NL185474C - Inrichting voor het meten van de distorsiefactor van een analoog ingangssignaal. - Google Patents

Inrichting voor het meten van de distorsiefactor van een analoog ingangssignaal.

Info

Publication number
NL185474C
NL185474C NLAANVRAGE8101525,A NL8101525A NL185474C NL 185474 C NL185474 C NL 185474C NL 8101525 A NL8101525 A NL 8101525A NL 185474 C NL185474 C NL 185474C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
measuring
input signal
analog input
distortion factor
distortion
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE8101525,A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL8101525A (nl
NL185474B (nl
Original Assignee
Shibasoku Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP4081580A external-priority patent/JPS56153260A/ja
Priority claimed from JP4978380A external-priority patent/JPS5941143B2/ja
Application filed by Shibasoku Co Ltd filed Critical Shibasoku Co Ltd
Publication of NL8101525A publication Critical patent/NL8101525A/nl
Publication of NL185474B publication Critical patent/NL185474B/xx
Application granted granted Critical
Publication of NL185474C publication Critical patent/NL185474C/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G01R23/20—Measurement of non-linear distortion

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
NLAANVRAGE8101525,A 1980-03-29 1981-03-27 Inrichting voor het meten van de distorsiefactor van een analoog ingangssignaal. NL185474C (nl)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4081580 1980-03-29
JP4081580A JPS56153260A (en) 1980-03-29 1980-03-29 Measuring device for distortion factor
JP4978380 1980-04-15
JP4978380A JPS5941143B2 (ja) 1980-04-15 1980-04-15 ひずみ率の測定器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8101525A NL8101525A (nl) 1981-10-16
NL185474B NL185474B (nl) 1989-11-16
NL185474C true NL185474C (nl) 1990-04-17

Family

ID=26380330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE8101525,A NL185474C (nl) 1980-03-29 1981-03-27 Inrichting voor het meten van de distorsiefactor van een analoog ingangssignaal.

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4417310A (de)
DE (1) DE3112243C2 (de)
GB (1) GB2074738B (de)
NL (1) NL185474C (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3437303A1 (de) * 1984-10-11 1986-04-24 Licentia Gmbh Verfahren zur messtechnischen erfassung von klirreffekten an einem elektroakustischen wandler, insbesondere lautsprecher, kopfhoerer oder dergleichen
JPH04328471A (ja) * 1991-04-27 1992-11-17 Sony Corp ディジタル信号測定装置
US5170114A (en) * 1991-09-11 1992-12-08 Myron Zucker, Inc. Harmonimeter input circuit and methods of constructing and utilizing same
ATE381715T1 (de) * 2001-06-25 2008-01-15 Koninkl Philips Electronics Nv Verzerrungsdetektor
CN109581894B (zh) * 2018-11-13 2021-06-15 苏州灵猴机器人有限公司 一种基于信号组合的高精度模拟量传输系统及方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3842247A (en) * 1972-10-18 1974-10-15 Bell Telephone Labor Inc Apparatus and method for measuring envelope delay utilizing {90 -point technique
US4093989A (en) * 1976-12-03 1978-06-06 Rockland Systems Corporation Spectrum analyzer using digital filters
DE2724991B2 (de) * 1977-06-02 1979-08-09 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Meßverfahren und Schaltungsanordnung zur Ermittlung der Dämpfungsverzerrung und der Gruppenlaufzeitverzerrung eines Meßobjekts
US4124818A (en) * 1977-10-04 1978-11-07 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Arrangement for monitoring signal-to-interference ratio in a radio transmission system
US4125809A (en) * 1977-11-09 1978-11-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Digital C/kT meter
DE2849119A1 (de) * 1978-11-13 1980-05-14 Siemens Ag Verfahren und schaltungsanordnung zur daempfungsmessung, insbesondere zur ermittlung der daempfungs- und/oder gruppenlaufzeitverzerrung eines messobjektes
US4301536A (en) * 1979-12-28 1981-11-17 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Multitone frequency response and envelope delay distortion tests

Also Published As

Publication number Publication date
GB2074738B (en) 1984-03-07
NL8101525A (nl) 1981-10-16
DE3112243C2 (de) 1983-12-01
GB2074738A (en) 1981-11-04
DE3112243A1 (de) 1982-03-04
NL185474B (nl) 1989-11-16
US4417310A (en) 1983-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL183961C (nl) Werkwijze voor het dichtheidsonafhankelijk meten van de relatieve vochtigheid en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
NL7809681A (nl) Werkwijze voor het inductief meten van de doorstroming en daartoe geschikte inrichting.
NL7805353A (nl) Absolute positietransducent voor het meten van lineaire en hoekposities.
NL7608446A (nl) Inrichting voor het meten van belastingen.
NL7607169A (nl) Werkwijze en inrichting voor het elimineren van de restfoutspanning van een versterker.
NL191909C (nl) Schakeling van extractie van het binaire signaal uit een analoog ingang signaal van binaire informatie.
NL175586C (nl) Meetinrichting voor het meten van de bio-elektrische activiteit van het centrale zenuwstelsel.
NL7904500A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de inhoud of hoeveelheid van een gegeven element door middel van roentgenstraling.
NL166326C (nl) Werkwijze voor het ultrasoon meten van de dikte van een voorwerp.
NL175229C (nl) Stelsel voor het meten van de eigenschappen van stralingsgeleiders.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
BE888146A (nl) Inrichting voor het calibreren van meters
NL7903362A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van de wijzigingssnelheid van een signaal.
BE888147A (nl) Inrichting voor het calibreren van meters
BE888841A (nl) Stelsel voor het meten van de wanddikte van een meetobject.
NL183619C (nl) Inrichting voor het begrenzen van de bandbreedte van een in amplitude begrensd signaal.
NL7800471A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten en regelen van de massa-eigenschappen van slurrie.
NL188071B (nl) Werkwijze en inrichting voor het herijken van een axiaalstroom-meter.
NL185474C (nl) Inrichting voor het meten van de distorsiefactor van een analoog ingangssignaal.
NL7811838A (nl) Inrichting voor eliminatie van een ongewenst signaal.
NL187323C (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van vluchtige metaalhydriden.
NL7801418A (nl) Inrichting voor het bepalen van de ademweg impedantie.
NL7408033A (nl) Schakeling voor het meten van de effektieve waarde van een elektrisch signaal.
NL7806940A (nl) Inrichting voor het meten van de dichtheid van gasvor- mige media.

Legal Events

Date Code Title Description
A1A A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee