MXPA02001588A - Reflectron de iones, que comprende unt ablero flexible de circuito impreso. - Google Patents

Reflectron de iones, que comprende unt ablero flexible de circuito impreso.

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MXPA02001588A
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reflectron
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Paul D Wienhold
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Abstract

Se da a conocer una novedosa tecnica que utiliza la precision de un diseno de tablero de circuito impreso y la versatilidad fisica de substratos flexibles delgados, para producir un nuevo de tipo de reflector de iones. Una serie, definida con precision, de tiras (delineamientos) conductivas delgadas son grabadas sobre un substrato flexible de tablero de circuito. Preferiblemente, las tiras conductivas delgadas son separadas mas en un extremo del substrato y se acercan crecientemente hacia el otro extremo del substrato. El substrato flexible es luego enrollado en un tubo para formar el cuerpo del reflector, con las tiras conductivas formando los anillos del reflector de iones. El espaciamiento entre delineamientos y asi el espaciamiento de anillos, puede ser variado facilmente ajustando el patron del conducto sobre la hoja del substrato, durante el proceso de grabacion. Ajustando este espaciamiento entre los anillos, las caracteristicas del campo creado por el reflectron puede ser adaptado facilmente a las necesidades del usuario.

Description

REFLECTRÓN DE IONES. QUE COMPRENDE UN TABLERO FLEXIBLE DE CIRCUITO IMPRESO Esta solicitud se basa en la Solicitud provisiona No. 60/149,103, presentada el 16 de agosto de 1999, la cua se incorpora completamente aquí como referencia.
ANTECEDENTES DE LA INVENCIÓN 1. Campo de la Invención La presente invención se refiere a u espectrómetro de masa de Tiempo de Vuelo ("TOF") y, má particularmente, a un novedoso reflectrón (reflector d iones) de iones, que se puede usar en, por ejemplo, u espectrómetro de masa de TOF y a un método para fabricar e mismo. 2. Descripción de la Técnica Relacionada Un espectrómetro es un instrumento analítico en e cual una emisión (por ejemplo de partículas o radiación) s dispersa de acuerdo con alguna propiedad (por ejemplo, l masa o energía) de la emisión y se mide la cantidad de l dispersión. El análisis de la medición de dispersión pued revelar información respecto a la emisión, tal como l identidad de las partículas individuales de la emisión.
Es bien conocido que la energía aplicada a la partículas ionizadas (iones) por medio de un camp eléctrico, causa que estos iones se muevan. Este principi se usa en diferentes clases de espectrómetros para logra diferentes metas. Por ejemplo, un espectrómetro de movilida de iones ("IMS") se usa para detectar y analizar los vapore orgánicos o contaminantes en la atmósfera. Como se describ y muestra en la patente de EE.UU., No. 5,834,771 de Yoo e al . , una celda de un detector típico de IMS (tambié nombrada como un tubo de desplazamiento de iones) comprend una región de reacción para generar iones, y una región d desplazamiento, o tubo de desplazamiento, para separar lo iones, y un colector. Un portador o gas de desplazamiento, junto con e gas muestra, introducido en el IMS, se ionizan y luego l muestra se mueve a través del tubo de desplazamiento por u campo eléctrico, aplicado a lo largo del tubo d desplazamiento. Diferentes iones en la muestra se separa con base en su comportamiento en el tubo de desplazamiento, conforme ellos chocan con el gas de desplazamiento. Cad tipo de iones exhibe su propio patrón de comportamient identificable, con base en su estructura particular, po ejemplo, cada ion muestra una velocidad única, debido a s masa, tamaño y carga. Los iones separados proceden ademá hacia abajo del tubo de desplazamiento y chocan con e colector, produciendo una corriente que se puede medir. La velocidades de desplazamiento y las corrientes cresta de lo iones que llegan al colector, suministran una base para l aproximación de la identidad de las muestras introducidas e la región de reacción; sin embargo, no es una técnic exacta, puesto que dos tipos de iones diferentes, que tiene masas similares e interacción similar con el gas d desplazamiento, serán difíciles, si no imposible distinguirlos entre sí. Una variedad de métodos para generar el camp eléctrico usado en la región de reacción y el tubo d desplazamiento están disponibles, como se describe en l patente '771, mencionada previamente. La materia de l patente '771 se dirige a uno de dichos métodos, que implic la fijación de un tablero flexible de circuito impreso sobr la superficie del tubo de desplazamiento. Bandas conductiva paralelas, espaciadas uniformemente, tienen un patrón en e tablero de circuito flexible y estas bandas conductiva eléctricamente se conectan a bandas adyacentes por medio d resistencias. A través de la orientación apropiada de lo resistores, las bandas conductivas se colocan en potenciale relativos a sus posiciones a lo largo del tubo, así que u campo eléctrico uniforme se desarrolla a lo largo del ej del tubo .
