NL2003134C - Laser interferometer. - Google Patents
Laser interferometer. Download PDFInfo
- Publication number
- NL2003134C NL2003134C NL2003134A NL2003134A NL2003134C NL 2003134 C NL2003134 C NL 2003134C NL 2003134 A NL2003134 A NL 2003134A NL 2003134 A NL2003134 A NL 2003134A NL 2003134 C NL2003134 C NL 2003134C
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- beams
- reflected
- interferometer
- light
- laser interferometer
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02002—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
- G01B9/02003—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using beat frequencies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02027—Two or more interferometric channels or interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/15—Cat eye, i.e. reflection always parallel to incoming beam
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/45—Multiple detectors for detecting interferometer signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2290/00—Aspects of interferometers not specifically covered by any group under G01B9/02
- G01B2290/70—Using polarization in the interferometer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Claims (7)
1. Laserinterferometer, omvattende een of meer laser-lichtbronnen die ten minste één lichtbundel verschaffen op twee of meer afzonderlijke frequenties, een bundelsplitser voor het splitsen van de ten minste ene lichtbundel in referentie- en 5 meetbundels, een eerste reflector en een tweede reflector voor reflectie van de referentie- en meetbundels, en ten minste één detector voor het detecteren van het interferentiesignaal dat betrekking heeft op de gereflecteerde referentie- en meetbundels, met het kenmerk, dat de laserlichtbron voorziet in eerste 10 en tweede lichtbundels die ruimtelijk van elkaar gescheiden zijn en waarin de eerste luchtbundel een eerste van genoemde afzonderlijke frequenties en de tweede lichtbundel een tweede van genoemde afzonderlijke frequenties bezit, en verder dat de bundelsplitser de eerste en tweede lichtbundel splitst in eerste en 15 tweede ruimtelijk gescheiden referentiebundels die naar de eerste reflector reizen, en in eerste en tweede ruimtelijk gescheiden meetbundels die naar de tweede reflector reizen, en dat een van de eerste en tweede reflectoren is ingericht om te veroorzaken dat de gereflecteerde eerste meetbundel ten minste een deel 20 van haar propagatiepad deelt met de gereflecteerde tweede refe-rentiebundel, en dat de gereflecteerde tweede meetbundel ten minste een deel van haar propagatiepad deelt met de gereflecteerde eerste referentiebundel.
2. Laserinterferometer volgens conclusie 1, met het 25 kenmerk, dat de eerste en tweede lichtbundels dezelfde polarisatie bezitten.
3. Laserinterferometer volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de bundelsplitser een niet-polariserende bundelsplitser is.
4. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-3, met het kenmerk, dat de gereflecteerde eerste meetbundel en de gereflecteerde tweede referentiebundel samenvallen in een eerste propagatiepad dat eindigt bij een eerste detector, en de gereflecteerde tweede meetbundel en de gereflecteerde eerste refe-35 rentiebundel samenvallen in een tweede propagatiepad dat ruimtelijk gescheiden is van het eerste propagatiepad en eindigt bij een tweede detector.
5. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-4, -· ' ? met het kenmerk, dat de tweede reflector een retroreflector is.
6. Laserinterferometer volgens een der conclusies 1-5, met het kenmerk, dat de eerste reflector voor de eerste en tweede referentiebundels geselecteerd is uit de groep omvattende een 5 prisma en spiegels.
7. Werkwijze voor het gebruiken van een laserinterferometer volgens een der conclusies 1-6, met het kenmerk, dat deze lichtbundels op drie onderscheidenlijke frequenties toepast, zodanig dat een eerste lichtbundel één van genoemde frequenties 10 bezit en dat een tweede lichtbundel de overblijvende twee frequenties bezit. 2003134
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2003134A NL2003134C (nl) | 2008-09-11 | 2009-07-03 | Laser interferometer. |
PCT/NL2009/050541 WO2010030179A1 (en) | 2008-09-11 | 2009-09-09 | Laser interferometer |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2001980 | 2008-09-11 | ||
NL2001980 | 2008-09-11 | ||
NL2003134 | 2009-07-03 | ||
NL2003134A NL2003134C (nl) | 2008-09-11 | 2009-07-03 | Laser interferometer. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL2003134C true NL2003134C (nl) | 2010-03-16 |
Family
ID=42005311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL2003134A NL2003134C (nl) | 2008-09-11 | 2009-07-03 | Laser interferometer. |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
NL (1) | NL2003134C (nl) |
WO (1) | WO2010030179A1 (nl) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014043984A1 (en) * | 2012-09-19 | 2014-03-27 | Harbin Institute Of Technology | High speed high resolution heterodyne interferometric method and system |
CN114739286A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-07-12 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0920520D0 (en) * | 2009-11-23 | 2010-01-06 | Univ Birmingham | Innovative laser interferometric angular read-out device |
