MD688Z - Bolometru - Google Patents

Bolometru Download PDF

Info

Publication number
MD688Z
MD688Z MDS20130014A MDS20130014A MD688Z MD 688 Z MD688 Z MD 688Z MD S20130014 A MDS20130014 A MD S20130014A MD S20130014 A MDS20130014 A MD S20130014A MD 688 Z MD688 Z MD 688Z
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
sensitive element
cryostat
bolometer
type conductivity
semiconductor
Prior art date
Application number
MDS20130014A
Other languages
English (en)
Russian (ru)
Inventor
Ефим ЗАСАВИЦКИЙ
Анатолие СИДОРЕНКО
Original Assignee
ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ filed Critical ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ
Priority to MDS20130014A priority Critical patent/MD688Z/ro
Publication of MD688Y publication Critical patent/MD688Y/ro
Publication of MD688Z publication Critical patent/MD688Z/ro

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Invenţia se referă la receptoare de radiaţie cu răcire pentru măsurarea fluxurilor slabe de radiaţie din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice.Bolometrul conţine un criostat, în care este amplasat un element sensibil, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare şi un dispozitiv de înaltă tensiune cu impulsuri. În calitate de sursă frigorifică a criostatului se utilizează azot lichid. Elementul sensibil este executat dintr-un semiconductor în formă de fir monocristalin din telurură de plumb cu conductibilitate de tip p cu diametrul de 5...20 µm.

Description

Invenţia se referă la receptoare de radiaţie cu răcire pentru măsurarea fluxurilor slabe de radiaţie din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice.
Este cunoscut un bolometru, care conţine un criostat de heliu, în care este amplasat un element sensibil supraconductor, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare şi un dispozitiv de înaltă tensiune cu impulsuri [1].
Dezavantajul acestui dispozitiv constă în necesitatea folosirii utilajului complicat cu ciclu închis, adică a echipamentului criogenic destul de complicat şi de volum mare.
Problema pe care o rezolvă invenţia constă în posibilitatea folosirii bolometrului dat în sistemele portative pentru recepţia radiaţiei din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice.
Bolometrul, conform invenţiei, înlătură dezavantajul menţionat mai sus prin aceea că conţine un criostat, în care este amplasat un element sensibil, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare şi un dispozitiv de înaltă tensiune cu impulsuri, în care în calitate de sursă frigorifică a criostatului se utilizează azot lichid, totodată elementul sensibil este executat dintr-un semiconductor în formă de fir monocristalin din telurură de plumb cu conductibilitate de tip p cu diametrul de 5...20 µm.
Rezultatul constă în excluderea echipamentului specific (criostat pentru heliu lichid, utilaj complicat cu ciclu închis, echipament special pentru obţinerea temperaturii T<4,2K, etc.) necesar pentru crearea condiţiilor de temperaturi joase T≤4,2K pentru elementul sensibil.
Executarea elementului sensibil din semiconductor, zona de valenţă sau zona de conducţie a căruia constă din două benzi energetice cu mobilitatea purtătorilor de sarcină diferită, separate energetic, şi transferul purtătorilor dintr-o zonă energetică în alta la aplicarea câmpului electric de o valoare respectivă conduce la crearea condiţiilor favorabile pentru apariţia domenelor, propagarea cărora prin probă în anumite condiţii (existenţa rezistenţei diferenţiale negative) produce un efect de rezistenţă dinamică.
Invenţia se explică prin desenele din fig. 1-2, care reprezintă:
- fig. 1, schema-bloc a bolometrului;
- fig. 2, dependenţa volt-amper tipică pentru elementul sensibil din semiconductor telurură de plumb PbTe cu conductibilitate de tip p cu evidenţierea câmpului electric critic Ecr.
Bolometrul conţine un criostat 1, în care este amplasat un element sensibil 2, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare 3 şi un dispozitiv de înaltă tensiune cu impulsuri 4. În calitate de sursă frigorifică a criostatului 1 se utilizează azot lichid. Elementul sensibil 2 este executat dintr-un semiconductor în formă de fir monocristalin din telurură de plumb cu conductibilitate de tip p cu diametrul de 5...20 µm.
În bolometrul propus pentru obţinerea caracteristicilor volt-amper neliniare, create de radiaţie, din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice, care corespunde puterii radiaţiei, se foloseşte calitatea interioară specifică a PbTe cu conductibilitate de tip p, zona de valenţă a căruia constă din două benzi energetice cu diferite mobilităţi ale purtătorilor de sarcină, separate energetic (distanţa energetică între zonele respective L şi Σ depinde de temperatura T în modul următor: dεL-Σ / dT ≈ -4,1·10-4 eV/K) şi transferul purtătorilor dintr-o zonă în alta la aplicarea câmpului electric de o valoare respectivă Ecr duce la crearea condiţiilor favorabile pentru apariţia domenelor, propagarea cărora prin probă în anumite condiţii (existenţa rezistenţei diferenţiale negative) produce un efect de rezistenţă dinamică, şi respectiv la unele particularităţi pe dependenţa volt-amper.
Funcţionarea bolometrului este bazată pe dependenţa densităţii curentului de valoarea intensităţii câmpului electric E, aplicat la elementul sensibil, şi anume în regim când câmpul electric E < Ecr dI/dE are o valoare relativ mică. Trecerea în regimul când E > Ecr, realizat prin mărirea câmpului electric E aplicat duce la mărirea valorii dI/dE, care este de sute de ori mai mare decât dI/dE în regimul de lucru când E < Ecr şi, în consecinţă, aceasta duce la o creştere de sute de ori a sensibilităţii elementului sensibil. Regimul de aşteptare se realizează prin aplicarea la elementul sensibil a unui câmp electric E < Ecr cu ajutorul dispozitivului de înaltă tensiune cu impulsuri. Trecerea elementului sensibil în regimul de lucru E > Ecr practic se realizează prin iradierea cu o radiaţie externă. Sensibilitatea înaltă în regimul de lucru dă posibilitate de a executa măsurări ale semnalelor radiaţiei de intensităţi mici. Pe lângă aceasta, variaţiile valorilor câmpului electric E faţă de Ecr dau posibilitate de a schimba şi pragul de declanşare, adică sensibilitatea elementului sensibil.
A fost executat un model experimental, care conţinea în calitate de element sensibil firul monocristalin din PbTe cu conductibilitate de tip p, obţinut prin metoda umplerii sub presiune a microcapilarelor. În calitate de sursă de alimentare s-a folosit un generator special de înaltă tensiune cu impulsuri, iar detectarea oscilaţiilor curentului s-a executat cu ajutorul osciloscopului cu memorie.
Contactele metalice ale firelor monocristaline semiconductoare din PbTe cu conductibilitate din tip p pentru un diapazon larg de temperaturi s-au fabricat prin depunerea chimică a paladiului Pd din soluţie cu următoarea componenţă:
PdCl2 - 1 g/l;
HCl - 2 ml/l;
apă distilată până la 1 l.
Depunerea acestei soluţii pe suprafaţa telururii de plumb generează două reacţii:
1. reacţia de reducere a Pd metalic din soluţie;
2. reacţia oxidării suprafeţei PbTe.
Ca rezultat, pe suprafaţa PbTe se formează un substrat cu o concentraţie de goluri ridicată, care la rândul său duce la mărirea curentului tunel şi îmbunătăţirea contactului ohmic. În acest caz se poate constata că contactul dat este un contact ohmic - caracteristicile volt-amper sunt liniare şi la temperatura camerei, şi la temperatura azotului lichid. Din cauza coeficientului de dilatare termică a telururii de plumb PbTe mare, pentru a evita ruperea probei aceasta era montată după o metodică specială, care excludea fixarea strictă a unui capăt al probei şi constă în aceea că elementul sensibil se fixează pe o singură parte, iar celălalt capăt al elementului sensibil se plasează pe un contact mobil, care asigură compensarea schimbării lungimii elementului sensibil din cauza dilatării termice.
Firele monocristaline semiconductoare din PbTe cu conductibilitate de tip p cu un diametru de aproximativ 5...20 µm au avantaj în comparaţie cu materialele volumetrice şi peliculele atât în ceea ce priveşte rezistenţa lor (pentru a observa oscilaţiile de tip Gunn în câmpuri electrice mari sunt necesare probe cu rezistenţa electrică mare, având mobilitate ridicată a purtătorilor de sarcină), cât şi din punct de vedere a îmbunătăţirii disipării căldurii (raportul suprafeţei la volumul firului este cu mult mai mare în comparaţie cu materialele volumetrice).
În fig. 2 este prezentată o caracteristică volt-amper tipică pentru firul monocristalin cu un diametru de 19 µm şi o lungime de 1,8 mm. Din figură se observă că odată cu creşterea câmpului electric (Ecr ≥ 350 V/cm) caracteristica volt-amper devine neliniară. În acest caz, intensitatea câmpului electric de prag este de 400 V/cm. Pentru câmpurile electrice, care depăşesc valorile de prag, caracteristica volt-amper devine de forma S, oscilaţiile curentului electric şi dependenţa dI/dE ating valori relativ mari, de asemenea sensibilitatea elementului sensibil devine mare.
Datorită alegerii în calitate de element sensibil a firului monocristalin semiconductor este posibil de a folosi bolometrul dat şi în scopul înregistrării semnalelor de radiaţie din diapazonul de lungimi de unde milimetrice şi submilimetrice cu o precizie înaltă, de exemplu, în biologie, în sistemele de securitate, în geofizică, în astrofizică, etc.
1. Semenov A.D., Gol'tsman G.N., Sobolevski R. Hot-electron effect in superconductors and its application for radiation sensors. Superconductor Science and Technology 15, 2002, R1-R16