La espectrometría de masa es otro método d espectrometría bien conocido. Se usan los espectrómetros d masa para determinar, con precisión, la composición químic de las substancias y las estructuras de las moléculas. U tipo de espectrómetro de masa, un espectrómetro de masa d tiempo de vuelo (TOF) , es un instrumento que registra lo espectros de masa de compuestos o mezclas de compuestos midiendo las veces (usualmente del orden de decenas hast centenas de microsegundos) para los iones moleculares y/o d fragmentos de esos compuestos, para cruzar una región d desplazamiento, (generalmente) libre de un campo, dentro d un medio de alto vacío. Los espectrómetros de masa de TO operan con base en el principio que, cuando los iones s aceleran con una energía fija, la velocidad de los ione difiere dependiendo exclusivamente de la masa y la carga Así, el tiempo de vuelo desde el punto A al punto B diferir similarmente en dependencia de la masa del ion. Usando u espectrómetro de masa de TOF, la masa de un ion se pued calcular con base en su tiempo de vuelo. No hay colisione con el gas portador, como ocurren en un IMS - solamente l velocidad, y, por lo tanto, la masa y la carga (usualment de +1), se utilizan para el cálculo. Esto permite que l molécula sea identificada con precisión.
Los espectrómetros de masa de TOF está comprendidos de una región fuente, donde se ionizan la moléculas neutrales, una región de desplazamiento, seguid por un reflector de iones (también conocido como u reflectrón) y un detector. En la fuente de iones, los ione se forman en un ambiente de alto vacío, seguido por l aceleración descendente a una región de desplazamiento libr de campo. Los iones se separan en el tiempo, dependiente solamente de su relación de masa/carga (normalmente la carg es de +1) . Al entrar en el campo opuesto, creado por e reflector de iones, los iones gradualmente disminuyen s velocidad, se detienen y luego van en dirección inversa. L detección ocurre después que los iones son reacelerado fuera del reflector de iones. Además de habilitar el cálcul de la masa de iones, los anchos de las crestas del paquet de iones se hacen agudos por su pasaje a través de reflector de iones, resultando en un aumento de la potenci de resolución del instrumento. Los reflectrones han estado en uso desde finale de 1960 y se construyen típicamente configurando un pluralidad de anillos metálicos, figurados individualmente, junto con vastagos de cerámica, que usan espaciadores d aislamiento para separar cada anillo del siguiente. Est técnica es de mano de obra intensa, costosa y limita l flexibilidad del diseño debido a la fabricación y el manej de anillos extremadamente delgados (unas cuantas mieras e espesor) de diámetro relativamente grande (2.54 cm o más) Un ejemplo de tal configuración se muestra en la patente d EE.UU., No. 4,625,112 de Toshida. Mientras existen mucha permutaciones de este dispositivo, el método de construcció se ha limitado al método de anillo, descrito anteriormente. Similar a los delineamientos conductivos paralelo de la patente '771, los anillos se colocan a potenciales qu desarrollan campos eléctricos a lo largo del eje de cilindro. Sin embargo, en contraste con el método de IMS que desarrolla un campo eléctrico uniforme a lo largo de tubo de deslizamiento y que puede solamente aproximar l identidad de las moléculas en una muestra, un espectrómetr de masa de TOF es capaz de medir los pesos atómicos moleculares con alta precisión. Asimismo, para mejorar e desempeño en un espectrómetro de masa de TOF, lo reflectrones se han construido, los cuales desarrolla campos no uniformes a lo largo del tubo del reflectrón. Lo campos de no uniformidad se generan utilizando una re divisora de voltaje, la cual varía el potencial aplicado cada uno de los anillos, espaciados uniformemente. Un explicación detallada de la teoría del reflectrón no linea puede ser encontrada en la patente de EE.UU., No. 5,464,98 de Cornish et al., incorporada aquí completamente com referencia.
Mientras el diseño del espectrómetro de masa d TOF, antes descrito, probó ser muy satisfactorio par reflectores grandes, en que los anillos son relativament grandes en diámetro y espaciados igualmente, nueva aplicaciones, que utilizan los espectrómetros de masa de TO remotos pueden requerir componentes miniaturizados, construcciones ásperas y/o el uso de materiales de pes ligero. Los espectrómetros de masa de TOF menores ha reducido la longitud de desplazamiento, que necesita el us de dispositivos de enfoque de energía ideales (reflectrones) para la resolución máxima. Por lo tanto, sería conveniente desarrollar nuevo métodos de construcción para fabricar reflectores de ione en miniatura para los TOF, que sean menores, rugosos y d peso ligero, y que suministren la máxima resolución.
