NL1007474C2 - Test apparatus for electronic circuit cards - Google Patents
Test apparatus for electronic circuit cards Download PDFInfo
- Publication number
- NL1007474C2 NL1007474C2 NL1007474A NL1007474A NL1007474C2 NL 1007474 C2 NL1007474 C2 NL 1007474C2 NL 1007474 A NL1007474 A NL 1007474A NL 1007474 A NL1007474 A NL 1007474A NL 1007474 C2 NL1007474 C2 NL 1007474C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- circuit
- assemblies
- needle bed
- test
- pressure element
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 87
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 61
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 61
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 50
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 10
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 9
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 230000004941 influx Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000004071 soot Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
Titel: Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen.Title: Device for testing electronic circuits.
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor 5 het testen van elektronische schakelingen, tenminste omvattende transportmiddelen voor het in bedrijf naar en van een testpositie transporteren van de te testen schakeling, welke transportmiddelen twee evenwijdig aan en op enige afstand van elkaar gelegen samenstellen bevatten, welke 10 samenstellen elk mede uit een, over op enige afstand van elkaar gelegen aandrijfbare assen aangebrachte, eindloze drager zijn opgebouwd, positioneringsmiddelen voor het in de testpositie positioneren en centreren van de schakeling ten opzichte van een, uit centreer- en/of steunstiften en 15 testnaalden opgebouwd, naaldenbed, alsmede verplaatsings-middelen, welke in bedrijf de samenstellen met de schakeling en/of het naaldenbed een naar elkaar toe gerichte verplaatsing opdringen, teneinde de schakeling in contact te brengen met de stiften en de testnaalden van het naaldenbed. 20 Een dergelijke inrichting is bijvoorbeeld bekend uit hetThe invention relates to a device for testing electronic circuits, at least comprising transport means for transporting the circuit to be tested in operation to and from a test position, which transport means comprise two assemblies located parallel to and some distance from each other, which 10 assemblies each co-built up of an endless carrier arranged over a distance of each other from drivable shafts, positioning means for positioning and centering the circuit in the test position with respect to one of centering and / or supporting pins and 15 test needles built-up needle bed, as well as displacing means which, in operation, force the assemblies with the circuit and / or the needle bed towards each other in order to bring the circuit into contact with the pins and the test needles of the needle bed. Such a device is known, for example, from the
Duitse Gebrauchsmuster G 9201067.9 en is veelal opgenomen in een produktielijn voor het fabriceren van elektronische schakelingen. Deze gefabriceerde schakelingen, welke zijn opgebouwd uit elektronische componenten, aangebracht op een 25 van geleidende sporen voorziene drager, dienen op een juiste werking te worden getest alvorens zij uitgeleverd kunnen worden. Daartoe wordt elke schakeling met behulp van de transport- en positioneringsmiddelen in een testpositie in de inrichting geplaatst. Vervolgens worden met behulp van de 30 verplaatsingsmiddelen de schakeling en het naaldenbed met elkaar in contact gebracht. Doordat de testnaalden van het naaldenbed in elektrisch contact met de elektronische componenten en/of de geleidende sporen van de drager van de schakeling komen te staan, is het mogelijk om met behulp van 35 elektrische stuursignalen via deze testnaalden de werking van de schakeling te testen. Zodoende is het mogelijk om met behulp van een dergelijke inrichting snel grote aantallen schakelingen te testen en defecte schakelingen te traceren.German Gebrauchsmuster G 9201067.9 and is often included in a production line for manufacturing electronic circuits. These manufactured circuits, which are made up of electronic components, mounted on a carrier provided with conductive tracks, must be tested for correct operation before they can be delivered. To this end, each circuit is placed in a test position in the device using the transport and positioning means. Then, with the aid of the displacement means, the circuit and the needle bed are brought into contact with each other. Because the test needles of the needle bed come into electrical contact with the electronic components and / or the conductive traces of the circuit carrier, it is possible to test the operation of the circuit via these test needles by means of electrical control signals. It is thus possible to quickly test large numbers of circuits and trace defective circuits with the aid of such a device.
1 0 ö 74 7 4 < 21 0 ö 74 7 4 <2
In de inrichting volgens het Duitse Gebrauchsmuster G 9201067.9 wordt met behulp van de verplaatsingsmiddelen het naaldenbed tussen de samenstellen van de transportmiddelen geplaatst en in elektrisch contact gebracht met de op de 5 samenstellen aanwezige schakeling. De inrichting volgens G 9201067.9 heeft als nadeel, dat tijdens het verrichten van testhandelingen de schakeling omgeven wordt door de samenstellen van de transportmiddelen, de verplaatsingsmiddelen alsmede het naaldenbed. Hierdoor is de schakeling enkel vanaf 10 de zijde, waar het in elektrisch contact komt met het naaldenbed te staan, benaderbaar voor testdoeleinden en is het niet mogelijk om de schakeling ten behoeve van het verrichten van additionele testhandelingen via andere zijden te benaderen. Tevens is de schakeling tijdens het testen 15 niet bereikbaar voor het bedienend personeel.In the device according to German Gebrauchsmuster G 9201067.9, the needle bed is placed between the assemblies of the transport means by means of the displacing means and is brought into electrical contact with the circuit present on the 5 assemblies. The device according to G 9201067.9 has the drawback that, during the execution of test operations, the circuit is surrounded by the assemblies of the transport means, the displacement means and the needle bed. As a result, the circuit is only accessible from the side where it comes into electrical contact with the needle bed for testing purposes and it is not possible to approach the circuit from other sides for the purpose of performing additional test operations. Also, the circuit is not accessible to the operating personnel during testing.
De onderhavige uitvinding beoogt bovengenoemde bezwaren te ondervangen en een inrichting voor het testen van schakelingen te verschaffen, waarbij de te testen schakeling volkomen vrij komt te liggen op het naaldenbed, zodat het 20 altijd mogelijk is de schakeling ten behoeve van het verrichten van additionele testhandelingen via alle zijden te benaderen. Door het rondom volledig vrij liggen van de schakeling op het naaldenbed is het ook goed bereikbaar voor het bedienend personeel.The present invention aims to obviate the above drawbacks and to provide an apparatus for testing circuits, wherein the circuit under test is exposed completely on the needle bed, so that it is always possible for the circuit to perform additional test operations via approach all sides. Because the circuit on the needle bed is completely free all around, it is also easily accessible for the operating staff.
25 De inrichting wordt overeenkomstig de uitvinding daartoe gekenmerkt, doordat de verplaatsingsmiddelen tevens de samenstellen een van elkaar af gerichte verplaatsing opdringen. Hierdoor komt de te testen schakeling volledig vrij op het naaldenbed te liggen en wordt het niet langer 30 nauw omsloten door de samenstellen van de transportmiddelen. Zodoende is de schakeling via alle zijden goed benaderbaar ten behoeve van het verrichten van additionele testhandelingen. Door het rondom volledig vrij liggen van de schakeling op het naaldenbed is deze tevens goed bereikbaar 35 voor het bediendend personeel, daar deze niet langer worden belemmerd door een enge constructie van de verschillende onderdelen, zoals bij de reeds bekende inrichtingen.According to the invention the device is characterized for this purpose in that the displacing means also force the assemblies to move away from one another. As a result, the circuit to be tested is completely exposed on the needle bed and is no longer closely enclosed by the assemblies of the transport means. Thus, the circuit is easily accessible from all sides for the purpose of performing additional test operations. Due to the fact that the circuit on the needle bed is completely free all around, it is also easily accessible for the operating personnel, since these are no longer obstructed by a narrow construction of the various parts, as with the devices already known.
Teneinde een verbeterde vrije ligging van de schakeling 1007474¾ 3 op het naaldenbed te verkrijgen, kan volgens een kenmerk van de uitvinding de door de verplaatsingsmiddelen aan de samenstellen opgedrongen verplaatsing een cirkelvormige verplaatsing zijn.In order to obtain an improved free position of the circuit 1007474¾ 3 on the needle bed, according to an inventive feature, the displacement imposed by the displacement means on the assemblies may be a circular displacement.
5 Bij een andere uitvoeringsvorm kan de inrichting volgens de uitvinding worden gekenmerkt, doordat de verplaatsingsmiddelen de samenstellen de van elkaar af gerichte verplaatsing opdringen, nadat de stiften van het naaldenbed de schakeling centreren en ondersteunen. Hiermee wordt 10 bereikt, dat de schakeling door de centreer- en steunstiften gecentreerd en ondersteund op het naaldenbed wordt geplaatst voordat deze volledig vrij komt te liggen van de overige onderdelen van de inrichting. Zodoende worden de test-handelingen correct uitgevoerd en kan beschadiging aan en/of 15 afkeur van de schakeling ten gevolge van een foutieve test tot een minimum worden beperkt.In another embodiment, the device according to the invention can be characterized in that the displacing means force the assemblies to move away from each other after the pins of the needle bed center and support the circuit. This achieves that the circuit is placed centrally and supported on the needle bed by the centering and supporting pins before it is completely exposed from the other parts of the device. Thus, the test operations are properly performed and damage to and / or circuit breakdown due to a faulty test can be minimized.
In een verdere uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding kan elk samenstel tegen veerkracht in verplaatsbaar op een onderstel zijn gemonteerd, welk onder-20 stel in een richting evenwijdig aan het door de schakeling gevormde vlak over een geleider verplaatsbaar is. Hierbij kan het onderstel tegen veerkracht in ten opzichte van een op de geleider instelbaar alsmede vastzetbaar aangebracht blok verplaatsbaar zijn. Door deze constructie wordt een zelf-25 verlopende, doch gecontroleerde terugkeer van de samenstellen na afloop van elke test naar hun oorspronkelijke beginpositie verkregen. Door deze zelfverlopende terugkerende verplaatsing van de samenstellen naar hun beginpositie kunnen de verplaatsingsmiddelen op een eenvoudige en 30 betrouwbare wijze en zonder extra controle- cq. regel-middelen worden geconstrueerd.In a further embodiment of the device according to the invention, each assembly can be mounted displaceably on a frame, which frame can be moved over a conductor in a direction parallel to the plane formed by the circuit. The chassis can herein be displaceable against resilience with respect to a block which is adjustable and which can be fixed on the guide. This construction provides a self-progressing, yet controlled return of the assemblies to their original starting position at the end of each test. Due to this self-progressing returning movement of the assemblies to their starting position, the displacing means can be carried out in a simple and reliable manner and without additional checking or control. control means are constructed.
Bij een andere uitvoeringsvorm kan de inrichting volgens de uitvinding worden gekenmerkt, doordat een arm aanwezig is, waarvan het ene einde scharnierbaar met het vastzetbare blok 35 is verbonden en waarvan het andere einde is voorzien van een langsgerichte sleufvormige uitsparing, waarin een op het samenstel aangebrachte nok reikt. Door deze constructie van de arm is het mogelijk de van elkaar af gerichte 1007474* 4 verplaatsingen van de samenstellen aan te laten vangen op het moment, dat de te testen elektronische schakeling door de centreerstiften en steunstiften is gecentreerd en ondersteund. Deze gecontroleerde verplaatsingen voorkomen het 5 ontstaan van een foutieve test en beperken zodoende beschadigingen aan en de uitval van schakelingen aanzienlijk.In another embodiment, the device according to the invention can be characterized in that an arm is provided, one end of which is hingedly connected to the fastening block 35 and the other end of which is provided with a longitudinal slot-shaped recess, in which an assembly arranged on the assembly ridge reaches. This construction of the arm makes it possible to start the displacements of the assemblies away from each other 1007474 * 4 when the electronic circuit under test is centered and supported by the centering pins and supporting pins. These controlled displacements prevent the occurrence of an erroneous test and thus considerably limit damage to and failure of circuits.
Volgens een ander kenmerk wordt de inrichting volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat tussen de verplaatsings-middelen en elk van de samenstellen drukelementen aanwezig 10 zijn, welke in bedrijf de samenstellen hun verplaatsing(en) opdringen. Daarbij kan elk drukelement langgerekt zijn uitgevoerd en kantelbaar zijn in de richting van de van elkaar af gerichte verplaatsing van de samenstellen.According to another feature, the device according to the invention is characterized in that pressure elements are present between the displacing means and each of the assemblies, which forces the assemblies to move (s) during operation. Each pressure element can herein be elongated and tiltable in the direction of the displacement of the assemblies facing away from each other.
Eventueel kan bij een specifieke uitvoeringsvorm elk druk-15 element in lengterichting met de verplaatsingsmiddelen of met een van de samenstellen zijn verbonden. De toepassing van dergelijke, al of niet kantelbare, drukelementen tussen de verplaatsingsmiddelen en elk van de samenstellen maakt een meer open constructie van de inrichting mogelijk. Dit 20 verschaft een verbeterde rondom vrije ligging van de te testen schakeling op het naaldenbed en maakt deze tevens beter benaderbaar voor het verrichten van additionele testhandelingen en/of voor het bedienend personeel.Optionally, in a specific embodiment, each pressure element can be connected longitudinally with the displacing means or with one of the assemblies. The use of such pressure elements, which may or may not tilt, between the displacing means and each of the assemblies allows a more open construction of the device. This provides an improved all-around free position of the circuit under test on the needle bed and also makes it more approachable for performing additional test operations and / or for the operating personnel.
Bij een verdere uitvoeringsvorm kan de inrichting 25 volgens de uitvinding worden gekenmerkt, doordat elk drukelement telescopisch is uitgevoerd, waarbij een gedeelte van het drukelement in lengterichting tegen veerkracht verschuifbaar in het andere, in lengterichting met de verplaatsingsmiddelen of een samenstel verbonden, gedeelte van het druk-30 element is opgenomen. Eventueel kan het telescopisch gedeelte van het drukelement voorzien zijn van een langs-gerichte sleufvormige uitsparing, waarin een op het andere gedeelte van het drukelement aangebrachte nok reikt.In a further embodiment, the device 25 according to the invention can be characterized in that each pressure element is of telescopic design, wherein a part of the pressure element is displaceable longitudinally against resilience in the other part, which is connected longitudinally with the displacing means or an assembly. -30 element is included. Optionally, the telescopic part of the pressure element can be provided with a longitudinal slot-shaped recess, in which a cam arranged on the other part of the pressure element extends.
Zodoende is het contact tussen de drukelementen en de 35 samenstellen tijdens de testcyclus altijd gewaarborgd, hetgeen wenselijk is voor een betrouwbare en foutieve werking van de inrichting. Tevens verschaft dit altijd aanwezige contact een beheerste en gecontroleerde terugkeer van de 1 0 0 74 7 4 5 samensteller! naar hun beginposities.Thus, contact between the pressure elements and the assemblies during the test cycle is always ensured, which is desirable for reliable and faulty operation of the device. This always present contact also provides a controlled and controlled return of the 1 0 0 74 7 4 5 formulator! to their starting positions.
Voor het verkrijgen van een verbeterd contact met een geringere weerstand, kan het uiteinde van het telescopisch gedeelte van het drukelement rond zijn uitgevoerd.In order to obtain an improved contact with a lower resistance, the end of the telescopic part of the pressure element can be made round.
5 Bij een specifieke toepassing van de inrichting volgens de uitvinding wordt deze daartoe gekenmerkt, doordat de verplaatsingsmiddelen samenwerken met middelen, welke het gebied rondom de testpositie (en de schakeling) elektromagnetisch afschermen. Doordat bij de inrichting volgens de 10 uitvinding de te testen schakeling rondom volledig vrij komt te liggen en zodoende van alle zijden vrij benaderbaar is, is het hierbij mogelijk de schakeling te onderwerpen aan additionele testhandelingen onder toepassing van hoogfrequente stuursignalen. De verkregen extra vrije ruimte 15 rondom de te testen schakeling maakt het mogelijk middelen rondom de schakeling aan te brengen, waardoor deze elektromagnetisch wordt afgeschermd. Zodoende wordt het weglekken en/of het instromen van en/of storingen door de hoogfrequente stuursignalen voorkomen.In a specific application of the device according to the invention, it is characterized for this purpose in that the displacing means cooperate with means which electromagnetically shield the area around the test position (and the circuit). Because in the device according to the invention the circuit to be tested is completely exposed all around and is thus freely accessible from all sides, it is hereby possible to subject the circuit to additional test operations using high-frequency control signals. The additional free space 15 obtained around the circuit under test makes it possible to provide means around the circuit, so that it is electromagnetically shielded. This prevents leakage and / or the inflow of and / or disturbances from the high-frequency control signals.
20 Volgens een uitvoeringsvorm van deze toepassing van de inrichting volgens de uitvinding wordt deze daartoe gekenmerkt, doordat de afschermmiddelen twee metalen, aan een zijde open, omhullingen omvatten, welke omhullingen in bedrijf tijdens en na de opgedrongen verplaatsingen van de 25 samenstellen afdichtend om de schakeling aanbrengbaar zijn. Door de omhullingen tijdens en na de opgedrongen verplaatsingen van de samenstellen en in het bijzonder na de van elkaar af gerichte verplaatsingen van de samenstellingen afdichtend om de schakeling aan te brengen, worden diens 30 afmetingen ten gevolge van de verkregen vrije ruimte rondom de te testen schakeling niet beperkt. Hierdoor is het mogelijk om de elektromagnetische afschermingsmiddelen voor schakelingen met verschillende afmetingen te gebruiken.According to an embodiment of this application of the device according to the invention, it is characterized for this purpose in that the shielding means comprise two metal casings, open on one side, which casings seal during operation during and after the forced displacements of the assemblies around the circuit. be applicable. By sealing the enclosures during and after the forced displacements of the assemblies and in particular after the displacements of the assemblies directed away from each other, the dimensions thereof become due to the free space around the circuit under test. not limited. This makes it possible to use the electromagnetic shielding means for circuits of different sizes.
Volgens een ander kenmerk van de uitvinding maakt een 35 omhulling deel uit van het naaldenbed. Deze simpele en eenvoudige combinatie van het naaldenbed en een afschermende omhulling wordt mogelijk gemaakt door de verkregen vrije ruimte rondom de te testen schakeling.According to another feature of the invention, a casing forms part of the needle bed. This simple and simple combination of the needle bed and a shielding casing is made possible by the free space around the circuit under test.
1 Ü U 7 4 ( 4 1 61 Ü U 7 4 (4 1 6
Bij een uitvoeringsvorm kan de inrichting volgens de uitvinding worden gekenmerkt, doordat de randen van de open zijden van de omhullingen zijn voorzien van, dwars op de rand uitstrekkende, insnijdingen. Deze insnijdingen verbeteren de 5 afschermende werking van de omhullingen en voorkomen het weglekken en/of het instromen van en het optreden van storingen elders in de inrichting door de hoogfreguente elektromagnetische stuursignalen.In one embodiment, the device according to the invention can be characterized in that the edges of the open sides of the envelopes are provided with cuts extending transversely to the edge. These cuts improve the shielding effect of the envelopes and prevent leakage and / or influx and the occurrence of disturbances elsewhere in the device by the high-frequency electromagnetic control signals.
Daarnaast kunnen de omhullingen volgens de uitvinding 10 van messing zijn vervaardigd.In addition, the casings according to the invention can be made of brass.
De uitvinding heeft tevens betrekking op een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, tenminste omvattende transportmiddelen voor het in bedrijf naar en van 15 een testpositie transporteren van de te testen schakeling, welke transportmiddelen twee evenwijdig aan en op enige afstand van elkaar gelegen samenstellen bevatten, welke samenstellen elk mede uit een, over op enige afstand van elkaar gelegen aandrijfbare assen aangebrachte, eindloze 20 drager zijn opgebouwd, positioneringsmiddelen voor het in de testpositie positioneren en centreren van de schakeling ten opzichte van een, uit centreer- en/of steunstiften en testnaalden opgebouwd, naaldenbed, alsmede verplaatsings-middelen, welke in bedrijf de samenstellen met de schakeling 25 en/of het naaldenbed een naar elkaar toe gerichte verplaatsing opdringen, teneinde de schakeling in contact te brengen met de stiften en de testnaalden van het naaldenbed. In een dergelijke bekende inrichting worden elektronische schakelingen met behulp van het naaldenbed aan standaard 30 testhandelingen onderworpen. Een dergelijke inrichting heeft echter als nadeel, dat het niet mogelijk is om de te testen schakelingen aan testhandelingen te onderwerpen, waarbij hoogfrequente stuursignalen worden toegepast. Deze hoogfrequente stuursignalen lekken snel uit de bekende inrichting 35 weg en veroorzaken bovendien storingen in de elektronische randapparatuur van de inrichting.The invention also relates to a device for testing electronic circuits, at least comprising transport means for transporting the circuit to be tested in operation to and from a test position, which transport means comprise two assemblies located parallel to and at some distance from each other, which assemblies are each partly built up of an endless carrier arranged over a distance from each other of drivable shafts, positioning means for positioning and centering the circuit in the test position relative to one of centering and / or supporting pins and test needles built-up needle bed, as well as displacing means which, in operation, force the assemblies with the circuit 25 and / or the needle bed towards each other in order to bring the circuit into contact with the pins and the test needles of the needle bed. In such a known device, electronic circuits are subjected to standard test operations using the needle bed. However, such a device has the drawback that it is not possible to subject the circuits to be tested to test operations using high-frequency control signals. These high-frequency control signals quickly leak out of the known device 35 and moreover cause disturbances in the electronic peripherals of the device.
De uitvinding beoogt deze bezwaren te ondervangen en een inrichting te verschaffen, waarmee het mogelijk is om de te 'i ü Ü Ί 4 /44 7 testen schakeling te onderwerpen aan testhandelingen, waarbij zonder nadelige storingen aan de inrichting hoogfrequente stuursignalen worden gebruikt.The object of the invention is to overcome these drawbacks and to provide a device with which it is possible to subject the circuit under test to test operations, in which high-frequency control signals are used without detrimental disturbances on the device.
De inrichting volgens de uitvinding wordt hiertoe 5 gekenmerkt, doordat de inrichting is voorzien van middelen, welke het gebied rondom de testpositie (en de schakeling) elektromagnetisch afschermen. Hierbij kunnen de afscherm-middelen twee metalen, aan een zijde open, omhullingen omvatten, welke omhullingen in bedrijf tijdens en na de 10 opgedrongen verplaatsing van de samenstellen afdichtend om de schakeling aanbrengbaar zijn.To this end, the device according to the invention is characterized in that the device is provided with means which electromagnetically shield the area around the test position (and the circuit). The shielding means can herein comprise two metal casings, open on one side, which casings can be fitted sealingly around the circuit during operation during and after the forced displacement of the assemblies.
Bij een specifieke uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding maakt een omhulling deel uit van het naaldenbed. Hierdoor is een eenvoudige constructie van de 15 afschermmiddelen mogelijk. Met behulp van deze middelen kunnen op eenvoudige wijze de te testen elektronische schakelingen al of niet met behulp van het naaldenbed aan testhandelingen worden onderworpen, waarbij hoogfrequente stuursignalen worden toegepast.In a specific embodiment of the device according to the invention, a casing forms part of the needle bed. This allows a simple construction of the screening means. With the aid of these means, the electronic circuits to be tested can easily be subjected to test operations, whether or not with the aid of the needle bed, using high-frequency control signals.
20 Bij een specifieke uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding wordt deze daartoe gekenmerkt, doordat de randen van de open zijden van de omhullingen zijn voorzien van, dwars op de rand uitstrekkende, insnijdingen. Deze insnijdingen zorgen voor een verbeterde afscherming van de te 25 testen elektronische schakeling en voorkomen het weglekken en/of het instromen van en storingen door de hoogfrequente stuursignalen.In a specific embodiment of the device according to the invention, it is characterized for this purpose in that the edges of the open sides of the envelopes are provided with cuts extending transversely to the edge. These cuts provide improved shielding of the electronic circuit to be tested and prevent leakage and / or influx and disturbances from the high-frequency control signals.
Daarnaast kunnen de omhullingen van messing zijn vervaardigd.In addition, the enclosures can be made of brass.
3030
De inrichting volgens de uitvinding zal nu aan de hand van een tekening nader worden toegelicht. De tekening toont achtereenvolgens in: figuur 1 een algehele dwarsdoorsnede van een 35 uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding; figuur 2 een deelaanzicht van de inrichting volgens figuur 1; figuren 3a, 3b en 3c in stappen het functioneren van de l u u ƒ 4 / ^ -Ά 8 inrichting volgens de uitvinding uit de figuren 1 en 2; figuren 4a, 4b, 4c en 4d een specifieke toepassing en uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding.The device according to the invention will now be explained in more detail with reference to a drawing. The drawing successively shows in: Figure 1 an overall cross-section of an embodiment of the device according to the invention; figure 2 shows a partial view of the device according to figure 1; Figures 3a, 3b and 3c show in steps the functioning of the device according to the invention from Figures 1 and 2; Figures 4a, 4b, 4c and 4d show a specific application and embodiment of the device according to the invention.
De figuur 1 toont een dwarsdoorsnede van een inrichting 5 volgens de uitvinding. Hierbij geeft het zijaanzicht tevens de transportrichting van een te testen schakeling door de inrichting weer. De inrichting voor het testen van elektronische schakelingen wordt gevormd door een frame of module 1, welke module 1 in zijn geheel in een niet getoonde 10 productielijn voor het fabriceren van elektronische schakelingen kan worden opgesteld. Naast de niet getoonde, doch voor de goede werking van de inrichting noodzakelijke overige mechanische en elektrische componenten, omvat de module 1 onder andere transportmiddelen 2a en 2b en 15 verplaatsingsmiddelen 10 en 10a. De transportmiddelen 2a en 2b omvatten twee evenwijdig aan en op enige afstand van elkaar gelegen samenstellen 3a en 3b. Elk samenstel 3a (3b) is mede uit, over op enige afstand van elkaar gelegen, aandrijfbare assen 4a (4b) aangebrachte, eindloze drager 5a 20 (5b) opgebouwd. De aandrijfbare assen 4a (4b) zijn, zoals hier getoond, door een elektromotor 6a (6b) aandrijfbaar. Echter ook andere aandrijfmiddelen zijn zeer geschikt voor het aandrijven van de assen 4a (4b). Op de beide dragers 5a en 5b rusten de eindranden van een te testen elektronische 25 schakeling, welke hier door middel van de stippellijn 7 wordt weergegeven. Deze schakeling 7 is zodoende op bekende wijze over de beide dragers 5a en 5b door de inrichting transporteerbaar in een richting, welke uit of door het vlak van de tekening loopt. Elk samenstel 3a (3b) is tegen veer-30 kracht in beweegbaar gemonteerd op een onderstel 8a (8b), welk onderstel 8a (8b) in een richting evenwijdig aan het door de schakeling 7 gevormde vlak over een geleider 9 verplaatsbaar is. De specifieke constructie van het onderstel 8a (8b) zal verderop in de beschrijving nader worden 35 toegelicht. Tussen de beide samenstellen 3a en 3b is een zogenoemd naaldenbed 13 aangebracht, bestaande uit tenminste vier al of niet verend uitgevoerde centreer- en/of steun-stiften 14a, 14b etc. voor het ondersteunen en centreren van 10 0 747 4*« 9 de schakeling ten opzichte van een groot aantal, niet weergegeven, testnaalden, die dienen voor het elektrisch testen van de schakeling 7.Figure 1 shows a cross section of a device 5 according to the invention. The side view also shows the direction of transport of a circuit under test through the device. The electronic circuit testing apparatus is constituted by a frame or module 1, which module 1 can be arranged in its entirety in an electronic circuit manufacturing line (not shown). In addition to the other mechanical and electrical components not shown, but necessary for the proper functioning of the device, the module 1 includes transport means 2a and 2b and 15 displacement means 10 and 10a. The transport means 2a and 2b comprise two assemblies 3a and 3b located parallel to and some distance from each other. Each assembly 3a (3b) is partly built up of endless carrier 5a 20 (5b) arranged over some drivable axles 4a (4b) which are spaced from each other. The drivable shafts 4a (4b) are, as shown here, drivable by an electric motor 6a (6b). However, other drive means are also very suitable for driving the shafts 4a (4b). The two edges 5a and 5b bear the end edges of an electronic circuit to be tested, which is shown here by means of the dotted line 7. This circuit 7 can thus be transported in a known manner over the two carriers 5a and 5b in a direction extending from or through the plane of the drawing. Each assembly 3a (3b) is movably mounted against a spring force on a chassis 8a (8b), which chassis 8a (8b) is movable in a direction parallel to the plane formed by the circuit 7 over a conductor 9. The specific construction of the undercarriage 8a (8b) will be explained in more detail later in the description. A so-called needle bed 13 is arranged between the two assemblies 3a and 3b, consisting of at least four centering and / or supporting pins 14a, 14b, etc., which may or may not be resilient, for supporting and centering 10 0 747 4 * 9 de circuit with respect to a large number of test needles, not shown, which serve to electrically test the circuit 7.
De uit de module 1 opgebouwde inrichting voor het testen 5 van elektronische schakelingen omvat mede verplaatsings-middelen 10. Deze verplaatsingsmiddelen 10 omvatten een basiselement 10a, welke zich in hoofdzaak evenwijdig aan het door de schakeling 7 gevormde vlak en het naaldenbed 13 uitstrekt. Op het basiselement 10a zijn een aantal druk-10 elementen 11a en 11b alsmede een contactstift 12 aangebracht, welke zich in de richting van de samenstellen, de schakeling 7 en het naaldenbed 13 uitstrekken. De functie van de druk-elementen 11a en 11b alsmede de contactstift 12 zal verderop in de beschrijving worden toegelicht. De verplaatsings-15 middelen 10 en 10a zijn op bekende en voor de uitvinding niet relevante wijze in de module 1 gekoppeld aan niet weergegeven aandrijfmiddelen, welke aandrijfmiddelen een beweging aan de verplaatsingsmiddelen 10 kunnen opdringen, welke beweging overeenkomstig de getekende pijlen in de figuur 1 van en naar 20 de samenstellen 3a en 3b, de schakeling 7 en het naaldenbed 13 is gericht.The electronic circuit testing device 5 built up from the module 1 also comprises displacement means 10. These displacement means 10 comprise a base element 10a, which extends substantially parallel to the plane formed by the circuit 7 and the needle bed 13. A number of pressure-10 elements 11a and 11b as well as a contact pin 12 are provided on the base element 10a, which extend in the direction of the assemblies, the circuit 7 and the needle bed 13. The function of the pressure elements 11a and 11b as well as the contact pin 12 will be explained later in the description. The displacement means 10 and 10a are coupled in a known manner and not relevant to the invention in the module 1 to drive means (not shown), which drive means can impose a movement on the displacement means 10, which movement corresponds to the arrows in figure 1 of and towards assemblies 3a and 3b, circuit 7 and needle bed 13 are directed.
De figuur 2 toont hetzelfde aanzicht van de inrichting uit de figuur 1, maar nu meer in detail. Overeenkomstige onderdelen worden in deze figuur met dezelfde referentie-25 cijfers als in figuur 1 aangeduid. Zoals getoond in de figuur 2 is elk samenstel 3a (3b) ter plaatse van elke as 4a (4b) tegen de veerkracht van een veer 15a (15b) verplaatsbaar op een onderstel 8a (8b) gemonteerd. De onderstellen 8a (8b) zijn in een richting evenwijdig aan het door de schakeling 7 30 gevormde vlak over een geleider 9 verplaatsbaar. Zodoende is het mogelijk de afstand tussen de beide samenstellen 3a en 3b eenvoudig aan de breedte van de te testen schakelingen 7 aan te passen. De onderstellen 8a (8b) zijn elk opgebouwd uit een op de geleider 9 instelbaar alsmede vastzetbaar 35 aangebracht blok 17a (17b), waarbij het blok 16a (16b) van het onderstel 8a (8b) tegen de veerkracht van de veer 18a (18b) over de geleider 9 verplaatsbaar is ten opzichte van het blok 17a (17b). Elk, tegen de veerkracht van de veer 15a 1007474 10 (15b) verplaatsbaar op het blok 16a (16b) van elk onderstel 8a (8b) gemonteerd, samenstel 3a (3b) is met behulp van een arm 19a (19b) verbonden met het vastzetbare blok 17a (17b).Figure 2 shows the same view of the device of figure 1, but now in more detail. Corresponding parts are indicated in this figure with the same reference numerals as in figure 1. As shown in Figure 2, each assembly 3a (3b) is movably mounted on a base 8a (8b) at the location of each shaft 4a (4b) against the spring force of a spring 15a (15b). The bases 8a (8b) are movable in a direction parallel to the plane formed by the circuit 7 over a conductor 9. It is thus possible to easily adapt the distance between the two assemblies 3a and 3b to the width of the circuits 7 to be tested. The frames 8a (8b) are each built up of a block 17a (17b) which is adjustable and fixed on the guide 9, the block 16a (16b) of the frame 8a (8b) against the spring force of the spring 18a (18b) is movable over the guide 9 relative to the block 17a (17b). Each mounted on the block 16a (16b) of each undercarriage 8a (8b), movable against the spring force of the spring 15a 1007474 10 (15b), assembly 3a (3b) is connected to the fixable by means of an arm 19a (19b) block 17a (17b).