Claims (1)

  1. Bolometru, care conţine un criostat, în care este amplasat un element sensibil, la care este conectat un dispozitiv de înregistrare şi un dispozitiv de înaltă tensiune cu impulsuri, caracterizat prin aceea că în calitate de sursă frigorifică a criostatului se utilizează azot lichid, totodată elementul sensibil este executat dintr-un semiconductor în formă de fir monocristalin din telurură de plumb cu conductibilitate de tip p cu diametrul de 5...20 µm.
MDS20130014A 2013-02-01 2013-02-01 Bolometru MD688Z (ro)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20130014A MD688Z (ro) 2013-02-01 2013-02-01 Bolometru

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20130014A MD688Z (ro) 2013-02-01 2013-02-01 Bolometru

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD688Y MD688Y (ro) 2013-10-31
MD688Z true MD688Z (ro) 2014-05-31

Family

ID=49549978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDS20130014A MD688Z (ro) 2013-02-01 2013-02-01 Bolometru

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD688Z (ro)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD3436C2 (ro) * 2005-04-25 2008-06-30 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Bolometru
MD340Z (ro) * 2010-04-23 2011-09-30 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Bolometru
MD471Z (ro) * 2011-05-17 2012-08-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Bolometru pe tranziţia metal-izolator
  • 2013

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD3436C2 (ro) * 2005-04-25 2008-06-30 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Bolometru
MD340Z (ro) * 2010-04-23 2011-09-30 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Bolometru
MD471Z (ro) * 2011-05-17 2012-08-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Bolometru pe tranziţia metal-izolator

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Semenov A.D., Gol'tsman G.N., Sobolevski R. Hot-electron effect in superconductors and its application for radiation sensors. Superconductor Science and Technology 15, 2002, R1-R16 *

Also Published As

Publication number Publication date
MD688Y (ro) 2013-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Geballe et al. Seebeck effect in silicon
Chaikin et al. Apparatus for thermopower measurements on organic conductors
Hodovanets et al. Fermi surface reconstruction in (Ba 1− x K x) Fe 2 As 2 (0.44≤ x≤ 1) probed by thermoelectric power measurements
Ceccarelli et al. Investigating SiC MOSFET body diode's light emission as temperature-sensitive electrical parameter
Boltovets et al. Ge-film resistance and Si-based diode temperature microsensors for cryogenic applications
Yoshino et al. Low-dimensional organic conductors as thermoelectric materials
MD688Z (ro) Bolometru
Talley et al. Photovoltaic effect in InAs
Sarachik et al. THE THERMOELECTRIC POWER OF V3X COMPOUNDS
DiSalvo et al. Search for a sliding charge density wave in layered compounds
Avdochenko et al. Using Hall-effect sensors for weak pulsed magnetic fields measurement
CN203288593U (zh) 天线集成石墨烯pin结太赫兹探测器
Ye et al. Effect of Au/Ni/4H–SiC Schottky junction thermal stability on performance of alpha particle detection
Moix et al. Photoresponse of the high-temperature superconductor YBa2Cu3O7− δ to ultrashort 10 μm CO2laser pulses
Long et al. A study of the signal rising edge produced by a charge sensitive preamplifier connected to a 4H-SiC detector
Rao et al. Divanadium pentoxide/4H-silicon carbide: A Schottky contact for highly linear temperature sensors
Prober et al. Ultrasensitive quantum-limited far-infrared STJ detectors
Ramanathan et al. Probing the Energy Gaps of a Multi-Gap Superconductor: Ba (1-x) KxFe2As2
Song et al. Photoacoustic detection of the superconducting transition in high T c superconductors
Tarasov et al. Power load and temperature dependence of cold-electron bolometer optical response at 350 GHz
Schmidt et al. Normal metal–insulator–superconductor junction technology for bolometers
Chakraborty et al. Bolometric measurement of ac loss in HTS tapes: a novel approach ofmicrowatt sensitivity
Pó et al. Measurement of the dopant concentration in a semiconductor using the Seebeck effect
Vittone et al. Temperature dependent IBIC study of 4H–SiC Schottky diodes
Gradauskas et al. PSi-Based Microwave Detection

Legal Events

Date Code Title Description
FG9Y Short term patent issued
KA4Y Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)