede lichtbundel een tweede van genoemde afzonderlijke frequenties bezit, en verder dat de bundelsplitser de eerste en tweede lichtbundel splitst in eerste en 15 tweede ruimtelijk gescheiden referentiebundels die naar de eerste reflector reizen, en in eerste en tweede ruimtelijk gescheiden meetbundels die naar de tweede reflector reizen, en dat een van de eerste en tweede reflectoren is ingericht om te veroorzaken dat de gereflecteerde eerste meetbundel ten minste een deel 20 van haar propagatiepad deelt met de gereflecteerde tweede refe-rentiebundel, en dat de gereflecteerde tweede meetbundel ten minste een deel van haar propagatiepad deelt met de gereflecteerde eerste referentiebundel.
2. Laserinterferometer volgens conclusie 1, met het 25 kenmerk, dat de eerste en tweede lichtbundels dezelfde polarisatie bezitten.
3. Laserinterferometer volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de bundelsplitser een niet-polariserende bundelsplitser is.
4. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-3, met het kenmerk, dat de gereflecteerde eerste meetbundel en de gereflecteerde tweede referentiebundel samenvallen in een eerste propagatiepad dat eindigt bij een eerste detector, en de gereflecteerde tweede meetbundel en de gereflecteerde eerste refe-35 rentiebundel samenvallen in een tweede propagatiepad dat ruimtelijk gescheiden is van het eerste propagatiepad en eindigt bij een tweede detector.
5. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-4, -· ' ? met het kenmerk, dat de tweede reflector een retroreflector is.
6. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-5, met het kenmerk, dat de eerste reflector voor de eerste en tweede referentiebundels geselecteerd is uit de groep omvattende een 5 prisma en spiegels.
7. Werkwijze voor het gebruiken van een laserinterferometer volgens een der conclusies 1-6, met het kenmerk, dat deze lichtbundels op drie onderscheidenlijke frequenties toepast, zodanig dat een eerste lichtbundel één van genoemde frequenties 10 bezit en dat een tweede lichtbundel de overblijvende twee frequenties bezit. 2003134
NL2003134A 2008-09-11 2009-07-03 Laser interferometer. NL2003134C (nl)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL2003134A NL2003134C (nl) 2008-09-11 2009-07-03 Laser interferometer.
PCT/NL2009/050541 WO2010030179A1 (en) 2008-09-11 2009-09-09 Laser interferometer

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL2001980 2008-09-11
NL2001980 2008-09-11
NL2003134 2009-07-03
NL2003134A NL2003134C (nl) 2008-09-11 2009-07-03 Laser interferometer.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL2003134C true NL2003134C (nl) 2010-03-16

Family

ID=42005311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL2003134A NL2003134C (nl) 2008-09-11 2009-07-03 Laser interferometer.

Country Status (2)

Country Link
NL (1) NL2003134C (nl)
WO (1) WO2010030179A1 (nl)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014043984A1 (en) * 2012-09-19 2014-03-27 Harbin Institute Of Technology High speed high resolution heterodyne interferometric method and system
CN114739286A (zh) * 2022-04-25 2022-07-12 中国科学院合肥物质科学研究院 一种双波长复合激光干涉仪系统

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0920520D0 (en) * 2009-11-23 2010-01-06 Univ Birmingham Innovative laser interferometric angular read-out device
CN102937411B (zh) 2012-11-09 2015-01-21 清华大学 一种双频光栅干涉仪位移测量系统
CZ304317B6 (cs) * 2012-12-18 2014-02-26 Ústav přístrojové techniky Akademie věd ČR, v.v.i. Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti
CN103743336B (zh) * 2013-12-23 2016-04-06 哈尔滨工业大学 基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置
CN103743346B (zh) * 2013-12-23 2016-04-13 哈尔滨工业大学 基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置
WO2015096279A1 (en) * 2013-12-23 2015-07-02 Harbin Institute Of Technology High resolution heterodyne interferometric method and system
CN104634283B (zh) * 2015-02-06 2017-05-03 浙江理工大学 具有六自由度检测的激光外差干涉直线度测量装置及方法
WO2016123812A1 (zh) * 2015-02-06 2016-08-11 浙江理工大学 具有六自由度检测的激光外差干涉直线度测量装置及方法
CN104767112B (zh) * 2015-03-23 2017-12-08 哈尔滨工业大学 基于双偏振分光镜合光的正交双频激光生成方法与装置
DE102017210636A1 (de) 2017-06-23 2017-08-10 Carl Zeiss Smt Gmbh Messvorrichtung zur Vermessung eines lateralen Abbildungsfehlers eines abbildenden optischen Moduls
DE102017210635A1 (de) 2017-06-23 2017-08-17 Carl Zeiss Smt Gmbh Messvorrichtung für ein abbildendes optisches Modul
CN108592800B (zh) * 2018-05-02 2019-08-20 中国计量科学研究院 一种基于平面镜反射的激光外差干涉测量装置和方法
CN111442715B (zh) 2020-03-02 2021-09-07 哈尔滨工业大学 基于一体式二次分光组件的外差激光干涉仪
CN116379972B (zh) * 2023-06-06 2023-08-22 上海隐冠半导体技术有限公司 检测余弦误差角及修正误差的方法及系统和测试工装