COMPENDIO DE LA INVENCIÓN Para este fin, se ha ideado una novedosa técnic que utiliza la precisión del diseño de tableros de circuit impreso y la versatilidad física de substancias flexibles, delgadas, para producir un nuevo tipo de reflector de iones. En este método, una serie, definida con precisión, de tira (delineamientos) conductivas delgadas, son grabadas sobre u substrato flexible, plano, de tablero de circuito. Est substrato flexible es luego enrollado en un tubo para forma el cuerpo del reflector, con las tiras conductivas formand los anillos del reflector de iones. El espaciamiento entr los delineamientos y así el espaciamiento del anillo, pued variar fácilmente, ajustando los patrones del conductor e la hoja del substrato durante el proceso de tratamient químico. La presente invención es un reflectrón d múltiples capas para un espectrómetro de masa de tiempo d vuelo (TOF), que comprende: múltiples capas estructurales; al menos una capa de electrodo flexible, esta capa d electrodo flexible crea un campo eléctrico en el reflectrón cuando se aplica ahí un voltaje, para reducir, detener invertir la dirección de viaje de los iones que van a travé de dicho reflectrón. La capa de electrodo flexible comprend un substrato flexible que tiene una pluralidad d delineamientos conductivos ahí formados, este substrat flexible se enrolla en una configuración tubular, de mod que dichos delineamientos conductivos formen anillos qu rodean un eje central a través de la longitud de reflectrón. La distancia entre los delineamiento conductivos y, por lo tanto, los anillos, puede, si s desea, disminuir gradualmente desde un extremo de reflectrón al otro. La distancia entre los delineamiento conductivos puede también estar igualmente espaciada definida por el usuario (cualquier espaciamiento deseado) .
El método de fabricación de un reflectrón, d acuerdo con una representación de la presente invención puede comprender las etapas de: foto-grabar una pluralida de delineamientos conductivos sobre una hoja de substrat flexible; enrollar la hoja del substrato foto-grabad alrededor de un mandril, de manera que los múltiple delineamientos conductivos coincidan para formar un pluralidad de anillos, que rodean el mandril, dejando u extremo del conector de la hoja del substrato flexible si enrollar; enrollar uno o más pliegues o capas de un materia compuesto, impregnado previamente, sin curar, alrededor de substrato, de modo que toda la porción expuesta de substrato, excepto el extremo del conector sin enrollar, s cubra por los pliegues del material compuesto; curar e substrato foto-grabado y el material compuesto sobre e mandril; y remover el substrato foto-grabado curado y e material compuesto desde el mandril, para formar u reflectrón tubular rígido. Estos objetos, junto con otros objetos y ventajas que serán evidentes subsecuentemente, residen en lo detalles de la construcción y la operación, como s describirán más completamente y reclamarán más adelante, s hace referencia a los dibujos acompañantes, que forman part de la descripción, donde números de referencia similares s refieren a partes similares completamente.
BREVE DESCRIPCIÓN DE LOS DIBUJOS La Figura 1 ilustra un substrato flexible d tablero de circuito, preparado de acuerdo con una primer etapa de fabricación de la presente invención; la Figura 2 ilustra una segunda etapa d fabricación, de acuerdo con la presente invención; la Figura 3 ilustra una tercera etapa d fabricación, de acuerdo con la presente invención; la Figura 4 ilustra un conjunto de reflector fabricado de acuerdo con las etapas ilustradas en la Figuras 1 a 3 ; la Figura 5 ilustra que un extremo de conector de tablero de circuito flexible de la presente invención, pued ser terminado en una porción de circuito rígida; y la Figura 6 ilustra que el tablero de circuit flexible, de la presente invención, puede ser dividido e múltiples segmentos .