CN102937411B (zh) | 2012-11-09 | 2015-01-21 | 清华大学 | 一种双频光栅干涉仪位移测量系统 |
CZ304317B6 (cs) * | 2012-12-18 | 2014-02-26 | Ústav přístrojové techniky Akademie věd ČR, v.v.i. | Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti |
CN103743336B (zh) * | 2013-12-23 | 2016-04-06 | 哈尔滨工业大学 | 基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置 |
CN103743346B (zh) * | 2013-12-23 | 2016-04-13 | 哈尔滨工业大学 | 基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置 |
WO2015096279A1 (en) * | 2013-12-23 | 2015-07-02 | Harbin Institute Of Technology | High resolution heterodyne interferometric method and system |
CN104634283B (zh) * | 2015-02-06 | 2017-05-03 | 浙江理工大学 | 具有六自由度检测的激光外差干涉直线度测量装置及方法 |
WO2016123812A1 (zh) * | 2015-02-06 | 2016-08-11 | 浙江理工大学 | 具有六自由度检测的激光外差干涉直线度测量装置及方法 |
CN104767112B (zh) * | 2015-03-23 | 2017-12-08 | 哈尔滨工业大学 | 基于双偏振分光镜合光的正交双频激光生成方法与装置 |
DE102017210636A1 (de) | 2017-06-23 | 2017-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung zur Vermessung eines lateralen Abbildungsfehlers eines abbildenden optischen Moduls |
DE102017210635A1 (de) | 2017-06-23 | 2017-08-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Messvorrichtung für ein abbildendes optisches Modul |
CN108592800B (zh) * | 2018-05-02 | 2019-08-20 | 中国计量科学研究院 | 一种基于平面镜反射的激光外差干涉测量装置和方法 |
CN111442715B (zh) | 2020-03-02 | 2021-09-07 | 哈尔滨工业大学 | 基于一体式二次分光组件的外差激光干涉仪 |
CN116379972B (zh) * | 2023-06-06 | 2023-08-22 | 上海隐冠半导体技术有限公司 | 检测余弦误差角及修正误差的方法及系统和测试工装 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4717250A (en) * | 1986-03-28 | 1988-01-05 | Zygo Corporation | Angle measuring interferometer |
US5579109A (en) * | 1993-12-28 | 1996-11-26 | Korea Research Institute Of Standards And Science | 3 frequency heterodyne laser interferometer that doubles the resolution |
US6483593B1 (en) * | 1999-08-10 | 2002-11-19 | The Boeing Company | Hetrodyne interferometer and associated interferometric method |
US20070171426A1 (en) * | 2005-04-29 | 2007-07-26 | Agilent Technologies | Low non-linear error displacement measuring interferometer |
-
2009
- 2009-07-03 NL NL2003134A patent/NL2003134C/nl not_active IP Right Cessation
- 2009-09-09 WO PCT/NL2009/050541 patent/WO2010030179A1/en active Application Filing
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4717250A (en) * | 1986-03-28 | 1988-01-05 | Zygo Corporation | Angle measuring interferometer |
US5579109A (en) * | 1993-12-28 | 1996-11-26 | Korea Research Institute Of Standards And Science | 3 frequency heterodyne laser interferometer that doubles the resolution |
US6483593B1 (en) * | 1999-08-10 | 2002-11-19 | The Boeing Company | Hetrodyne interferometer and associated interferometric method |
US20070171426A1 (en) * | 2005-04-29 | 2007-07-26 | Agilent Technologies | Low non-linear error displacement measuring interferometer |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014043984A1 (en) * | 2012-09-19 | 2014-03-27 | Harbin Institute Of Technology | High speed high resolution heterodyne interferometric method and system |
CN114739286A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-07-12 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
CN114739286B (zh) * | 2022-04-25 | 2023-07-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2010030179A1 (en) | 2010-03-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL2003134C (nl) | Laser interferometer. | |
JP6082466B2 (ja) | 高速且つ高解像度のヘテロダイン干渉測定方法 | |
US4859066A (en) | Linear and angular displacement measuring interferometer | |
US7355719B2 (en) | Interferometer for measuring perpendicular translations | |
US5847828A (en) | Michelson interferometer using matched wedge-shaped beam splitter and compensator | |
US8179534B2 (en) | Fixed wavelength absolute distance interferometer | |
US7675628B2 (en) | Synchronous frequency-shift mechanism in Fizeau interferometer | |
WO2022105532A1 (zh) | 外差光纤干涉仪位移测量系统及方法 | |
US7542149B2 (en) | Optics system for an interferometer that uses a measuring mirror, a reference mirror and a beam deflector | |
CN102944169A (zh) | 一种同步偏振相移干涉仪 | |
WO2022105533A1 (zh) | 干涉仪位移测量系统及方法 | |
US8345258B2 (en) | Synchronous frequency-shift mechanism in fizeau interferometer | |
US7379187B2 (en) | Detector configuration for interferometric distance measurement | |
Lou et al. | A phase differential heterodyne interferometer for simultaneous measurement of straightness error and displacement | |
JPH07239208A (ja) | 干渉応用測定装置 | |
JPH045922B2 (nl) | ||
US4807997A (en) | Angular displacement measuring interferometer | |
US6710880B1 (en) | Interferometric apparatus for ultra-high precision displacement measurement | |
EP2336714B1 (en) | Interferometer | |
US20090135430A1 (en) | Systems and Methods for Reducing Nonlinearity in an Interferometer | |
US6519042B1 (en) | Interferometer system for displacement and straightness measurements | |
GB2555646A (en) | Interferometric position sensor | |
EP0461773A2 (en) | Linear pitch, and yaw displacement measuring interferometer | |
NL2028816B1 (en) | Method for determining a position of a target by optical interferometry and device for doing the same | |
US11598629B2 (en) | Optical displacement sensor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
V1 | Lapsed because of non-payment of the annual fee |
Effective date: 20130201 |