De arm 19a (19b) is met zijn ene einde ter plaatse van 20a 5 (20b) scharnierbaar verbonden met het vastzetbare blok 17a (17b) en is aan zijn andere einde voorzien van een langs-gerichte sleufvormige uitsparing 21a (21b), waarin een op het samenstel 3a (3b) aangebrachte nok 22a (22b) reikt.The arm 19a (19b) is pivotally connected at one location at 20a (20b) to the lockable block 17a (17b) and is provided at its other end with a longitudinal slot-shaped recess 21a (21b), in which a cam 22a (22b) disposed on the assembly 3a (3b).
In de figuur 2 is eveneens de constructie van de druk-10 elementen 11a en 11b, welke op het basiselement 10a van de verplaatsingsmiddelen 10 zijn aangebracht, in detail weergegeven. Deze zijn tussen de verplaatsingsmiddelen 10a (en 10) en elk van de samenstellen 3a (3b) ter plaatse van de assen 4a (4b) van elk samenstel aangebracht en zijn lang-15 gerekt uitgevoerd. In deze uitvoeringsvorm is elk druk- element 11a (11b) in de lengterichting met de verplaatsingsmiddelen 10a (en 10) verbonden. Het drukelement lla (11b) is telescopisch uitgevoerd, waarbij een gedeelte 23a (23b) in de lengterichting tegen de veerkracht van een veer 25a (25b) 20 verschuifbaar is opgenomen in het andere gedeelte 24a (24b) van het drukelement lla (11b). Dit andere gedeelte 24a (24b) is in de lengterichting met de verplaatsingsmiddelen 10a en 10 verbonden. Zoals duidelijk weergegeven is elk telescopisch gedeelte 23a (23b) voorzien van een langsgerichte sleuf-25 vormige uitsparing 26a (26b), in welke uitsparing een op het andere gedeelte 24a (24b) aangebrachte nok 27a (27b) reikt. Hoewel niet weergegeven in de figuur 2 is elk druk-element lla (11b) om het punt 28a (28b) kantelbaar verbonden met het basiselement 10a van de verplaatsingsmiddelen 10.Figure 2 also shows in detail the construction of the pressure-10 elements 11a and 11b, which are arranged on the base element 10a of the displacement means 10. These are arranged between the displacement means 10a (and 10) and each of the assemblies 3a (3b) at the axes 4a (4b) of each assembly and are elongated. In this embodiment, each pressure element 11a (11b) is longitudinally connected to the displacement means 10a (and 10). The pressure element 11a (11b) is telescopic, a portion 23a (23b) being slidably received in the other part 24a (24b) of the pressure element 11a (11b) in the longitudinal direction against the resilience of a spring 25a (25b). This other portion 24a (24b) is longitudinally connected to the displacement means 10a and 10. As clearly shown, each telescopic section 23a (23b) is provided with a longitudinal slot-shaped recess 26a (26b), into which recess a projection 27a (27b) mounted on the other section 24a (24b) extends. Although not shown in Figure 2, each pressure element 11a (11b) is tiltably connected about the point 28a (28b) to the base element 10a of the displacement means 10.
30 In de figuren 3a tot en met 3c is in stappen het functioneren van de inrichting volgens de uitvinding getoond. Voor het testen van een op de eindeloze dragers 5a en 5b rustende schakeling 7 (zie figuren 1 en 2) wordt met behulp van de transportmiddelen 2a en 2b alsmede niet getoonde 35 positioneringsmiddelen een te testen schakeling 7 naar een testpositie in de inrichting 1 getransporteerd. Eenmaal in zijn testpositie aangebracht, blijft de schakeling 7 op de eindeloze dragers 5a en 5b rusten. Vervolgens wordt in de 1 OU747 4 · 11 inrichting 1 een testcyclus opgestart, waarbij de niet getoonde aandrijfmiddelen aan de verplaatsingsmiddelen 10 (en 10a) een beweging in de richting van het door de schakeling 7 gevormde vlak en het naaldenbed 13 opdringen. Tijdens de 5 opgedrongen verplaatsing komt elk vrije einde van een druk-element 11a (11b) in contact met het samenstel 3a (3b). Dit moment is in de figuur 3a weergegeven. Daar de veerconstante van de veer 25 van het drukelement 11a groter is dan de veerconstante van de veer 15 van het samenstel 3a drukt het 10 drukelement 11a tijdens de verdere opgedrongen verplaatsing het samenstel 3a tegen de veerkracht van de veer 15a in. Het samenstel 3a wordt daarbij tezamen met het niet getoonde samenstel 3b langs de geleider 29a (29b) tegen de veerkracht van de veer 15a (15b) in de richting van de geleider 9 15 gedrukt. Ten gevolge van deze opgedrongen verplaatsing van de beide samenstellen 3a en 3b verplaatst de te testen schakeling 7 zich in de richting van het naaldenbed 13 (zie figuur 2). Hierbij verschuift elke nok 22a, 22b mee, totdat deze nok 22a (22b) tegen de eindrand van de uitsparing 21a 20 (21b) van de arm 19a (19b) komt te rusten (zie figuur 3b).Figures 3a to 3c show the functioning of the device according to the invention in steps. For testing a circuit 7 resting on the endless carriers 5a and 5b (see Figures 1 and 2), a circuit 7 to be tested is transported to a test position in the device 1 by means of the transport means 2a and 2b as well as positioning means (not shown). Once in its test position, the circuit 7 remains on the endless carriers 5a and 5b. Subsequently, a test cycle is started up in the 1 OU747 4 · 11 device 1, wherein the drive means (not shown) impose a movement on the displacement means 10 (and 10a) in the direction of the plane formed by the circuit 7 and the needle bed 13. During the forced displacement, each free end of a pressure element 11a (11b) comes into contact with the assembly 3a (3b). This moment is shown in figure 3a. Since the spring constant of the spring 25 of the pressure element 11a is greater than the spring constant of the spring 15 of the assembly 3a, the pressure element 11a presses the assembly 3a against the spring force of the spring 15a during the further forced displacement. The assembly 3a is pressed together with the assembly 3b (not shown) along the guide 29a (29b) against the spring force of the spring 15a (15b) in the direction of the guide 9. As a result of this forced displacement of the two assemblies 3a and 3b, the circuit 7 to be tested moves in the direction of the needle bed 13 (see figure 2). Each cam 22a, 22b moves with this, until this cam 22a (22b) comes to rest against the end edge of the recess 21a 20 (21b) of the arm 19a (19b) (see figure 3b).
Hoewel niet getoond in de figuren 3a tot en met 3c, steunt in de situatie volgens de figuur 3b de op de beide eindeloze dragers 5a en 5b rustende schakeling 7 tevens op de verend in het naaldenbed 13 aangebrachte steunstiften 14a, 14b, etc. en 25 is de schakeling door de centreerstiften ten opzichte van de niet weergegeven testnaalden goed gecentreerd en gepositioneerd.Although not shown in Figures 3a to 3c, in the situation according to Figure 3b the circuit 7 resting on the two endless carriers 5a and 5b also relies on the supporting pins 14a, 14b, etc. and 25 arranged in the needle bed 13. the circuit is properly centered and positioned by the centering pins with respect to the test needles (not shown).
Bij de verdere opgedrongen verplaatsing van de druk-elementen 11a en 11b is de rechtlijnige verplaatsing van het 30 samenstel 3a (en 3b) in de richting van het naaldenbed 13 en de geleider 9 niet meer mogelijk, daar de nok 22a (en 22b) tegen de eindranden van de sleufvormige uitsparingen 21a (en 21b) van de arm 19a (en 19b) stuit. De arm 19a (en 19b) zal als reactie op het stuiten van de nok 22a (en 22b) bij 35 verdere verplaatsing van het drukelement 11a (en 11b) om het punt 20a (en 20b) gaan scharnieren. Daar het samenstel 3a en het blok 16a tegen de veerkracht van de veer 18a in verschuifbaar op de geleider 9 is aangebracht en de arm 19a 1 u ü 74 7 4*> 12 bij het punt 20a met het op de geleider 9 vastzetbare blok 17a is verbonden, beweegt het samenstel 3a en het blok 16a in de richting van het vastzetbare blok 17a. Aangezien de schakeling 7 in de situatie volgens figuur 3b op de 5 centreerstiften 14a, 14b, ... etc. van het naaldenbed 13 rust, komt de schakeling 7 ten gevolge van de van elkaar af gerichte verplaatsing van de samenstellen 3a en 3b over de geleider 9 in de richting van het vastzetbare blok 17a en 17b vrij van de eindeloze dragers 5a en 5b te liggen. Hierbij 10 rust de schakeling rondom volledig vrij op de steunstiften 14a, 14b, etc. en is de schakeling door de centreerstiften gecentreerd ten opzichte van de niet weergegeven testnaalden.With the further forced displacement of the pressure elements 11a and 11b, the rectilinear displacement of the assembly 3a (and 3b) in the direction of the needle bed 13 and the guide 9 is no longer possible, since the cam 22a (and 22b) no longer the end edges of the slotted recesses 21a (and 21b) of the arm 19a (and 19b) butt. The arm 19a (and 19b) will pivot about the point 20a (and 20b) in response to the bounce of the cam 22a (and 22b) upon further displacement of the pressure element 11a (and 11b). Since the assembly 3a and the block 16a are slidably mounted on the guide 9 against the spring force of the spring 18a and the arm 19a is at the point 20a with the block 17a which can be fixed on the guide 9. connected, the assembly 3a and the block 16a move in the direction of the lockable block 17a. Since the circuit 7 rests on the 5 centering pins 14a, 14b, ... etc. of the needle bed 13 in the situation according to Fig. 3b, the circuit 7 is displaced by the displacement of the assemblies 3a and 3b away from each other. guide 9 in the direction of the lockable block 17a and 17b to be free from the endless carriers 5a and 5b. Here, the circuit rests completely free all around on the support pins 14a, 14b, etc. and the circuit is centered by the centering pins with respect to the test needles (not shown).
Tijdens de scharnierende verdraaiing van de arm 19a (19b) om het scharnierpunt 20a (20b) worden de samenstellen 15 3a en 3b niet alleen in een van elkaar af gerichte verplaatsing over de geleider 9 verplaatst, maar worden zij tevens tegen de veerkracht van de veer 15a (15b) in verder in de richting van de geleider 9 en het naaldenbed 13 verplaatst. Ten gevolge van deze twee opgedrongen 20 verplaatsingen voeren de samenstellen 3a en 3b zodoende een resulterende cirkelvormige beweging uit. Door deze cirkelvormige beweging verplaatst het saraenstel 3a (en 3b) zich niet alleen van de schakeling 7 af, maar komen de samenstellen 3a en 3b tevens onder het door de schakeling 7 25 gevormde vlak te liggen. Dientengevolge komt de schakeling 7 volledig vrij op het naaldenbed 13 te liggen en ontstaat een aan alle zijden van de schakeling 7 vrije ruimte.During the pivotal rotation of the arm 19a (19b) about the pivot point 20a (20b), the assemblies 15 3a and 3b are not only displaced over guide 9 in a distant movement, but are also displaced against the spring force of the spring 15a (15b) moved further in the direction of the guide 9 and the needle bed 13. As a result of these two forced displacements, the assemblies 3a and 3b thus perform a resulting circular movement. Due to this circular movement, the assembly 3a (and 3b) not only moves away from the circuit 7, but the assemblies 3a and 3b also lie below the plane formed by the circuit 7. As a result, the circuit 7 becomes completely exposed on the needle bed 13 and a space is created on all sides of the circuit 7.
De maximale verplaatsing over de geleider 9 van elk samenstel 3a (3b) en het blok 16a (16b) wordt bereikt, 30 wanneer het verschuifbare blok 16a tegen het vastzetbare blok 17a stuit, zoals getoond in de figuur 3c. Het samenstel 3a heeft daarbij zijn maximale verplaatsing over de geleider 9 en zijn maximale verplaatsing over de geleider 29a tegen de veerkracht van de veer 15a ondergaan en bevindt zich in een 35 positie op enige afstand van en onder het door de schakeling 7 gevormde vlak. De schakeling 7 is tijdens de overgang van de figuur 3b naar de figuur 3c tesamen met de verend uitgevoerde stiften 14a, 14b, ... aangedrukt door de 747 4* 13 contactstift 12 en in elektrisch contact roet de niet weergegeven testnaalden van het naaldenbed 13 gebracht (zie figuur 2).Maximum displacement across the guide 9 of each assembly 3a (3b) and block 16a (16b) is reached when the slidable block 16a collides with the lockable block 17a, as shown in Figure 3c. The assembly 3a has undergone its maximum displacement over the conductor 9 and its maximum displacement over the conductor 29a against the resilience of the spring 15a and is in a position some distance from and below the plane formed by the circuit 7. During the transition from figure 3b to figure 3c, the circuit 7 is pressed together with the spring-mounted pins 14a, 14b, ... by the 747 4 * 13 contact pin 12 and in electrical contact the test needles (not shown) of the needle bed 13 soot (see figure 2).
Ten gevolge van de van elkaar af gerichte 5 verplaatsingen van de samenstellen 3a en 3b over de geleider 9 geraken de drukelementen 11a, llb, ... etc. en de samenstellen 3a en 3b enigszins uit het lood. Teneinde blijvende vervorming van en schade aan de drukelementen 11a, llb, ... etc. te voorkomen, is elk drukelement om het punt 28a 10 kantelbaar met het basiselement 10a van de verplaatsings-middelen 10 verbonden. Tijdens de van elkaar af gerichte verplaatsingen van de samenstellen 3a en 3b kantelt elk drukelement 11a, llb, ... etc. in de overeenkomstige richting mee. Teneinde een goed contact tussen de druk-15 elementen en elk samenstel te bewerkstelligen, is het vrije einde van elk drukelement rond uitgevoerd.As a result of the movements of the assemblies 3a and 3b directed away from each other over the guide 9, the pressure elements 11a, 11b, ... etc. and the assemblies 3a and 3b become slightly out of plumb. In order to prevent permanent deformation of and damage to the pressure elements 11a, 11b, ... etc., each pressure element is tiltably connected about the point 28a 10 to the base element 10a of the displacement means 10. During the displacements of the assemblies 3a and 3b away from each other, each pressure element 11a, 11b, ... etc. tilts along in the corresponding direction. In order to achieve good contact between the pressure elements and each assembly, the free end of each pressure element is round.
Daarbij is tevens het gedeelte 23a tegen de veerkracht van de veer 25a in het andere gedeelte 24a van elk drukelement 11a geschoven. De op het verschuifbare gedeelte 23a 20 aangebrachte sleufvormige uitsparing 26a is ten opzichte van de nok 27a van het andere gedeelte 24 verschoven. Om te voorkomen dat het samenstel 3a (en 3b) vanuit de positie, zoals getoond in de figuur 3c, ongewenst en ongecontroleerd terug keert naar zijn beginpositie volgens de figuur 3a (en 25 figuur 2), dient de veerconstante van de veer 25a niet alleen groter te zijn dan de veerconstante van de veer 15a, maar dient deze veerconstante 25a tevens groter te zijn dan de resulterende veerconstante van de veercombinatie 15a-18a.The part 23a is also pushed against the spring force of the spring 25a in the other part 24a of each pressure element 11a. The slotted recess 26a provided on the slidable portion 23a 20 is offset from the cam 27a of the other portion 24. To prevent the assembly 3a (and 3b) from unwanted and uncontrolled return from its position as shown in Figure 3c to its initial position according to Figure 3a (and Figure 2), the spring constant of the spring 25a should not only be greater than the spring constant of the spring 15a, but this spring constant 25a should also be greater than the resulting spring constant of the spring combination 15a-18a.
Door de juiste keuze van de veren 15a, 18a en 25a kan te 30 allen tijde het samenstel 3a (en 3b) beheerst en gecontroleerd worden verplaatst en wordt een abrupte en ongewenste terugkeer van het samenstel 3a (3b) naar zijn beginpositie volgens de figuren 3a en 2 voorkomen. Door deze veerconstructie wordt een onderbreking van de testprocedure 35 en het ontstaan aan schade aan de schakeling 7 voorkomen.By the correct selection of the springs 15a, 18a and 25a, the assembly 3a (and 3b) can be moved in a controlled and controlled manner at any time and an abrupt and undesired return of the assembly 3a (3b) to its starting position according to figures 3a and 2 occur. This spring construction prevents an interruption of the test procedure 35 and the occurrence of damage to the circuit 7.
Door het rondom volledig vrij liggen van de schakeling op het naaldenbed 13 is het mogelijk om de schakeling 7 voor het uitvoeren van additionele testhandelingen vrij te benaderen.Due to the fact that the circuit on the needle bed 13 is completely free all around, it is possible to approach the circuit 7 freely for performing additional test operations.
' Ü 0 74 7 4* 140 74 7 4 * 14
Tevens is de schakeling voor het bediendend personeel goed bereikbaar.The circuit is also easily accessible for the wait staff.
Als het testen van de schakeling 7 met behulp van de testnaalden van het naaldenbed 13 is voltooid, verloopt de 5 terugkeer van de samenstellen 3a en 3b naar hun beginpositie in omgekeerde volgorde. Onder invloed van de veren 18a en 15a verplaatst het blok 16a zich over de geleider 9a en scharniert de arm 19a om het punt 20a naar de positie zoals getoond in de figuur 3b. In deze positie is het drukelement 10 11a niet meer gekanteld, maar bevindt het zich op een lijn met het samenstel 3a. De veer 25a heeft zich hierbij (net als de veer 18a) kunnen ontspannen, zodat de nok 27a van het gedeelte 24a van het drukelement 11a tegen de andere eindrand van de sleufvormige uitsparing 26a van het telescopisch 15 verschuifbare gedeelte 23a rust.When the testing of the circuit 7 using the test needles of the needle bed 13 has been completed, the return of the assemblies 3a and 3b to their initial position proceeds in reverse order. Under the influence of the springs 18a and 15a, the block 16a moves over the guide 9a and the arm 19a pivots about the point 20a to the position as shown in figure 3b. In this position, the pressure element 10a is no longer tilted, but is aligned with the assembly 3a. The spring 25a has been able to relax (like the spring 18a), so that the cam 27a of the part 24a of the pressure element 11a rests against the other end edge of the slit-shaped recess 26a of the telescopically slidable part 23a.
In deze positie rust de geteste schakeling 7 weer op de eindeloze dragers 5a en 5b van de samenstellen 3a en 3b en steunt het in deze positie tevens nog op de stiften 14a, 14b, ... van het naaldenbed 13. Tevens heeft het samenstel 3a in 20 deze positie zijn terugkerende cirkelvormige verplaatsing voltooid. Bij de verdere overgang naar de positie in de figuur 3a ondergaan de samenstellen 3a en 3b alsmede de schakeling 7 een van het naaldenbed 13 af gerichte rechtlijnige verplaatsing. De geteste schakeling 7 komt hierbij 25 weer volledig vrij op de eindloze dragers 5a en 5b van de samenstellen 3a en 3b te rusten.In this position, the tested circuit 7 rests again on the endless carriers 5a and 5b of the assemblies 3a and 3b and in this position also rests on the pins 14a, 14b, ... of the needle bed 13. Also, the assembly 3a in this position, recurring circular displacement has been completed. At the further transition to the position in figure 3a, the assemblies 3a and 3b as well as the circuit 7 undergo a rectilinear movement away from the needle bed 13. The circuit 7 tested hereby becomes completely free again to rest on the endless carriers 5a and 5b of the assemblies 3a and 3b.
Uiteindelijk eindigt de testcyclus in een positie volgens de figuren 1 en 2 en kan de geteste schakeling over de eindloze dragers 5a en 5b naar een positie buiten de 30 inrichting worden getransporteerd. Vervolgens kan een volgende te testen schakeling 7 de inrichting worden ingevoerd, waarna de gehele testcyclus zich herhaalt.Finally, the test cycle ends in a position according to Figures 1 and 2 and the circuit under test can be transported over the endless carriers 5a and 5b to a position outside the device. A next circuit 7 to be tested can then be introduced into the device, after which the entire test cycle is repeated.
In de figuren 4a tot en met 4d wordt een andere uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding 35 alsmede een specifieke toepassing van de inrichting volgens de uitvinding getoond. In de figuren 4a tot en met 4d zijn enkel de voor het begrip essentiële onderdelen van de inrichting getoond, waarbij de referentiecijfers overeen- 1 0 0 74 7 15 stemmen met dezelfde onderdelen zoals getoond in de figuren 1, 2 en 3a tot en met 3c. In tegenstelling tot het getoonde in de figuren 1 en 2 is een drukelement 11a ter plaatse van elke as 4a op het samenstel 3a gemonteerd, zodanig dat het 5 vrije einde 23a zich in de richting van de verplaatsings-middelen 10 en 10a uitstrekt. Het andere drukelement 11b is nog steeds conform de figuren 1 en 2 met het basiselement 10a van de verplaatsingsmiddelen 10 verbonden en is naar het overeenkomstige samenstel 3b gericht.Figures 4a to 4d show another embodiment of the device according to the invention and a specific application of the device according to the invention. Figures 4a to 4d only show the essential parts of the device that are essential to the concept, the reference numbers corresponding to the same parts as shown in Figures 1, 2 and 3a to 3c . In contrast to what is shown in Figures 1 and 2, a pressure element 11a is mounted on the assembly 3a at the location of each shaft 4a, such that the free end 23a extends in the direction of the displacing means 10 and 10a. The other pressure element 11b is still connected to the base element 10a of the displacement means 10 in accordance with Figures 1 and 2 and is directed towards the corresponding assembly 3b.
10 Met de hier getoonde constructie en plaatsing van de drukelementen 11a, 11b, ... op hetzij het samenstel 3a (3b), hetzij de verplaatsingsmiddelen 10, 10a, heeft het monteren van in de weg zittende onderdelen in bepaalde posities in de inrichting als doel, zodat deze onderdelen geen belemmering 15 kunnen vormen voor het bedienend personeel.With the construction and placement of the pressure elements 11a, 11b, ... shown here on either the assembly 3a (3b) or the displacement means 10, 10a, the mounting of obstructed parts in certain positions in the device has purpose, so that these parts cannot interfere with the operating personnel.
De constructie van de inrichting volgens de uitvinding maakt deze inrichting door het rondom volkomen vrij liggen van de te testen schakeling bij uitstek geschikt voor het uitvoeren van additionele testhandelingen, welke bij de reeds 20 bekende inrichtingen niet mogelijk zijn. Een mogelijke toepassing voor de inrichting volgens de uitvinding wordt in de figuren 4a tot en met 4d getoond.The construction of the device according to the invention makes this device ideally suited for carrying out additional test operations, which are not possible with the devices already known, because the circuit which is to be tested is completely free all around. A possible application for the device according to the invention is shown in Figures 4a to 4d.
Bij deze uitvoeringsvorm werken de verplaatsingsmiddelen 10, 10a samen met middelen, welke het gebied rondom de test-25 positie en de schakeling 7 elektromagnetisch afschermen.In this embodiment, the displacement means 10, 10a cooperate with means which electromagnetically shield the area around the test position and the circuit 7.
Deze middelen bestaan uit twee aan een zijde open omhullingen 40a en 40b. De eerste omhulling 40a is met zijn open zijde naar de schakeling 7 en het naaldenbed 13 gericht en is met het basiselement 10a van de verplaatsingsmiddelen 10 30 verbonden. De tweede omhulling 40b is tussen de samenstellen 3a en 3b en onder de schakeling 7 geplaatst en maakt deel uit van het naaldenbed 13.These means consist of two casings 40a and 40b open on one side. The first cover 40a is directed with its open side towards the circuit 7 and the needle bed 13 and is connected to the base element 10a of the displacement means 10. The second casing 40b is placed between the assemblies 3a and 3b and below the circuit 7 and forms part of the needle bed 13.