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4717250A (en) * 1986-03-28 1988-01-05 Zygo Corporation Angle measuring interferometer
US5579109A (en) * 1993-12-28 1996-11-26 Korea Research Institute Of Standards And Science 3 frequency heterodyne laser interferometer that doubles the resolution
US6483593B1 (en) * 1999-08-10 2002-11-19 The Boeing Company Hetrodyne interferometer and associated interferometric method
US20070171426A1 (en) * 2005-04-29 2007-07-26 Agilent Technologies Low non-linear error displacement measuring interferometer

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4717250A (en) * 1986-03-28 1988-01-05 Zygo Corporation Angle measuring interferometer
US5579109A (en) * 1993-12-28 1996-11-26 Korea Research Institute Of Standards And Science 3 frequency heterodyne laser interferometer that doubles the resolution
US6483593B1 (en) * 1999-08-10 2002-11-19 The Boeing Company Hetrodyne interferometer and associated interferometric method
US20070171426A1 (en) * 2005-04-29 2007-07-26 Agilent Technologies Low non-linear error displacement measuring interferometer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014043984A1 (en) * 2012-09-19 2014-03-27 Harbin Institute Of Technology High speed high resolution heterodyne interferometric method and system
CN114739286A (zh) * 2022-04-25 2022-07-12 中国科学院合肥物质科学研究院 一种双波长复合激光干涉仪系统
CN114739286B (zh) * 2022-04-25 2023-07-04 中国科学院合肥物质科学研究院 一种双波长复合激光干涉仪系统

Also Published As

Publication number Publication date
WO2010030179A1 (en) 2010-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL2003134C (nl) Laser interferometer.
JP6082466B2 (ja) 高速且つ高解像度のヘテロダイン干渉測定方法
US4859066A (en) Linear and angular displacement measuring interferometer
US7355719B2 (en) Interferometer for measuring perpendicular translations
US5847828A (en) Michelson interferometer using matched wedge-shaped beam splitter and compensator
US8179534B2 (en) Fixed wavelength absolute distance interferometer
US7675628B2 (en) Synchronous frequency-shift mechanism in Fizeau interferometer
WO2022105532A1 (zh) 外差光纤干涉仪位移测量系统及方法
US7542149B2 (en) Optics system for an interferometer that uses a measuring mirror, a reference mirror and a beam deflector
CN102944169A (zh) 一种同步偏振相移干涉仪
WO2022105533A1 (zh) 干涉仪位移测量系统及方法
US8345258B2 (en) Synchronous frequency-shift mechanism in fizeau interferometer
US7379187B2 (en) Detector configuration for interferometric distance measurement
Lou et al. A phase differential heterodyne interferometer for simultaneous measurement of straightness error and displacement
JPH07239208A (ja) 干渉応用測定装置
JPH045922B2 (nl)
US4807997A (en) Angular displacement measuring interferometer
US6710880B1 (en) Interferometric apparatus for ultra-high precision displacement measurement
EP2336714B1 (en) Interferometer
US20090135430A1 (en) Systems and Methods for Reducing Nonlinearity in an Interferometer
US6519042B1 (en) Interferometer system for displacement and straightness measurements
GB2555646A (en) Interferometric position sensor
EP0461773A2 (en) Linear pitch, and yaw displacement measuring interferometer
NL2028816B1 (en) Method for determining a position of a target by optical interferometry and device for doing the same
US11598629B2 (en) Optical displacement sensor

Legal Events

Date Code Title Description
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 20130201