DESCRIPCIÓN DE LAS MODALIDADES PREFERIDAS La Figura 1 ilustra un tablero de circuito 100, preparado de acuerdo con una primera etapa de la present invención. De acuerdo con la presente invención, delineamientos 102 conductivos paralelos (los delineamiento 50 son ilustrados en la Figura 1 para fines de ejemplo) s graban en el material del substrato del tablero de circuit flexible, usando métodos de grabación convencionales. En e ejemplo mostrado en la Figura 1, un extremo 104 de conecto de los delineamientos 102 conductivos, se graba de modo qu los delineamientos 102 conductivos estén en ángulo en l sección ahusada 106. Esto permite que los delineamientos 10 conductivos converjan en el extremo 104 del conector de mod que en una sección 108 del conector, ellos estén má estrechos entre sí y alineados apropiadamente, permitiend la fácil unión de un conector (no mostrado) . En una representación de la presente invención, e substrato 100 de tablero de circuito comprende e revestimiento de cobre de una película de poliimida Kapto (fabricado por Dupont), de aproximadamente 0.0508 mm d espesor, y los delineamientos conductivos 102 grabados sobr el substrato del tablero de circuito tienen aproximadament 0.2032 mm de ancho por 0.0254 mm de espesor. La distanci entre cada delineamiento conductivo puede ser uniforme o, como se muestra en la Figura 1, puede ser más estrecha entr algunos delineamientos y más ancho entre otros. La distanci entre los anillos en un tubo del reflectrón afecta el camp generado por el tubo y así la distancia entre lo delineamientos o el ancho de estos delineamientos puede se ajustado de acuerdo con las necesidades del usuario final. Además, como se discute en mayor detalle abajo, las trazas y B en cualquier extremo (véase la Figura 1) puede ser má ancho que los otros delineamientos, para facilitar la conexiones eléctricas de los anillos más externos, cuando s completa la fabricación del reflectrón. Una vez que el substrato 100 del tablero d circuito flexible se ha grabado, como se describió antes, s enrolla en la configuración de un tubo y es soportado e esta configuración tubular en una manera rígida. Mientras e soporte el tubo en una manera rígida no se requiere, a hacerlo se asegura la simetría de los anillos formados po el enrollamiento del substrato flexible 100 del tablero d circuito, lo que resulta en la precisión con respecto a campo generado por los anillos. Haciendo referencia ahora a las Figuras 2 y 3 , dados como ejemplos. En la Figura 2, el substrato 100 de tablero de circuito flexible se enrolla alrededor de u mandril 210 para formar la configuración tubular. Cuando e substrato 100 del tablero de circuito flexible se enroll alrededor del mandil 210, cada delineamiento se aline consigo mismo para formar los anillos requeridos para crea los campos. Debido al poco espesor del tablero 100 d circuito, no hay necesidad de conectar eléctricamente lo extremos de cada delineamiento; ellos están al mism potencial, asegurando un campo continuo dentro del tubo. En seguida, las capas de fibras de vidrio, impregnadas previamente, sin curar, son enrolladas alrededo del substrato 100 del tablero de circuito flexible, que s enrolla alrededor del mandril 210 (Figura 3) . En la Figur 3, cinco pliegues de fibras de vidrio 312, 314, 316, 318 320, cada una de aproximadamente 0.254 mm de espesor, s usan. Las dimensiones de los pliegues de fibras de vidri deben ser tales que su ancho sea igual o exceda la distanci " " de la Figura 1, y su longitud sea aproximadamente igua a la circunferencia del mandril 210. Usando pliegues de fibras de vidrio que tiene esta longitud, cuando estos pliegues se enrollan alrededo del substrato 100 del tablero de circuito flexibl enrollado, una leve abertura 325 existe a través de la cua el extremo del conector 104 del substrato 100 del tablero d circuito flexible puede extenderse. Para permitir que e substrato 100 del tablero de circuito flexible siga s configuración natural y así reduzca al mínimo los dobleces en la segunda modalidad, la posición de partida de cad pliegue de fibra de vidrio sucesivo se mueve levemente co respecto al pliegue previo, de modo que se forme un "inclinación" gradual 326, creando así un ángulo gradual de substrato flexible 100 en alejamiento del mandril 210, segú se muestra. Una vez que se forma el conjunto del reflecto como se describió antes, este conjunto se cura bajo calor presión, de una manera conocida, por aproximadamente do horas. Luego el conjunto se deja enfriar y el mandril 210 s remueve. Se debe notar que se pueden usar otros materiale que no requieran curación con calor y presión. Por lo tanto, el tipo de material usado en el conjunto dicta el tipo d curación. El espesor de pared final del conjunto reflecto enrollado, construido de esta manera, es aproximadamente d 1.524 mm. Un conjunto de reflector, fabricado de acuerdo co las etapas descritas previamente, se muestra en la Figura 4. Un conector estándar 430, tal como un conector de cinta d pasador estándar 50, puede ser acoplado en el extremo 10 del conector, de modo que el reflectrón pueda ser fácilment incorporado en un espectrómetro de masa o cualquier otr dispositivo que requiera un reflectrón. Si se desea, tapa de extremo (por ejemplo, tapones de policarbonato, n mostrados, u otro material adecuado) pueden ser instalada en cualquier extremo del reflectrón para tanto soportar e reflectrón en la cámara de vacío del espectrómetro de masa, como para proporcionar una superficie sobre la cual se fije las rejillas. Como es bien conocido, las rejillas definen l configuración del campo del espectrómetro de masa y s fabrican usualmente de acero inoxidable o de níquel y/o d alambres grabados, conectados eléctricamente a lo delineamientos A y B. El ancho mayor de los delineamientos y B lleva al máximo la integridad de la conexión eléctric entre las rejillas/tapas y los delineamientos. L configuración cilindrica del tubo de soporte y la estructur del anillo integral permite que las rejillas/tapas sea fabricadas de muchas diferentes configuraciones, po ejemplo, como insertos de disco o tapas que traslapan. Si se desea, se pueden maquinar ranuras de alivio en el cilindro, para asegurar la colocación apropiada de tal tapa o rejilla. Los reflectores, producidos de acuerdo con la presente invención, son de peso muy ligero, extremadamente rugosos y baratos y se producen en masa fácilmente. Ventajas adicionales sobre la técnica anterior incluyen: mayo flexibilidad de diseño en seleccionar el ancho y espacios del anillo; no hay necesidad de ensamblar a mano los anillos, como es requerido por la técnica anterior; el espaciamiento y el ancho y la distancia entre los anillos pueden ser controlados fácilmente por procesos foto-litográficos reproducibles u otros procesos apropiados, dependiendo del material usado; los patrones litografieos u otros patrones producidos se pueden escalar para varias aplicaciones, usando simples técnicas de diseño auxiliadas por computadora; el reemplazo del reflectrón puede ser logrado fácilmente debido a la naturaleza de enchufe del reflectrón; y el uso de un material de tablero de circuito con alta temperatura de transición a vidrio, Tg, permite la operación del reflectrón sobre amplios intervalos de temperatura.
Mientras la presente invención se describe aquí e relación con un espectrómetro de masa de TOF, un reflectrón, fabricado de acuerdo con la presente invención, puede se usado en relación con cualquier dispositivo que requiera la creación de los campos electrostáticos, y particularmente e dispositivos que requieran precisión, sean ásperos, de peso ligero, baratos, modulares y/o se usen en la construcció que se pueda producir en masa. Además, mientras u reflectrón cilindrico se describe y muestra aquí en los dibujos, con modificaciones sencillas a la máscara del circuito, otras configuraciones geométricas, tal como reflectores cónicos, pueden también ser fabricadas con alta precisión. Mientras el proceso, antes descrito, usa capas de fibras de vidrio curadas para suministrar el soporte tubular rígido, requerido para el uso como un reflector de iones, cualquier material compuesto curado que pueda ser enrollado alrededor del tablero de circuito flexible enrollado, será suficiente. Además, el tablero de circuito flexible grabado puede ser formado como un tubo rígido, usando cualquier método que resulte en un tubo rígido, que tenga los anillos formados a lo largo del interior del tubo. Por ejemplo, en lugar de usar capas de fibras de vidrio, como se describió antes . el tablero de circuito flexible grabado puede ser engomado (laminado) al interior de un tubo de soporte de diámetro apropiado. Este tubo de soporte puede ser hecho de metal o materiales compuestos, dependiendo de las condiciones de operación requeridas. Para habilitar el extremo del conector del tablero de circuito flexible para extenderse al exterior del tubo, este tubo puede estar provisto con una hendidura que va casi por la longitud total del tubo. Esta hendidura sirve con el mismo propósito como la abertura 324 de la Figura 3, es decir, permite que un extremo del tablero de circuito flexible se extienda a través del tubo para permitir la fácil unión del alambre o del conector a los anillos individuales, formados en el interior del tubo . La Figura 5 muestra que, si se desea, el extremo 104 del conector del tablero de circuito flexible 100 pueda ser terminado en una porción rígida 530 del tablero de circuito, como se muestra. Esta porción 530 rígida del tablero de circuito puede acomodar, por ejemplo, una red 532 de división de voltaje (es decir, los resistores de precisión y el patrón de interconexión necesario para aplicar un voltaje específico a cada uno de los anillos) . La incorporación de la red 532 de división de voltaje en la misma estructura como el conjunto de anillo, permite que todo el reflectrón sea reemplazado fácilmente por desconectar simplemente el conjunto de los dos conductores 534 y 536, que conectan la red del divisor de voltaje al suministro de potencia de ^alto voltaje. Configurado de est manera, un conector sencillo de dos espigas es todo lo qu se requiere (para obtener la conexión de suministro d potencia de alto voltaje) . Si es necesario reducir el peso del tubo de reflectrón aún más, como se ilustra en la Figura 6, e tablero 100 de circuito puede ser dividido en múltiple segmentos conforme sale del tubo del reflectrón y pasa través de múltiples ranuras 640; estas múltiples ranuras 64 crean soportes 642 de ranuras de intervención, qu suministran la rigidez adicional a la estructura, mientra aún permiten el acceso para obtener conexiones eléctricas los delineamientos conductivos 102. Lo anterior se considera como ilustrativ únicamente de los principios de la invención. Asimismo puesto que numerosas modificaciones y cambios será fácilmente evidentes a los expertos en la materia, no s desea limitar la invención a la construcción y aplicacione exactas mostradas y descritos. Por lo tanto, se pued recurrir a todas las modificaciones y equivalentes adecuado que se encuentren dentro del ámbito de la invención y a la reivindicaciones anexas y sus equivalentes .

Claims (14)

  1. REIVINDICACIONES 1. Un reflectrón (reflector de iones) de múltiple capas, para un espectrómetro de masa de tiempo de vuelo, este reflectrón comprende : múltiples capas estructurales; y al menos una capa flexible de electrodo, dich capa flexible de electrodo crea un campo eléctrico en dich reflectrón, cuando se aplica ahí un voltaje, para reducir, detener e invertir la dirección de viaje de los iones qu viajan a través de dicho reflectrón.
  2. 2. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 1, en que dicha capa flexible d electrodo comprende un substrato flexible, que tiene un pluralidad de delineamientos de conducción formados, dich substrato flexible se enrolla en una configuración tubular, de modo que dichos delineamientos de conducción forme anillos que rodean un eje central a través de la longitud d dicho reflectrón.
  3. 3. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 2 , en que dicho reflectrón tien un primer extremo y un segundo extremo, y donde la distanci entre dichos delineamientos de conducción disminuye gradualmente desde dicho primer extremo a dicho segund extremo de dicho reflectrón.
  4. 4. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 2, en que dicho reflectrón tien un primer extremo y un segundo extremo, y donde la distanci entre dichos delineamientos de conducción es definida por e usuario .
  5. 5. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 2, en que dicho reflectrón tien un primer extremo y un segundo extremo, y donde la distanci entre dichos delineamientos de conducción es igual.
  6. 6. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 2 , en que dichas capa estructurales múltiples comprenden pliegues o capas d materiales compuestos curados, enrollados alrededor de dich substrato flexible.
  7. 7. Un reflectrón de múltiples capas, según s define en la reivindicación 6, en que dicho materia compuesto curado comprende capas de fibras de vidrio.
  8. 8. Un reflectrón para un espectrómetro de masa d tiempo de vuelo, este reflectrón comprende: al menos un primer tablero flexible de circuit impreso, que tiene una pluralidad de delineamiento conductivos paralelos, dicho tablero flexible de circuito s fija en una orientación tubular, de modo que dicho delineamientos de conducción paralelos formen anillos, lo cuales, cuando se energizan por una fuente de energía, desarrollan campos eléctricos dentro de dichos anillos.
  9. 9. Un reflectrón, según se define en l reivindicación 8, en que dicho reflectrón tiene un prime extremo y un segundo extremo, y donde la distancia entr dichos anillos disminuye desde dicho primer extremo a dich segundo extremo de dicho reflectrón.
  10. 10. Un reflectrón, según se define en l reivindicación 8, en que dicho reflectrón tiene un prime extremo y un segundo extremo, y donde la distancia entr dichos anillos es definida por el usuario.
  11. 11. Un reflectrón, según se define en l reivindicación 8, en que dicho reflectrón tiene un prime extremo y un segundo extremo y donde la distancia entr dichos anillos es igual.
  12. 12. Un reflectrón, según se define en l reivindicación 8, que además comprende múltiples capa estructurales de material compuesto curado, enrollada alrededor de dicho tablero flexible de circuito impreso.
  13. 13. Un reflectrón, según se define en l reivindicación 12, en que las capas de material compuest curado comprenden fibras de vidrio .
  14. 14. Un método para fabricar un reflectrón, est método comprende las etapas de: foto-grabar una pluralidad de delineamientos d conducción sobre una hoja flexible de substrato; enrollar dichas hojas de substrato foto-grabada alrededor de un mandril, de modo que dichos delineamiento de conducción múltiples coincidan para formar una pluralida de anillos, que rodean dicho mandril, dejando un extremo de conector de dicha hoja flexible del substrato enrollado; enrollar uno o más pliegues de material compuesto, impregnado previamente, sin curar, alrededor de dich substrato, de modo que toa la porción expuesta de dich substrato, excepto para dicho extremo de conector n enrollado, se cubre por dichos pliegues del materia compuesto; curar dicho substrato foto-grabado y el materia compuesto sobre dicho mandil; y remover dicho substrato foto-grabado curado y e material compuesto, desde dicho mandril, para formar u reflectrón tubular rígido.
MXPA02001588A 1999-08-16 2000-08-16 Reflectron de iones, que comprende unt ablero flexible de circuito impreso. MXPA02001588A (es)

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Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1151535C (zh) * 1999-08-16 2004-05-26 约翰霍普金斯大学 包括柔性印刷电路板的离子反射器
ATE301331T1 (de) * 2000-05-12 2005-08-15 Univ Johns Hopkins Gitterlose fokussierungsvorrichtung zur extraktion von ionen für einen flugzeitmassenspektrometer
CA2409167C (en) * 2000-05-26 2006-02-07 Timothy J. Cornish Microchannel plate detector assembly for a time-of-flight mass spectrometer
JP2002015699A (ja) * 2000-06-28 2002-01-18 Shimadzu Corp イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置
US6580070B2 (en) * 2000-06-28 2003-06-17 The Johns Hopkins University Time-of-flight mass spectrometer array instrument
US7155812B1 (en) * 2002-09-05 2007-01-02 Sandia Corporation Method for producing a tube
US20040089803A1 (en) * 2002-11-12 2004-05-13 Biospect, Inc. Directing and focusing of charged particles with conductive traces on a pliable substrate
US7154086B2 (en) * 2003-03-19 2006-12-26 Burle Technologies, Inc. Conductive tube for use as a reflectron lens
US6900431B2 (en) * 2003-03-21 2005-05-31 Predicant Biosciences, Inc. Multiplexed orthogonal time-of-flight mass spectrometer
GB0311567D0 (en) * 2003-05-16 2003-06-25 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB2403063A (en) * 2003-06-21 2004-12-22 Anatoli Nicolai Verentchikov Time of flight mass spectrometer employing a plurality of lenses focussing an ion beam in shift direction
US20050072915A1 (en) * 2003-10-07 2005-04-07 Biospect Inc. Methods and apparatus for self-optimization of electrospray ionization devices
US20050133712A1 (en) * 2003-12-18 2005-06-23 Predicant Biosciences, Inc. Scan pipelining for sensitivity improvement of orthogonal time-of-flight mass spectrometers
GB0403533D0 (en) * 2004-02-18 2004-03-24 Hoffman Andrew Mass spectrometer
US7081618B2 (en) * 2004-03-24 2006-07-25 Burle Technologies, Inc. Use of conductive glass tubes to create electric fields in ion mobility spectrometers
US6958473B2 (en) * 2004-03-25 2005-10-25 Predicant Biosciences, Inc. A-priori biomarker knowledge based mass filtering for enhanced biomarker detection
JP4875886B2 (ja) * 2005-11-22 2012-02-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
US10309929B2 (en) * 2006-02-14 2019-06-04 Excellims Corporation Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US10073056B2 (en) * 2006-02-14 2018-09-11 Excellims Corporation Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US20080073516A1 (en) * 2006-03-10 2008-03-27 Laprade Bruce N Resistive glass structures used to shape electric fields in analytical instruments
US7605377B2 (en) * 2006-10-17 2009-10-20 Zyvex Corporation On-chip reflectron and ion optics
US10794862B2 (en) * 2006-11-28 2020-10-06 Excellims Corp. Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US8055353B2 (en) * 2008-02-12 2011-11-08 Proteus Biomedical, Inc. Medical carriers comprising a low-impedance conductor, and methods of making and using the same
US8816711B2 (en) * 2009-08-26 2014-08-26 United Technologies Corporation Electrical probe assembly
DE102010001347A1 (de) * 2010-01-28 2011-08-18 Carl Zeiss NTS GmbH, 73447 Vorrichtung zur Übertragung von Energie und/oder zum Transport eines Ions sowie Teilchenstrahlgerät mit einer solchen Vorrichtung