De figuur 4a komt overeen met de situatie volgens de figuren 1 en 2 en toont de beginpositie van de inrichting 35 aan het begin van de testcyclus voor het testen van de schakeling 7 met behulp van het naaldenbed 13. In de figuur 4b wordt de situatie getoond overeenkomstig de figuur 3a. De afschermende omhulling 40a bevindt zich hierbij tussen de 1 ! < I ; " · · 16 samenstellen 3a en 3b vlak boven de schakeling 7. Verdere verplaatsing van de verplaatsingsmiddelen 10, 10a in de richting van het naaldenbed 13 en de schakeling 7 brengt de inrichting in een positie zoals getoond in de figuur 4c 5 overeenkomstig de figuur 3b. Zoals getoond rust de te testen schakeling 7 nu op de steunstiften en is de schakeling tevens door de centreerstiften in de juiste testpositie ten opzichte van de niet getoonde testnaalden gecentreerd.Figure 4a corresponds to the situation according to Figures 1 and 2 and shows the starting position of the device 35 at the beginning of the test cycle for testing the circuit 7 using the needle bed 13. Figure 4b shows the situation according to figure 3a. The shielding envelope 40a is here between 1! <I; "· · 16 assemblies 3a and 3b just above the circuit 7. Further displacement of the displacement means 10, 10a in the direction of the needle bed 13 and the circuit 7 places the device in a position as shown in figure 4c 5 in accordance with figure 3b As shown, the circuit 7 to be tested now rests on the support pins and the circuit is also centered by the centering pins in the correct test position relative to the test needles (not shown).
De figuur 4d komt overeen met de positie volgens de 10 figuur 3c. Doordat de schakeling 7 in deze positie rondom volledig vrij van de beide eindloze drager 5a en 5b op het naaldenbed 13 komt te rusten, is het mogelijk om rondom de vrij liggende schakeling 7 de omhulling 40a aan te brengen.Figure 4d corresponds to the position according to figure 3c. Because the circuit 7 in this position rests completely free from the two endless carriers 5a and 5b on the needle bed 13, it is possible to arrange the cover 40a around the exposed circuit 7.
De eerste omhulling 40a werkt hierbij samen met de tweede 15 omhulling 40b, aangebracht om het naaldenbed 13. De te testen schakeling 7 en het naaldenbed 13 worden volledig door de beide omhullingen 40a en 40b omhuld, welke de schakeling 7 dienovereenkomstig elektromagnetisch afschermen. Hierdoor is het mogelijk de schakeling 7 via het naaldenbed 13, waarvan 20 de testnaalden, door het aandrukken van de schakeling door de niet weergegeven contactstift 12 (figuur 2), in elektrisch contact zijn gekomen met één of meer componenten en/of geleidende sporen van de schakeling 7, te onderwerpen aan een aantal testhandelingen, waarbij eveneens hoogfrequente 25 signalen kunnen worden toegepast.The first enclosure 40a cooperates with the second enclosure 40b, arranged around the needle bed 13. The circuit 7 to be tested and the needle bed 13 are completely enclosed by the two enclosures 40a and 40b, which electromagnetically shield the circuit 7. As a result, it is possible for the circuit 7 to come into electrical contact with one or more components and / or conductive traces of conductors via the needle bed 13, of which the test needles, by pressing the circuit through the contact pin 12 (Figure 2) (not shown). subject the circuit 7 to a number of test operations, wherein high-frequency signals can also be applied.
Teneinde een verbeterde elektromagnetische afscherming te verkrijgen en het weglekken en/of het instromen van elektromagnetische signalen te voorkomen, zijn in deze uitvoeringsvorm de randen van de open zijde van de omhulling 30 40a voorzien van, dwars op de rand uitstrekkende, insnijdingen 41. Hoewel de omhullingen van een willekeurige metaalsoort kunnen zijn vervaardigd, wordt bij voorkeur messing als metaal toegepast.In order to obtain an improved electromagnetic shielding and to prevent the leakage and / or influx of electromagnetic signals, in this embodiment the edges of the open side of the envelope 30 40a are provided with cuts 41 transverse to the edge. casings can be made of any metal, preferably brass is used as metal.
Analoog aan het getoonde in de figuur 3a tot en met 3c 35 verloopt na de afloop van de testhandeling de terugkeer van de inrichting via de posities van de figuren 4c, 4b en 4a in omgekeerde volgorde naar zijn oorspronkelijke beginpositie, zoals getoond in de figuren 1 en 2.Analogously to that shown in Figures 3a to 3c, after the test operation has ended, the device returns through the positions of Figures 4c, 4b and 4a in reverse order to its original starting position, as shown in Figures 1. and 2.
100 74 7 4-1 17100 74 7 4-1 17
Het zal duidelijk zijn dat de uitvinding zich niet beperkt tot de getoonde uitvoeringsvormen, maar dat er tevens binnen het kader van de uitvinding andere varianten en combinaties van varianten denkbaar zijn, die worden geacht 5 onder de uitvindingsgedachte te vallen.It will be clear that the invention is not limited to the embodiments shown, but that other variants and combinations of variants are also conceivable within the scope of the invention, which are considered to fall within the inventive concept.
'10 0 74 7 4*$10 0 74 7 4 * $
Claims (22)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1007474A NL1007474C2 (en) | 1997-11-07 | 1997-11-07 | Test apparatus for electronic circuit cards |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1007474A NL1007474C2 (en) | 1997-11-07 | 1997-11-07 | Test apparatus for electronic circuit cards |
| NL1007474 | 1997-11-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL1007474C2 true NL1007474C2 (en) | 1999-05-10 |
Family
ID=19765973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL1007474A NL1007474C2 (en) | 1997-11-07 | 1997-11-07 | Test apparatus for electronic circuit cards |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| NL (1) | NL1007474C2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1530055A1 (en) * | 2003-11-10 | 2005-05-11 | Teco GmbH | Device for testing of electronic components |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE9201067U1 (en) * | 1992-01-30 | 1992-03-26 | Grundig E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig holländ. Stiftung & Co KG, 8510 Fürth | Inline assembly tester |
| EP0477821A2 (en) * | 1990-09-25 | 1992-04-01 | S.P.E.A. S.r.l. | Electronic module handling device for an automatic test apparatus |
-
1997
- 1997-11-07 NL NL1007474A patent/NL1007474C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0477821A2 (en) * | 1990-09-25 | 1992-04-01 | S.P.E.A. S.r.l. | Electronic module handling device for an automatic test apparatus |
| DE9201067U1 (en) * | 1992-01-30 | 1992-03-26 | Grundig E.M.V. Elektro-Mechanische Versuchsanstalt Max Grundig holländ. Stiftung & Co KG, 8510 Fürth | Inline assembly tester |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1530055A1 (en) * | 2003-11-10 | 2005-05-11 | Teco GmbH | Device for testing of electronic components |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5831160A (en) | Test fixture clamping system | |
| US5500606A (en) | Completely wireless dual-access test fixture | |
| US6307389B1 (en) | Test device for flat electronic assemblies | |
| EP0398506A2 (en) | Electrical socket for tab IC's | |
| US5467020A (en) | Testing fixture and method for circuit traces on a flexible substrate | |
| KR100709598B1 (en) | Electrical inspection apparatus | |
| KR930703782A (en) | Receipt and Retention of Smart Card | |
| KR100420883B1 (en) | Connector for smart card reader device and card reader having same | |
| NL1007474C2 (en) | Test apparatus for electronic circuit cards | |
| KR920004852A (en) | IC inspection device | |
| US4754555A (en) | Apparatus for inspecting the coplanarity of leaded surface mounted electronic components | |
| US4209745A (en) | Interchangeable test head for loaded test member | |
| KR101954293B1 (en) | Test extend gender to test solid state disk | |
| KR102637063B1 (en) | Sockets for electrical components | |
| US5801543A (en) | Device for testing printed circuit boards and/or flat modules | |
| SE8704468D0 (en) | PROCEDURE FOR MANUFACTURING AND TESTING CIRCUITS AND APPLIANCES FOR PREPARING THE TEST | |
| JP2972176B1 (en) | Board inspection equipment | |
| JPH11166947A (en) | Needle pressure adjustment mechanism of probe device | |
| EP0380342A2 (en) | Electrical contact | |
| WO1997011377A1 (en) | Machine for the opposite control of printed circuits | |
| US6037764A (en) | Rotatable mechanical hold-down finger for holding a circuit board in a test fixture | |
| CN216248042U (en) | Detection jig | |
| US20060139045A1 (en) | Device and method for testing unpackaged semiconductor die | |
| NL1012420C2 (en) | Method for measuring electronic components, in particular integrated circuits, and device for that purpose. | |
| KR102757146B1 (en) | Test socket for solid state drive(SSD) module |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PD2B | A search report has been drawn up | ||
| VD1 | Lapsed due to non-payment of the annual fee |
Effective date: 20030601 |