CN102074449B (zh) * 2010-11-18 2015-09-02 上海华质生物技术有限公司 电极矩阵及其制作方法
JP5422610B2 (ja) * 2011-06-24 2014-02-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
CA2895288A1 (en) 2011-12-30 2013-07-04 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Ion optical elements
EP2859576B1 (en) * 2012-06-12 2020-03-11 Zeteo Tech, Inc. Miniature time-of-flight mass spectrometer
CN105051524A (zh) * 2013-02-26 2015-11-11 植入科学公司 用于离子迁移谱仪的微型传感器结构
CN114199982A (zh) * 2013-03-18 2022-03-18 蒙特利尔史密斯安检仪公司 具有带电材料输送腔室的离子迁移谱装置
US20150373830A1 (en) * 2014-06-19 2015-12-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Composite substrate including foldable portion
US10224194B2 (en) 2016-09-08 2019-03-05 Battelle Memorial Institute Device to manipulate ions of same or different polarities
US10332723B1 (en) 2017-12-20 2019-06-25 Battelle Memorial Institute Ion focusing device
US11145500B2 (en) 2018-03-02 2021-10-12 Zeteo Tech, Inc. Time of flight mass spectrometer coupled to a core sample source
WO2019175604A1 (en) * 2018-03-16 2019-09-19 The University Of Liverpool (Incorporated In The United Kingdom) Ion guide
US11219393B2 (en) 2018-07-12 2022-01-11 Trace Matters Scientific Llc Mass spectrometry system and method for analyzing biological samples
US10720315B2 (en) 2018-06-05 2020-07-21 Trace Matters Scientific Llc Reconfigurable sequentially-packed ion (SPION) transfer device
US10840077B2 (en) 2018-06-05 2020-11-17 Trace Matters Scientific Llc Reconfigureable sequentially-packed ion (SPION) transfer device
US10460920B1 (en) 2018-06-26 2019-10-29 Battelle Memorial Institute Flexible ion conduit
US20200234939A1 (en) * 2018-12-13 2020-07-23 Tak Shun Cheung Mass spectrometer components including programmable elements and devices and systems using them
GB201901411D0 (en) 2019-02-01 2019-03-20 Micromass Ltd Electrode assembly for mass spectrometer

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3702450A (en) 1971-05-11 1972-11-07 Atomic Energy Commission Printed circuit steering coils
US4390784A (en) 1979-10-01 1983-06-28 The Bendix Corporation One piece ion accelerator for ion mobility detector cells
US4583183A (en) 1983-02-24 1986-04-15 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Masked multichannel analyzer
JPS60119067A (ja) 1983-11-30 1985-06-26 Shimadzu Corp 飛行時間型質量分析装置
US4596624A (en) * 1984-05-02 1986-06-24 Cirtel, Inc. Apparatus for laminating multilayered printed circuit boards
US4496795A (en) * 1984-05-16 1985-01-29 Harvey Hubbell Incorporated Electrical cable splicing system
US5053343A (en) 1985-02-15 1991-10-01 Environmental Technologies Group, Inc. Selective ionization of gas constituents using electrolytic reactions
US4777363A (en) 1986-08-29 1988-10-11 Research Corporation Technologies, Inc. Ion mobility spectrometer
US4774408A (en) 1987-03-27 1988-09-27 Eastman Kodak Company Time of flight mass spectrometer
US5112462A (en) * 1990-09-13 1992-05-12 Sheldahl Inc. Method of making metal-film laminate resistant to delamination
DE4130810C1 (es) 1991-09-17 1992-12-03 Bruker Saxonia Analytik Gmbh, O-7050 Leipzig, De
US5464985A (en) * 1993-10-01 1995-11-07 The Johns Hopkins University Non-linear field reflectron
KR0156602B1 (ko) * 1994-07-08 1998-12-01 황해웅 이온이동도 분석기
US5814813A (en) 1996-07-08 1998-09-29 The Johns Hopkins University End cap reflection for a time-of-flight mass spectrometer and method of using the same
US5818049A (en) 1997-08-29 1998-10-06 Ohmeda Inc. Infrared gas spectrometer having a lid assembly with an integrated chopper and chopper motor
US5869832A (en) 1997-10-14 1999-02-09 University Of Washington Device and method for forming ions
US5994695A (en) 1998-05-29 1999-11-30 Hewlett-Packard Company Optical path devices for mass spectrometry
CN1151535C (zh) * 1999-08-16 2004-05-26 约翰霍普金斯大学 包括柔性印刷电路板的离子反射器

Also Published As

Publication number Publication date
AU771420B2 (en) 2004-03-18
US6607414B2 (en) 2003-08-19
CN1151535C (zh) 2004-05-26
WO2001013405A1 (en) 2001-02-22
CN1369107A (zh) 2002-09-11
EP1210725A1 (en) 2002-06-05
US6369383B1 (en) 2002-04-09
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US20020060289A1 (en) 2002-05-23

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